JPH0358472B2 - - Google Patents
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- JPH0358472B2 JPH0358472B2 JP58170487A JP17048783A JPH0358472B2 JP H0358472 B2 JPH0358472 B2 JP H0358472B2 JP 58170487 A JP58170487 A JP 58170487A JP 17048783 A JP17048783 A JP 17048783A JP H0358472 B2 JPH0358472 B2 JP H0358472B2
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- transistor
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 29
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 26
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、たとえばAGC回路に用いられる
レベル検出器に関し、検出の感度が温度の逆数で
設定されるようにし、感度の検出レベル依存性を
排除し、検出レベルの低いときの感度向上を図る
ことを目的とする。
レベル検出器に関し、検出の感度が温度の逆数で
設定されるようにし、感度の検出レベル依存性を
排除し、検出レベルの低いときの感度向上を図る
ことを目的とする。
従来、8ミリビデオテープレコーダなどの
AGC回路は第1図に示すように構成され、同図
において、1はビデオプリアンプにより形成され
た信号源、2は信号源1の信号が1対の入力端子
a,bに入力される可変減衰部であり、信号源1
の信号を増幅するバツフアアンプ2aおよび、ア
ンプ2aの出力信号を制御端子cに入力された制
御信号にもとづいて可変減衰する出力可変回路2
bが設けられ、出力可変回路2bにより減衰制御
されたアンプ2aの出力信号、すなわち被検出信
号を1対の出力端子d,eから出力する。
AGC回路は第1図に示すように構成され、同図
において、1はビデオプリアンプにより形成され
た信号源、2は信号源1の信号が1対の入力端子
a,bに入力される可変減衰部であり、信号源1
の信号を増幅するバツフアアンプ2aおよび、ア
ンプ2aの出力信号を制御端子cに入力された制
御信号にもとづいて可変減衰する出力可変回路2
bが設けられ、出力可変回路2bにより減衰制御
されたアンプ2aの出力信号、すなわち被検出信
号を1対の出力端子d,eから出力する。
3は出力端子d,eの被検出信号が1対の入力
端子f,gに入力されるレベル検出器であり、入
力端子f,gの被検出信号のレベル検出により検
出信号を出力するレベル検出器3a′および、検出
器3a′の検出信号を平滑して制御端子hに制御信
号を出力するローパスフイルタ3bが設けられて
いる。
端子f,gに入力されるレベル検出器であり、入
力端子f,gの被検出信号のレベル検出により検
出信号を出力するレベル検出器3a′および、検出
器3a′の検出信号を平滑して制御端子hに制御信
号を出力するローパスフイルタ3bが設けられて
いる。
なお、制御端子hの制御信号が可変減衰部2の
制御端子cに出力される。また、レベル検出器3
a′からは検出信号とともにAGCにより一定振幅
に制御されたAGC信号が出力され、該AGC信号
がレベル検出部3の出力端子iから他の回路部に
出力される。
制御端子cに出力される。また、レベル検出器3
a′からは検出信号とともにAGCにより一定振幅
に制御されたAGC信号が出力され、該AGC信号
がレベル検出部3の出力端子iから他の回路部に
出力される。
そして可変減衰部2の詳細は第2図に示すよう
に構成され、同図において、Q1,Q2はアンプ
2aに設けられたNPN型の1対のトランジスタ
であり両トランジスタQ1,Q2の共通エミツタ
回路が定電流源回路T1により形成されるととも
に、トランジスタQ1,Q2のコレクタがコレク
タ抵抗R1,R2をそれぞれ介して電源端子+B
に接続され、両トランジスタQ1,Q2の差動増
幅により入力端子a,bの信号が増幅され、両ト
ランジスタQ1,Q2のコレクタから出力端子
d,eに増幅された信号が出力される。
に構成され、同図において、Q1,Q2はアンプ
2aに設けられたNPN型の1対のトランジスタ
であり両トランジスタQ1,Q2の共通エミツタ
回路が定電流源回路T1により形成されるととも
に、トランジスタQ1,Q2のコレクタがコレク
タ抵抗R1,R2をそれぞれ介して電源端子+B
に接続され、両トランジスタQ1,Q2の差動増
幅により入力端子a,bの信号が増幅され、両ト
ランジスタQ1,Q2のコレクタから出力端子
d,eに増幅された信号が出力される。
Q3,Q4は出力可変回路2bに設けられた
NPN型の1対のトランジスタであり、トランジ
スタQ3のコレクタ,ベースがトランジスタQ1
のコレクタに接続されるとともに、トランジスタ
Q4のコレクタ,ベースがトランジスタQ2のコ
レクタに接続され、両トランジスタQ3,Q4の
共通エミツタ回路が制御端子cの制御信号にもと
づいて制御される可変電流源回路T2により形成
されている。
NPN型の1対のトランジスタであり、トランジ
スタQ3のコレクタ,ベースがトランジスタQ1
のコレクタに接続されるとともに、トランジスタ
Q4のコレクタ,ベースがトランジスタQ2のコ
レクタに接続され、両トランジスタQ3,Q4の
共通エミツタ回路が制御端子cの制御信号にもと
づいて制御される可変電流源回路T2により形成
されている。
さらに、レベル検出器3の詳細は第3図に示す
ように構成され、Q5,Q6は第1差動増幅回路
を形成するNPN型の1対のトランジスタであり、
両トランジスタQ5,Q6のベースが入力端子
f,gにそれぞれ接続されるとともに、両トラン
ジスタQ5,Q6の共通エミツタ回路が定電流源
回路T3により形成されている。
ように構成され、Q5,Q6は第1差動増幅回路
を形成するNPN型の1対のトランジスタであり、
両トランジスタQ5,Q6のベースが入力端子
f,gにそれぞれ接続されるとともに、両トラン
ジスタQ5,Q6の共通エミツタ回路が定電流源
回路T3により形成されている。
R3,R4はトランジスタQ5のコレクタ回
路、すなわち第1差動増幅回路の一方のコレクタ
回路に設けられたコレクタ抵抗、限流抵抗の直列
回路であり、コレクタ抵抗R3がトランジスタQ
5のコレクタに接続され、限流抵抗R4が電源端
子+Bに接続されている。R5,R6はトランジ
スタQ6のコレクタ回路、すなわち第1差動増幅
回路の他方のコレクタ回路に設けられたコレクタ
抵抗、限流抵抗の直列回路であり、コレクタ抵抗
R5がトランジスタQ6のコレクタに接続され、
限流抵抗R6が電源端子+Bに接続されている。
路、すなわち第1差動増幅回路の一方のコレクタ
回路に設けられたコレクタ抵抗、限流抵抗の直列
回路であり、コレクタ抵抗R3がトランジスタQ
5のコレクタに接続され、限流抵抗R4が電源端
子+Bに接続されている。R5,R6はトランジ
スタQ6のコレクタ回路、すなわち第1差動増幅
回路の他方のコレクタ回路に設けられたコレクタ
抵抗、限流抵抗の直列回路であり、コレクタ抵抗
R5がトランジスタQ6のコレクタに接続され、
限流抵抗R6が電源端子+Bに接続されている。
Q7,Q8は第2差動増幅回路を形成する
NPN型の1対のトランジスタであり、トランジ
スタQ7のベース抵抗R3,R4の接続点p、す
なわちコレクタ抵抗R3より電源側に接続される
とともに、トランジスタQ8のベースがトランジ
スタQ6のコレクタとコレクタ抵抗R5の接続点
p′,すなわちコレクタ抵抗R5よりトランジスタ
側に接続され、両トランジスタQ7,Q8の共通
エミツタ回路が定電流源回路T4により形成され
ている。R7はトランジスタQ8のコレクタ抵抗
である。
NPN型の1対のトランジスタであり、トランジ
スタQ7のベース抵抗R3,R4の接続点p、す
なわちコレクタ抵抗R3より電源側に接続される
とともに、トランジスタQ8のベースがトランジ
スタQ6のコレクタとコレクタ抵抗R5の接続点
p′,すなわちコレクタ抵抗R5よりトランジスタ
側に接続され、両トランジスタQ7,Q8の共通
エミツタ回路が定電流源回路T4により形成され
ている。R7はトランジスタQ8のコレクタ抵抗
である。
Q9,Q10は第3差動増幅回路を形成する
NPN型の1対のトランジスタであり、トランジ
スタQ9のベース、コレクタがトランジスタQ
5,Q8のコレクタにそれぞれ接続されるととも
に、トランジスタQ10のベース,コレクタが抵
抗R5,R6の接続点、電源端子+Bにそれぞれ
接続され、両トランジスタQ9,Q10の共通エ
ミツタ回路が定電流源回路T5により形成されて
いる。
NPN型の1対のトランジスタであり、トランジ
スタQ9のベース、コレクタがトランジスタQ
5,Q8のコレクタにそれぞれ接続されるととも
に、トランジスタQ10のベース,コレクタが抵
抗R5,R6の接続点、電源端子+Bにそれぞれ
接続され、両トランジスタQ9,Q10の共通エ
ミツタ回路が定電流源回路T5により形成されて
いる。
Q11はベースがトランジスタQ8のコレクタ
に接続されたPNP型のトランジスタであり、エ
ミツタが電源端子+Bに接続されている。
に接続されたPNP型のトランジスタであり、エ
ミツタが電源端子+Bに接続されている。
C,R8はローパスフイルタ3bを形成するフ
イルタコンデンサ、フイルタ抵抗であり、コンデ
ンサC、抵抗R8の並列回路の一端がトランジス
タQ11のコレクタおよび制御端子hに接続さ
れ、前記並列回路の他端がアースされている。
イルタコンデンサ、フイルタ抵抗であり、コンデ
ンサC、抵抗R8の並列回路の一端がトランジス
タQ11のコレクタおよび制御端子hに接続さ
れ、前記並列回路の他端がアースされている。
なお、トランジスタQ6のコレクタに出力端子
iが接続されるとともに、トランジスタQ7のコ
レクタが電源端子+Bに接続されている。
iが接続されるとともに、トランジスタQ7のコ
レクタが電源端子+Bに接続されている。
また、抵抗R3,R5は同一抵抗値Rxであり、
抵抗R4,R6も同一抵抗値Ryである。
抵抗R4,R6も同一抵抗値Ryである。
つぎに、第1図ないし第3図の動作を第4図な
いし第7図とともに説明する。
いし第7図とともに説明する。
信号源1の信号はバツフアアンプ2aの両トラ
ンジスタQ1,Q2により差動増幅され、両トラ
ンジスタQ1,Q2のコレクタ、すなわちアンプ
2aの非反転出力端子、反転出力端子の間に信号
源1の信号を増幅した被検出信号が発生する。
ンジスタQ1,Q2により差動増幅され、両トラ
ンジスタQ1,Q2のコレクタ、すなわちアンプ
2aの非反転出力端子、反転出力端子の間に信号
源1の信号を増幅した被検出信号が発生する。
一方、制御信号にもとづく出力可変回路2bの
共通エミツタ回路の電流変化により、トランジス
タQ3,Q4がそれぞれ等価的に形成するダイオ
ードの順方向抵抗値が可変制御され、該抵抗値の
変化により被検出信号の振幅が制御される。
共通エミツタ回路の電流変化により、トランジス
タQ3,Q4がそれぞれ等価的に形成するダイオ
ードの順方向抵抗値が可変制御され、該抵抗値の
変化により被検出信号の振幅が制御される。
さらに、トランジスタQ5,Q6が形成する第
1差動増幅回路が定電流源回路T3により駆動さ
れるとともに、トランジスタQ7,Q8が形成す
る第2差動増幅回路と、トランジスタQ9,Q1
0が形成する第3差動増幅回路とが、同一電流の
定電流源回路T4,T5によりそれぞれ駆動され
る。
1差動増幅回路が定電流源回路T3により駆動さ
れるとともに、トランジスタQ7,Q8が形成す
る第2差動増幅回路と、トランジスタQ9,Q1
0が形成する第3差動増幅回路とが、同一電流の
定電流源回路T4,T5によりそれぞれ駆動され
る。
そして第1差動増幅回路の共通エミツタ回路を
流れる電流をI1とした場合、入力端子f,gへの
被検出信号の非入力時には、トランジスタQ5,
Q6のコレクタ電流がI1/2になるため、接続点
pの電圧Vpと接続点p′の電圧Vp′との電位差は
I1Rx/2になり、このときトランジスタQ8の
ベース回路が遮断バイアスに設定されるため、ト
ランジスタQ8の動作点が第4図の動作曲線上の
α点になつて第5図に示すトランジスタQ8のコ
レクタ電流Icが0になり、逆に、トランジスタQ
7のコレクタ電流が第2差動増幅回路の共通エミ
ツタ回路を流れる電流I2になる。
流れる電流をI1とした場合、入力端子f,gへの
被検出信号の非入力時には、トランジスタQ5,
Q6のコレクタ電流がI1/2になるため、接続点
pの電圧Vpと接続点p′の電圧Vp′との電位差は
I1Rx/2になり、このときトランジスタQ8の
ベース回路が遮断バイアスに設定されるため、ト
ランジスタQ8の動作点が第4図の動作曲線上の
α点になつて第5図に示すトランジスタQ8のコ
レクタ電流Icが0になり、逆に、トランジスタQ
7のコレクタ電流が第2差動増幅回路の共通エミ
ツタ回路を流れる電流I2になる。
なお、第2差動増幅回路のトランジスタQ7と
第3差動増幅回路のトランジスタQ10とは同一
に動作し、トランジスタQ8とトランジスタQ9
とは同一に動作する。
第3差動増幅回路のトランジスタQ10とは同一
に動作し、トランジスタQ8とトランジスタQ9
とは同一に動作する。
つぎに、入力端子f,gに被検出信号が入力さ
れると、トランジスタQ5,Q6は対称的に動作
し、トランジスタQ6の動作により接続点p′の電
圧Vp′が変化してトランジスタQ8のベース回路
のバイアスが遮断バイアスから変化する。
れると、トランジスタQ5,Q6は対称的に動作
し、トランジスタQ6の動作により接続点p′の電
圧Vp′が変化してトランジスタQ8のベース回路
のバイアスが遮断バイアスから変化する。
そして被検出信号のレベルが所定の検出レベル
になり、トランジスタQ8の動作点が第4図のα
点からβ点に移行したときに、トランジスタQ1
1のベース回路のバイアスが低下してトランジス
タQ11が初めてオン状態になるが、このとき、
トランジスタQ5の動作により接続点pの電圧
Vpが第6図の実線lに示すように変化するとと
もに、トランジスタQ6の動作により接続点p′の
電圧Vp′が第6図の実線l′に示すように変化する。
になり、トランジスタQ8の動作点が第4図のα
点からβ点に移行したときに、トランジスタQ1
1のベース回路のバイアスが低下してトランジス
タQ11が初めてオン状態になるが、このとき、
トランジスタQ5の動作により接続点pの電圧
Vpが第6図の実線lに示すように変化するとと
もに、トランジスタQ6の動作により接続点p′の
電圧Vp′が第6図の実線l′に示すように変化する。
なお、第6図中のAは接続点p′の信号振幅(ピ
ーク値)を示し、Bは接続点pの信号振幅(ピー
ク値)を示す。また、BはA{Ry/(Rx+Ry)}
で示される。
ーク値)を示し、Bは接続点pの信号振幅(ピー
ク値)を示す。また、BはA{Ry/(Rx+Ry)}
で示される。
すなわち、信号振幅Aがつぎの(1)式を満足する
ときに、トランジスタQ8の動作点が第4図のβ
点に移行してトランジスタQ11がオン状態にな
る。
ときに、トランジスタQ8の動作点が第4図のβ
点に移行してトランジスタQ11がオン状態にな
る。
(A/2(1+Ry/Rx+Ry)+NKT/q=I1Rx/2)
…(1)式
なお、式中のNは定数、Kはボルツマン定数、
Tは絶対温度、qは単位電荷の電気容量を示す。
Tは絶対温度、qは単位電荷の電気容量を示す。
また、信号振幅Aが(1)式を満足したときのトラ
ンジスタQ8のコレクタ電流Icはつぎの(2)式で示
され、(2)式の電流によりトランジスタQ11がオ
ン状態になるように抵抗R7の抵抗値が設定され
ている。
ンジスタQ8のコレクタ電流Icはつぎの(2)式で示
され、(2)式の電流によりトランジスタQ11がオ
ン状態になるように抵抗R7の抵抗値が設定され
ている。
Ic=I2/(1+e×pN)… (2)
そしてトランジスタQ8のコレクタ回路の電
圧、すなわち接続点p′の電圧Vp′にもとづきレベ
ル検出器3a′が被検出信号を検出し、このときト
ランジスタQ11がオン状態になり、トランジス
タQ11のコレクタ電流からなる検出信号がロー
パスフイルタ3bにより平滑され、フイルタ3b
から可変電流源回路T2に制御信号が出力され
る。
圧、すなわち接続点p′の電圧Vp′にもとづきレベ
ル検出器3a′が被検出信号を検出し、このときト
ランジスタQ11がオン状態になり、トランジス
タQ11のコレクタ電流からなる検出信号がロー
パスフイルタ3bにより平滑され、フイルタ3b
から可変電流源回路T2に制御信号が出力され
る。
さらに、可変電流源回路T2の電流は制御信号
の制御により、接続点p′の電圧Vp′が一定振幅の
電圧になるように、すなわちトランジスタQ8の
ベース回路が遮断バイアスになるように制御さ
れ、接続点p′の電圧Vp′からなるAGC信号が検出
前の一定振幅の信号に制御される。
の制御により、接続点p′の電圧Vp′が一定振幅の
電圧になるように、すなわちトランジスタQ8の
ベース回路が遮断バイアスになるように制御さ
れ、接続点p′の電圧Vp′からなるAGC信号が検出
前の一定振幅の信号に制御される。
すなわち、レベル検出器3a′は被検出信号の振
幅が大きくなつてトランジスタQ8のベース回路
のバイアスが遮断バイアスから変化したときに、
被検出信号を検出するように構成され、たとえば
被検出信号に対する接続点p′の電圧Vp′を調整設
定することにより、前記遮断バイアスから変化す
るときの被検出信号のレベル、すなわち検出器レ
ベルを可変設定できる。
幅が大きくなつてトランジスタQ8のベース回路
のバイアスが遮断バイアスから変化したときに、
被検出信号を検出するように構成され、たとえば
被検出信号に対する接続点p′の電圧Vp′を調整設
定することにより、前記遮断バイアスから変化す
るときの被検出信号のレベル、すなわち検出器レ
ベルを可変設定できる。
ところで(1)式を変形することにより、つぎの(3)
式を得ることができる。
式を得ることができる。
A=I1Rx−2(NKT/q)/(1+Ry/Rx+Ry)…(3)
式 さらに、(3)式のA>0であるから、つぎの(4)式
を得ることができる。
式 さらに、(3)式のA>0であるから、つぎの(4)式
を得ることができる。
I1Rx>2(NKT/q …(4)式
そしてレベル検出器3a′の感度は(3)式にもとづ
きつぎの(5)式のようになる。なお、(5)式のZは
q/(2NK)の定数である。
きつぎの(5)式のようになる。なお、(5)式のZは
q/(2NK)の定数である。
(d/dTA/A)=1/(T−I1RxZ)…(5)式
そして(5)式の感度(d/dTA/A)と電圧
(I1Ry)との関係は、温度Tの値にもとづき第7
図に示すようにグラフ表示される。
図に示すようにグラフ表示される。
なお、第7図の実線t1,t2,t3は温度T
がT1,T2,T3のときそれぞれを示し、T1
<T2<T3である。また、破線vは第4図のβ
点を検出レベルとするときを示し、破線v′はコレ
クタ電流Icがβ点の電流より大きいときに初めて
トランジスタQ11がオン状態になるように設定
したとき、すなわち検出レベルを第4図のβ点よ
り高く設定したときを示す。さらに、第7図にお
いて、(d/dTA/A)の絶対値が0のときに最も 感度が良い状態である。
がT1,T2,T3のときそれぞれを示し、T1
<T2<T3である。また、破線vは第4図のβ
点を検出レベルとするときを示し、破線v′はコレ
クタ電流Icがβ点の電流より大きいときに初めて
トランジスタQ11がオン状態になるように設定
したとき、すなわち検出レベルを第4図のβ点よ
り高く設定したときを示す。さらに、第7図にお
いて、(d/dTA/A)の絶対値が0のときに最も 感度が良い状態である。
そして第7図から明瞭なように、たとえば検出
レベル点を破線vのβ点に設定した場合、温度の
上昇により感度はS1点からS2点、S3点に移
行して低下し、また、検出レベルを破線v′の点か
ら破線vのβ点に移行すると、感度はS1′から
S1点またはS2′点からS2点またはS3′点か
らS3点に移行して低下する。
レベル点を破線vのβ点に設定した場合、温度の
上昇により感度はS1点からS2点、S3点に移
行して低下し、また、検出レベルを破線v′の点か
ら破線vのβ点に移行すると、感度はS1′から
S1点またはS2′点からS2点またはS3′点か
らS3点に移行して低下する。
すなわち、第3図のレベル検出器3a′の感度が
(5)式に示すように1/(T−I1Rx/Z)<0にな
るため、感度が温度および検出レベルに依存し、
温度の上昇によつて感度が悪化するとともに、被
検出信号の検出レベルを低くする程感度が悪化す
る。
(5)式に示すように1/(T−I1Rx/Z)<0にな
るため、感度が温度および検出レベルに依存し、
温度の上昇によつて感度が悪化するとともに、被
検出信号の検出レベルを低くする程感度が悪化す
る。
一方、8ミリビデオテープレコーダは携帯化を
図るために、小型、軽量化することが望まれ、こ
の場合電源電圧を低く設定るとともに被検出信号
およびAGC信号の振幅を小さくして消費電力を
少なくする必要がある。
図るために、小型、軽量化することが望まれ、こ
の場合電源電圧を低く設定るとともに被検出信号
およびAGC信号の振幅を小さくして消費電力を
少なくする必要がある。
しかし、前述のようにレベル検出器3a′の感度
がレベル検出器の低下に従つて悪化するため、被
検出信号の振幅がレベル検出器3a′の感度の制約
を受け、被検出信号の振幅を小さくして消費電力
を少なくすることには限界が生じる。
がレベル検出器の低下に従つて悪化するため、被
検出信号の振幅がレベル検出器3a′の感度の制約
を受け、被検出信号の振幅を小さくして消費電力
を少なくすることには限界が生じる。
この発明は、前記の点に留意してなされたもの
であり、被検出信号が入力される第1差動増幅回
路と、該第1差動増幅回路の一方のコレクタ回路
に一方のベース回路が接続されるとともに、前記
第1差動増幅回路の他方のコレクタ回路に他方の
ベース回路が接続された第2差動増幅回路を備
え、該第2差動増幅回路の一方または他方のコレ
クタ回路から検出信号を得るレベル検出器におい
て、前記一方のコレクタ回路のコレクタ抵抗より
電源側に前記一方のベース回路を接続するととも
に、前記他方のコレクタ回路のコレクタ抵抗より
トランジスタ側に前記他方のベース回路を接続
し、前記被検出信号の非入力時に前記他方のベー
ス回路を遮断バイアスに保持し、かつ、前記第1
差動増幅回路の共通エミツタ回路にコレクタ、エ
ミツタが直列挿入された定電流用のトランジスタ
と、該トランジスタのベースおよび定電流源回路
にコレクタ、ベースが接続された制御用トランジ
スタと、該トランジスタのエミツタ電流により順
バイアスされるダイオード回路とを備え、前記制
御用のトランジスタと前記ダイオード回路により
前記共通エミツタ回路の電流を温度の1次係数項
の電流に制御することを特徴とするレベル検出器
を提供するものである。
であり、被検出信号が入力される第1差動増幅回
路と、該第1差動増幅回路の一方のコレクタ回路
に一方のベース回路が接続されるとともに、前記
第1差動増幅回路の他方のコレクタ回路に他方の
ベース回路が接続された第2差動増幅回路を備
え、該第2差動増幅回路の一方または他方のコレ
クタ回路から検出信号を得るレベル検出器におい
て、前記一方のコレクタ回路のコレクタ抵抗より
電源側に前記一方のベース回路を接続するととも
に、前記他方のコレクタ回路のコレクタ抵抗より
トランジスタ側に前記他方のベース回路を接続
し、前記被検出信号の非入力時に前記他方のベー
ス回路を遮断バイアスに保持し、かつ、前記第1
差動増幅回路の共通エミツタ回路にコレクタ、エ
ミツタが直列挿入された定電流用のトランジスタ
と、該トランジスタのベースおよび定電流源回路
にコレクタ、ベースが接続された制御用トランジ
スタと、該トランジスタのエミツタ電流により順
バイアスされるダイオード回路とを備え、前記制
御用のトランジスタと前記ダイオード回路により
前記共通エミツタ回路の電流を温度の1次係数項
の電流に制御することを特徴とするレベル検出器
を提供するものである。
したがつて、この発明のレベル検出器による
と、第1差動増幅回路の共通エミツタ回路の電流
が、温度の1次係数項の電流に制御されるため、
レベル検出器の感度が温度の逆数のみに依存し、
感度の検出レベル依存性が排除され、検出レベル
の低いときの感度向上を計ることができるもので
ある。
と、第1差動増幅回路の共通エミツタ回路の電流
が、温度の1次係数項の電流に制御されるため、
レベル検出器の感度が温度の逆数のみに依存し、
感度の検出レベル依存性が排除され、検出レベル
の低いときの感度向上を計ることができるもので
ある。
つぎに、この発明を、その1実施例を示した第
8図とともに詳細に説明する。
8図とともに詳細に説明する。
同図において、第3図と同一記号は同一もしく
は相当するものを示し、3aは第3図のレベル検
出器3a′の代わりに設けられたレベル検出器、Q
12はNPN型の定電流用のトランジスタであり、
コレクタがトランジスタQ5,Q6のエミツタに
接続されるとともに、エミツタがエミツタ抵抗R
8を介してアースされている。
は相当するものを示し、3aは第3図のレベル検
出器3a′の代わりに設けられたレベル検出器、Q
12はNPN型の定電流用のトランジスタであり、
コレクタがトランジスタQ5,Q6のエミツタに
接続されるとともに、エミツタがエミツタ抵抗R
8を介してアースされている。
Q13はNPN型の制御用トランジスタであり、
コレクタ、ベースがトランジスタQ12のベース
および定電流源回路T6に接続されている。Q1
4はダイオード回路を形成するNPN型のトラン
ジスタであり、コレクタ、ベースがトランジスタ
Q13のエミツタに接続されるとともにエミツタ
がアースされている。
コレクタ、ベースがトランジスタQ12のベース
および定電流源回路T6に接続されている。Q1
4はダイオード回路を形成するNPN型のトラン
ジスタであり、コレクタ、ベースがトランジスタ
Q13のエミツタに接続されるとともにエミツタ
がアースされている。
そしてトランジスタQ12のベース、エミツタ
間電圧はトランジスタQ13のベース、エミツタ
間電圧に制御され、また、抵抗R8の電圧降下は
トランジスタQ14のベース、エミツタ間電圧に
制御される。
間電圧はトランジスタQ13のベース、エミツタ
間電圧に制御され、また、抵抗R8の電圧降下は
トランジスタQ14のベース、エミツタ間電圧に
制御される。
ところでトランジスタQ12,Q13,Q14
のベース、エミツタ間電圧圧は等しく電圧Vbeで
あり、このとき各トランジスタQ12〜Q14の
ベース、エミツタ間電圧がいわゆるダイオード特
性の電圧になるため、電圧Vbeはつぎの(6)式で示
される。
のベース、エミツタ間電圧圧は等しく電圧Vbeで
あり、このとき各トランジスタQ12〜Q14の
ベース、エミツタ間電圧がいわゆるダイオード特
性の電圧になるため、電圧Vbeはつぎの(6)式で示
される。
Vbe=KT/qlogeIo/Is …(6)式
なお、Ioはベース、エミツタ間の電流、Isは飽
和電流を示す。
和電流を示す。
そこで第1差動増幅回路の共通エミツタ回路を
流れる電流I1は、トランジスタQ14のベース、
エミツタ間電圧により制御され、つぎに(7)式に示
すように絶対温度Tの1次係数項の電流になる。
なお、Rzは抵抗R8の抵抗値である。
流れる電流I1は、トランジスタQ14のベース、
エミツタ間電圧により制御され、つぎに(7)式に示
すように絶対温度Tの1次係数項の電流になる。
なお、Rzは抵抗R8の抵抗値である。
I1=Vbe/Rz=KT/qRzlogeIo/Is …(7)式
そして(7)式の電流I1を(3)式に代入することによ
りつぎの(8)式を得る。
りつぎの(8)式を得る。
A={(KRx/qRzlogeI0/Is)−2(NK/q)}T/
(1+Ry/Rx+Ry)…(8)式 すなわち、第8図の場合はトランジスタQ8の
動作点が第4図のβ点に移行してトランジスタQ
11がオン状態になるための接続点p′の信号振幅
Aが(8)式で示される。
(1+Ry/Rx+Ry)…(8)式 すなわち、第8図の場合はトランジスタQ8の
動作点が第4図のβ点に移行してトランジスタQ
11がオン状態になるための接続点p′の信号振幅
Aが(8)式で示される。
そして(8)式から(5)式と同様の感度(d/dTA/
A)を求めると、つぎの(9)式のようになる。
(d/dTA/A)=1/T …(9)式
したがつて、レベル検出器3aの感度は温度の
逆数のみに依存し、感度の検出レベル依存性が排
除され、検出レベルの低いときの感度は第3図の
場合より向上し、検出レベルの低いときの感度の
向上を図ることができる。
逆数のみに依存し、感度の検出レベル依存性が排
除され、検出レベルの低いときの感度は第3図の
場合より向上し、検出レベルの低いときの感度の
向上を図ることができる。
また、(5)式の感度が負値になるのに対して(9)式
の感度が正値になり、さらに、オン状態になると
きのトランジスタQ11の温度係数も正値になる
ため、検出の安定化を図ることができる。
の感度が正値になり、さらに、オン状態になると
きのトランジスタQ11の温度係数も正値になる
ため、検出の安定化を図ることができる。
そして被検出信号のレベルを低くしても感度が
悪化しないため、第3図の場合より振幅の小さな
被検出信号をレベル検出器3aにより検出して
AGC信号を出力でき、8ミリビデオテープレコ
ーダなどを第3図の場合より著しく小型、軽量化
することができ小型、軽量化を図る機器に適用し
て非常に有効である。
悪化しないため、第3図の場合より振幅の小さな
被検出信号をレベル検出器3aにより検出して
AGC信号を出力でき、8ミリビデオテープレコ
ーダなどを第3図の場合より著しく小型、軽量化
することができ小型、軽量化を図る機器に適用し
て非常に有効である。
なお、前記実施例では、レベル検出器3aにト
ランジスタQ5,Q6の第1差動増幅回路およ
び、トランジスタQ7,Q8の第2差動増幅回路
とともに、トランジスタQ9,Q10の第3差動
増幅回路を設け、該第3差動増幅回路により動作
の安定を図るようにしたが、基本的には第1,第
2差動増幅回路のみを設けても同様の効果を得る
ことができる。
ランジスタQ5,Q6の第1差動増幅回路およ
び、トランジスタQ7,Q8の第2差動増幅回路
とともに、トランジスタQ9,Q10の第3差動
増幅回路を設け、該第3差動増幅回路により動作
の安定を図るようにしたが、基本的には第1,第
2差動増幅回路のみを設けても同様の効果を得る
ことができる。
また、ダイオード回路をトランジスタQ14に
より形成したが、ダイオードにより形成しても同
様の効果を得ることができ、さらに、ダイオード
回路に複数のトランジスタまたはダイオードの直
列回路を設けてもよい。
より形成したが、ダイオードにより形成しても同
様の効果を得ることができ、さらに、ダイオード
回路に複数のトランジスタまたはダイオードの直
列回路を設けてもよい。
また、前記実施例ではCGC回路に適用するた
めに、トランジスタQ11からローパスフイルタ
3bに検出信号を出力するとともに、トランジス
タQ6のコレクタからAGC信号を取り出すよう
に構成したが、AGC回路以外の回路、たとえば
各種センサの出力信号のレベル検出を行なう回路
に適用する場合は、検出信号のみを出力すればよ
い。
めに、トランジスタQ11からローパスフイルタ
3bに検出信号を出力するとともに、トランジス
タQ6のコレクタからAGC信号を取り出すよう
に構成したが、AGC回路以外の回路、たとえば
各種センサの出力信号のレベル検出を行なう回路
に適用する場合は、検出信号のみを出力すればよ
い。
さらに、前記実施例ではトランジスタQ8のコ
レクタ回路、すなわち第2差動増幅回路の他方の
コレクタ回路にトランジスタQ11を接続して検
出信号を得るようにしたが、トランジスタQ7の
コレクタ、すなわち第2差動増幅回路の一方のコ
レクタ回路にトランジスタQ11を接続して検出
信号を得るようにしてもよく、また、トランジス
タQ8またはトランジスタQ7のコレクタ電圧を
直接検出信号としてもよい。
レクタ回路、すなわち第2差動増幅回路の他方の
コレクタ回路にトランジスタQ11を接続して検
出信号を得るようにしたが、トランジスタQ7の
コレクタ、すなわち第2差動増幅回路の一方のコ
レクタ回路にトランジスタQ11を接続して検出
信号を得るようにしてもよく、また、トランジス
タQ8またはトランジスタQ7のコレクタ電圧を
直接検出信号としてもよい。
第1図はAGC回路のブロツク図、第2図は第
1図の可変減衰部の結線図、第3図はレベル検出
部の結線図、第4図は第3図のトランジスタQ8
の動作点説明図、第5図は第3図の第2差動増幅
回路の結線図、第6図は第3図のトランジスタQ
7,Q8のベースに入力される信号振幅の波形
図、第7図は第3図のレベル検出器の感度曲線
図、第8図はこの発明のレベル検出器の1実施例
の結線図である。 3a……レベル検出器、Q5,Q6……第1差
動増幅回路を形成するトランジスタ、Q7,Q8
……第2差動増幅回路を形成するトランジスタ、
Q12……定電流用のトランジスタ、Q13……
制御用のトランジスタ、Q14……ダイオード回
路を形成するトランジスタ、R3,R5……コレ
クタ抵抗、R8……エミツタ抵抗、T6……定電
流源回路。
1図の可変減衰部の結線図、第3図はレベル検出
部の結線図、第4図は第3図のトランジスタQ8
の動作点説明図、第5図は第3図の第2差動増幅
回路の結線図、第6図は第3図のトランジスタQ
7,Q8のベースに入力される信号振幅の波形
図、第7図は第3図のレベル検出器の感度曲線
図、第8図はこの発明のレベル検出器の1実施例
の結線図である。 3a……レベル検出器、Q5,Q6……第1差
動増幅回路を形成するトランジスタ、Q7,Q8
……第2差動増幅回路を形成するトランジスタ、
Q12……定電流用のトランジスタ、Q13……
制御用のトランジスタ、Q14……ダイオード回
路を形成するトランジスタ、R3,R5……コレ
クタ抵抗、R8……エミツタ抵抗、T6……定電
流源回路。
Claims (1)
- 1 被検出信号が入力される第1差動増幅回路
と、該第1差動増幅回路の一方のコレクタ回路に
一方のベース回路が接続されるとともに、前記第
1差動増幅回路の他方のコレクタ回路に他方のベ
ース回路が接続された第2差動増幅回路を備え、
該第2差動増幅回路の一方または他方のコレクタ
回路から検出信号を得るレベル検出器において、
前記一方のコレクタ回路のコレクタ抵抗より電源
側に前記一方のベース回路を接続するとともに、
前記他方のコレクタ回路のコレクタ抵抗よりトラ
ンジスタ側に前記他方のベース回路を接続し、前
記被検出信号の非入力時に前記他方のベース回路
を遮断バイアスに保持し、かつ、前記第1差動増
幅回路の共通エミツタ回路にコレクタ、エミツタ
が直列挿入された定電流用のトランジスタと、該
トランジスタのベースおよび定電流源回路にコレ
クタ、ベースが接続された制御用のトランジスタ
と、該トランジスタのエミツタ電流により順バイ
アスされるダイオード回路とを備え、前記制御用
のトランジスタと前記ダイオード回路により前記
共通エミツタ回路の電流を温度の1次係数項の電
流に制御することを特徴とするレベル検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58170487A JPS6060563A (ja) | 1983-09-13 | 1983-09-13 | レベル検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58170487A JPS6060563A (ja) | 1983-09-13 | 1983-09-13 | レベル検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6060563A JPS6060563A (ja) | 1985-04-08 |
| JPH0358472B2 true JPH0358472B2 (ja) | 1991-09-05 |
Family
ID=15905861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58170487A Granted JPS6060563A (ja) | 1983-09-13 | 1983-09-13 | レベル検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6060563A (ja) |
-
1983
- 1983-09-13 JP JP58170487A patent/JPS6060563A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6060563A (ja) | 1985-04-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |