JPH0365748A - 集積回路のインターフェイス回路 - Google Patents

集積回路のインターフェイス回路

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JPH0365748A
JPH0365748A JP20188189A JP20188189A JPH0365748A JP H0365748 A JPH0365748 A JP H0365748A JP 20188189 A JP20188189 A JP 20188189A JP 20188189 A JP20188189 A JP 20188189A JP H0365748 A JPH0365748 A JP H0365748A
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JP
Japan
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data
clock signal
buffer
input
signal
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JP20188189A
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English (en)
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Yasuo Takahashi
康夫 高橋
Masahiro Yamada
雅弘 山田
Kenichi Tokoro
健一 所
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Toshiba Corp
Toshiba AVE Co Ltd
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Toshiba Corp
Toshiba Audio Video Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野〉 この発明は、デジタル集積回路を複数接続してシステム
を構成する場合に、集積回路内の配線長や入力容量のば
らつき等による信号遅延時間のば つきを最少にし、集
積回路間のデータの受取りを確実に行うようにした集積
回路のインターフェイス回路にrIA′tJる。
(従来の技術) データ信号をクロック入力によって集積回路内の7リツ
プフロツブに記憶する従来のインターフェイス回路を第
9図に示す。
第9図において、1はスタンダードセル、ゲートアレイ
等をレイアウトして構成するデジタル集積回路である。
この集積回路1は、データ信号端子2からのデータ信号
を入力バッファ3及び遅延素子18の直列接続を介して
フリップフロップ5に記憶し内部処理を行う構成になっ
ている。クロック信号発生器6からのクロック信号は、
クロツク信@端子7を介してバッファ8に人力され、ド
ライブされる。その出力クロック信号は、偶数段のイン
バータ素子10〜13を介してフリップフロップ5に入
力される。
インバータ素子10〜13は、実際には樹枝状に接続さ
れた選択枝路の1つであり、各選択枝路は、それぞれ階
層的なりロック信号を形成して、フリップフロップ等の
内部記憶セルを制御するようになっている。尚、フリッ
プ70ツブ5は、クロックがロウレベルからハイレベル
に立上るタイミングでデータを記憶し、クロックが再度
ロウレベルからハイレベルに変わるまでの間、記憶した
データを出力する。
遅延素子18は、フリップフロップ5より後段のフリッ
プフロップ(図示略〉にデータを受渡すときフリップフ
ロップ5との間でレーシングが起きないように、フリッ
プフロップ5に入力するデータ信号を遅延している。ま
た、クロック信号は、通常反転クロックではデユーティ
−のばらつき(±15%)を考慮しなければならないた
め、同相クロックでの受渡しが行われる。インバータ素
子10〜13が偶数段(4個)であるのはこの理由によ
る。
上記において、クロック信号のクロックレートが数Ml
−12〜数十MHzと高く、又、IC間での電源電圧差
、温度差、製造上のばらつき等により遅延時間に差があ
った場合、クロック入力よりデータ出力までの時間にば
らつきを生ずる場合が多く、一般にデータの確定してい
る時間が短くなる。
今、配線の引回し、入力容量のばらつき等を考慮した場
合、データ信号端子2に導かれるデータ信号のデータ確
定期間と、クロック信号端子7に導かれるクロック信号
とのタイミング関係が、第10図に示すように、クロッ
ク信号のクロックレート7 Q n5ecに対し、デー
タの確定期間が±7nsecと短くなった条件で考える
。このような場合、フリップフロップ5へのデータ信号
の受渡しは、第11図のように、クロック信号に対しさ
らにデータの確定期間が短くなる。
第11図は、集積回路に入力する前のデータ信号及びク
ロック信号と、入力後のデータ信号及びクロック信号の
タイミングチャートを示す。(a)は入力前、即ちクロ
ック信号端子7におけるクロック信号、(b)はデータ
信号端子2におけるデータ信号、(C)はインバータ素
子13から出力するクロック信号、(d)は遅延素子1
8から出力するデータ信号を表す。これによれば、フリ
ップフロップ5へ入力づるデータ信号及びクロック信号
は、(C) 、 (d)のタイミングチャートに示すよ
うに、セットアツプタイムの余裕が2.  l 3 n
5ec、ホールドタイムの余裕が1.66nsecとな
ってしまう。
上記セットアツプ及びホールドタイムの余裕は次の第1
2図によって求めた。第12図は第9図に示す各素子(
入カバッフ?3.遅延素子18及び入力バッファ8)の
遅延量(単位n5ec )を仮想配線長を用いて計詐し
たものである。ここに、LHはロウレベルからハイレベ
ルへの変化を示し、HLはハイレベルからロウレベルへ
の変化を示す。また、kは、電源電圧1周囲温度、製造
ばらつき等による遅延時間のばらつき幅を表づ定数であ
り、スタンダードセル、ゲートアレイの場合は、0.4
〜2.23程度の値をとる。通常ICを設計する際、k
の、値はIC内部で一定とする。尚、ばらつき幅には標
準を1で表す。
第9図の回路の場合、k=2.23としたときのLH及
びIILは、それぞれLHは12.91 n5ec、 
MLは15.32nsecとなり、セットアツプタイム
は、7− (15,32−14,45)−6,13ns
ec。
ホールドタイムは7−(14,45−12,91)=5
.46nsecとなる。ここで、フリップフロップ5に
関してロウレベルLのセットアツプタイム及びホールド
タイムは、所定の入力特性より、それぞれ1 、8 n
5ec、 1 、7 n5ecとなり、k=2゜23の
ときは、それぞれ略4.0nsec、 3.8nsec
となる。従って、セットアツプタイム余裕は、6.13
−4.0=2.13、ホールドタイム余裕は、5.64
−3.8−1.66となる。
また、実際にIC内部のレイアウトを行うと、設計時に
用いた仮想配線長とレイアウト後の実配線長に差が生じ
るため、設計時の遅延時間と変ゎってくる。特にスタン
ダードヒル、ゲートアレイ等自動配置を行うものは差が
生じやづい。
例えば遅延素子18は実配線長が仮想配線長より短くな
る場合が多く、k=1における仮想配線長の遅延時間4
.21 (Lll) 、 4.20(HL)nsecに
対して、最も配線が短くなった場合の遅延時間は略2 
(LH/HL)nsecとなる。よって、ホールドタイ
ムが得られなくなり、ラッチミスを起こづ。
このような問題を無くすため、スタンダードセル、ゲー
トアレイには専用の遅延素子を用意したものもあるが、
回路規模が大きく、例えば略3nsecの遅延のために
、1ビツトの信号あたり20グリツドを要してしまう。
また、遅延素子18は、近時のIC微細加工技術の発達
により、1素子あたりの遅延が短くなる傾向にあり、回
路規模は大きなものになる。回路規模は、配線上の大き
さを表すグリッドで表す。第9図で用いた各素子をグリ
ッド数で表ηと、クロック分配用インバータは3グリツ
ド、遅延用インバータは2グリツド、フリップフロップ
は7グリツドどなる。遅延素子18は、インバータ6個
にて構成するが、この場合は12グリツドが必要になる
。従って、データ信号が多い場合は、遅延素子18によ
り回路が大規模化すると共に、消費電力の面で不利にな
る。
(発明が解決しようとする課題) 一般に、IC間でのデータの受渡しは、電源電圧差0周
囲部度差、製造上のばらつき等によって各信号の遅延時
間に差があり、クロックレートに対するデータ確立期間
が短くなる。特にスタンダードセルあるいはゲートアレ
ー等の基本セルをレイアウトして構築するシステムは、
設計時に用いた仮想配線長と実際の配線長とに差を生じ
るため、遅延素子等の遅延時間が変わってくる。このよ
うな場合、IC内部のフリップフロップ等のホールドタ
イムが得られなくなり、ラッチミスを生ずるという問題
があった。
この発明は上記問題点を除去し、IC内部の記憶セルに
ミスラッチ無くデータを記憶するようにした集積回路の
インターフェイス回路を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) この発明は、クロック信号端子に導入されるクロック信
号のバッファと、データ信号端子に導入されるデータ信
号のバッファと、上記クロック信号を階層的に分配づる
タイミング信号分配手段と、上記分配手段にて分配され
た第1のタイミングのクロック信号によって上記データ
信号を記憶しデジタル処理するための第1の記憶セル群
と、上記データバッファと上記第1の記憶セル群の間に
それぞれ接続し、上記第1のタイミングより位相的に早
い第2のタイミングのクロック信号によって上記データ
バッファからのデータ信号を1時期ホールドしそのデー
タを上記第1の記憶セル群に受は渡す第2の記憶セル群
とを具備することを特徴とする。
(作用) この発明による第2の記憶セル群は、データ信号端子の
データ信号をクロック信号のロウレベル期間に通過し、
ハイレベルへの立上りで一時期ホールドするので、次段
の第1の記憶セル群に対してはデータ確率期間を長くす
ることができ、ミスラッチが無くなる。
(実施例〉 以下、実施例により詳細に説明する。
第1図はこの発明に係る集積回路のインターフェイス回
路の一実施例を示す構成図である。
第1図において、筆9図と同一の要素には共通の符号を
付す。本実施例のデジタル集積回路1は、データ信号2
を入力バッファ3でバッファ増幅し、増幅したデータ信
号をトランスペアレントラッチ4を介してフリップフロ
ップ5に記憶り゛る。トランスペアレントラッチ4は、
クロックがロウレベルのときに入力を通過し、クロック
がロウレベルからハイレベルになる立上りのタイミング
で入力を記憶する。そして、データを記憶しているクロ
ックのハイレベルの間はデータを出力している。
クロック信号はクロック信号発生器6よりクロック信号
端子7に供給される。端子7からのクロツク信号は、入
力バッファ8でバッファ増幅され、インバータ素子10
〜13を介してフリップフロップ5に入力される。
上記トランスペアレントラッチ4へのクロック信号は、
入力バッファ8からのクロック信号(第2のタイミング
)が入力されている。
尚、インバータ素子10〜13は、実際には、第2図に
示すように、樹枝状に接続され、クロック信号を階屑的
にフリップフロップ5等の記憶セルに供給する。
このような構成によれば、データ信号端子2より入力さ
れたデータ信号は、バッファ3を介してトランスペアレ
ントラッチ4に入力される。トランスペアレントラッチ
4は、バッファ8からのクロック信号の立上りのタイミ
ングで入力したデー信号を記憶し、クロックがハイレベ
ルの期間そのデータ信号を出力する。フリップ70ツブ
5は、トランスペアレントラッチ4の出力を、クロック
信号の立上りのタイミングで記憶する。
今、クロック信号とデータ信号の関係が第10図に示す
ようなタイミングで各端子2.7に供給された場合のト
ランスペアレントラッチ4とフリップフロップ5の動作
を説明する。
第3図に第1図の構成における各素子の遅延量(単位n
5ec )を仮想配線長を用いて示す。この図で、トラ
ンスペアレントラッチ4の出力期間遅延量は、同ラッチ
4がデータ信号を出力している期間の終了時期の遅れで
あり、クロック信号の81遅延時間に関係している。
各素子の遅延量が第3図であるとき、データ信号がトラ
ンスペアレントラッチ4及びフリップフロップ5に記憶
されるタイミングは、第4図及び第5図のようになる。
第4図はばらつき幅kが0.4の場合であり、(a) 
、 (b)は各端子3.2におけるクロック信号及びデ
ータ信号を示す。(C)はトランスペアレントラッチ4
に入力するクロック信号を示し、(d)は同ラッチ4へ
入力するデータ信号を、(e)はフリップ70ツブ(F
F)5へ入力するクロック信号を、(f)はフリップフ
ロップ(FF)5へ入力するデータ信号をそれぞれ示す
。また、第5図はkが2.23の場合であり、各信号(
a)〜(f)は第4図と同じである。
例えばkが0.4の場合、バッファ3の遅延量より、ト
ランスペアレントラッチ4へのデータ入力(第4図d)
は、最大0.92+0.64の時間、データ確定期間が
短くなる。一方、クロック信号(第4図C〉は、バッフ
ァ8によって0.78遅延される。このようなデータ確
定期間とクロック信号とのタイミングは、セットアツプ
タイムの余裕が5 、9 Q n5ec、ホールドタイ
ムの余裕が6.18nSeCであり、仮想配線長と実配
線長との差による遅延時間誤差2 (LH/HL) n
5ecと比較しても、データ信号は、トランスペアレン
トラッチ4に確実にラッチされる。
しかして、トランスペアレントラッチ4は、クロック信
号がロウレベルのときは入力をスルーする。従って、フ
リップフロップ5は、0.92+0.66だけ遅れたデ
ータ信号を入力することができ、トランスペアレントラ
ッチ4がデータを記憶しそれを出力する以前にデータ信
号を記憶可能になっている。さて、フリップフロップ5
は、トランスペアレントラッチ4の出力(第4図f)を
、インバータ素子10〜13によって遅延されたクロッ
ク信号(第4図e)にて記憶する。この場合のクロック
信号の遅延時間は、0.78+1.82となる。これら
の値よりフリップフロップ5のセットアツプタイムの余
裕を求めると7.46となる。
また、ホールドタイムの余裕は、トランスペアレントラ
ッチ4がデータ信号を出力する期間がクロック信号のハ
イレベル期間であるので、同ハイレベル期間、そのデユ
ーティ−のばらつき10.5、トランスペアレントラッ
チ4の出力期間遅延量0゜94及びに−0,4のときの
最少ホールドタイムとから計算により求めて、22.1
6となる。
kが2.23の場合も、トランスペアレントラッチ4へ
のクロック入力(第5図C)の遅延時間4.37、デー
タ人力(第5図d)の遅延時間5゜11.3.57より
、トランスペアレントラッチ4のセットアツプタイム余
裕は0.91になり、ホールドタイムの余裕は2.41
になる。また、フリップフロップ5へのクロック入力(
第5図e)の遅延時間は4.37+10.17となり、
データ人力(第5図f)の遅延時間は3.66となる。
これらの値よりフリップフロップ5のセットアツプタイ
ムの余裕は、13.87になる。また、ホールドタイム
の余裕は、デユーティ−ばらつき10.5を考慮したク
ロック信号のハイレベル期間、トランスペアレントラッ
チ4の出力期間遅延量5゜22及びに=2.23のとき
の最小ホールドタイムより、11.17となる。
第6図に上記したセットアツプタイム及びホールドタイ
ムの余裕をまとめて示す。kが2.23のときのトラン
スペアレントラッチ4のセットアツプタイム及びホール
ドタイムの余裕が0.91゜2.41であり、仮想配線
長と実配線長との違いによる遅延時間誤差に対して少な
い。しかし、トランスペアレントラッチ4のクロック入
力及びデータ入力の遅延時間は、配線14.15のみに
よって決まるため、上記遅延時間誤差は第9図の回路に
比べ少なくなる。
以上により、クロック分配用のインバータ素子10〜1
3間を接続する配線長がIC内部レイアウトによって仮
想配線長と変わり、遅延時間に誤差を生じても、フリッ
プフロップ5のラッチミスは生じないことがわかる。
また、回路規模としては、トランスペアレントラッチ4
のグリッド数は5であり、遅延素子18のグリッド数に
比べ略半分で済む。
次に他の実施例を説明する。
第7図はこの発明に係るインターフェース回路の他の実
施例を示す。尚、第1図の実施例と共通する要素には同
一の符号を付す。
第7図において、データ信号はNビットで構成され、デ
ータ信号端子2N〜21より導入されるデータ信号をそ
れぞれフリップフロップ5N〜51に記憶するようにな
っている。これに対応してバッファ8からトランスペア
レントラッチ4N〜41をυlll1するクロック信号
は、ドライブ用バッファ17を介して各トランスペアレ
ントラッチ4N〜41に入力される。データバッファ3
N〜31とトランスペアレントラッチ4N〜41間に接
続されたバッファ16N〜161は、上記バッファ17
によって遅延されるクロック信号の遅延時間に、データ
信号を合せるための遅延素子である。
このような構成のインターフェース回路は、駆動能力の
大きいバッファ17にてトランスペアレントラッチ4N
〜41にクロック信号を与えることで、データ信号のビ
ット数が増えてもバッファ8の出力波形に与える影響を
小さくしている。また、トランスペアレントラッチ4N
〜41には、フリップフロップ5N〜51を制御づるク
ロック信号より位相的に早いクロック信号が入力され、
第1図の回路と同様に、仮想配線長と実配線長の違いに
よる遅延時間誤差を生じても、フリップフロップ5N〜
51にラッチミス無くデータ信号を記憶することができ
る。また、回路規模も例えば8ビツトデータ入力を想定
しても、バッファ17はグリッド数で7.バッファ16
は3であり、第9図と比べ増大することはない。
第8図はさらに他の実施例を示す。
本実施例は、バッファ8からのクロック信号をインバー
タ19を介してトランスペアレントラッチ4N〜41に
供給する。
このように構成しても、入力データが多ビットの場合に
、バッファ8の出力波形が影響されることはない。また
、インバータ索子19は、ノンインバータタイプのバッ
ファより遅延時間が短いため、データバッファ3N〜3
1とトランスペアレントラッチ4N〜41の間に遅延用
バッファを入れる必要がない。
[発明の効果] 以上説明したようにこの発明によれば、スタンダードセ
ル、ゲートアレイ等の基本セルをレイアウトによって構
成するICにおいて、仮想配線長と実配線長との違いに
よる遅延時間誤差を抑え、正確な入力データを記憶する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る集積回路のインターフェイス回
路の一実施例を示づ構成図、第2図は上記実施例を詳述
づる回路図、第3図は各素子の遅延量を説明するための
説明図、第4図及び第5図(よ上記実施例の動作を示づ
タイムチ1?−ト、第6図は上記実施例によって改善さ
れるセットアツプタイム及びホールドタイムの余裕を示
す説明図、第7図はこの発明の他の実施例を示す構成図
、第8図はさらに他の実施例を示ず構成図、第9図は従
来のインターフェース回路を示す構成図、第10図は上
記従来回路に入力するりロックとデータとのタイミング
を示すタイムチャート、第11図は同従来回路の動作を
示すタイムチャート、第12図は従来回路における各素
子の遅延量を示す説明図である。 1・・・デジタル集積回路、2・・・データ信号端子、
3・・・データバッファ、4・・・トランスペアレント
ラッチ、5・・・フリップ70ツブ、6・・・クロック
信号発生器、7・・・クロック信号端子、8,9・・・
りOツク用バッファ、10〜13.19・・・インバー
タ素子。 第1図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 クロック信号端子に導入されるクロック信号をドライブ
    するバッファと、 データ信号端子に導入されるデータ信号をドライブする
    バッファと、 上記クロック信号を階層的に分配するタイミング信号分
    配手段と、 上記分配手段にて分配された第1のタイミングのクロッ
    ク信号によつて上記データ信号を記憶しデジタル処理す
    るための第1の記憶セル群と、上記データバッファと上
    記第1の記憶セル群の間にそれぞれ接続し、上記第1の
    タイミングより位相的に早い第2のタイミングのクロッ
    ク信号によって上記データバッファからのデータ信号を
    1時期ホールドしそのデータを上記第1の記憶セル群に
    受渡す第2の記憶セル群とを具備することを特徴とする
    集積回路のインターフェイス回路。
JP20188189A 1989-08-02 1989-08-02 集積回路のインターフェイス回路 Pending JPH0365748A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012164910A (ja) * 2011-02-09 2012-08-30 Lapis Semiconductor Co Ltd 半導体集積回路、半導体チップ、及び半導体集積回路の設計手法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012164910A (ja) * 2011-02-09 2012-08-30 Lapis Semiconductor Co Ltd 半導体集積回路、半導体チップ、及び半導体集積回路の設計手法
US8907711B2 (en) 2011-02-09 2014-12-09 Lapis Semiconductor Co., Ltd. Integrated circuit having latch circuits and using delay circuits to fetch data bits in synchronization with clock signals

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