JPH035645B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH035645B2 JPH035645B2 JP17148583A JP17148583A JPH035645B2 JP H035645 B2 JPH035645 B2 JP H035645B2 JP 17148583 A JP17148583 A JP 17148583A JP 17148583 A JP17148583 A JP 17148583A JP H035645 B2 JPH035645 B2 JP H035645B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- aluminum
- film
- iron
- silicon
- alloy film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 37
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 30
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 30
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 29
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 24
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 24
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 230000035699 permeability Effects 0.000 claims description 15
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 13
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 9
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 229910000676 Si alloy Inorganic materials 0.000 description 24
- -1 Iron-aluminum-silicon Chemical compound 0.000 description 23
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 11
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 10
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 7
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 4
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000013590 bulk material Substances 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 2
- CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N alumanylidynesilicon Chemical compound [Al].[Si] CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910001004 magnetic alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000006089 photosensitive glass Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 1
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010301 surface-oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
<技術分野>
本発明は鉄とアルミニウムと硅素とを含有する
磁性合金膜を作成する為の新規な製造方法に関す
る。
磁性合金膜を作成する為の新規な製造方法に関す
る。
<従来技術>
従来、高飽和磁束密度、高透磁率であり磁気ヘ
ツド材料として極めて有用のものとして鉄・アル
ミニウム・硅素の合金がよく知られている。
ツド材料として極めて有用のものとして鉄・アル
ミニウム・硅素の合金がよく知られている。
従来の鉄・アルミニウム・硅素の合金の膜形成
方法としては次の様なものが知られている。即
ち、 (1) 鉄・アルミニウム・硅素の合金バルク材を研
磨する事によつて所定の膜厚に加工する方法、 (2) スパツタリングにより所定の膜厚の鉄・アル
ミニウム・硅素の合金膜を形成する方法、 (3) 液体急冷法により鉄・アルミニウム・硅素の
合金膜を形成する方法、 である。しかし上記(1)の方法は鉄・アルミニウ
ム・硅素の合金のバルク材が脆性を有するため非
常に加工しにくいものである。又上記(2)の方法で
は成膜速度が非常に遅いため磁気ヘツドコア等の
比較的に厚い膜を作成する為の製法としては量産
性が悪く適さない。又上記(3)の方法では鉄・アル
ミニウム・硅素の合金膜の膜厚が作成条件によつ
て限定されてしまうという制約があり好ましくな
い。更に作成膜を加工する場合における鉄・アル
ミニウム・硅素の合金膜の脆性の問題及び粒径の
大きさにより高周波帯域での良好な特性が望めな
いという問題があり好ましい方法とは言えない。
方法としては次の様なものが知られている。即
ち、 (1) 鉄・アルミニウム・硅素の合金バルク材を研
磨する事によつて所定の膜厚に加工する方法、 (2) スパツタリングにより所定の膜厚の鉄・アル
ミニウム・硅素の合金膜を形成する方法、 (3) 液体急冷法により鉄・アルミニウム・硅素の
合金膜を形成する方法、 である。しかし上記(1)の方法は鉄・アルミニウ
ム・硅素の合金のバルク材が脆性を有するため非
常に加工しにくいものである。又上記(2)の方法で
は成膜速度が非常に遅いため磁気ヘツドコア等の
比較的に厚い膜を作成する為の製法としては量産
性が悪く適さない。又上記(3)の方法では鉄・アル
ミニウム・硅素の合金膜の膜厚が作成条件によつ
て限定されてしまうという制約があり好ましくな
い。更に作成膜を加工する場合における鉄・アル
ミニウム・硅素の合金膜の脆性の問題及び粒径の
大きさにより高周波帯域での良好な特性が望めな
いという問題があり好ましい方法とは言えない。
しかし、上記した問題点を全て解消した製造方
法として本発明者等は既に鉄とアルミニウムと硅
素とによつて構成されたアルミニウムの組成が1
乃至6tw%、硅素の組成が20乃至35wt%である合
金タブレツトに真空中で電子ビームを照射して上
記合金タブレツトを加熱せしめ、該加熱によつて
前記合金タブレツトより蒸発した物質を基板上に
蒸着せしめることによつて適正組成の磁性膜を形
成し更にその磁性膜を400℃乃至800℃の温度範囲
で熱処理することによつて良質な鉄・アルミニウ
ム・硅素の合金膜を作成することができる旨の提
案を行なつている(特願昭58−11041号)。
法として本発明者等は既に鉄とアルミニウムと硅
素とによつて構成されたアルミニウムの組成が1
乃至6tw%、硅素の組成が20乃至35wt%である合
金タブレツトに真空中で電子ビームを照射して上
記合金タブレツトを加熱せしめ、該加熱によつて
前記合金タブレツトより蒸発した物質を基板上に
蒸着せしめることによつて適正組成の磁性膜を形
成し更にその磁性膜を400℃乃至800℃の温度範囲
で熱処理することによつて良質な鉄・アルミニウ
ム・硅素の合金膜を作成することができる旨の提
案を行なつている(特願昭58−11041号)。
<目的>
本発明は上記した如き電子ビームによる蒸着法
を用いて鉄・アルミニウム・硅素の合金膜を作成
する手法について更に改善を施した新規且つ有用
な製造方法を提供することを目的とするものであ
る。
を用いて鉄・アルミニウム・硅素の合金膜を作成
する手法について更に改善を施した新規且つ有用
な製造方法を提供することを目的とするものであ
る。
<実施例>
次に本発明に係る高透磁率合金膜の製造方法の
実施例について詳細に説明する。
実施例について詳細に説明する。
第1図は本発明に係る製法において用いた電子
ビーム蒸着装置の構成説明図である。1は真空ベ
ルジヤーであつてこの内部は高真空に保たれる。
2は蒸着膜を付着する為の基板である。3は該基
板2を加熱する為のヒーターである。4はハース
(るつぼ)であり該ハース4内に合金タブレツト
5が配置される。6はフイラメントであり、該フ
イラメント6から発せられた電子ビーム7は磁界
によつて曲げられて合金タブレツト5に照射せら
れる。8は加熱せられた上記合金タブレツト5か
ら蒸発した物質を遮断あるいは通過せしめるシヤ
ツターである。勿論上記合金タブレツト5の組成
はアルミニウムを1乃至6wt%、硅素を20乃至
35wt%、残りを鉄とする。上記基板2は鉄・ア
ルミニウム・硅素の合金と熱膨張係数が近い、即
ち熱膨張係数が100〜180(×10-7deg-1)程度の感
光性ガラス(例えばコーニング社製のホトセラ
ム、ホヤガラス社製のPEGシリーズ)、結晶性ガ
ラス、非磁性フエライト、セラミツク、ステンレ
ス(SUS304)等である。
ビーム蒸着装置の構成説明図である。1は真空ベ
ルジヤーであつてこの内部は高真空に保たれる。
2は蒸着膜を付着する為の基板である。3は該基
板2を加熱する為のヒーターである。4はハース
(るつぼ)であり該ハース4内に合金タブレツト
5が配置される。6はフイラメントであり、該フ
イラメント6から発せられた電子ビーム7は磁界
によつて曲げられて合金タブレツト5に照射せら
れる。8は加熱せられた上記合金タブレツト5か
ら蒸発した物質を遮断あるいは通過せしめるシヤ
ツターである。勿論上記合金タブレツト5の組成
はアルミニウムを1乃至6wt%、硅素を20乃至
35wt%、残りを鉄とする。上記基板2は鉄・ア
ルミニウム・硅素の合金と熱膨張係数が近い、即
ち熱膨張係数が100〜180(×10-7deg-1)程度の感
光性ガラス(例えばコーニング社製のホトセラ
ム、ホヤガラス社製のPEGシリーズ)、結晶性ガ
ラス、非磁性フエライト、セラミツク、ステンレ
ス(SUS304)等である。
以上の構成の電子ビーム蒸着装置を用いて次の
様な2種の蒸着条件にて鉄・アルミニウム・硅素
の合金膜を作成した。
様な2種の蒸着条件にて鉄・アルミニウム・硅素
の合金膜を作成した。
即ち、第1の蒸着条件では合金タブレツト5を
アルミニウムが4wt%、硅素が27.5wt%の組成の
ものを使用し、基板2の温度を蒸着膜の密着性を
向上させる為にヒータ3により400℃に加熱(100
〜600℃が好ましい)し、蒸着工程における電子
銃への投入パワーを10KWに設定し、電子ビーム
をハース4内に掃射(sweep)し、上記電子銃へ
の投入パワーを上昇せしめ10KWに達した時から
3分間経過する迄の間シヤツター8を閉成して基
板2上において蒸着を遮断し、その後シヤツター
8を開成して基板2上において蒸着膜を形成し
た。そして蒸着時間を10分間として4.1μmの膜厚
を得た。
アルミニウムが4wt%、硅素が27.5wt%の組成の
ものを使用し、基板2の温度を蒸着膜の密着性を
向上させる為にヒータ3により400℃に加熱(100
〜600℃が好ましい)し、蒸着工程における電子
銃への投入パワーを10KWに設定し、電子ビーム
をハース4内に掃射(sweep)し、上記電子銃へ
の投入パワーを上昇せしめ10KWに達した時から
3分間経過する迄の間シヤツター8を閉成して基
板2上において蒸着を遮断し、その後シヤツター
8を開成して基板2上において蒸着膜を形成し
た。そして蒸着時間を10分間として4.1μmの膜厚
を得た。
又第2の蒸着条件では、合金タブレツト5をア
ルミニウムが5wt%、硅素が26wt%の組成のもの
を使用し、基板2の温度を蒸着膜の密着性を向上
させる為にヒータ3により400℃に加熱(100〜
600℃が好ましい)し、蒸着工程における電子銃
への投入パワーを10KWに設定し電子ビームをハ
ース4内全体に掃射(sweep)し、上記電子銃へ
の投入パワーを上昇せしめ10KWに達した時から
3分間経過する迄の間シヤツター8を閉成して基
板2上における蒸着を遮断し、その後シヤツター
8を開成して基板2上において蒸着膜を形成し
た。そして蒸着時間を20分間として7.4μmの膜厚
を得た。
ルミニウムが5wt%、硅素が26wt%の組成のもの
を使用し、基板2の温度を蒸着膜の密着性を向上
させる為にヒータ3により400℃に加熱(100〜
600℃が好ましい)し、蒸着工程における電子銃
への投入パワーを10KWに設定し電子ビームをハ
ース4内全体に掃射(sweep)し、上記電子銃へ
の投入パワーを上昇せしめ10KWに達した時から
3分間経過する迄の間シヤツター8を閉成して基
板2上における蒸着を遮断し、その後シヤツター
8を開成して基板2上において蒸着膜を形成し
た。そして蒸着時間を20分間として7.4μmの膜厚
を得た。
ここで、第1の蒸着条件及び第2の蒸着条件に
於いて、後記する理由に基き所定時点より電子銃
への投入パワーを9KWに減少させている。
於いて、後記する理由に基き所定時点より電子銃
への投入パワーを9KWに減少させている。
第1の蒸着条件及び第2の蒸着条件によつて得
られた鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の特性は
共に飽和磁束密度12000G、ビツカース硬度600、
電気抵抗85μΩcmであつた。その鉄・アルミニウ
ム・硅素の合金膜上に保護層としてSiO2膜を被
覆し、600℃で2時間熱処理した後徐冷した。そ
の時上記鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の保磁
力は第1の蒸着条件のもの、第2の蒸着条件のも
の共に1.7Oeであつた。
られた鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の特性は
共に飽和磁束密度12000G、ビツカース硬度600、
電気抵抗85μΩcmであつた。その鉄・アルミニウ
ム・硅素の合金膜上に保護層としてSiO2膜を被
覆し、600℃で2時間熱処理した後徐冷した。そ
の時上記鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の保磁
力は第1の蒸着条件のもの、第2の蒸着条件のも
の共に1.7Oeであつた。
第2図に上記第1の蒸着条件(膜厚t=4.1μ
m)及び第2の蒸着条件(膜厚t=7.4μm)によ
つて得た鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の
0.5MHzでの実効透磁率の有効分μ′(0.5)で規格化
した実効透磁率の有効分μ′の周波数特性(0.5M
Hz乃至30MHz)を示す。同図に示される如く、実
効透磁率の有効分μ′の周波数特性において、膜厚
7.4μmの鉄・アルミニウム・硅素の合金膜は膜厚
4.1μmの鉄・アルミニウム・硅素の合金膜に比較
して低い周波数から減少を始めている。
m)及び第2の蒸着条件(膜厚t=7.4μm)によ
つて得た鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の
0.5MHzでの実効透磁率の有効分μ′(0.5)で規格化
した実効透磁率の有効分μ′の周波数特性(0.5M
Hz乃至30MHz)を示す。同図に示される如く、実
効透磁率の有効分μ′の周波数特性において、膜厚
7.4μmの鉄・アルミニウム・硅素の合金膜は膜厚
4.1μmの鉄・アルミニウム・硅素の合金膜に比較
して低い周波数から減少を始めている。
一般に高透磁率磁性材料には高周波において以
下に示す如く透磁率低下の原因となる損失が存在
する。即ち、(1)ヒステリシス損失、(2)渦電流損
失、(3)残留損失である。この中、上記(2)渦電流損
失は鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の様な合金
磁性材料の場合大きな割合を占める。そして、膜
厚の厚いものの方がこの損失がより大きくな。
下に示す如く透磁率低下の原因となる損失が存在
する。即ち、(1)ヒステリシス損失、(2)渦電流損
失、(3)残留損失である。この中、上記(2)渦電流損
失は鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の様な合金
磁性材料の場合大きな割合を占める。そして、膜
厚の厚いものの方がこの損失がより大きくな。
これら磁気損失が原因して第2図の如く、膜厚
7.4μmの鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の実効
透磁率の有効分μ′の周波数特性は膜厚4.1μmの
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜に比べて特性の
立下がりが悪くなつていると考えられる。この観
点から、必要な高周波まで必要な透磁率を得るこ
とのできる鉄・アルミニウム・硅素の合金膜を得
る為には鉄・アルミニウム・硅素の合金膜を薄く
蒸着し、その上に非磁性膜(例えばSiO2膜)を
蒸着し、更にその上に鉄・アルミニウム・硅素の
合金膜を薄く蒸着し、更にその上に上記非磁性膜
を蒸着するという工程を繰り返し行なうという多
層構造を採ることが必要となる。第3図に鉄・ア
ルミニウム・硅素の合金膜を3層に分離して層設
し、トータルの層厚を22.5μmとした鉄・アルミ
ニウム・硅素の合金膜の実効透磁率の有効分μ′の
周波数特性を示す。同図に示す如く層厚は22.5μ
mと厚くとも周波数特性は7.4μmのものと同程度
の立下がり特性が得られている。尚、上記の如く
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の各層を分離し
て層設してなる多層構造膜を作成する場合は鉄・
アルミニウム・硅素の合金膜とその中間に位置す
る非磁性膜とは同一真空中にて連続工程にて蒸着
することが望ましい。その理由は鉄・アルミニウ
ム・硅素の合金膜の表面が活性であるので、その
表面が大気に触れることによる表面酸化等による
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の特性劣化を防
ぐことになるからである。
7.4μmの鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の実効
透磁率の有効分μ′の周波数特性は膜厚4.1μmの
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜に比べて特性の
立下がりが悪くなつていると考えられる。この観
点から、必要な高周波まで必要な透磁率を得るこ
とのできる鉄・アルミニウム・硅素の合金膜を得
る為には鉄・アルミニウム・硅素の合金膜を薄く
蒸着し、その上に非磁性膜(例えばSiO2膜)を
蒸着し、更にその上に鉄・アルミニウム・硅素の
合金膜を薄く蒸着し、更にその上に上記非磁性膜
を蒸着するという工程を繰り返し行なうという多
層構造を採ることが必要となる。第3図に鉄・ア
ルミニウム・硅素の合金膜を3層に分離して層設
し、トータルの層厚を22.5μmとした鉄・アルミ
ニウム・硅素の合金膜の実効透磁率の有効分μ′の
周波数特性を示す。同図に示す如く層厚は22.5μ
mと厚くとも周波数特性は7.4μmのものと同程度
の立下がり特性が得られている。尚、上記の如く
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の各層を分離し
て層設してなる多層構造膜を作成する場合は鉄・
アルミニウム・硅素の合金膜とその中間に位置す
る非磁性膜とは同一真空中にて連続工程にて蒸着
することが望ましい。その理由は鉄・アルミニウ
ム・硅素の合金膜の表面が活性であるので、その
表面が大気に触れることによる表面酸化等による
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の特性劣化を防
ぐことになるからである。
さて、上記の如き多層構造膜を作成する場合、
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の表面が滑らか
であるという点が極めて重要になる。何故ならば
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の表面に突起物
がある場合その様な膜上に非磁性膜を被覆し、更
にその上に同様な突起物がある鉄・アルミニウ
ム・硅素の合金膜を被覆する構造とすれば、各
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜間において磁気
的、電気的シヨートを引き起こす可能性があり不
安定であるからである。しかし、本発明では上記
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の表面を滑らか
にする為の新規な技術的手段を採用している。
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の表面が滑らか
であるという点が極めて重要になる。何故ならば
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の表面に突起物
がある場合その様な膜上に非磁性膜を被覆し、更
にその上に同様な突起物がある鉄・アルミニウ
ム・硅素の合金膜を被覆する構造とすれば、各
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜間において磁気
的、電気的シヨートを引き起こす可能性があり不
安定であるからである。しかし、本発明では上記
鉄・アルミニウム・硅素の合金膜の表面を滑らか
にする為の新規な技術的手段を採用している。
以下にこの技術的手段について説明を行なう。
第4図に蒸着工程におけるアルミニウム及び鉄の
各蒸着速度の変化特性を示す。同図における時間
的起点は前述の蒸着条件における電子銃への投入
パワーが10KWに達した時点である。同図に示す
如く電子銃への投入パワーが10KWに達したから
3分間シヤツターを閉成し、その後シヤツターを
開成するのであるが、アルミニウムの蒸着速度は
最初次第に減少するものの、ある時点(同図で12
分)を境にして上昇し、次に再び減少する。そし
て本発明者はこのアルミニウムの蒸着速度が上昇
する時に溶融状態の変化により突沸が発生するこ
とを見い出した。そしてこの突沸を防ぐ為には電
子銃への投入パワーをある程度(蒸着速度に影響
を及ぼさない程度…具体的には9KW)減少させ
れば良いことを見い出した。実際にはアルミニウ
ムの蒸着速度が上昇する時より僅か前(同図で11
分)から電子銃への投入パワーを減少させた。こ
の手法を用いた時鉄・アルミニウム・硅素の合金
の蒸着膜表面は非常に滑らかであつた。尚、同図
で12分から電子銃への投入パワーを減少させても
鉄・アルミニウム・硅素の合金の蒸着膜表面を滑
らかに出来ることを確認している。
第4図に蒸着工程におけるアルミニウム及び鉄の
各蒸着速度の変化特性を示す。同図における時間
的起点は前述の蒸着条件における電子銃への投入
パワーが10KWに達した時点である。同図に示す
如く電子銃への投入パワーが10KWに達したから
3分間シヤツターを閉成し、その後シヤツターを
開成するのであるが、アルミニウムの蒸着速度は
最初次第に減少するものの、ある時点(同図で12
分)を境にして上昇し、次に再び減少する。そし
て本発明者はこのアルミニウムの蒸着速度が上昇
する時に溶融状態の変化により突沸が発生するこ
とを見い出した。そしてこの突沸を防ぐ為には電
子銃への投入パワーをある程度(蒸着速度に影響
を及ぼさない程度…具体的には9KW)減少させ
れば良いことを見い出した。実際にはアルミニウ
ムの蒸着速度が上昇する時より僅か前(同図で11
分)から電子銃への投入パワーを減少させた。こ
の手法を用いた時鉄・アルミニウム・硅素の合金
の蒸着膜表面は非常に滑らかであつた。尚、同図
で12分から電子銃への投入パワーを減少させても
鉄・アルミニウム・硅素の合金の蒸着膜表面を滑
らかに出来ることを確認している。
<効果>
本発明の手法は成膜速度の速い電子ビーム蒸着
によつて鉄・アルミニウム・硅素の合金膜を作成
するものであつて量産性に優れ、しかも従来のバ
ルクによるヘツドでは得られなかつた特性の改善
を得た。又従来のバルクによる加工の困難さも克
服できた。更に蒸着途中での突沸の発生を抑制で
き、多層構造膜を安定的に作成できたものであ
る。
によつて鉄・アルミニウム・硅素の合金膜を作成
するものであつて量産性に優れ、しかも従来のバ
ルクによるヘツドでは得られなかつた特性の改善
を得た。又従来のバルクによる加工の困難さも克
服できた。更に蒸着途中での突沸の発生を抑制で
き、多層構造膜を安定的に作成できたものであ
る。
第1図は本発明に係る製法において用いた電子
ビーム蒸着装置の構成説明図、第2図は単層膜の
実効透磁率の有効分μ′の周波数特性のグラフ図、
第3図は多層膜の実効透磁率の有効分μ′の周波数
特性のグラフ図、第4図はFe、Al成分の蒸着速
度変化のグラフ図を示す。 図中、1:真空ベルジアー、2:基板、3:ヒ
ーター、4:ハース、5:合金タブレツト、6:
フイラメント、7:電子ビーム、8:シヤツタ
ー。
ビーム蒸着装置の構成説明図、第2図は単層膜の
実効透磁率の有効分μ′の周波数特性のグラフ図、
第3図は多層膜の実効透磁率の有効分μ′の周波数
特性のグラフ図、第4図はFe、Al成分の蒸着速
度変化のグラフ図を示す。 図中、1:真空ベルジアー、2:基板、3:ヒ
ーター、4:ハース、5:合金タブレツト、6:
フイラメント、7:電子ビーム、8:シヤツタ
ー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 鉄とアルミニウムと硅素とによつて構成され
アルミニウムの組成が1乃至6wt%、硅素の組成
が20乃至35wt%である合金タブレツトを、真空
中で電子銃により電子ビームを照射することによ
り加熱せしめて、鉄・アルミニウム・硅素の合金
膜の蒸着を行う高透磁率合金膜の製造方法であつ
て、 前記アルミニウムの蒸着速度が上昇する時間近
辺に於いて電子銃への投入パワーを、突沸が発生
しない程度に減少せしめたことを特徴とする高透
磁率合金膜の製造方法。 2 前記合金膜を複数層形成し、各合金膜の間に
非磁性層を形成したことを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の高透磁率合金膜の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17148583A JPS6062105A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | 高透磁率合金膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17148583A JPS6062105A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | 高透磁率合金膜の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6062105A JPS6062105A (ja) | 1985-04-10 |
| JPH035645B2 true JPH035645B2 (ja) | 1991-01-28 |
Family
ID=15923972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17148583A Granted JPS6062105A (ja) | 1983-09-16 | 1983-09-16 | 高透磁率合金膜の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6062105A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2878654B2 (ja) * | 1996-09-13 | 1999-04-05 | 理化学研究所 | 感光性樹脂組成物 |
-
1983
- 1983-09-16 JP JP17148583A patent/JPS6062105A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6062105A (ja) | 1985-04-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH035645B2 (ja) | ||
| US4623439A (en) | Thin film of Ni-Co-Fe ternary alloy and process for producing the same | |
| JPH0228245B2 (ja) | Jiseigokinmakunoseizohoho | |
| JPH02430B2 (ja) | ||
| US4592923A (en) | Production method of a high magnetic permeability film | |
| JPH01108362A (ja) | 低熱膨張率を有する磁性金属層の製造方法 | |
| JPH0320007A (ja) | 磁性体薄膜の製造方法 | |
| JPS61260612A (ja) | 軟磁性積層膜 | |
| JPS6168720A (ja) | 磁気ヘツドコア | |
| JPS58100412A (ja) | 軟質磁性材料の製法 | |
| JPH0159727B2 (ja) | ||
| JPH01156452A (ja) | Fe基磁性合金 | |
| JPS5845375A (ja) | 蒸着による薄膜形成方法 | |
| JPH03101202A (ja) | 軟磁性薄膜ならびにその製造方法 | |
| JPS58169332A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPS61265715A (ja) | 磁気ヘツドコア用部材 | |
| JPS63140509A (ja) | 軟磁性膜の製造法 | |
| JPS61260611A (ja) | 軟磁性膜 | |
| JPS6159616A (ja) | 磁気ヘツドコアの製造方法 | |
| JPS6157025A (ja) | 磁気ヘツドコアの製造方法 | |
| JPH01146312A (ja) | 軟磁性薄膜 | |
| JPH01211242A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPH0673532A (ja) | 合金膜の製造方法 | |
| JPS6177316A (ja) | 磁気光学記録再生用薄膜材料の製造法 | |
| JPH0584566B2 (ja) |