JPH04116780U - デジタル測定器 - Google Patents
デジタル測定器Info
- Publication number
- JPH04116780U JPH04116780U JP2024091U JP2024091U JPH04116780U JP H04116780 U JPH04116780 U JP H04116780U JP 2024091 U JP2024091 U JP 2024091U JP 2024091 U JP2024091 U JP 2024091U JP H04116780 U JPH04116780 U JP H04116780U
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- Japan
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- digital
- measurement
- data
- changeover switch
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本考案はデジタル測定器に関し、その目的は、
データの欠落を生じることなくオフセットの補正演算が
行える交流測定にも適したデジタル測定器を提供するこ
とにある。 【構成】オートゼロキャリブレーション機能を有するA
/D変換器を含む独立した2系統のデジタル測定系
(A,B)と、各デジタル測定系(A,B)に選択的に
測定信号を入力する切換スイッチ(7)と、切換スイッ
チ(7)の切り換えに連動して各デジタル測定系(A,
B)が相補的にオートゼロキャリブレーションと測定信
号の測定を行うように制御する制御回路(9)と、各デ
ジタル測定系(A,B)のゼロキャリブレーションデー
タと測定信号データを格納するメモリ(10)と、メモ
リ(10)に格納されたデータに基づいて各デジタル測
定系(A,B)のオフセットの補正演算を行うとともに
制御回路(9)を制御する演算制御部(11)とで構成
する。
データの欠落を生じることなくオフセットの補正演算が
行える交流測定にも適したデジタル測定器を提供するこ
とにある。 【構成】オートゼロキャリブレーション機能を有するA
/D変換器を含む独立した2系統のデジタル測定系
(A,B)と、各デジタル測定系(A,B)に選択的に
測定信号を入力する切換スイッチ(7)と、切換スイッ
チ(7)の切り換えに連動して各デジタル測定系(A,
B)が相補的にオートゼロキャリブレーションと測定信
号の測定を行うように制御する制御回路(9)と、各デ
ジタル測定系(A,B)のゼロキャリブレーションデー
タと測定信号データを格納するメモリ(10)と、メモ
リ(10)に格納されたデータに基づいて各デジタル測
定系(A,B)のオフセットの補正演算を行うとともに
制御回路(9)を制御する演算制御部(11)とで構成
する。
Description
【0001】
本考案は測定信号をA/D変換器でデジタル信号に変換するデジタル測定器に
関し、更に詳しくは、オフセット補償の改善に関する。
【0002】
測定信号をA/D変換器でデジタル信号に変換するデジタル測定器は、データ
の格納や各種のデータ処理が容易に行えることから、従来のアナログ測定器に代
わるものとして各種の分野で広く用いられている。
【0003】
このようなデジタル測定器の測定誤差は、オフセット誤差が支配的である。該
オフセット誤差の対策として、
測定レンジを変更したときやユーザーサが望むときに零校正を行って零校正
データを格納しておき、次回の零校正を行うまでの間は格納された零校正データ
を用いて測定値を補正する
各測定周期毎に自動的に零校正(オートゼロキャリブレーション)を行い、
その零校正データを用いて測定値を補正する
こと等が行われている。
【0004】
図3はこれらのオフセット対策を実現するための回路図である。測定信号VI N
が入力される入力端子1は切換スイッチ2の一方の固定接点aに接続されてい
る。切換スイッチ2の他方の固定接点bにはアースが接続され、該切換スイッチ
2の可動接点cはアンプ3に接続されている。該アンプ3の出力端子はA/D変
換器4に接続されている。該A/D変換器4の出力端子は演算器5に接続されて
いる。該演算器5にはメモリ6が接続されている。
【0005】
上述との違いは切換スイッチ2の切り換えを制御する制御信号がいつ出力
されるかという点だけであり、基本的動作は共通している。すなわち、メモリ6
には切換スイッチ2の可動接点cを固定接点a側に切り換えたときの測定信号V IN
に対するA/D変換器4の出力データD1と切換スイッチ2の可動接点cを
固定接点b側に切り換えたときのオフセット電圧VOSに対するA/D変換器4
の出力データD0が格納される。そして、演算器5はこれらメモリ6に格納され
たデータに基づいて、DOUT=D1−D0で表される出力データD1に対する
オフセット補正演算を行う。
【0006】
しかし、の場合にはドリフトの影響は除くことができないため、長時間零校
正を行わずに測定を続けると正しい測定値が得られなくなってしまう。
【0007】
また、の場合には各測定周期毎に切換スイッチ2を切り換えることから、A
/D変換器4でサンプルできないデータが出てしまう。この結果、波形が正しく
再現できなかったり、電力量を測定する場合には実際よりも少ない値になってし
まうという問題があり、交流測定器には不向きである。
【0008】
本考案はこのような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、データ
の欠落を生じることなくオフセットの補正演算が行える交流測定にも適したデジ
タル測定器を提供することにある。
【0009】
本考案に係るデジタル測定器は、
オートゼロキャリブレーション機能を有するA/D変換器を含む独立した2系
統のデジタル測定系と、
これら各デジタル測定系に選択的に測定信号を入力する切換スイッチと、
該切換スイッチの切り換えに連動して前記各デジタル測定系が相補的にオート
ゼロキャリブレーションと測定信号の測定を行うように制御する制御回路と、
前記各デジタル測定系のゼロキャリブレーションデータと測定信号データを格
納するメモリと、
該メモリに格納されたデータに基づいて前記各デジタル測定系のオフセットの
補正演算を行うとともに前記制御回路を制御する演算制御部、
とで構成されたことを特徴とする。
【0010】
2系統のデジタル測定系で相補的にオートゼロキャリブレーションと測定信号
の測定が行われるのでデータが欠落することはなく、オフセット誤差も補正され
る。
【0011】
以下、図面を参照して、本考案の実施例を詳細に説明する。
【0012】
図1は本考案の一実施例の回路図であり、図3と共通する部分には同じ符号に
系統を表す符号A,Bを付けてそれらの再説明は省略する。図において、7は切
換スイッチであり、可動接点cには測定信号VINが入力される入力端子1が接
続され、固定接点aにはデジタル測定系Aを構成する切換スイッチ2Aの固定接
点aが接続され、固定接点bにはデジタル測定系Bを構成する切換スイッチ2B
の固定接点aが接続されている。該切換スイッチ7は各デジタル測定系A,Bに
選択的に測定信号VINを入力する。8A,8Bはバッファレジスタであり、バ
ッファレジスタ8AはA/D変換器4Aの出力端子に接続され、バッファレジス
タ8BはA/D変換器4Bの出力端子に接続されている。9は制御回路である。
該制御回路9は、切換スイッチ7の切り換えに連動して各デジタル測定系A,B
が相補的にオートゼロキャリブレーションと測定信号の測定を行うように各部に
制御信号S1〜S7を出力する。すなわち、制御信号S1は切換スイッチ7に加
えられ、制御信号S2は切換スイッチ2Aに加えられ、制御信号S3は切換スイ
ッチ2Bに加えられ、制御信号S4はA/D変換器4Aに加えられ、制御信号S 5
はA/D変換器4Bに加えられ、S6はバッファレジスタ8Aに加えられ、S 7
はバッファレジスタ8Bに加えられている。10はメモリであり、各デジタル
測定系A,Bのゼロキャリブレーションデータと測定信号データを格納する。1
1は演算制御部(CPU)であり、バッファレジスタ8A,8Bを介してA/D
変換器4A,4Bが接続されている。該演算制御部11は、メモリ10に格納さ
れたデータに基づいて各デジタル測定系A,Bのオフセットの補正演算を行うと
ともに制御回路9を制御する。
【0013】
図2は制御信号S1〜S7のタイミングチャートである。(A)の制御信号S 1
に従って切換スイッチ7の可動接点cが固定接点a,bに切り換わるのに連動
して、切換スイッチ2Aの可動接点cは(B)の制御信号S2に従って固定接点
a,bに切り換わり、切換スイッチ2Bの可動接点cは(C)の制御信号S3に
従って固定接点b,aに切り換わる。すなわち、測定信号VINがアンプ3Aに
入力されるときアンプ3Bはアースに接続され、測定信号VINがアンプ3Bに
入力されるときアンプ3Aはアースに接続される。そして、これら切換スイッチ
7,2A,2Bの状態が安定している間に、A/D変換器4Aは(D)の制御信
号S4がLレベルになった時点でA/D変換を行い、A/D変換器4Bは(E)
の制御信号S5がLレベルになった時点でA/D変換を行う。これら各A/D変
換器4A,4Bの出力データは直ちに対応するバッファレジスタ8A,8Bに取
り込まれる。バッファレジスタ8Aは(F)の制御信号S6がLレベルになった
時点でデータを演算制御部11に出力し、バッファレジスタ8Bは(G)の制御
信号S7がLレベルになった時点でデータを演算制御部11に出力する。演算制
御部11はこれらバッファレジスタ8A,8Bを介して入力されるデータをメモ
リ10に格納し、これら格納されたデータに基づいて、各測定系A,B毎に従来
と同様なオフセット補正演算を実行する。
【0014】
以上詳細に説明した本考案によれば、以下のような効果が得られる。
【0015】
すなわち、2系統のデジタル測定系A,Bで相補的にオートゼロキャリブレー
ションと測定信号の測定が行われるので、従来の構成のようなデータの欠落は生
じない。
【0016】
この結果、波形を高精度で再現でき、例えば電力量を測定する場合にも正確な
測定が可能であり、各種の交流信号のデジタル測定器に好適である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例の回路図である。
【図2】図1の制御信号のタイミングチャートである。
【図3】従来のオフセット対策を実現するための回路図
である。
である。
1 入力端子
2,7 切換スイッチ
3 アンプ
4 A/D変換器
8 バッファレジスタ
9 制御回路
10 メモリ
11 演算制御部
Claims (1)
- 【請求項1】 オートゼロキャリブレーション機能を有
するA/D変換器を含む独立した2系統のデジタル測定
系と、これら各デジタル測定系に選択的に測定信号を入
力する切換スイッチと、該切換スイッチの切り換えに連
動して前記各デジタル測定系が相補的にオートゼロキャ
リブレーションと測定信号の測定を行うように制御する
制御回路と、前記各デジタル測定系のゼロキャリブレー
ションデータと測定信号データを格納するメモリと、該
メモリに格納されたデータに基づいて前記各デジタル測
定系のオフセットの補正演算を行うとともに前記制御回
路を制御する演算制御部、とで構成されたことを特徴と
するデジタル測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2024091U JPH04116780U (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | デジタル測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2024091U JPH04116780U (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | デジタル測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04116780U true JPH04116780U (ja) | 1992-10-20 |
Family
ID=31906355
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2024091U Withdrawn JPH04116780U (ja) | 1991-03-29 | 1991-03-29 | デジタル測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04116780U (ja) |
-
1991
- 1991-03-29 JP JP2024091U patent/JPH04116780U/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19950615 |