JPH0354835B2 - - Google Patents

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JPH0354835B2
JPH0354835B2 JP58133672A JP13367283A JPH0354835B2 JP H0354835 B2 JPH0354835 B2 JP H0354835B2 JP 58133672 A JP58133672 A JP 58133672A JP 13367283 A JP13367283 A JP 13367283A JP H0354835 B2 JPH0354835 B2 JP H0354835B2
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JP
Japan
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weight
brush
alloy material
sliding contact
resistance
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JP58133672A
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JPS6025173A (ja
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Description

【発明の詳細な説明】
本発明は、摺動接点装置に係り、特にそれを構
成するブラシとコミユテーター又はデイスクの材
料の改良に関する。 従来の摺動接点装置は、Au8〜12重量%、Pt8
〜12重量%、Pd33〜37重量%、Ag28〜32重量
%、Cu12〜16重量%、Zn0.1〜2重量%の合金材
料にて構成したブラシと、Ag−Cd0.5〜15重量%
の合金材料にて構成したコミユテーター又はデイ
スクとを組み合わせて成るものである。 ところで、この摺動接点装置のブラシは、前述
の如き合金材料より構成されているので、コミユ
テーター又はデイスクとの摺動時、機械的、電気
的腐食により酸化物が発生する為、摩耗粉が生じ
易く接触抵抗が不安定となつていた。 一方、コミユテーター又はデイスクは、Ag−
Cd0.5〜15重量%の合金材料により構成され、ブ
ラシとの摺動時、粘着性が高く耐摩耗性に劣るも
のであつた。 本発明は、斯かる欠点を解消すべくなされたも
のであり、ブラシの耐摩耗性及び接触抵抗性をを
向上させ、コミユテーター又はデイスクの耐摩耗
性を向上させた摺動接点装置を提供せんとするも
のである。 本発明の摺動接点装置は、組成比でAu8〜12重
量%、Pt8〜12重量%、Pd33〜37重量%、Ag28
〜32重量%、Cu12〜16重量%、Zn0.1〜2重量%
のAu−Pt−Pd−Ag−Cu−Znが95〜99.5重量%
及び残部がSb、Te、Mo、Pb及びSeの少なくと
も一種を合計で0.5〜5重量%の合金材料にて構
成したブラシと、Ag−Cu3〜12重量%又はAg−
Cu3〜12重量%−Cd5重量%以下の合金材料にて
構成したコミユテーター又はデイスクとを組み合
わせて成るものである。 本発明の摺動接点装置に於いて、ブラシを組成
比でAu8〜12重量%、Pt8〜12重量%、Pd33〜37
重量%、Ag28〜32重量%、Cu12〜16重量%、
Zn0.1〜2重量%のAu−Pt−Pd−Ag−Cu−Znが
95〜99.5重量%及び残部がSb、Te、Mo、Pb及
びSeの少なくとも一種を合計で0.5〜5重量%の
合金材料にて構成した理由は、前記Au−Pt−Pd
−Ag−Cu−Znの合金材料の接触抵抗性及び耐摩
耗性を向上すべく潤滑剤となる酸化物を適量発生
させる為で、0.5重量%未満では酸化物の発生量
が少なくて潤滑剤としての効果を発揮できず、5
重量%を超えると酸化物の発生量が多くなり、接
触抵抗が高くなり、その上不安定となるものであ
る。 また、Au、Pt、Pd、Ag、Cu、Znの含有量は、
前記従来の合金材料の組成比に変更を加えない範
囲とすることにより、従来の合金材料の特性は損
なわれることなく発揮されることとなるものであ
る。 コミユテーター又はデイスクを、Ag−Cu3〜
12重量%又はAg−Cu3〜12重量%−Cd5重量%以
下の合金材料にて構成した理由は、ブラシとの摺
動時の粘着性を抑えて耐摩耗性を向上させる為
で、Cuの含有量が3重量%未満ではその効果が
得られず、12重量%を超えると摺動時に発生する
酸化物の量が多くなりすぎて接触抵抗が高く不安
定になり、Cdの含有量が5重量%を超えるとこ
れが酸化Cdとなつた際、接触抵抗が高くなり、
耐摩耗性が劣化するものである。従つて、Cuの
含有量は3〜12重量%、Cdの含有量は5重量%
を超えないようにしたものである。 次に本発明による摺動接点装置の具体的な実施
例と従来について説明する。 下記の表−1の左欄に示す成分組成の実施例及
び従来例の合金材料より成る線径0.7mmのブラシ
線材を各々長さ8mmに切断し、2本並列させて一
端を幅10mm、長さ13mm、厚さ0.2mmの台材に溶接
し、他端に2Rの円弧状の接触部を曲成してブラ
シを作つた。一方下記の表−1の右欄に示す成分
組成の実施例及び従来例の合金材料により成る厚
さ0.5mmの板材を打抜いて直径50mmのデイスクを
作つた。然してこれらブラシ及びデイスクを夫々
組み合わせて摺動接点装置を作り、夫々ブラシを
デイスクに接触させ、デイスクを正逆回転させて
下記の試験条件にて摺動試験を行い、ブラシ及び
デイスクの摩耗量と接触抵抗を測定した処、下記
の表−2に示すような結果を得た。 試験条件 電 流: 直流0.6A 電 圧: 12V 負 荷: 抵抗負荷 回転数: 1000回転/分 周 速: 130〜120m/min 接触圧: 100g 接触時間: 7時間
【表】
【表】
【表】 上記の表−2で明らかなように実施例1〜15の
摺動接点装置のブラシとデイスクは、夫々従来例
1、2の摺動接点のブラシとデイスクに比し摩耗
量が著しく少なく、接触抵抗は一段と低く安定し
ていることが判る。これはひとえに実施例1〜15
の摺動接点装置のブラシを構成している合金材料
が、摺動時にSb、Te、Mo、Pb、Se等の酸化物
が発生し、この酸化物が潤滑剤となり、耐摩耗性
が向上し、また酸化物が軟らかい為、摺動作用に
より容易に除去される為、ブラシの接触面は常に
清浄となつて接触抵抗が一段と低くなるからに他
ならない。また実施例1〜15の摺動接点装置のデ
イスクを構成している合金材料のCuによつて摺
動時の粘着性が高くなるのが抑えられて耐摩耗性
が向上しているからに他ならない。 以上詳記した通り本発明の摺動接点装置は、従
来の摺動接点装置に比べブラシとコミユテーター
又はデイスクの耐摩耗性が著しく優れていて、摩
耗粉の発生量が極めて少なく、また接触抵抗につ
いても一段と低く安定しているので、従来の摺動
接点装置にとつて代わることのできる画期的なも
のと云える。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 組成比でAu8〜12重量%、Pt8〜12重量%、
    Pd33〜37重量%、Ag28〜32重量%、Cu12〜16重
    量%、Zn0.1〜2重量%のAu−Pt−Pd−Ag−Cu
    −Znが95〜99.5重量%及び残部がSb、Te、Mo、
    Pb及びSeの少なくとも一種を合計で0.5〜5重量
    %の合金材料にて構成したブラシと、Ag−Cu3
    〜12重量%又はAg−Cu3〜12重量%−Cd5重量%
    以下の合金材料にて構成したコミユテーター又は
    デイスクとを組み合わせて成る摺動接点装置。
JP58133672A 1983-07-22 1983-07-22 摺動接点装置 Granted JPS6025173A (ja)

Priority Applications (1)

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JP58133672A JPS6025173A (ja) 1983-07-22 1983-07-22 摺動接点装置

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JP58133672A JPS6025173A (ja) 1983-07-22 1983-07-22 摺動接点装置

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Publication Number Publication Date
JPS6025173A JPS6025173A (ja) 1985-02-07
JPH0354835B2 true JPH0354835B2 (ja) 1991-08-21

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JP58133672A Granted JPS6025173A (ja) 1983-07-22 1983-07-22 摺動接点装置

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