JPH0384777A

JPH0384777A - 読み出しデータのマージン保証回路

Info

Publication number: JPH0384777A
Application number: JP22136189A
Authority: JP
Inventors: Kunio Koda; 国府田　邦男
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1989-08-28
Filing date: 1989-08-28
Publication date: 1991-04-10

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野〉本発明は、磁気記憶装置等のデータの読み出し余裕度を
保証する読み出しデータのマージン保証回路に関する。

（従来の技術）従来、この種の磁気記憶装置においては読み出しデータ
の余裕度を保証する方式として次の２つの方式が知られ
ている。

第１の方式は、第４図に示すようにレベル検出回路７と
可変抵抗器１１とで構成されている。レベル検出回路７
の一方の入力端子には信号線２０１を介して読み出し信
号が印加され、他方の入力端子には信号線２０２を介し
て可変抵抗器１１の摺動端子電圧が印加されている。可
変抵抗器１１は、一方の端子に電圧■が印加され、他方
の端子は接地されている。

第５図は、第４図に示した各信号線上の信号の波形を示
したものである０通常動作時においては、可変抵抗器１
１からの出力電圧Ｖ、を閾値電圧として信号線２０１の
読み出し信号の振幅を検出している。読み出し信号のマ
ージン保証試験時においては、可変抵抗器１１を調整し
て閾値電圧をｖ２およびｖ、の値に設定する。これによ
り、信号線２０１上の読み出し信号に現れる微少欠陥に
よる疑似ビークｒおよび振幅低下Ｓに対する読み出し余
裕度の保証ができる。先ず、閾値電圧が■３のとき、レ
ベル検出回路７の出力である信号線２０３上の出力信号
は次のようになる。即ち、信号線２０ｉ上の読み出し信
号のうち振幅低下Ｓの部分に対応する出力パルスＳ０が
破線で示すように非常に細かくなっており、検出の限界
に近いことを示している。次に、閾値電圧がＶ２のとき
は、疑似ビークｒに対してまだ余裕があることを示して
いる。

第２の方式は、第６図に示すようにデータ弁別回路１２
とデイレイライン１３とで構成されている。データ弁別
回路１２の一方の入力端子には信号線３０１を介してリ
ードクロックが入力され、他方の入力端子には信号線３
０３を介してデイレイライン１３の出力信号が入力され
ている。また、デイレイライン１３の入力端子には、信
号線３０２を介して読み出し信号をパルス化したデータ
パルスが入力されている。デイレイライン１３の遅延量
は、出力端子ｔ１〜ｔｓに切９替ることにより、異なっ
た時間値に設定できる９通常動作時には、デイレイライ
ン１３の遅延量は１＋に設定されでいる。この遅延量は
データ弁別の最も余裕度のある位置である。読み出し動
作の保証試験の場合には、デイレイライン１３の遅延量
をｔ２およびｔ、の値にする。

第７図は、第６図の各部の波形を示す波形図である。第
７図に示すようにデイレイライン１３から信号線３０３
への出力信号であるデータパルスの前縁が信号、［３０
１上のリードクロックのｒＨ。

レベルの時ｒｒｆＪ帯に位置するならば、信号線３０１
上のリードクロックの後縁に同期してデータ弁別回路１
２から信号線３０４上に出力信号パルスを発生する。そ
うでない場合には、前記パルスは発生しない、すなわち
、データ弁別回路１２は、再生波形間の干渉、および記
録ａ体の欠陥などにより生じるピークシフトを含んだ信
号線３０３上のデータパルスを、位相の異なった信号線
３０１上のリードクロックで同期をとる。そして、位相
の整った出力データパルスを信号線３０４上に発生する
。

保証試験時において、デイレイライン１３の遅延量をｔ
２にすると、信号１３０３上のデータパルスの位相はｔ
＋　　ｔｉだけ相対的に前に進む。

このとき信号線３０３上のデータパルスのうちパルスＰ
Ｉは信号線３０１上のり一ドクロックのｒＨ，領域から
はみ出し、データの弁別が不可能になる。逆にデイレイ
ライン１３の遅延量をｔ３にすると、信号線３０３上の
データパルスはｔ３１＋の時間だけ相対的に位相が遅れ
、パルスＰ□に対してデータ弁別の保証を行うことにな
る。

以上のようにして、第２の方式は信号線３０３上のデー
タパルスの位相弁別の余裕度を保証する。

（発明が解決しようとする課ＩＩ）上述したように、従来の読み出し動作の保証方式には次
のような解決すべき課題がある。

磁気記憶装置に使用されている記録変調方式は、現在２
−７コードおよび１−７コードが主流となっている。こ
れらのコードの信号検出は位相弁別の動作余裕度および
振幅検出の余裕度が小さいので、位相弁別の保証と振幅
検出の保証の両方を行なわなければならない、従って、
保証試験に多く゛め時間かかる。

また、磁気記憶装置と上位装置または試験装置間で制御
信号線を介して保証試験のための閾値電圧および遅延時
間が自動的に設定される。しかし、この場合でも制御回
路のハード量が増加し、システム全体の信頼性を低下さ
せる。

（課題を解決するための手段）本発明の読み出しデータのマージン保証回路は、上記目
的を達成するために、媒体がら磁気ヘッドにより読み出
された信号を自動利得制御回路により所定のレベルに増
幅して得られる読み出し信号に関して閾値信号に対する
振幅の余裕度およびリードクロックに対する位相弁別の
余裕度を試験する読み出しデータのマージ保証回路にお
いて、減衰指定信号で指定された値だけ前記読み出し信
号を減衰させた減衰信号を生成する減衰回路と、前記読
み出し信号の値から前記減衰信号の値を減算した減算信
号を生成する減算回路と、該減算信号から所定の周波数
以下の周波の成分を取り除いたフィルタ信号を生成する
フィルタ回路と、該フィルタ信号と前記閾値信号とを比較し、前記フィル
タ信号のレベルが前記闇値信号のレベルより高いときは
レベル検出信号を生成するレベル検出回路と、前記フィルタ信号の最大値を検出し、前記最大値を検出
するとピーク信号を生成するピーク検出回路と、前記レベル検出信号と前記ピーク信号との論理積をとり
、論理積信号を出力する論理積回路と、該論理積信号の
前記リードクロックに対する位相余裕度を検出する位相
弁別回路とを有する。

（実施例）次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。

第１図は本発明による読み出しマージン保証回路の一実
施例を示すブロック図である０本実Ａ１例の読み出しマ
ージン保証回路は、記録媒体２から記録データを再生す
る磁気ヘッド１と、磁気ヘッド１により再生された記録
信号を増幅する増幅器３と、増幅器３により信号線１０
１上へ出力された読み出し信号を所定の平均振幅に増幅
する自動利得制御回路（以後ＡＧＣ回路と称する）４と
、信号線１０７上の制御入力信号に基づいてＡＧＣ回路
４からの出力信号を減衰させる減衰回路１０と、ＡＧＣ
回路４の出力信号から減衰回路１０の出力信号を減算す
る減算回路５と、信号線１０２の減算された減算信号を
入力して低域の周波数の信号の除去および等価実施をす
るフィルタ回路６と、フィルタ回路６から信号線１０３
上へ出力された出力信号と閾値電圧ｖｔｈとを比較して
Ｖｔｈより大きい振幅に対して出力パルスを出力するレ
ベル検出回路７と、フィルタ回路６の出力信号のピーク
位置に対応してパルス電圧を発生するピーク検出回路８
と、レベル検出回路７により信号線１０４上へ出力され
た出力信号とピーク検出回路８により信号線１０５上へ
出力された出力信号とのＡＮＤ演算をするＡＮＤゲート
回路９とによって構成さている。

第２図、第３図はそれぞれ第１図の各部の波形を示した
波形図である。第２図は減衰回路１０が非動作時の波形
を示し、第３図は減衰回路１０が動作時の波形を示して
いる。

次に、第２図を基にして第１図の実施例において減衰回
路１０が非動作のときの動作を説明する。

信号線１０７から減衰回路１０へ加える制御信号が非動
作モードを示すと、減衰回路１０は動作しない、このと
き信号線１０１上の読み出し信号に含まれる記録媒体２
上の欠陥に起因する疑似ピークｘ０や振幅低下ｙ０は、
フィルタ回路６から信号線１０３上へ出力される出力信
号ではそれぞれＸ　ｌ　、　３／　（となる、しかし、
閾値電圧ｖｔｈに対して検出の余裕をもっているので、
レベル検出回路７から信号線１０４上への出力信号では
疑似ピークｘ１に対応する位置Ｘ）にパルスはない。ま
た振幅低下ｙ２に対応する位置にはパルスｙ、が発生し
ている。ピーク検出回路８から信号線１０５上へ出力さ
れた出力信号とこのパルスｙ。

とはＡＮＤゲート回路９によりＡＮＤがとられ、信号線
１０６上の出力信号ｙ、として出力されるっＡＮＤゲー
ト回＃１９から信号４１１０６上への出力信号に含まれ
ているビットのうちで、ピークシフトを含むパルスＺ＋
　＋　Ｚ２　＋　Ｚｓのビットは、後段のデータ弁別回
路１２で発生するリードクロック（ＲＣ）のｌ’ＨＪ領
域に入っており、データを弁別することが可能である。

次に、信号線１０７から減衰回路１０へ加えられる制御
信号が動作モードの信号ならばＡＧＣ出力信号が減衰回
路１０によって減衰されて出力される。このときの各部
の波形は第３図のようになる。減算回路５は、ＡＧＣ回
路４により出力さた出力信号から減衰回路１０から出力
された減衰信号を減算する。従って、第３図の信号線１
０２への出力信号は振幅が低下して出力信号のピーク点
があいまいになる。読み出し信号に含まれる疑似ビーク
ＸｏＪ？？振幅低下ｙ０は、フィルタ回路６の出力信号
では信号Ｘ　１２＋　Ｖ　’□のようになる。閾値電圧
ｖｔｈに対して信号ＸＩ２は余裕があるので、レベル検
出回路７から信号１１１０４への出力信号にはパルスが
発生してない。信号ｙ１２はｖｔｈよりも振幅が低下し
てしまうので、信号線１０４上へのパルスは消失してし
まう。この結果、ＡＮＤゲート回路９から信号線１０６
への出力信号の信号ｙＩ２に対応する位置ｙＩ４にパル
スは発生せず、平常な読み出しが不可能となる。したが
って、この磁気記憶装置の読み出し動作の余裕度が小さ
いことがわかる。また減算回路５の出力信号のピーク点
があいまいになるので、ピーク検出回路８から信号線１
０５上への出力信号に含まれるビットが大きなゆらぎを
もつ、さらに信号線１０６上への出力信号に含まれる大
きなゆらぎをもつビットの中でピークシフトを多く含む
ｚ、、、　ｚ、２．　Ｚは、後段のデータ弁別回路１２
で発生するリードクロック（ＲＣ）のｒＨ，領域と比較
すると、ビットＺｒ　、Ｚ２．Ｚｓは「Ｈ」領域からは
ずれる機会が多く、正常な読み出しが不可能となる。し
たがって、ここでも本装置の読み出し動作の余裕を判定
することができる。

以上のようにして、読み出し信号から読み出し信号を適
度に減衰した信号を減算することにより、振幅検出に対
する余裕度と位相弁別に対する余裕度と７を同時に判定
することができる。

（発明の効果）以上に説明したように、本発明の読み出しデータのマー
ジン保証回路は、読み出し動作の保証試験時に減衰回路
により、読み出し信号を所定の値だけ減衰させた信号を
元の読み出し信号から減算する。従って、振幅の検出に
対する余裕度と、位相弁別に対する余裕度とを同時に判
定することが可能になる。

そこで本発明の読み出しマージン保証回路を採用すれば
、信号振幅の余裕度を試験する場合に閾値を切り替える
制御回路や、位相弁別の余裕度を試験する場合に遅延量
を切り替える制御回路が不用になると共に、制御が簡単
になる。また、読み出し保証試験を簡単にしかも短時間
で行なえ、さらに装置の信頼性も向上できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図および第３図は第１図の実施例の動作を説明する
図、第４図は従来の振幅余裕度の検出回路のブロック図、第５図は第４図の回路の動作を説明する図、第６図は従
来の位相余裕度の検出回路のブロック図、第７図は第６図の回路の動作を説明する図である。３・・・増幅器、４・・・自動利得制御回路（ＡＧＣ）
、５・・・減算回路、６・・・フィルタ回路、７・・・
レベル検出回路、８・・・ピーク検出回路、９・・・Ａ
ＮＤゲート回路、１０・・・減衰回路。

Claims

【特許請求の範囲】媒体から磁気ヘッドにより読み出された信号を自動利得
制御回路により所定のレベルに増幅して得られる読み出
し信号に関して閾値信号に対する振幅の余裕度およびリ
ードクロックに対する位相弁別の余裕度を試験する読み
出しデータのマージ保証回路において、減衰指定信号で指定された値だけ前記読み出し信号を減
衰させた減衰信号を生成する減衰回路と、前記読み出し
信号の値から前記減衰信号の値を減算した減算信号を生
成する減算回路と、該減算信号から所定の周波数以下の周波の成分を取り除
いたフィルタ信号を生成するフィルタ回路と、該フィルタ信号と前記閾値信号とを比較し、前記フィル
タ信号のレベルが前記閾値信号のレベルより高いときは
レベル検出信号を生成するレベル検出回路と、前記フィルタ信号の最大値を検出し、前記最大値を検出
するとピーク信号を生成するピーク検出回路と、前記レベル検出信号と前記ピーク信号との論理積をとり
、論理積信号を出力する論理積回路と、該論理積信号の
前記リードクロックに対する位相余裕度を検出する位相
弁別回路とを設けたことを特徴とする読み出しデータの
マージン保証回路。