JPH0378718B2 - - Google Patents
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- JPH0378718B2 JPH0378718B2 JP61069230A JP6923086A JPH0378718B2 JP H0378718 B2 JPH0378718 B2 JP H0378718B2 JP 61069230 A JP61069230 A JP 61069230A JP 6923086 A JP6923086 A JP 6923086A JP H0378718 B2 JPH0378718 B2 JP H0378718B2
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/133—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals using a chain of active delay devices
- H03K5/134—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals using a chain of active delay devices with field-effect transistors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
- G11C19/18—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using capacitors as main elements of the stages
- G11C19/182—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using capacitors as main elements of the stages in combination with semiconductor elements, e.g. bipolar transistors, diodes
- G11C19/184—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers using capacitors as main elements of the stages in combination with semiconductor elements, e.g. bipolar transistors, diodes with field-effect transistors, e.g. MOS-FET
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Pulse Circuits (AREA)
- Shift Register Type Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は、例えばデイジタルテレビ、高品位
テレビ等のデイジタル化された映像機器に使用さ
れるラインメモリに用いられ、遅延量の制御が可
能な遅延回路に関する。
テレビ等のデイジタル化された映像機器に使用さ
れるラインメモリに用いられ、遅延量の制御が可
能な遅延回路に関する。
(従来の技術)
一般に、この種の遅延量の制御を可能にする遅
延回路は、例えば第5図に示すように構成されて
いる。第5図において、11は入力信号Dinが供
給されクロツク信号φで制御される第1の遅延回
路で、この遅延回路11による入力信号Dinの遅
延出力は、同じくクロツク信号φで制御される第
2の遅延回路12に供給される。上記遅延回路1
1,12の出力はそれぞれマルチプレクサ13に
供給される。そして、このマルチプレクサ13に
供給される遅延制御信号Sによつていずれか一方
の遅延回路の出力が選択され、遅延出力Doutを
得るようになつている。従つて、マルチプレクサ
13により遅延回路11の出力を選択した場合に
は遅延回路11による遅延時間が得られ、遅延回
路12の出力を選択した場合には遅延回路11と
12とによる遅延時間が得られる。
延回路は、例えば第5図に示すように構成されて
いる。第5図において、11は入力信号Dinが供
給されクロツク信号φで制御される第1の遅延回
路で、この遅延回路11による入力信号Dinの遅
延出力は、同じくクロツク信号φで制御される第
2の遅延回路12に供給される。上記遅延回路1
1,12の出力はそれぞれマルチプレクサ13に
供給される。そして、このマルチプレクサ13に
供給される遅延制御信号Sによつていずれか一方
の遅延回路の出力が選択され、遅延出力Doutを
得るようになつている。従つて、マルチプレクサ
13により遅延回路11の出力を選択した場合に
は遅延回路11による遅延時間が得られ、遅延回
路12の出力を選択した場合には遅延回路11と
12とによる遅延時間が得られる。
第6図および第7図はそれぞれ、上記第5図に
おける遅延回路11,12の構成例を示してい
る。第6図はクロツク信号,φによつて制御さ
れるクロツクドインバータ14,15から成るダ
イナミツクシフトレジスタ、第7図はクロツク信
号,φによつて制御されるクロツクドインバー
タ16〜19、およびインバータ20,21から
成るスタテイツクシフトレジスタである。上記第
6図および第7図の回路では、クロツク信号φの
1周期分の遅延時間が得られ、所望の遅延時間に
応じて複数段縦続接続して用いる。
おける遅延回路11,12の構成例を示してい
る。第6図はクロツク信号,φによつて制御さ
れるクロツクドインバータ14,15から成るダ
イナミツクシフトレジスタ、第7図はクロツク信
号,φによつて制御されるクロツクドインバー
タ16〜19、およびインバータ20,21から
成るスタテイツクシフトレジスタである。上記第
6図および第7図の回路では、クロツク信号φの
1周期分の遅延時間が得られ、所望の遅延時間に
応じて複数段縦続接続して用いる。
上記第5図の回路の動作を第8図a,bのタイ
ミングチヤートを参照して説明する。a図は、遅
延回路11がクロツク信号φの2周期分の遅延を
行ない(前記第6図あるいは第7図の回路が2段
縦続接続されて遅延回路が構成されている)、遅
延回路12がクロツク信号φの1周期分の遅延を
行なう(前記第6図あるいは第7図の回路が1
段)場合のタイミングを示している。図示するよ
うに、遅延制御信号Sがロー(“L”)レベルの場
合は、遅延回路12の出力が選択されて入力信号
Dinをクロツク信号φの3周期分遅延した出力
Doutが得られ、遅延制御信号Sがハイ(“H”)
レベルの場合には、遅延回路11の出力が選択さ
れて入力信号Dinをクロツク信号φの2周期分遅
延した出力Doutが得られる。b図は、遅延回路
11がクロツク信号φの4周期分の遅延を行な
い、遅延回路12がクロツク信号φの2周期分の
遅延を行なう場合のタイミングを示している。遅
延制御信号Sが“L”レベルの場合は、遅延回路
12の出力が選択されて入力信号Dinをクロツク
信号φの6周期分遅延した出力Doutが得られ、
遅延制御信号Sが“H”レベルの場合には、遅延
回路11の出力が選択されて入力信号Dinをクロ
ツク信号φの4周期分遅延した出力Doutが得ら
れる。
ミングチヤートを参照して説明する。a図は、遅
延回路11がクロツク信号φの2周期分の遅延を
行ない(前記第6図あるいは第7図の回路が2段
縦続接続されて遅延回路が構成されている)、遅
延回路12がクロツク信号φの1周期分の遅延を
行なう(前記第6図あるいは第7図の回路が1
段)場合のタイミングを示している。図示するよ
うに、遅延制御信号Sがロー(“L”)レベルの場
合は、遅延回路12の出力が選択されて入力信号
Dinをクロツク信号φの3周期分遅延した出力
Doutが得られ、遅延制御信号Sがハイ(“H”)
レベルの場合には、遅延回路11の出力が選択さ
れて入力信号Dinをクロツク信号φの2周期分遅
延した出力Doutが得られる。b図は、遅延回路
11がクロツク信号φの4周期分の遅延を行な
い、遅延回路12がクロツク信号φの2周期分の
遅延を行なう場合のタイミングを示している。遅
延制御信号Sが“L”レベルの場合は、遅延回路
12の出力が選択されて入力信号Dinをクロツク
信号φの6周期分遅延した出力Doutが得られ、
遅延制御信号Sが“H”レベルの場合には、遅延
回路11の出力が選択されて入力信号Dinをクロ
ツク信号φの4周期分遅延した出力Doutが得ら
れる。
第9図は、前記第5図に示した遅延回路10と
シフトレジスタ1、およびシフトレジタ21〜2
nを組合わせて構成した遅延量制御メモリの構成
例を示している。上記シフトレジスタ1は、入力
信号Dinをクロツク信号に同期させるためのもの
であり、シフトレジスタ21〜2nは入力された
信号(データ)Dinを記憶しつつ順次シフトする
ためのものである。この際、メモリの遅延量は遅
延制御信号S1,S2、およびS3によつて選択的に制
御される。
シフトレジスタ1、およびシフトレジタ21〜2
nを組合わせて構成した遅延量制御メモリの構成
例を示している。上記シフトレジスタ1は、入力
信号Dinをクロツク信号に同期させるためのもの
であり、シフトレジスタ21〜2nは入力された
信号(データ)Dinを記憶しつつ順次シフトする
ためのものである。この際、メモリの遅延量は遅
延制御信号S1,S2、およびS3によつて選択的に制
御される。
ところで、従来の遅延量制御メモリの場合、遅
延量制御ブロツク内に遅延信号を選択するための
マルチプレクサを備えているため、回路を構成す
る1ブロツク内のゲート数および配線数が多くな
る欠点がある。また、このブロツクを用いて遅延
メモリを構成する場合、同一の遅延量制御ブロツ
クを多数段使用するため、集積化した際のチツプ
サイズが大きくなる欠点がある。
延量制御ブロツク内に遅延信号を選択するための
マルチプレクサを備えているため、回路を構成す
る1ブロツク内のゲート数および配線数が多くな
る欠点がある。また、このブロツクを用いて遅延
メモリを構成する場合、同一の遅延量制御ブロツ
クを多数段使用するため、集積化した際のチツプ
サイズが大きくなる欠点がある。
(発明が解決しようとする問題点)
上述したように、遅延量の制御が可能な従来の
遅延回路は、素子数および配線数が多くなり、集
積化した際のパターン面積が大きくなる欠点があ
つた。
遅延回路は、素子数および配線数が多くなり、集
積化した際のパターン面積が大きくなる欠点があ
つた。
従つて、この発明は、素子数および配線数の削
減が図れ、パターン面積を縮小できる遅延回路を
提供することを目的とする。
減が図れ、パターン面積を縮小できる遅延回路を
提供することを目的とする。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段とその作用)
この発明の遅延回路は、クロツクドインバータ
を構成しクロツク信号で導通制御されるトランジ
スタと並列に、遅延制御信号で導通制御される遅
延量制御用のトランジスタを接続し、この遅延量
制御用トランジスタを導通させたときは通常のイ
ンバータとして用い、非導通状態に設定した時に
はクロツクドインバータとして用いるようにして
いる。
を構成しクロツク信号で導通制御されるトランジ
スタと並列に、遅延制御信号で導通制御される遅
延量制御用のトランジスタを接続し、この遅延量
制御用トランジスタを導通させたときは通常のイ
ンバータとして用い、非導通状態に設定した時に
はクロツクドインバータとして用いるようにして
いる。
(実施例)
以下、この発明の一実施例について図面を参照
して説明する。第1図はこの発明による遅延回路
としてのダイナミツクシフトレジスタの構成例を
示している。電源VDDと接地点間にはPチヤネル
型のMOS FET22,23およびNチヤネル型
のMOS FET24,25が直列接続される。上
記MOS FET23,24のゲートには入力信号
Dinが供給される。また、上記MOS FET22の
ゲートにはクロツク信号φが、上記MOS FET
25のゲートにはクロツク信号がそれぞれ供給
される。上記MOS FET22,23の接続点と
電源VDD間には、遅延制御信号で導通制御され
るPチヤネル型のMOS FET26が、上記MOS
FET24,25の接続点と接地点間には、遅延
制御信号Sで導通制御されるNチヤネル型の
MOS FET27がそれぞれ接続される。上記
MOS FET23と24との接続点には、Pチヤ
ネル型のMOS FET28およびNチヤネル型の
MOS FET29のゲートがそれぞれ接続される。
上記MOS FET28,29の一端は共通接続さ
れており、MOS FET28の他端と電源VDD間に
は遅延制御信号で導通制御されるMOS FET
30およびクロツク信号で導通制御される
MOS FET31が並列接続される。一方、MOS
FET29の他端と接地点間には遅延制御信号S
で導通制御されるMOS FET32およびクロツ
ク信号φで導通制御されるMOS FET33が並
列接続される。そして、上記MOS FET28,
29の接続点から遅延出力Doutを得るようにし
て成る。
して説明する。第1図はこの発明による遅延回路
としてのダイナミツクシフトレジスタの構成例を
示している。電源VDDと接地点間にはPチヤネル
型のMOS FET22,23およびNチヤネル型
のMOS FET24,25が直列接続される。上
記MOS FET23,24のゲートには入力信号
Dinが供給される。また、上記MOS FET22の
ゲートにはクロツク信号φが、上記MOS FET
25のゲートにはクロツク信号がそれぞれ供給
される。上記MOS FET22,23の接続点と
電源VDD間には、遅延制御信号で導通制御され
るPチヤネル型のMOS FET26が、上記MOS
FET24,25の接続点と接地点間には、遅延
制御信号Sで導通制御されるNチヤネル型の
MOS FET27がそれぞれ接続される。上記
MOS FET23と24との接続点には、Pチヤ
ネル型のMOS FET28およびNチヤネル型の
MOS FET29のゲートがそれぞれ接続される。
上記MOS FET28,29の一端は共通接続さ
れており、MOS FET28の他端と電源VDD間に
は遅延制御信号で導通制御されるMOS FET
30およびクロツク信号で導通制御される
MOS FET31が並列接続される。一方、MOS
FET29の他端と接地点間には遅延制御信号S
で導通制御されるMOS FET32およびクロツ
ク信号φで導通制御されるMOS FET33が並
列接続される。そして、上記MOS FET28,
29の接続点から遅延出力Doutを得るようにし
て成る。
上記のような構成において、遅延制御信号Sを
“L”レベル(は“H”レベル)に設定すると、
遅延量制御用のMOS FET26,27,30、
および32はオフ状態となり、この回路はクロツ
ク信号φ,に同期して動作するクロツクドイン
バータ341,342が2段縦続接続されたダイナ
ミツクシフトレジスタとなる。一方、遅延制御信
号Sを“H”レベル(は“L”レベル)に設定
すると、上記MOS FET26,27,30、お
よび32はオン状態となるので、クロツク信号
φ,には無関係となつて通常のインバータが2
段の構成となり、入力信号Dinはそのまま出力信
号Doutとして出力(スルー)される。
“L”レベル(は“H”レベル)に設定すると、
遅延量制御用のMOS FET26,27,30、
および32はオフ状態となり、この回路はクロツ
ク信号φ,に同期して動作するクロツクドイン
バータ341,342が2段縦続接続されたダイナ
ミツクシフトレジスタとなる。一方、遅延制御信
号Sを“H”レベル(は“L”レベル)に設定
すると、上記MOS FET26,27,30、お
よび32はオン状態となるので、クロツク信号
φ,には無関係となつて通常のインバータが2
段の構成となり、入力信号Dinはそのまま出力信
号Doutとして出力(スルー)される。
第2図は、上記第1図に示したダイナミツクシ
フトレジスタ35と通常の遅延回路36とを用い
て構成した遅延量制御ブロツクを示している。上
記のような構成において、遅延制御信号Sが”
L”レベルの時には、遅延回路35のクロツクド
インバータ341,342が動作し、遅延回路36
と35とによる遅延出力Doutが得られる。一方、
遅延制御信号Sが“H”レベルの時は、遅延回路
35のクロツクドインバータ341,342はイン
バータ動作を行ない、遅延回路36による遅延出
力が出力信号Doutとして得られる。
フトレジスタ35と通常の遅延回路36とを用い
て構成した遅延量制御ブロツクを示している。上
記のような構成において、遅延制御信号Sが”
L”レベルの時には、遅延回路35のクロツクド
インバータ341,342が動作し、遅延回路36
と35とによる遅延出力Doutが得られる。一方、
遅延制御信号Sが“H”レベルの時は、遅延回路
35のクロツクドインバータ341,342はイン
バータ動作を行ない、遅延回路36による遅延出
力が出力信号Doutとして得られる。
このような構成によれば、マルチプレクサを不
要にできるので、この回路部の素子数および配線
数を削減でき、パターン面積を縮小できる。
要にできるので、この回路部の素子数および配線
数を削減でき、パターン面積を縮小できる。
なお、上記実施例では、クロツクドインバータ
341,342におけるクロツク信号φ,で制御
されるMOS FET22,25,31、および3
3が電源側にある場合について説明したが、出力
側にある場合には第3図に示すように構成すれば
良い。第3図において、前記第1図と同一の
MOS FETには同じ符号を付してその詳細な説
明は省略する。このような構成においても前記第
1図の回路と同様な動作を行ない同じ効果が得ら
れるのはもちろんである。
341,342におけるクロツク信号φ,で制御
されるMOS FET22,25,31、および3
3が電源側にある場合について説明したが、出力
側にある場合には第3図に示すように構成すれば
良い。第3図において、前記第1図と同一の
MOS FETには同じ符号を付してその詳細な説
明は省略する。このような構成においても前記第
1図の回路と同様な動作を行ない同じ効果が得ら
れるのはもちろんである。
第4図は、この発明の他の実施例を示すもの
で、上記各実施例ではダイナミツクシフトレジス
タを例に取つて説明したのに対し、スタテイツク
型で構成したものである。第4図におけるクロツ
クドインバータ37〜40は、前記第1図あるい
は前記第3図のクロツクドインバータ341,3
42と同一構成になつており、インバータ41,
42はCMOS型となつている。上記のような構
成において、クロツクドインバータ38とインバ
ータ41、およびクロツクドインバータ40とイ
ンバータ42はそれぞれラツチ回路を構成してお
り、入力信号Dinをスタテイツクに転送する。こ
のような構成においても上述したダイナミツク型
のシフトレジスタと同様に、遅延制御信号Sのレ
ベルに応じて入力信号Dinをクロツクφの1周期
分遅延させるか、あるいはスルーさせるかを選択
できる。なお、前記ダイナミツク型の場合と同様
に、上記第4図の回路と通常の遅延回路とを組合
わせて用いても良い。
で、上記各実施例ではダイナミツクシフトレジス
タを例に取つて説明したのに対し、スタテイツク
型で構成したものである。第4図におけるクロツ
クドインバータ37〜40は、前記第1図あるい
は前記第3図のクロツクドインバータ341,3
42と同一構成になつており、インバータ41,
42はCMOS型となつている。上記のような構
成において、クロツクドインバータ38とインバ
ータ41、およびクロツクドインバータ40とイ
ンバータ42はそれぞれラツチ回路を構成してお
り、入力信号Dinをスタテイツクに転送する。こ
のような構成においても上述したダイナミツク型
のシフトレジスタと同様に、遅延制御信号Sのレ
ベルに応じて入力信号Dinをクロツクφの1周期
分遅延させるか、あるいはスルーさせるかを選択
できる。なお、前記ダイナミツク型の場合と同様
に、上記第4図の回路と通常の遅延回路とを組合
わせて用いても良い。
[発明の効果]
以上説明したようにこの発明によれば、素子数
および配線数の削減が図れ、パターン面積を縮小
できる遅延回路が得られる。
および配線数の削減が図れ、パターン面積を縮小
できる遅延回路が得られる。
第1図はこの発明の一実施例に係わる遅延回路
について説明するための図、第2図乃至第4図は
それぞれこの発明の他の実施例について説明する
ための図、第5図乃至第9図はそれぞれ従来の遅
延回路について説明するための図である。 22〜33……MOS FET(26,27,3
0,32……遅延量制御用MOS FET)、S,
……遅延制御信号、VDD……電源、φ,……ク
ロツク信号、Din……入力信号、Dout……出力信
号。
について説明するための図、第2図乃至第4図は
それぞれこの発明の他の実施例について説明する
ための図、第5図乃至第9図はそれぞれ従来の遅
延回路について説明するための図である。 22〜33……MOS FET(26,27,3
0,32……遅延量制御用MOS FET)、S,
……遅延制御信号、VDD……電源、φ,……ク
ロツク信号、Din……入力信号、Dout……出力信
号。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 第1のクロツクドインバータと、この第1の
クロツクドインバータの出力が供給され、逆相関
係にあるクロツク信号で制御される第2のクロツ
クドインバータと、上記第1、第2のクロツクド
インバータにおけるクロツク信号で導通制御され
る各MOS FETにそれぞれ並列接続され、遅延
制御信号で導通制御される遅延量制御用MOS
FETとを具備することを特徴とする遅延回路。 2 前記第1のクロツクドインバータの入力端、
および前記第2のクロツクドインバータの出力端
の少なくともいずれか一方に信号遅延手段を設
け、前記遅延制御信号のレベルに応じて前記第
1、第2のクロツクドインバータによる信号遅延
と上記遅延手段による遅延時間の和、あるいは上
記遅延手段のみによる遅延を選択することを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の遅延回路。 3 一端が共通接続され入力信号で導通制御され
る第1導電型の第1MOS FET、第2導電型の第
2MOS FETと、上記第1MOS FETの他端と電
源の一方間に接続されクロツク信号で導通制御さ
れる第1導電型の第3MOS FETと、上記第
2MOS FETの他端と電源の他方間に接続され上
記クロツク信号の反転信号で導通制御される第2
導電型の第4MOS FETと、上記第1、第3MOS
FETの接続点と電源の一方間に接続され遅延制
御信号で導通制御される第1導電型の第5MOS
FETと、上記第2、第4MOS FETの接続点と電
源の他方間に接続され上記遅延制御信号の反転信
号で導通制御される第2導電型の第6MOS FET
と、上記第1、第2MOS FETの接続点にゲート
が接続され一端が共通接続される第1導電型の第
7MOS FET、第2導電型の第8MOS FETと、
上記第7MOS FETの他端と電源の一方間に接続
され上記クロツク信号の反転信号で導通制御され
る第1導電型の第9MOS FETと、上記第8MOS
FETの他端と電源の他方間に接続され上記クロ
ツク信号で導通制御される第2導電型の第
10MOS FETと、上記第7、第9MOS FETの接
続点と電源の一方間に接続され上記遅延制御信号
で導通制御される第1導電型の第11MOS FET
と、上記第8、第10MOS FETの接続点と電源
の他方間に接続され上記遅延制御信号の反転信号
で導通制御される第2導電型の第12MOS FET
とを具備し、上記第7、第8MOS FETの接続点
から上記遅延制御信号のレベルに応じた遅延出力
を得ることを特徴とする遅延回路。 4 一端が電源の一方に接続され入力信号で導通
制御される第1導電型の第1MOS FETと、一端
が電源の他方に接続され上記入力信号で導通制御
される第2導電型の第2MOS FETと、上記第
1MOS FETの他端に一端が接続されクロツク信
号で導通制御される第1導電型の第3MOS FET
と、この第3MOS FETの他端と上記第2MOS
FETの他端間に接続され上記クロツク信号の反
転信号で導通制御される第2導電型の第4MOS
FETと、上記第1、第3MOS FETの接続点と上
記第3、第4MOS FETの接続点間に接続され遅
延制御信号で導通制御される第1導電型の第
5MOS FETと、上記第2、第4MOS FETの接
続点と上記第3、第4MOS FETの接続点間に接
続され上記遅延制御信号の反転信号で導通制御さ
れる第2導電型の第6MOS FETと、一端が電源
の一方に接続されゲートが上記第3、第4MOS
FETの接続点に接続される第1導電型の第
7MOS FETと、一端が電源の他方に接続されゲ
ートが上記第3、第4MOS FETの接続点に接続
される第2導電型の第8MOS FETと、上記第
7MOS FETの他端に一端が接続され上記クロツ
ク信号の反転信号で導通制御される第1導電型の
第9MOS FETと、この第9MOS FETの他端と
上記第8MOS FETの他端間に接続され上記クロ
ツク信号で導通制御される第2導電型の第
10MOS FETと、上記第7、第9MOS FETの接
続点と上記第9、第10MOS FETの接続点間に
接続され上記遅延制御信号で導通制御される第1
導電型の第11MOS FETと、上記第8、第
10MOS FETの接続点と上記第9、第10MOS
FETの接続点間に接続され上記遅延制御信号の
反転信号で導通制御される第2導電型の第
12MOS FETとを具備し、上記第9、第10MOS
FETの接続点から上記遅延制御信号のレベルに
応じた遅延出力を得ることを特徴とする遅延回
路。 5 第1のクロツクドインバータと、この第1の
クロツクドインバータの出力端に入力端が接続さ
れる第1のインバータと、この第1のインバータ
の入、出力端に出、入力端がそれぞれ接続され上
記第1のクロツクドインバータと逆相の関係にあ
るクロツク信号で制御される第2のクロツクドイ
ンバータと、上記第1のインバータの出力端に入
力端が接続され上記クロツク信号と逆相の関係に
あるクロツク信号で制御される第3のクロツクド
インバータと、この第3のクロツクドインバータ
の出力端に入力端が接続される第2のインバータ
と、この第2のインバータの入、出力端に出、入
力端がそれぞれ接続され上記クロツク信号と同じ
クロツク信号で制御される第4のクロツクドイン
バータと、上記第1乃至第3のクロツクドインバ
ータにおけるクロツク信号で導通制御される各
MOS FETにそれぞれ並列接続され、遅延制御
信号で導通制御される遅延量制御用MOS FET
とを具備することを特徴とする遅延回路。 6 前記第1のクロツクドインバータの入力端、
および前記第2のインバータの出力端の少なくと
もいずれか一方に信号遅延手段を設け、前記遅延
制御信号のレベルに応じて前記第1乃至第3のク
ロツクドインバータによる信号遅延と上記遅延手
段による遅延時間の和、あるいは上記遅延手段の
みによる遅延を選択することを特徴とする特許請
求の範囲第5項記載の遅延回路。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61069230A JPS62226499A (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 遅延回路 |
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| EP87103569A EP0242572B1 (en) | 1986-03-27 | 1987-03-12 | Delay circuit of a variable delay time |
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Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP61069230A JPS62226499A (ja) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | 遅延回路 |
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Family Applications (1)
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