JPH0416228Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0416228Y2 JPH0416228Y2 JP10173984U JP10173984U JPH0416228Y2 JP H0416228 Y2 JPH0416228 Y2 JP H0416228Y2 JP 10173984 U JP10173984 U JP 10173984U JP 10173984 U JP10173984 U JP 10173984U JP H0416228 Y2 JPH0416228 Y2 JP H0416228Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- board
- pin
- lifter
- pins
- printed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 17
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 3
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Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は電子部品が実装された被試験用プリン
ト板の所定箇所にプローブピンを当接させ、該プ
ローブピンを介して測定部による試験が行なわれ
るプリント板試験装置に関する。
ト板の所定箇所にプローブピンを当接させ、該プ
ローブピンを介して測定部による試験が行なわれ
るプリント板試験装置に関する。
電子機器の構成に広く使用されるプリント板は
所定のパターン配線が施された基板のランドに所
定の電子部品の端子片をボンデイングなどによつ
て半田付けすることで形成される。このように電
子部品が実装されて完成されたプリント板は一般
的に試験装置によつて実装された電子部品の誤実
装、半田付け不良および特性の劣化などの異状が
ないかチエツクが行なわれる。
所定のパターン配線が施された基板のランドに所
定の電子部品の端子片をボンデイングなどによつ
て半田付けすることで形成される。このように電
子部品が実装されて完成されたプリント板は一般
的に試験装置によつて実装された電子部品の誤実
装、半田付け不良および特性の劣化などの異状が
ないかチエツクが行なわれる。
このような試験は所定のテーブルに被試験用プ
リント板を装着することによりテストデータによ
る連続したチエツクが自動的に行なわれるように
形成されている。したがつて、プリント板と試験
装置との接続は確実に行なわれることが重要であ
る。
リント板を装着することによりテストデータによ
る連続したチエツクが自動的に行なわれるように
形成されている。したがつて、プリント板と試験
装置との接続は確実に行なわれることが重要であ
る。
このような試験装置は従来、第２図に示すよう
に形成されている。
に形成されている。
第２図構成図に示すように、電子部品２が実装
されたプリント板１を装着するマスクボード４を
有するテーブル３と、所定のピツチで配列された
マスクボード４の貫通孔４Ａに設けられたプロー
ブピン１３を突出させる駆動部６と、プローブピ
ン１３を介してテスト信号を入出力する測定部５
と、テストデータ９および操作盤８の指令により
測定部５と駆動部６を制御する制御部７とによつ
て構成されている。
されたプリント板１を装着するマスクボード４を
有するテーブル３と、所定のピツチで配列された
マスクボード４の貫通孔４Ａに設けられたプロー
ブピン１３を突出させる駆動部６と、プローブピ
ン１３を介してテスト信号を入出力する測定部５
と、テストデータ９および操作盤８の指令により
測定部５と駆動部６を制御する制御部７とによつ
て構成されている。
テーブル３に装着されたプリント板１に当接さ
れるプローブピン１３は第３図の要部断面図に示
すように形成されている。
れるプローブピン１３は第３図の要部断面図に示
すように形成されている。
電子部品２は端子２Ａがランド１Ｃに半田付け
されることによりプリント板１に実装されてお
り、半田付けされた半田面１Ｂがマスクボード４
に密着されるようにプリント板１は装着される。
一般的にランド１Ｃは所定の基準ピツチによつて
設けられているため、プローブピン１３はこの基
準ピツチに合致するようマトリツクス１１によつ
て保持され、リフタボード１２に固着されたピン
１４によつて突出されるように形成されている。
されることによりプリント板１に実装されてお
り、半田付けされた半田面１Ｂがマスクボード４
に密着されるようにプリント板１は装着される。
一般的にランド１Ｃは所定の基準ピツチによつて
設けられているため、プローブピン１３はこの基
準ピツチに合致するようマトリツクス１１によつ
て保持され、リフタボード１２に固着されたピン
１４によつて突出されるように形成されている。
そこで、端子２Ａが位置される箇所にはピン１
４が固着され、先づ、吸気口３Ａよりエアーが矢
印Ｃ方向に吸引されることで、プリント板１が載
置されたマスクボード４と、リフタボード１２と
によつて形成された部屋のエアが吸引されること
になり、リフタボード１２を矢印Ｂ方向に上昇さ
せ、この上昇によりプローブピン１３−２は突出
されないが、プローブピン１３−１と１３−３は
突出され、半田１０によつて固着された端子２Ａ
にノコギリ状の先端部１３−１Ａと１３−３Ａと
が当接される。次に、ピン１４Ａに接続された線
財１５にテスト信号を送出し電子部品２のチエツ
クが行なわれる。
４が固着され、先づ、吸気口３Ａよりエアーが矢
印Ｃ方向に吸引されることで、プリント板１が載
置されたマスクボード４と、リフタボード１２と
によつて形成された部屋のエアが吸引されること
になり、リフタボード１２を矢印Ｂ方向に上昇さ
せ、この上昇によりプローブピン１３−２は突出
されないが、プローブピン１３−１と１３−３は
突出され、半田１０によつて固着された端子２Ａ
にノコギリ状の先端部１３−１Ａと１３−３Ａと
が当接される。次に、ピン１４Ａに接続された線
財１５にテスト信号を送出し電子部品２のチエツ
クが行なわれる。
このようにして、プローブピン１３はリフタボ
ード１２によつて試験すべきプリント板１に適合
するよう選択して突出され、プリント板１に実装
された電子部品２のそれぞれの端子２Ａに当接さ
れるように形成されている。
ード１２によつて試験すべきプリント板１に適合
するよう選択して突出され、プリント板１に実装
された電子部品２のそれぞれの端子２Ａに当接さ
れるように形成されている。
したがつて、プリント板１の試験は、先づ、試
験すべきプリント板１に適合するリフタボード１
２をセツトし、半田面１Ｂがマスクボード４に重
ねられるように矢印Ａ方向にプリント板１を装着
し、次に、操作盤８より所定のテストデータ９を
指定することにより、テストデータ９によつて制
御部７を介して駆動部６と測定部５が動作され、
駆動部６はリフタボード１２を上昇させ、測定部
５はプローブピン１３を介して所定の端子２Ａに
テスト信号を送出することによつて行なわれる。
験すべきプリント板１に適合するリフタボード１
２をセツトし、半田面１Ｂがマスクボード４に重
ねられるように矢印Ａ方向にプリント板１を装着
し、次に、操作盤８より所定のテストデータ９を
指定することにより、テストデータ９によつて制
御部７を介して駆動部６と測定部５が動作され、
駆動部６はリフタボード１２を上昇させ、測定部
５はプローブピン１３を介して所定の端子２Ａに
テスト信号を送出することによつて行なわれる。
このようなプリント板１は改造などによつて電
子部品２などが追加されることがあり、この場合
は追加された電子部品２の端子２Ａに対してプロ
ーブピン１３を突出させるようリフタボード１２
にピン１４を追加する必要が生じる。
子部品２などが追加されることがあり、この場合
は追加された電子部品２の端子２Ａに対してプロ
ーブピン１３を突出させるようリフタボード１２
にピン１４を追加する必要が生じる。
そこで、リフタボード１２にはピン１４を容易
に追加できるよう、予め、プローブピン１３の位
置された箇所にはピン１４の取付孔１２Ａが設け
られ、ピン１４の固着されていない取付孔１２Ａ
に対しては吸引時のエアー洩れが生じないようシ
リコン系の接着剤１６によつて閉塞されている。
に追加できるよう、予め、プローブピン１３の位
置された箇所にはピン１４の取付孔１２Ａが設け
られ、ピン１４の固着されていない取付孔１２Ａ
に対しては吸引時のエアー洩れが生じないようシ
リコン系の接着剤１６によつて閉塞されている。
しかし、このような接着剤１６は時間経過と共
にガスが蒸発されるため、プローブピン１３の先
端部１３−１Ａ，１３−２Ａ，１３−３Ａおよび
ピン１４の先端部に被膜が形成され、接触不良が
生じる問題を有していた。
にガスが蒸発されるため、プローブピン１３の先
端部１３−１Ａ，１３−２Ａ，１３−３Ａおよび
ピン１４の先端部に被膜が形成され、接触不良が
生じる問題を有していた。
したがつて、定期的に先端部１３−１Ａ，１３
−２Ａ，１３−３Ａおよびピン１４の先端部の清
掃を行なわなければならなかつた。
−２Ａ，１３−３Ａおよびピン１４の先端部の清
掃を行なわなければならなかつた。
前述の問題点は、かゝるリフタボードの所定箇
所には必要に応じてピンが増加できるよう座グリ
孔が設けられて成る本考案によるプリント板試験
装置により解決される。
所には必要に応じてピンが増加できるよう座グリ
孔が設けられて成る本考案によるプリント板試験
装置により解決される。
即ち、リフタボードのピンが固着される箇所に
は予め、座グリ孔を設けることにより、被試験用
のプリント板の改造によつてリフタボードにピン
が必要となつた場合は正確な位置にしかも容易に
ピンの固着が行なえる。
は予め、座グリ孔を設けることにより、被試験用
のプリント板の改造によつてリフタボードにピン
が必要となつた場合は正確な位置にしかも容易に
ピンの固着が行なえる。
したがつて、従来のような接着剤による閉塞を
行う必要はなくなり、接着剤による障害は解消さ
れる。
行う必要はなくなり、接着剤による障害は解消さ
れる。
以下本考案を第１図の一実施例によつて詳細に
説明する。第１図は要部断面図で、その他は第１
図の構成と同じである。
説明する。第１図は要部断面図で、その他は第１
図の構成と同じである。
ピン１４が固着されない箇所のリフタボード１
７の表面には座グリ孔１８を設けるようにしたも
のである。
７の表面には座グリ孔１８を設けるようにしたも
のである。
このように形成すると、前述のようにピン１４
を固着するようになつた場合は座グリ孔１８にド
リルを挿入することにより、ピン１４を固着する
ための貫通孔の加工ができる。
を固着するようになつた場合は座グリ孔１８にド
リルを挿入することにより、ピン１４を固着する
ための貫通孔の加工ができる。
したがつて、座グリ孔１８を設けることによ
り、貫通孔の加工に際して正確な位置決とハンド
ドリルなどによつて容易に加工できる利点があ
る。また、吸引によるエアー洩れを防ぐ接着剤に
よる閉塞は不要となる。
り、貫通孔の加工に際して正確な位置決とハンド
ドリルなどによつて容易に加工できる利点があ
る。また、吸引によるエアー洩れを防ぐ接着剤に
よる閉塞は不要となる。
以上説明したように、本考案ではリフタボード
のピンが固着されない箇所には座グリ孔を設ける
ようにしたもので、これにより、従来の閉塞する
ため接着剤の塗布は不要となり、接触不良の発生
が防げ信頼性の向上が図れ、実用効果は大であ
る。
のピンが固着されない箇所には座グリ孔を設ける
ようにしたもので、これにより、従来の閉塞する
ため接着剤の塗布は不要となり、接触不良の発生
が防げ信頼性の向上が図れ、実用効果は大であ
る。
第１図は本考案の一実施例を示す要部断面図、
第２図は従来のプリント板試験装置の構成図、第
３図は要部断面図を示す。 図において、１はプリント板、２は電子部品、
３はテーブル、４はマスクボード、５は測定部、
６は駆動部、７は制御部、８は操作台、９はテス
トデータ、１０は半田、１１はマトリツクス、１
２，１７はリフタボード、１３はプローブピン、
１４はピン、１５は線材、１６は接着剤、１８は
座グリ孔をを示す。
第２図は従来のプリント板試験装置の構成図、第
３図は要部断面図を示す。 図において、１はプリント板、２は電子部品、
３はテーブル、４はマスクボード、５は測定部、
６は駆動部、７は制御部、８は操作台、９はテス
トデータ、１０は半田、１１はマトリツクス、１
２，１７はリフタボード、１３はプローブピン、
１４はピン、１５は線材、１６は接着剤、１８は
座グリ孔をを示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 被試験用プリント板を載置するマスクボード
と、突出するよう保持された複数のピンを有し、
該マスクボードと所定間隔でスライド可能に設け
られるリフタボードと、スライド可能に保持され
た複数のプローブピンを有し、該マスクボードと
該リフタボードとによつて形成された部屋に配設
されるマトリツクスとを備え、該部屋のエアが吸
引されることで該リフタボードをスライドさせ、
該ピンの押圧によつて該プローブピンが突出し、
該プリント板の所定箇所に当接することで該プロ
ーブピンを介してテスト信号の入出力が行われる
プリント板試験装置であつて、 前記リフタボードの所定箇所には必要に応じて
前記ピンの増加ができるよう座グリ孔が設けられ
て成ることを特徴とするプリント板試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10173984U JPS6117671U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | プリント板試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10173984U JPS6117671U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | プリント板試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6117671U JPS6117671U (ja) | 1986-02-01 |
| JPH0416228Y2 true JPH0416228Y2 (ja) | 1992-04-10 |
Family
ID=30661154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10173984U Granted JPS6117671U (ja) | 1984-07-05 | 1984-07-05 | プリント板試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6117671U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7037398B2 (ja) | 2018-03-19 | 2022-03-16 | キオクシア株式会社 | テスタ校正装置およびテスタ校正方法 |
-
1984
- 1984-07-05 JP JP10173984U patent/JPS6117671U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6117671U (ja) | 1986-02-01 |
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