JPH04115081U - Ｉｃソケツトのブラツシング機構 - Google Patents

Ｉｃソケツトのブラツシング機構

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JPH04115081U
JPH04115081U JP2678591U JP2678591U JPH04115081U JP H04115081 U JPH04115081 U JP H04115081U JP 2678591 U JP2678591 U JP 2678591U JP 2678591 U JP2678591 U JP 2678591U JP H04115081 U JPH04115081 U JP H04115081U
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JP
Japan
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socket
brush
cylinder
hand
carried
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JP2678591U
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哲也 奥平
整 三井
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安藤電気株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＩＣ４の測定後、ブラシ１がシリンダ２でＩ
Ｃソケット６の上まで押し出され、シリンダ２の前後動
によりＩＣソケット６がブラシ１で清掃される。 【構成】 ＩＣ４が供給ハンド３でＩＣソケット６に運
ばれ、プッシャ５でＩＣソケット６に押しつけられ、Ｉ
Ｃテスタで測定され、ＩＣ４の測定が終わると収容ハン
ド７でＩＣ４が収容部へ運ばれるＩＣ選別装置におい
て、ＩＣ４の測定後、ブラシ１がシリンダ２でＩＣソケ
ット６の上まで押し出され、シリンダ２の前後動により
ＩＣソケット６がブラシ１で清掃される。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この考案は、ＩＣ選別装置内のＩＣソケットにはんだ等が付着して汚れた場合 に、ブラシでＩＣソケットを清掃するブラッシング機構についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】
次に、従来技術によるＩＣ選別装置の測定部の構成を図７により説明する。図 ７の３は供給ハンド、４は測定されるＩＣ、５はプッシャ、６はＩＣソケット、 ７は収容ハンドである。
【０００３】 ＩＣ４は、供給ハンド３でＩＣソケット６に運ばれ、プッシャ５でＩＣソケッ ト６に押しつけられ、ＩＣソケット６に接続されたＩＣテスタで測定される。Ｉ Ｃテスタによる測定が終わると、ＩＣ４は、収容ハンド７で収容部へ運ばれる。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】
図７では、高温測定のときにＩＣソケット６にＩＣ４のはんだメッキが付着し 、隣のピンと短絡する等してＩＣテスタによる正確な測定ができなくなることが あり、ＩＣ４を破損することがある。これを防ぐには、度々装置を止め、装置を 清掃しなければならない。この考案は、ＩＣ４の測定後、ブラシがシリンダでＩ Ｃソケット６の上まで押し出され、シリンダの前後動によりＩＣソケット６がブ ラシで清掃されるＩＣソケットのブラッシング機構の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するため、この考案では、ＩＣ４が供給ハンド３でＩＣソケッ ト６に運ばれ、プッシャ５でＩＣソケット６に押しつけられ、ＩＣテスタで測定 され、ＩＣ４の測定が終わると収容ハンド７でＩＣ４が収容部へ運ばれるＩＣ選 別装置において、ＩＣ４の測定後、ブラシ１がシリンダ２でＩＣソケット６の上 まで押し出され、シリンダ２の前後動によりＩＣソケット６がブラシ１で清掃さ れる。
【０００６】
【作用】
次に、この考案によるＩＣソケットのブラッシング機構の構成を図１により説 明する。図１の１はブラシ、２はブラシ駆動用のシリンダであり、その他は図７ と同じものである。図１はＩＣ４が供給ハンド３でＩＣソケット６に運ばれる状 態図である。
【０００７】 図２はＩＣ４が供給ハンド３でＩＣソケット６上に運ばれた状態図であり、図 ３はプッシャ５がＩＣ４をＩＣソケット６に押しつけ、ＩＣ４を測定している状 態図である。図４はＩＣ４の測定が終わってプッシャ５が上り、収容ハンド７が ＩＣソケット６上のＩＣ４を運んできた状態図であり、図５は収容ハンド７がＩ Ｃ４を運び出し、ブラシ１がシリンダ２でＩＣソケット６の上まで押し出された 状態図である。
【０００８】 次に、図５の斜視図を図６により説明する。ブラシ１はシリンダ２でＩＣソケ ット６の上まで押し出され、ＩＣソケット６はシリンダ２の前後動によりブラシ １で清掃される。
【０００９】
【考案の効果】
この考案によれば、ＩＣの測定後、ブラシがシリンダでＩＣソケット上まで押 し出され、シリンダの前後動でＩＣソケットがブラシで清掃されるので、高温測 定のときにＩＣソケットにＩＣのはんだメッキが付着し、隣のピンと短絡する等 の事故を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この考案によるＩＣソケットのブラッシング機
構の構成図である。
【図２】図１のＩＣ４が供給ハンド３でＩＣソケット６
上に運ばれた状態図である。
【図３】プッシャ５がＩＣ４をＩＣソケット６に押しつ
け、ＩＣ４を測定している状態図である。
【図４】ＩＣ４の測定が終わってプッシャ５が上り、収
容ハンド７がＩＣソケット６上のＩＣ４を運びにきた状
態図である。
【図５】収容ハンド７がＩＣ４を運び出し、ブラシ１が
シリンダ２でＩＣソケット６の上まで押し出された状態
図である。
【図６】図５の斜視図である。
【図７】従来技術によるＩＣ選別装置の測定部の構成図
である。
【符号の説明】
１ ブラシ ２ シリンダ ３ 供給ハンド ４ ＩＣ ５ プッシャ ６ ＩＣソケット ７ 収容ハンド

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 ＩＣ(4) が供給ハンド(3) でＩＣソケッ
    ト(6) に運ばれ、プッシャ(5) でＩＣソケット(6) に押
    しつけられ、ＩＣテスタで測定され、ＩＣ(4) の測定が
    終わると収容ハンド(7) でＩＣ(4) が収容部へ運ばれる
    ＩＣ選別装置において、ＩＣ(4) の測定後、ブラシ(1)
    がシリンダ(2) でＩＣソケット(6) の上まで押し出さ
    れ、シリンダ(2) の前後動によりＩＣソケット(6) がブ
    ラシ(1) で清掃されることを特徴とするＩＣソケットの
    ブラッシング機構。
JP1991026785U 1991-03-27 1991-03-27 Ｉｃソケットブラッシング機構をもつｉｃ選別装置 Expired - Lifetime JP2566135Y2 (ja)

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JPH04115081U true JPH04115081U (ja) 1992-10-12
JP2566135Y2 JP2566135Y2 (ja) 1998-03-25

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ID=31911205

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08203643A (ja) * 1995-01-30 1996-08-09 Nec Kyushu Ltd Ｉｃソケットの異物除去装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6169830U (ja) * 1984-10-12 1986-05-13
JPH01125546U (ja) * 1988-02-18 1989-08-28

Patent Citations (2)

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JPS6169830U (ja) * 1984-10-12 1986-05-13
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH08203643A (ja) * 1995-01-30 1996-08-09 Nec Kyushu Ltd Ｉｃソケットの異物除去装置

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JP2566135Y2 (ja) 1998-03-25

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