JPH0370423A - ディジタル保護リレー装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ 〈産業上の利用分野） 本発明は自動監視回路を有するディジタル保護リレー装
置に関する。

（従来の技＃ｉ） 電力系統では保護リレー装置が万一不具合動作をした場
合、その影響が大きく、Ｉ＆悪の場合系統崩壊にもつな
がりかねないため、なによりも動作信頼度の向上が重要
である。

保護リレー装置の不良は、その影響と対策面から克て分
類すると ■動作すべきときに動作しない不良（誤不動作不良〉 ■動作してはいけないときに動作する不良（誤動作不良
） とに分けられる。そこで、保護リレー装置では、誤不動
作間の不良を発見することを主目的とした自動点検機能
と、誤動作側の不良発見を目的とした常時監視機能を具
備するのが一般的である。そして、これらの両機能を総
称して自動監視機能と呼んでいる。

ディジタル保護リレー装置は、リレー演算処理部がマイ
クロプロセッサ（以下ＣＰｕという）を中心に構成され
ているため、その演算処理機能を活用することにより、
リレー装置を構成する大部分のハードウェアブロックの
健否を自己診断技術によってチエツクすることが可能で
ある。

この診［ｉ機能の個々の手法のうち、リレー機能を中継
せずに行なうものを常時監視、リレー機能を中断しトリ
ップロックした上で行なうものを自動点検と呼んでいる
。

ディジタル保護リレー装置は前述のように、大部分の装
置不良は自己診断技術の活用による常時監視で検出でき
る。このためリレー機能を中断してしか実施できない自
動点検の適用は、通常アナログ入力回路部に点検電流を
印加し、内部に演算処理機能をもつことから、データの
最小分解能の精度でのハードウェアブロックの点検と、
引外し回路用接点のような常時開路している回路につい
て演算処理ＣＰｕより強制動作出力を発し、最終段接点
情報をＣＰｕ部へ取り込んで、点検を行なう方法がとら
れている。

第４図に主検出リレー（Ｍ＞とフェイルセーフリレー（
Ｆ）により構成されるディジタル保護りレー装置の自動
点検のタイムチャートの例を示す。

自動点検時のトリップロック指令によるトリップロック
を確認後、主検出リレー（Ｍ）のアナログ入力回路と出
力回路に同時に入力を印加して動作側の確認を行ない、
確認時点で入力を切り復帰側の確認を行なう。この確認
時点からフェイルセーフリレー（Ｆ）についても、アナ
ログ入力回路と出力回路の動作側及び復帰側の確認を並
列して行なう。

このため、点検所要時間Ｔｃは大幅に短縮されており、
２００ｍ５程度以内で全てを完了し、通常運用状態に戻
すことが可能な保護リレー装置が多い。

また、自動点検中に系統事故が発生した場合には、直ち
に点検を中止し、所定時間経過後にトリップロックを解
除する事故対応機能を設けている。

この機能は、被点検装置と他装置、例えば被点検中の母
線分離装置と他の端子の距離継電装置の第２段との時間
協調をとること、及び被点検装置が点検の入力と系統事
故の入力とにより正常な点検の確認ができず、点検不良
となることを防止する目的で設けている。

（発明が解決しようとする課題〉 上記の構成を有するディジタル保護リレー装置の試験時
の問題点について説明する。

現地受入れ試験時等で１、上述の事故対応機能の試験を
実施する必要があるが、点検所要時間が２００ｒｍｓ程
度以内と短く、人為的に事故を模擬することが困難であ
った。また、この！Ａ擬のために専用に模擬試験器を製
作納入することも経済性から見て問題であった。

本発明では、上記問題を解決するためになされるもので
あり、ディジタル保護リレー装置の特徴を生かした上で
、事故対応機能の試験を容易に行なえるディジタル保護
リレー装置を提供することを目的としている。

［発明の構成］ 〈課題を解決するための手段） 上記目的を達成するため本発明では、自動点検中のソフ
トウェアの任意の処理タイミングを出力する回路を設け
、この出力によりアナログ入力用試験器（虚負荷試験器
等）の入力印加タイミングを任意に行なえるように構成
した。

（作　用） 本発明では自動点検中の任意のタイミングで試験器の入
力印加タイミングが設定できるので、自動点検中の任意
の時点での事故対応機能試験ができる。

（実施例） 本発明の一実施例を第１図の出力構成図を用いて説明す
る。

本実施例は自動点検中のワンポイントでの事故対応機能
試験可能とするもので、１は本機能を使用するか否かを
選択する端子である。トリップロック確認信号は第４図
に示すタイミングで発生する信号であり、上記１の使用
条件とが共に成立すればＡＮＤゲート２が出力し、所定
時間出力を出すワンショット回路３によって出力回路４
を動作させる。Ｘは出力回路４の出力により閉路する接
点で、ワンショット回路３が出力している開閉路する。

このＸ接点を試験器の入力印加制御に使用することで、
トリップロックｉ認時点から任意のワンポイントで事故
対応機能の試験が可能となる。

第２図は他の実施例による構成図である。

本実施例では自動点検中の各ステップ毎に事故対応機能
試験を可能とするよう構成したものである。

第２図のステップ■は第４図のトリップロック確認のタ
イミングで発生する信号、以下第２図の■〜■は第４図
の■〜■のタイミングで発生する信号に対応する。１１
〜１５はステップ■〜■のどのタイミングで事故対応機
能試験を行なうかを選択する端子で、それぞれのへＮＯ
ゲート１６〜２０で判定される。２１はＯＲゲートでＡ
ＮＤゲート１６〜２０を入力条件とし、所定時間出力を
出すワンショット回路２２に対して出力を出す。この出
力により出力回路２３を動作させる。Ｘは出力回路２３
の出力により閉路する接点で、ワンショット回路２２が
出力している開閉路する。このＸ接点を試験器の入力印
加制御に使用することにより自動点検中の各ステップ毎
に事故対応機能試験が可能となる。

第３図は他の応用例による構成図である。

第３図において第１図と同一の部品には同一符号を付し
ている。

本応用例では自動点検中の全てのポイントでの事故対応
機能試験を可能とするよう構成したものである。

第３図の１，２は第１図の１．２と同一機能を有し、３
１は可変タイマで任意の時間設定が可能である。３．４
．Ｘは第１図の３．４．Ｘと同一機能を有する。よって
トリップロック確認時点から可変タイマ３１を任意の時
間に設定すれば、任意のポイントでの事故対応機能試験
が可能となる。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によれば、自動点検中のソ
フトウェアにおける任意の処理タイミングを出力する回
路を設け、この出力を試験器の入力印加制御に使用する
ことにより、点検所要時間が雉い装置の事故対応機能試
験が容易に可能となるディジタル保護リレー装置を得る
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるディジタル保護リレー装置の一実
施例の出力構成図、第２図は他の実施例の出力構成図、
第３図は更に他の応用例の出力構成図、第４図はディジ
タル保護リレー装置の自動点検タイミングである。 １．１１〜１５・・・選択端子 ２．１６〜２０・・・へＮＯゲート ３．２２・・・ワンショット回路 ４．２３・・・出力回路　　　２１・・・ＯＲゲート３
１・・・可変タイマ　　　　Ｘ・・・接点第１図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. リレー演算処理部がマイクロプロセッサより構成され、
   このマイクロプロッセサの演算処理により自動点検の制
   御及び結果判定を行なうディジタル保護リレー装置にお
   いて、前記自動点検制御の演算処理の所定のタイミング
   と当該条件を導出するか否かを選択する条件回路とによ
   り出力する第１の回路と、第１の回路の出力を導入し所
   定時間出力する第２の回路と、第２の回路の出力により
   マイクロプロセッサの外部へ出力を出す第３の回路とを
   備えたことを特徴とするディジタル保護リレー装置。