JPH0360035A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH0360035A
JPH0360035A JP1195460A JP19546089A JPH0360035A JP H0360035 A JPH0360035 A JP H0360035A JP 1195460 A JP1195460 A JP 1195460A JP 19546089 A JP19546089 A JP 19546089A JP H0360035 A JPH0360035 A JP H0360035A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
aluminum
bonding wire
semiconductor substrate
bonding pad
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1195460A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenjirou Mitake
三嶽 健次郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1195460A priority Critical patent/JPH0360035A/ja
Publication of JPH0360035A publication Critical patent/JPH0360035A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/90Bond pads, in general
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/01Manufacture or treatment
    • H10W72/015Manufacture or treatment of bond wires
    • H10W72/01515Forming coatings
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/075Connecting or disconnecting of bond wires
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/075Connecting or disconnecting of bond wires
    • H10W72/07541Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature
    • H10W72/07551Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/50Bond wires
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/50Bond wires
    • H10W72/531Shapes of wire connectors
    • H10W72/536Shapes of wire connectors the connected ends being ball-shaped
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/50Bond wires
    • H10W72/59Bond pads specially adapted therefor
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/90Bond pads, in general
    • H10W72/951Materials of bond pads
    • H10W72/952Materials of bond pads comprising metals or metalloids, e.g. PbSn, Ag or Cu
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/90Bond pads, in general
    • H10W72/981Auxiliary members, e.g. spacers
    • H10W72/983Reinforcing structures, e.g. collars

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はボンディングワイヤで接続される半導体装置に
関し、特にその半導体装置の電極構造に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の半導体装置は、第2図の断面図に示すよ
うに、半導体基板1の電極ポンディングパッド3はアル
ミニウムで構成され、このポンディングパッド3とパッ
ケージの電極とを接続するボンディングワイヤ6は、金
を主成分とする細線より構成され、ポンディングパッド
3に接続されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の半導体装置は、ポンディングパッドの表
面がアルミニウムであるため、半導体装置の外部よりボ
ンディングワイヤを伝わって水分が侵入してきた場合に
、水分と半導体基板中のリン成分が反応してリン酸とな
り、ポンディングパッドを溶解してボンディングワイヤ
と半導体装置との電気的接続を無効にしてしまうという
欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、半導体基板上の電極にボンディングワイヤが
接続された半導体装置において、前記半導体基板上のア
ルミニウム電極のボンディングワイヤと接続されている
部分以外の部分に酸化アルミニウム層を形成した半導体
装置である。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の断面図である。1は半導体
基板、2は半導体基板表面に形成された酸化膜、3゛は
アルミニウムのポンディングパッドで、4はPSGある
いはプラズマ窒化膜などのカバー膜である。この半導体
基板1とパッケージとを、ボンディングワイヤ6で接続
した後に、酸化雰囲気(例えば酸素90%、窒素10%
)中で400℃の温度で約1時間酸化する。そうすると
、露出したアルミニウムの表面が酸化アルミニウム5に
なる。
又、本実施例に適用するパッケージは、セラミックパッ
ケージでも樹脂モールドパッケージでもよい、特に樹脂
モールドパッケージの場合は、酸化アルミニウム形成時
にリードフレームにも酸化膜が形成されるが、樹脂モー
ルド後のリードめっき前に、酸化膜を除去することによ
って適用可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、ポンディングパッド表面
のボンディングワイヤとの接続部及びカバー膜で覆われ
た部分以外のアルミニウム表面を酸化して酸化アルミニ
ウム層を形成することにより、ボンディングワイヤを伝
わって半導体装置外部より侵入してくる水分でリン酸が
生成してポンディングパッドのアルミニウムが溶解し、
ボンディングワイヤとポンディングパッドの電気的接続
が切断されるという欠点を防ぐ効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は従来の半
導体装置の断面図である。 1・・・半導体基板、2・・・酸化膜、3・・・ポンデ
ィングパッド、4・・・カバー膜、 5・・・酸化アル
ミニウム、6・・・ボンディングワイヤ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体基板上の電極にボンディングワイヤが接続された
    半導体装置において、前記半導体基板上のアルミニウム
    電極のボンディングワイヤと接続されている部分以外の
    部分に酸化アルミニウム層を形成したことを特徴とする
    半導体装置。
JP1195460A 1989-07-27 1989-07-27 半導体装置 Pending JPH0360035A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1195460A JPH0360035A (ja) 1989-07-27 1989-07-27 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1195460A JPH0360035A (ja) 1989-07-27 1989-07-27 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0360035A true JPH0360035A (ja) 1991-03-15

Family

ID=16341444

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1195460A Pending JPH0360035A (ja) 1989-07-27 1989-07-27 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0360035A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0753890A3 (en) * 1995-07-14 1997-03-05 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Electrode structure for semiconductor device, method for its production and body mounted with semiconductor device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0753890A3 (en) * 1995-07-14 1997-03-05 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Electrode structure for semiconductor device, method for its production and body mounted with semiconductor device
US6603207B2 (en) 1995-07-14 2003-08-05 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electrode structure for semiconductor device, method for forming the same, mounted body including semiconductor device and semiconductor device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6541856B2 (en) Thermally enhanced high density semiconductor package
JPS5821850A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPH0360035A (ja) 半導体装置
JPS59154054A (ja) ワイヤおよびそれを用いた半導体装置
JPS5951139B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製法
JPS62296541A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPS6046038A (ja) 集積回路装置
US20020106903A1 (en) Manufacturing method of semiconductor device
JPS5827334A (ja) 半導体装置
JPS6148952A (ja) 半導体装置
JPS6020956Y2 (ja) 半導体受光素子
JPS584991A (ja) 半導体装置
JP2707659B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPS5833848A (ja) 半導体装置
JPH03295247A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0357252A (ja) 樹脂封止型半導体装置
JPS6011652Y2 (ja) 樹脂モ−ルド型の半導体装置
JPH03154344A (ja) 樹脂封止型半導体素子
JPS628034B2 (ja)
JPS63133537A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS5963752A (ja) 樹脂封止形半導体装置
JPH02105546A (ja) 半導体装置
JPH03104130A (ja) 半導体装置
JPS6151953A (ja) 半導体装置
JPH03238851A (ja) 大電力絶縁樹脂封止型半導体装置