JPH0366109B2 - - Google Patents

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JPH0366109B2
JPH0366109B2 JP58003323A JP332383A JPH0366109B2 JP H0366109 B2 JPH0366109 B2 JP H0366109B2 JP 58003323 A JP58003323 A JP 58003323A JP 332383 A JP332383 A JP 332383A JP H0366109 B2 JPH0366109 B2 JP H0366109B2
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JP
Japan
Prior art keywords
jig
processing
processed sample
wrapping
wrap
Prior art date
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JP58003323A
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English (en)
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JPS59129662A (ja
Inventor
Juji Ochiai
Toshio Tamura
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS59129662A publication Critical patent/JPS59129662A/ja
Publication of JPH0366109B2 publication Critical patent/JPH0366109B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/27Work carriers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は長方形の加工試料の平面ラツピング加
工の改良に係り、加工試料に対して均一に荷重を
かけるようにして、加工精度を向上させると共
に、加工工数を低減し、量産に対処できるように
したラツピング方法及びその装置に関する。
〔従来技術〕
例えば、磁気ヘツドを例にとれば、高記録高密
度化への方向にある現在において、薄膜磁気ヘツ
ドの開発が急がれている。
これに併行して、機械加工の高精度化の開発が
不可欠なものとなつている。
以下薄膜磁気ヘツドを例に説明することにす
る。
第1図及び第2図に電子計算機用薄膜ヘツドの
一例を示しその概要を説明する。図において、1
は基板、2は薄膜磁気ヘツド素子部である。1A
は、浮上状態で磁気板(デイスク)と対向する面
である。第1図をA−A断面に薄膜磁気ヘツド素
子部2を拡大して示した第2図において、3は下
地、4は磁性膜、5は導体コイル、6は端子、7
は保護膜、8はギヤツプである。
このような薄膜ヘツドの製造は、複数個、例え
ば、5〜10個の薄膜ヘツド素子2を同一方向に揃
えて基板ブロツクに形成した後に、磁気板との対
向面1Aを、一緒に研摩加工し、これを個々の薄
膜ヘツドに切断することによつて行なわれてい
る。
この薄膜ヘツドの製造において重要な点の一つ
は、ギヤツプ深さDを高精度に確保することであ
る。
このギヤツプ深さの精度は、薄膜磁気ヘツド素
子を形成した基板ブロツク1の磁気板との対向面
1Aの研摩加工精度によつて決まる。従つて高精
度の薄膜磁気ヘツドを製造するには、上記対向面
1Aの研摩加工精度を高くする必要がある。
従来から用いられている上記研摩加工法とし
て、ラツピング法、及びポリシング法があるが、
これまでの加工法では、対向面の加工量(研摩
量)を全面にわたつて均一にするのがむつかし
く、高精度の薄膜磁気ヘツドの製造に対処できな
いという問題があつた。
その具体例を第3図に示し説明する。図に示す
ように、従来のラツピング加工法は、加工試料9
と加工用ダミー10を保持板11上に貼付け、加
工試料9と加工用ダミー10とを同時に研磨加工
するようにしていた。
この加工用ダミー10を使用したラツピング加
工法において、加工試料の加工面精度(平面度)
を良くするため、荷重点を低くすると、保持板1
1の剛性が弱くなり、研削加工時の保持(例えば
マグネツトチヤツク)等により、保持板11が変
形し易くなる。又このように保持板11が変形す
ると、研削加工後の加工試料9と加工用ダミー1
0とは同一平面にならなくなり、ラツピング加工
において片当りを生ずることになる。その結果、
加工試料9の表面加工量に差が生じ、ギヤツプD
の深さのばらつきは、数μmと大きくなるという
欠点があつた。
又上記欠点を解決するために、保持板11の剛
性を高めると、加工治具が大きくなり、又加工治
具を小さくした場合は、荷重点が高くなつて、安
定したラツピンク加工ができず、その時の平面精
度は、0.03〜0.3μm/4mmと非常に悪く、且つギ
ヤツプ深さDのばらつきも大きく薄膜磁気ヘツド
として必要な精度にすることができないという欠
点があつた。
〔発明の目的〕
本発明は、上記従来の欠点を解決し、加工試料
に対して均一な荷重をかけるようにして、加工精
度を向上させると共に、加工工数を低減し、量産
に対処できるようにしたラツピング方法及びその
装置を提供せんとするものである。
〔発明の概要〕
即ち本発明は、従来のような加工用ダミーを使
用しないようにして、加工用試料の全面に均一に
荷重がかかるようにして、加工精度を高めると共
に、加工用ダミーの加工工数をなくすようにし
て、ラツピング加工の工数を低減するようにした
ものであつて、長方形の加工試料を底辺にし加工
用治具を頂点とする二等辺三角形状に加工試料と
加工用治具とを配設し、二等辺三角形の頂点にな
つている加工用治具を自由平面内において可動可
能なようにすることによつて、前記二等辺三角形
の面積内にかけられた垂直荷重を、上記加工試料
全面に均一にかかるようにしたラツピング方法で
ある。
このラツピング方法を実施するための装置とし
て、先端を球形状に加工したシヤフトに自由平面
内において回動可能なように加工用治具を支持
し、一方加工試料を接着するための接着治具を備
えたラツプ治具を設け、このラツプ治具に設けた
接着治具を底辺にし前記加工具治具を頂点とする
二等辺三角形を形成するように前記シヤフトを付
して加工用治具とラツプ治具とを連結し、ラツプ
治具に連結した荷重棒によりラツプ治具に垂直荷
重をかけるようにしたことを特徴とするものであ
る。又上記連結部において、ラツプ治具と高さ調
整リングとを螺合させ、ある一定の角度をなす傾
斜面の加工を可能にしたことを特徴とする。
〔発明の実施例〕
以下本発明の一実施例について詳細に説明す
る。
先ず詳細な説明に当つて実施例の概要を説明す
る。加工用治具と加工試料との相対的な位置関係
を平面的に示した第5図において、加工試料21
を底辺にし、加工用治具25を頂点とした二等辺
三角形を形成する如くに、加工用治具25と加工
試料21とが配設されている。このように配設
し、加工用治具25を自由平面内で回動可能なよ
うにすることによつて、上記二等辺三角形内にか
けられた荷重は、加工用治具25(頂点)と加工
試料21(底辺)とに配分され、加工試料21に
配分された荷重は、加工試料21の面全体に均一
な荷重としてかかることになる。
この具体的な装置としては、第4図に示すよう
に、先端が球形状に加工されたシヤフト25に加
工用治具24を回動可能に支持し、一方加工試料
21を接着保持するための接着治具22を備えた
ラツプ治具を設け、このラツプ治具23と前記加
工用治具24とをシヤフト25によつて連結し、
このように連結されたラツプ治具23に、加重棒
29によつて垂直荷重をかけ、接着治具22に接
着保持した加工試料21に均一に荷重がかかるよ
うにしている。このようにして、加工試料21に
均一に荷重がかかるようにしてラツプ定盤31を
往復動又は回転させ研摩することにより、高精度
の加工面を得ることが可能となる。更に高さ調整
用リング26を調整することにより、ある一定の
傾斜角を有する加工面を得ることができる。
以下その詳細を更に詳しく説明する。第4図に
おいて、加工試料21は、接着治具22を介し
て、ラツプ治具23に接着保持されるようになつ
ている。24は加工用治具であり、先端が球形状
に加工されたシヤフト25によつて自由平面内に
おいて回動可能なように支持されている。この加
工用治具24とラツプ23とは、シヤフト25を
介して連結され、この連結によつて、接着治具2
2(又は加工試料21)と加工用治具24の中心
(又はシヤフト25の中心)とは、第5図に示す
ように、加工試料21を底辺とし、シヤフト25
の中心を頂点とする二等辺三角形を形成する如く
に配設される。
上記シヤフト25の連結部分は、ラツプ治具2
3に設けたネジ孔に高さ調整用リング26を螺合
させ、ネジピツチによつてラツプ治具23の一端
(二等辺三角形の頂点に相当する部分)の高さを
調整するようになつている。27は、調整された
高さを保持するための止ネジである。29は、リ
ニヤベアリング28を介して上下動可能なように
支持された荷重棒であり、この荷重棒29よりの
荷重を球面軸受30を介してラツプ治具23に伝
え、回転又は往復動(駆動機構は図示省略)する
ラツプ定盤31の動きに対し追従するようになつ
ている。
以上のように構成した本実施例の作用につい
て、以下説明する。先ず加工試料21を接着治具
22に接着保持させた後、高さ調整用リング26
を回転させながら、ラツプ治具23の一端の高さ
を調節する。例えば加工試料21の加工面を水平
面にするためには、ラツプ治具23が水平になる
ように高さ調整する。或は、加工試料21の加工
面をある角度をもつた仕上面にするためには、ラ
ツプ治具23の傾きがその加工角度になるように
調整する。このように高さを調節した後、止ネジ
27によつて固定する。このようにして高さ調整
後、荷重棒29によつて垂直荷重をかける。
この垂直荷重は、シヤフト25又は加工用治具
24の中心(二等辺三角形の頂点)と、加工試料
21(二等辺三角形の底辺)に配分される。この
時、ラツプ定盤31に面接触している加工用治具
24は、回動自在になつており、且つこの加工用
治具24の中心を頂点とする二等辺三角形の底辺
に加工試料21があるので、加工試料21は、ラ
ツプ定盤31に完全に面接触し、配分された荷重
は、加工試料21全面にわたつてかかることにな
る。このようにして加工試料21の全面に均一に
荷重をかけた状態でラツプ定盤31を回転又は往
復動させ研摩する。この研摩時において、ラツプ
定盤31の平面度の誤差による動は、球面軸受3
0によつて追従させ、研摩時においても加工試料
21にかかつている荷重分布は保たれる。
因みに、実際に研摩加工した例を示せば以下の
通りである。加工試料21と加工用治具24との
間の間隔を55mmとしたラツプ治具を使用した。使
用条件として、オプテイカルフラツト上で、加工
試料21と加工用治具24との間の高さを調整
後、錫製ラツプ定盤31にダイヤモンド砥粒0.5μ
m径を用いて加工した。
(1) 加工試料としてアルミナ系セラミツク20mm×
4mmのものを加工したところ、20mm方向の平坦
度0.25μm、4mm方向の平坦度0.05μmを得、且
つ20mm方向の加工量のばらつきは、10μm加工
する間に0.5μm以内であつた。
(2) 次に加工試料としてアルミナ系セラミツク50
mm×4mmのものを加工したところ、50mm方向の
平坦度は0.2μm以下が得られ、同じく50mm方向
の加工量のばらつきは、0.5μm以内であつた。
(3) 又同治具を使用して、平面加工終了後、加工
試料よりも加工治具を0.48mm下げて、約10μm
加工した結果、0.5°±0.05°の角度研摩ができ、
本治具の再現性が良いことを確認した。
〔発明の効果〕
以上詳述した通り、本発明のラツピング方法及
び装置によれば、加工試料を底辺とし、加工用治
具を頂点とする二等辺三角形状に加工試料と加工
治具とを配設し、この加工用治具を自由平面内に
おいて回動可能なようにしたので、完全に加工用
治具と加工試料とをラツピングさせることがで
き、その結果加工試料に均一に荷重をかけること
ができ、加工量のばらつきを少なくすると共に高
精度の仕上面を得ることができた。
又ダミーを使用しないで加工用治具を使用する
ようにしたので、ダミーの製作が不必要となり、
且つ再現性がよくなり、量産への対処が可能にな
つた。
更に、高さ調整を可能にすることにより、微少
な傾き加工が可能となり、同一加工治具及び同一
工程で一定の角度をなす二平面の加工ができ、大
巾な工数低減を計ることができるなど優れた効果
を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、薄膜磁気ヘツドの一例を示した説明
用斜視図、第2図は第1図のA−A線視図であ
り、薄膜磁気ヘツド素子部を部分拡大して示した
説明図である。第3図は、従来のラツピング方法
を図した斜視図である。第4図は本発明の一実施
例であり、その構成部分を示したたて断面図、第
5図は、第4図における加工用治具と加工試料と
の位置関係を平面上で示した説明用図である。 21……加工試料、22……接着治具、23…
…ラツプ治具、24……加工用治具、25……シ
ヤフト、26……高さ調整リング、29……荷重
棒、30……球面軸受。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 長方形の加工試料の表面を加工するラツピン
    グ方法において、長方形の加工試料を底辺にし加
    工用治具を頂点とする二等辺三角形状に加工試料
    と加工用治具とを配設し、該頂点となる加工用治
    具を自由平面内において可動可能なようにし、前
    記二等辺三角形の面積内において垂直荷重をか
    け、この垂直荷重が加工試料に均一にかかるよう
    にしたラツピング方法。 2 長方形の加工試料の表面を加工するラツピン
    グ装置において、先端を球形状に加工したシヤフ
    トに回動可能なように支持された加工用治具と、
    加工試料を接着する接着治具を備えたラツプ治具
    と、該ラツプ治具に垂直荷重を与えるための荷重
    棒とから成り、前記接着用治具を底辺にし加工用
    治具を頂点とする二等辺三角形を形成する如くに
    前記シヤフトを介して加工用治具とラツプ治具と
    を連結し、該ラツプ治具の上面に荷重棒を連結し
    て成るラツピング装置。 3 長方形の加工試料の方面を加工するラツピン
    グ装置において、先端を球形状に加工したシヤフ
    トに回動可能なように支持された加工用治具と、
    加工試料を接着する接着治具を備えたラツプ治具
    と、該ラツプ治具の高さを調整するための高さ調
    整リングと、前記ラツプ治具に垂直荷重を与える
    ための荷重棒とから成り、高さ調整リングをラツ
    プ治具に設けたネジ孔に螺合し、該高ざ調整リン
    グを前記シヤフトに嵌合して前記接着用治具を底
    辺にし加工用治具を頂点とする二等辺三角形を形
    成する如くに加工用治具とラツプ治具とを連結
    し、該ラツプ治具の上面に荷重棒を連結して成る
    ラツピング装置。
JP58003323A 1983-01-14 1983-01-14 ラツピング方法及びその装置 Granted JPS59129662A (ja)

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JPS59129662A JPS59129662A (ja) 1984-07-26
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JP2948598B2 (ja) * 1989-01-30 1999-09-13 株式会社日立製作所 磁気ヘッドのコアスライダ製造方法

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JPS59129662A (ja) 1984-07-26

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