JPH04105339A - テープキャリアのリード構造 - Google Patents

テープキャリアのリード構造

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JPH04105339A
JPH04105339A JP22279290A JP22279290A JPH04105339A JP H04105339 A JPH04105339 A JP H04105339A JP 22279290 A JP22279290 A JP 22279290A JP 22279290 A JP22279290 A JP 22279290A JP H04105339 A JPH04105339 A JP H04105339A
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JP
Japan
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bump
inner lead
tape carrier
lead
bumps
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Pending
Application number
JP22279290A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Takabayashi
高林 博幸
Yasuhide Kuroda
康秀 黒田
Michiaki Takada
理映 高田
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 半導体チップを回路基板に搭載する際に用いる、テープ
キャリアに係わり、特にテープキャリアのリード構造に
関し、 バンプ形成用基板上のバンプとテープキャリアのリード
、半導体チップの電極とテープキャリアのリードのそれ
ぞれの位置合わせが容易であり、且つリードと半導体チ
ップとの接着強度が強いテープキャリアのリード構造を
、提供することを目的とし、 インナリード部がサポートフィルム部の各辺にそれぞれ
直交するよう所望数のリードを配列し、チップ用ホール
内に突出したインナリード頭部に、バンプ形成用基板に
配列形成したバンプを転写し、該バンプを介して、該イ
ンナリード頭部と半導体チップの電極とをボンディング
するテープキャリアにおいて、短径寸法が前記バンプの
直径よりも大きいほぼ楕円形に、前記インナリード頭部
が形成され、該短径部の両側に対向して設けた一対の欠
切により、頭部の中央部に、該バンプの直径よりも小さ
い狭小帯が形成された構成とする。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体チップを回路基板に搭載する際に用い
る、テープキャリアに係わり、特にテープキャリアのリ
ード構造に関する。
IC特にLSI等の半導体部品の多ピン化に伴い、半導
体チップの電極を、テープキャリアのリードの先端部に
ボンデングして、半導体チップをテープキャリアに組み
込み、このテープキャリアのリードを回路基板のパター
ンにボンデング接続するという、半導体チップの搭載手
段が、自動実装化が容易であるので近年広く使用されて
いる。
〔従来の技術〕
第2図はこのようなテープキャリアの平面図である。
第2図において、2は、半導体チップ1を連続して配設
するテープキャリアである。
テープキャリア2はテープ工程において、接着剤付き樹
脂フィルム(例えばポリイミド系樹脂フィルム)3を帯
状に切断し、スプロケット孔7とチップ用ホール4をパ
ンチングする。そしてさらにチップ用ホール4の外側に
枠形のサポートフィルム部5ができるように、4つの梯
形のアウタホール6をパンチングしている。
その後、裏面に金めつき等した銅箔をラミネートして、
リソグラフィ手段により、放射状のリード群を配列形成
して、リード群のそれぞれのリードIOを、X軸或いは
Y軸に平行する直線状のインナリード部と放射線状に拡
開した中央部と、X軸或いはY軸に平行する直線状のア
ウタリード部12とからなり、インナリード頭部11が
チップ用ホール4内に各辺に直交して突出し、それぞれ
のアウタホール6に架橋する細長い短冊形の所望数のリ
ード10よりなるリード群を配列形成している。
なお、樹脂フィルムをパンチングすることなく、裏面に
金めつき等した銅箔をラミネートし、銅箔をエツチング
して、先ず放射状のリード群を配列形成した後に、樹脂
フィルム3をエツチングして、チップ用ホール4と、ア
ウタホール6を設けたものもある。
次に組立工程で、半導体チップlを下方からチップ用ホ
ール4内に挿入し、半導体チップlの電極を対応するリ
ード10のインナリード頭部■lに位置合わせし、バン
プを介してリード10と電極とををボンデングしている
このように、半導体チップlをテープキャリア2にフェ
ースアップにボンディング後、アウタホール6を通過す
る角形の切断ラインに沿って、それぞれのり−ドlOの
アウタリード部■2、及び樹脂フィルム3を切断して、
テープキャリア2を樹脂フィルム3から切り離している
ところで、金のバンプを介してインナリード頭部11と
半導体チップ1のアルミニウム電極とをボンディングす
るのに、バンプ形成用基板の表面に配列形成したバンプ
を、テープキャリアのインナリード頭部11に転写し、
その後、電極に位置合わせし加熱・加圧して、リード1
0と半導体チップの電極とをボンディングする方法と、
バンプを半導体チップlの電極上に形成し、その後、テ
ープキャリア2のインナリード頭部11をバンプに位置
合わせして、加熱・加圧してリードIOと半導体チップ
の電極とをボンディングする方法との両者があるが、今
日では前者の転写方法がより広く採用されている。
前者のバンプの転写工程を第3図に示す。
第3図(b)に図示したように、例えば直径か80μm
程度の円柱状の合材のバンプ20は、バンプ形成用基板
(耐熱性ガラス等)21の全表面に形成した白金膜上に
、リソグラフィ手段により剥離容易に配列形成されてい
る。
そして、第3図(a)に示すテープキャリア2のインナ
リード頭部tiを、上述のバンプ20に位置合わせし、
加熱(約400℃)・加圧(1リードあたり20g〜4
0gの加圧力)して、第3図(C)に図示したように、
バンプ20をバンプ形成用基板21から剥離してリード
10側に転写(以下−次接合と称する)する。
次に、転写したインナリード頭部11上のバンプ20と
、半導体チップl上のアルミニウム電極とをそれぞれ位
置合わせし、ボンディングツールを用いて加熱・加圧し
て、第3図(dlに図示したように、バンプ20と半導
体チップ1の電極とを接合している。(以下二次接合と
称する) ところで従来のテープキャリアのリードは、第4図また
は第5図に示すような構造である。
第4図において、サポートフィルム部5に固着配列した
それぞれのリード10−1は、幅か60μm〜70μm
で、バンプ20の直径よりも小さい。
インナリード頭部11−1がチップ用ホール4内に各辺
に直交して突出し、インナリード頭部11にバンプ20
が一次接合されている。
このような細幅のインナリード頭部11−1を有するも
のは、−次接合時に、バンプ20に圧力が付与されると
バンプ20が押し拡げられて、インナリード頭部11−
1の側縁に持ち上がるように付着するので、付着強度が
強く、また二次接合においでも、電極との接着強度が強
いという長所がある。
第5図に図示したり一4ド1O−2は、幅が60μm〜
70μmで、その先端に短径寸法が、バンプ20の直径
((80μm)よりも大きい(約100μI)の楕円形
のインナリード頭部11−2が形成されたものである。
このような、幅広の頭部を有するリード1O−2は、−
次接合時に、インナリード頭部11−2と電極との位置
合わせが容易であるという長所がある。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら上記従来例の前者、即ち細幅のインナリー
ド頭部のリードは、インナリード頭部が高精度に所定に
配列していない、或いはバンブ形成用基板にバンプが高
精度に配列しない時には、−次接合時のバンプとインナ
リード頭部との位置合わせ作業が困難であるという問題
点がある。
一方、後者、即ち楕円形のインナリード頭部を有するも
のは、−次接合時及び二次接合時に十分に大きい力がバ
ンプ20に付与されず、接着強度が劣るという問題点が
ある。
また、後者はバンプがインナリード頭部の陰になってい
るので、二次接合時の位置合わせが難しいという問題点
がある。
本発明はこのような点に鑑みて創作されたもので、バン
ブ形成用基板上のバンプとテープキャリアのリード、半
導体チップの電極とテープキャリアのリードのそれぞれ
の位置合わせが容易であり、且つリードと半導体チップ
との接着強度が強いテープキャリアのリード構造を、提
供することを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的を達成するために本発明は、第1図に例示し
たように、樹脂フィルム3に半導体チップlを収容する
角形のチップ用ホール4と、チップ用ホール4を囲む枠
形のサポートフィルム部5を設け、インナリード部がサ
ポートフィルム部の各辺にそれぞれ直交するよう所望数
のリード50を配列し、チップ用ホール4内に突出した
インナリード頭部51に、バンプ形成用基板に配列形成
したバンプ20を転写し、バンプ20を介して半導体チ
ップIの電極とり−ド50とを、ボンディングするテー
プキャリアにおいて、 インナリード頭部51の形状を、短径寸法がバンプ20
の直径よりも大きいほぼ楕円形に形成し、さらに短径部
の両側に対向して一対の欠切51aを設けて、頭部の中
央部に、バンプ20の直径よりも小さい狭小帯Bを形成
した構成とする。
〔作用〕
本発明によれば、インナリード頭部51は、バンプ20
の直径よりも大きい楕円形である。
したがって、バンプのバンプ形成用基板上の配置及びイ
ンナリード頭部51の形成配置の精度が多少低くても、
バンプ20の転写時、即ち一次接合時の位置合わせが容
易である。
また、インナリード頭部51の中央部には、バンプ20
の直径よりも小さい狭小帯Bを設けである。
したがって、二次接合時にテープキャリアの上方からハ
ンプ20を視認し得るので、二次接合時の位置合わせが
容易である。
また、バンプ20が付着する一部分が、その直径よりも
小さい狭小帯Bとなっており、−次接合時及び二次接合
時のいずれの場合においても、インナリード頭部5【を
介してハンプ20に単位面積あたり大きな圧力が付与さ
れる。
よって、−次接合時には、バンプ20が押し拡げられて
、狭小帯Bの両側円に持ち上がるように付着し、また、
二次接合時には、バンプ20が強い力で電極に押圧する
ので、インナリード頭部5Iとバンプ20、バンプ20
と電極との接着強度が強い。
〔実施例〕
以下図を参照しながら、本発明を具体的に説明する。な
お、全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。
第1図は本発明の実施例の図で、(a)は平面図、(b
lは要部詳細図である。
第1図において、テープキャリアの帯状の樹脂フィルム
3には、チップ用ホール4と、チップ用ホール4の外側
に枠形のサポートフィルム部5ができるように、4つの
梯形のアウタホール6とを配列形成しである。
そして、インナリード部がサポートフィルム部5の各辺
に直交し、インナリード頭部51がチップ用ホール4側
に突出するよう、細長い短冊形(リード幅が60μm前
後)の所望数のリード50を、サポートフィルム部5の
下面に密着させて配列形成しである。
なお、第1図においてはり−ド50は、直線状に図示し
であるが、実際の形状は第2図に図示したように、サポ
ートフィルム部5に密着した部分が放射状に拡開してい
る。
それぞれのリード50は、アウタリード部52がアウタ
ホール6を架橋し、その先端部が樹脂フィルム3に固着
し、インナリード頭部51がチップ用ホール4側に突出
している。
なお、これらのリード50の下面には、金めつきを施し
である。
リード50のインナリード頭部5Iは、短径寸法が、バ
ンプ20の直径((80μm)よりも大きい(約100
μm)の楕円形で、その短径部の両側に対向して一対の
欠切51aをエツチング形成したものである。欠切51
aを設けたことによりこのインナリード頭部51の中央
部には、バンプ20の直径よりも小さい狭小帯B(幅か
65μm程度)が形成されている。
一方、直径が80μm程度の円柱状の金よりなるバンプ
20をバンプ形成用基板に剥離容易に配列形成する。
そして、リード50のインナリード頭部51を、バンプ
形成用基板上のバンプ20に位置合わせし、加熱(約4
00℃)・加圧(lリードあたり20g〜40gの加圧
力)して、バンプ20をバンプ形成用基板から剥離して
リード50に転写している。
上述のように、インナリード頭部51の外形かバンプ2
0の直径よりも大きいので、バンプ20のバンプ形成用
基板上の配置及びインナリード頭部51の形成配置の精
度が多少低くても、バンプ20の転写時の位置合わせが
容易である。
また、インナリード頭部51の中央部には、バンプ20
の直径よりも小さい狭小帯Bを設けであるので、リード
50が押圧されると、リード50よりも軟らバンプ20
が押し拡げられて、狭小帯Bの両側円に持ち上がるよう
に付着する。したがって、バンプ20とリード50との
接着強度が強い。
バンプ20をリート50に転写した後に、インナリード
頭部51上のバンプ20と、半導体チップ1上のアルミ
ニウム電極とをそれぞれ位置合わせし、ボンデインクツ
ールを用いて加熱・加圧して、バンプ20を介して、リ
ード50と半導体チップ1の電極とを接合している。
上述のようにバンプ20の周縁の一部がインナリード頭
部5Iの狭小帯Bの両側にはみ出しているので、この二
次接合時にテープキャリアの上方がらバンプ20を視認
することができる。
したがって二次接合時の、バンプ2oと半導体チップ1
の電極との位置合わせもまた容易である。
また、二次接合時においても、インナリード頭部51の
狭小帯Bを介してハンプ20が押圧されるので、バンプ
20が強い力で電極に押圧される。よって、バンプ20
と電極との接着強度が強い。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、テープキャリアのリード
のインナリード頭部を、バンプよりも大きい楕円形とし
、且つその中央部にバンプよりも小さい狭小帯を設けた
ことにより、バンプ形成用基板上のバンプのリードへ転
写時及びリードと半導体チップの電極とのポンディング
時の、位置合わせが容易であるという効果を奏する。
また、バンプを介してボンディングされるリードと半導
体チップとの接着強度が強いという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の図で、 (a)は平面図、 (b)は要部詳細図、 第2図はテープキャリアの平面図、 第3図の(a)、 fbl、 (C)、 (d)はハン
プの転写工程を示す図、 第4図は従来例の平面図、 第5図は他の従来例の平面図である。 図において、 ■は半導体チップ、 2はテープキャリア、 3は樹脂フィルム、 4はチップ用ホール、 5はサポートフィルム部、 6はアウタホール、 10、10−1.10−2.50はリード、11、11
−1.11−2.51はインナリード頭部、12、12
−1.52はアウタリード部、20はバンプ、 51aは欠切、 (α) 本究明の突殉例の図 第 1 図 テープキャリアの平面図 第2図 2テープキャリア ([1)(t)’) (C) バシア転写工稈Y示T図 石フロ 従来便1の平面図 躬 4 履 f?f)従来1列01好甲と余丁図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  インナリード部がサポートフィルム部(5)の各辺に
    それぞれ直交するよう所望数のリード(50)を配列し
    、チップ用ホール(4)側に突出したインナリード頭部
    (51)に、バンプ形成用基板に配列形成したバンプ(
    20)を転写し、該バンプ(20)を介して、該インナ
    リード頭部(51)と半導体チップ(1)の電極とをボ
    ンディングするテープキャリアにおいて、短径寸法が前
    記バンプ(20)の直径よりも大きいほぼ楕円形に、前
    記インナリード頭部(51)が形成され、 該短径部の両側に対向して設けた一対の欠切(51a)
    により、該インナリード頭部(51)の中央部に、該バ
    ンプ(20)の直径よりも小さい狭小帯(B)、が形成
    されたことを特徴とするテープキャリアのリード構造。
JP22279290A 1990-08-24 1990-08-24 テープキャリアのリード構造 Pending JPH04105339A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007073566A (ja) * 2005-09-05 2007-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置と半導体実装方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007073566A (ja) * 2005-09-05 2007-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置と半導体実装方法

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