JPH04167346A - 電子顕微鏡等における試料装置 - Google Patents
電子顕微鏡等における試料装置Info
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- JPH04167346A JPH04167346A JP2292633A JP29263390A JPH04167346A JP H04167346 A JPH04167346 A JP H04167346A JP 2292633 A JP2292633 A JP 2292633A JP 29263390 A JP29263390 A JP 29263390A JP H04167346 A JPH04167346 A JP H04167346A
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- JP
- Japan
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- sample
- frame
- hollow frame
- tilting
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子顕微鏡等の試料装置に関するものである。
第8図により従来のサイドエントリータイプのゴニオメ
ータについて説明する。
ータについて説明する。
第8図fa)は電子顕微鏡の電子線光軸と垂直な断面を
示す図であり、第8図(b)は電子線光軸に平行な断面
を示す図である。
示す図であり、第8図(b)は電子線光軸に平行な断面
を示す図である。
いま、電子線光軸の方向をZ軸、試料装置の軸方向をX
軸、試料装置の軸に垂直な方向をY軸とする。試料装置
ユニット80の軸81の外周部にはY軸およびZ@駆動
ユニットが設けられ、軸全体は球面軸受92によってフ
レームに支持されている。
軸、試料装置の軸に垂直な方向をY軸とする。試料装置
ユニット80の軸81の外周部にはY軸およびZ@駆動
ユニットが設けられ、軸全体は球面軸受92によってフ
レームに支持されている。
Y軸駆動ユニットは図示しない駆動用モータによって、
第8図(alに示すY軸駆動用テコ82がY軸方向に駆
動されて軸81をスプリング83に抗してY方向に移動
させ、軸81の先端部に連結された試料操作棒85を変
位させて試料室84内の試料をY方向に変位させる。
第8図(alに示すY軸駆動用テコ82がY軸方向に駆
動されて軸81をスプリング83に抗してY方向に移動
させ、軸81の先端部に連結された試料操作棒85を変
位させて試料室84内の試料をY方向に変位させる。
Z軸方向への移動は第8図(b)に示すように、Z軸駆
動ユニット86により支点88を中心にX軸駆動用テコ
87を回転させ、軸81をスプリング83に抗してZ方
向に移動させている。このY動、Z動は球面軸受92に
よって行われる。
動ユニット86により支点88を中心にX軸駆動用テコ
87を回転させ、軸81をスプリング83に抗してZ方
向に移動させている。このY動、Z動は球面軸受92に
よって行われる。
X軸周りのティルト(傾斜)はX軸傾斜ユニット89に
より行っている。これは、第8図(b)に示すように、
X軸傾斜ユニット89により、ウオームギヤ90が回転
駆動され、これと係合した回転ギヤ90が回転して軸8
1を回転駆動し、その結果試料はY軸の周りに傾斜する
。
より行っている。これは、第8図(b)に示すように、
X軸傾斜ユニット89により、ウオームギヤ90が回転
駆動され、これと係合した回転ギヤ90が回転して軸8
1を回転駆動し、その結果試料はY軸の周りに傾斜する
。
X軸方向の移動は、図示しないX軸駆動用ユニットによ
って支点を中心に回転するX軸駆動用テコ96によって
行われ、この場合ホルダ側から試料室側への移動は、試
料室と大気圧との圧力差によって行われ、テコ96は試
料室側からホルダ側への移動を行う。
って支点を中心に回転するX軸駆動用テコ96によって
行われ、この場合ホルダ側から試料室側への移動は、試
料室と大気圧との圧力差によって行われ、テコ96は試
料室側からホルダ側への移動を行う。
なお、x、y、z動およびX軸傾斜は4軸ユーセントリ
ツクに行われ、また試料室真空側と試料装置大気側とは
パイトン0リング93.94によって真空シールされて
いる。
ツクに行われ、また試料室真空側と試料装置大気側とは
パイトン0リング93.94によって真空シールされて
いる。
第8図に示す超高真空用のサイドエントリーゴニオメー
タでは、パイトン0リングを使用して真空シールしてい
るが、パイトン0リングからの放出ガスが大きいため真
空焼き出し温度は最大100〜120℃で超高真空の達
成が困難であるとともに、Y軸、Z軸、X軸傾斜駆動ユ
ニットは同一部材上に設けられているもののX軸駆動ユ
ニットは別部材として設けており、さらに、Y軸試料傾
斜を行うことができないという問題があった。
タでは、パイトン0リングを使用して真空シールしてい
るが、パイトン0リングからの放出ガスが大きいため真
空焼き出し温度は最大100〜120℃で超高真空の達
成が困難であるとともに、Y軸、Z軸、X軸傾斜駆動ユ
ニットは同一部材上に設けられているもののX軸駆動ユ
ニットは別部材として設けており、さらに、Y軸試料傾
斜を行うことができないという問題があった。
本発明は上記課題を解決するためのもので、X。
Y、 Z動、 x、 X軸傾斜の5軸駆動ユニツトを同
一部材に設けるとともに、5軸の動き全てに対してメタ
ルシール化を図って超高真空対応の構造とすることがで
きる電子顕微鏡等の試料装置を提供することを目的とす
る。
一部材に設けるとともに、5軸の動き全てに対してメタ
ルシール化を図って超高真空対応の構造とすることがで
きる電子顕微鏡等の試料装置を提供することを目的とす
る。
そのために本発明の電子顕微鏡等における試料装置は、
試料室壁より電子線光軸に対して直角に装着するサイド
エントリーゴニオメータにおいて、球面軸受で支持され
るともに、一端が試料室と大気とをシールする金属ベロ
ーに接続された中空フレームと、中空フレームをネジ結
合によりX軸方向に移動させて試料を長手方向に動かす
中空フレーム外周部に設けられたX軸駆動手段と、中空
フレームを押圧して試料をY軸方向に動かす中空フレー
ム外周部に設けられたY軸駆動手段と、中空フレームを
押圧して試料をZ軸方向に動かす中空フレーム外周部に
設けられたZ軸駆動手段と、磁気結合により中空フレー
ム外から中空フレーム内の中空パイプに回転力を与えて
試料をX軸周りに傾斜させるX軸傾斜駆動手段と、中空
パイプ内に設けられ、一端が金属ベローズに接続された
シャフトを前後動させることにより試料をY軸周りに傾
斜させるY軸傾斜駆動手段とを備えたことを特徴とする
。
試料室壁より電子線光軸に対して直角に装着するサイド
エントリーゴニオメータにおいて、球面軸受で支持され
るともに、一端が試料室と大気とをシールする金属ベロ
ーに接続された中空フレームと、中空フレームをネジ結
合によりX軸方向に移動させて試料を長手方向に動かす
中空フレーム外周部に設けられたX軸駆動手段と、中空
フレームを押圧して試料をY軸方向に動かす中空フレー
ム外周部に設けられたY軸駆動手段と、中空フレームを
押圧して試料をZ軸方向に動かす中空フレーム外周部に
設けられたZ軸駆動手段と、磁気結合により中空フレー
ム外から中空フレーム内の中空パイプに回転力を与えて
試料をX軸周りに傾斜させるX軸傾斜駆動手段と、中空
パイプ内に設けられ、一端が金属ベローズに接続された
シャフトを前後動させることにより試料をY軸周りに傾
斜させるY軸傾斜駆動手段とを備えたことを特徴とする
。
本発明は、サイドエントリーゴニオメータの基本フレー
ムとして中空フレームを使用し、これをメタルベローズ
で固定部に取り付けて真空シールするとともに、X、
Y、 Z軸駆動ユニットを中空フレーム外周上に設け、
中空フレーム内に外側から回転力を中空フレーム内に伝
える磁気結合型の回転導入器を設けてX軸傾斜を行い、
中空フレーム内に一端が金属ベローズに接続され、Y軸
に沿ってスライド可能なシャフトを設けてY軸試料傾斜
を行わせることにより、超高真空対応の5軸ユーセント
リツクホルダーを実現することができる。
ムとして中空フレームを使用し、これをメタルベローズ
で固定部に取り付けて真空シールするとともに、X、
Y、 Z軸駆動ユニットを中空フレーム外周上に設け、
中空フレーム内に外側から回転力を中空フレーム内に伝
える磁気結合型の回転導入器を設けてX軸傾斜を行い、
中空フレーム内に一端が金属ベローズに接続され、Y軸
に沿ってスライド可能なシャフトを設けてY軸試料傾斜
を行わせることにより、超高真空対応の5軸ユーセント
リツクホルダーを実現することができる。
以下、実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明の試料装置の電子線光軸に垂直な断面図
、第2図はX軸傾斜機構を説明するための図、第3図は
Z動を説明するための図、第4図はY動を説明するため
の図、第5図は試料装置の電子線光軸方向における断面
図、第6図はX軸傾斜駆動ユニットを説明するための図
、第7図はY軸傾斜機構を説明するための図である。図
中、lはメタル0リング、2はベローズ、3はベアリン
グ、4は軸合わせ用ネジ、5はブロック、6は傾斜用ギ
ヤ、7はY軸駆動用ネジ、8はx、y、z軸用フレーム
、9はX軸傾斜用ガイド、10はガイド、11は傾斜用
カバー、12はマグネット、13はベアリング、14は
ベローズ、15はネジ、16はつまみ、17はギヤ、1
8はX軸駆動用ギヤ、19はX軸駆動用モータ、22は
スプリング、23は試料ホルダー、25は試料傾斜用シ
ャフト、24は受台支え、26は傾斜用パイプ、27は
球面軸受、28はスプリング、29は試料ホルダー受台
、30はスプリング、31はX、Y、Z軸周フレーム、
32はマグネット支持部材、33はシャフト結合部材、
35は試料室壁、36は試料室、40はZ軸駆動用モー
タ、41.42はギヤ、43はネジ、44はスライダ、
45はZ軸周テコ、50はギヤ、51はネジ、52はス
ライダ、60はX軸傾斜用モータ、61はウオームギヤ
、62はフレームである。
、第2図はX軸傾斜機構を説明するための図、第3図は
Z動を説明するための図、第4図はY動を説明するため
の図、第5図は試料装置の電子線光軸方向における断面
図、第6図はX軸傾斜駆動ユニットを説明するための図
、第7図はY軸傾斜機構を説明するための図である。図
中、lはメタル0リング、2はベローズ、3はベアリン
グ、4は軸合わせ用ネジ、5はブロック、6は傾斜用ギ
ヤ、7はY軸駆動用ネジ、8はx、y、z軸用フレーム
、9はX軸傾斜用ガイド、10はガイド、11は傾斜用
カバー、12はマグネット、13はベアリング、14は
ベローズ、15はネジ、16はつまみ、17はギヤ、1
8はX軸駆動用ギヤ、19はX軸駆動用モータ、22は
スプリング、23は試料ホルダー、25は試料傾斜用シ
ャフト、24は受台支え、26は傾斜用パイプ、27は
球面軸受、28はスプリング、29は試料ホルダー受台
、30はスプリング、31はX、Y、Z軸周フレーム、
32はマグネット支持部材、33はシャフト結合部材、
35は試料室壁、36は試料室、40はZ軸駆動用モー
タ、41.42はギヤ、43はネジ、44はスライダ、
45はZ軸周テコ、50はギヤ、51はネジ、52はス
ライダ、60はX軸傾斜用モータ、61はウオームギヤ
、62はフレームである。
第1図において、試料装置の先端部は試料室壁35を通
して試料室36に挿入され、電子線光軸に垂直な軸心を
持つ中空パイプ状フレーム31内にはマグネット12に
より、回転駆動されるX軸傾斜用パイプ26が設けられ
、さらにパイプ26内にはY軸試料傾斜用シャフト25
が設けられている。フレーム31はX、 Y、 Z動等
の動きを許容するメタル製ベローズ2の一端に取り付け
られた基本フレームであり、ベローズ2の他端は試料装
置に固定されて試料室内と試料装置の大気側との真空シ
ールを行っている。また、フレーム31と一体にその周
囲に設けられたフレーム8には球面状膨出部36が設け
られ、球面軸受27により転勤可能に支持されている。
して試料室36に挿入され、電子線光軸に垂直な軸心を
持つ中空パイプ状フレーム31内にはマグネット12に
より、回転駆動されるX軸傾斜用パイプ26が設けられ
、さらにパイプ26内にはY軸試料傾斜用シャフト25
が設けられている。フレーム31はX、 Y、 Z動等
の動きを許容するメタル製ベローズ2の一端に取り付け
られた基本フレームであり、ベローズ2の他端は試料装
置に固定されて試料室内と試料装置の大気側との真空シ
ールを行っている。また、フレーム31と一体にその周
囲に設けられたフレーム8には球面状膨出部36が設け
られ、球面軸受27により転勤可能に支持されている。
この軸受部はY、Z動の中心となっており、軸受面には
ベローズ2にかかる大気正分とスプリング28で常に軸
受部27にフレーム8の球面が押し付けられている。
ベローズ2にかかる大気正分とスプリング28で常に軸
受部27にフレーム8の球面が押し付けられている。
フレーム31の外周部材の外側にはフレーム8が取り付
けられ、フレーム8と31とは同時に同じ方向に動かす
ことができるようになっており、フレーム8をネジ7で
Y軸方向に押すことによりY動が得られる。
けられ、フレーム8と31とは同時に同じ方向に動かす
ことができるようになっており、フレーム8をネジ7で
Y軸方向に押すことによりY動が得られる。
即ち、第5図のB−B断面図である第4図を参照すると
、図示しないモータによりギヤ50が回転駆動され、ネ
ジ51が回動することにより、スライダ52がスライド
し、その結果テコ53が支点54を中心に回動して反対
側に設けられたスプリング22に抗してフレーム8をY
軸方向に移動させ、その反対側への移動はスプリング2
2により行い、試料をY軸方向に動かせるようになって
いる。
、図示しないモータによりギヤ50が回転駆動され、ネ
ジ51が回動することにより、スライダ52がスライド
し、その結果テコ53が支点54を中心に回動して反対
側に設けられたスプリング22に抗してフレーム8をY
軸方向に移動させ、その反対側への移動はスプリング2
2により行い、試料をY軸方向に動かせるようになって
いる。
Z動については、第5図のC−C断面図である第3図(
al、さらに第3図(alの側面図である第3図fb)
に示すように、Z軸駆動用モータ40によりギヤ41.
42が回転駆動され、その結果ネジ43が駆動されてス
ライダ44がスライドし、Z軸用テコ44が支点46を
中心に回転して、フレーム8をZ軸方向に変位させるよ
うになっている。この場合も反対側への移動はスプリン
グ22によって行われ、試料をZ軸方向に動かせるよう
になっている。
al、さらに第3図(alの側面図である第3図fb)
に示すように、Z軸駆動用モータ40によりギヤ41.
42が回転駆動され、その結果ネジ43が駆動されてス
ライダ44がスライドし、Z軸用テコ44が支点46を
中心に回転して、フレーム8をZ軸方向に変位させるよ
うになっている。この場合も反対側への移動はスプリン
グ22によって行われ、試料をZ軸方向に動かせるよう
になっている。
また、ブロック5にはベアリング3が取り付けられ、X
軸傾斜用の軸受になっているとともに、ネジ4でブロッ
ク5を押すことにより、ゴニオメータ全体の軸合わせ(
ユーセントリック合わせ)ができるようになっている。
軸傾斜用の軸受になっているとともに、ネジ4でブロッ
ク5を押すことにより、ゴニオメータ全体の軸合わせ(
ユーセントリック合わせ)ができるようになっている。
X軸傾斜については、X軸傾斜用ガイド9に傾斜用ギヤ
6が取り付けられていて、第5図のA−A断面図である
第6図に示すように、X軸傾斜用モータ60によりウオ
ームギヤ61と傾斜用ギヤ6が回転駆動され、その結果
フレーム62を介してガイド9がガイドlOに案内され
て回転し、傾斜用カバー11が回転駆動される。第2図
に断面図を示すように、傾斜用カバー11にはマグネッ
ト12が取り付けられており、このマグネットと磁気結
合するマグネット12がフレーム31内に設けられ、ガ
イド9の回転によりマグネット12が回転し、その結果
パイプ26が回転して試料をX軸の周りに傾斜させるこ
とができる。このときベアリング13がマグネット12
、パイプ26の軸受となっている。
6が取り付けられていて、第5図のA−A断面図である
第6図に示すように、X軸傾斜用モータ60によりウオ
ームギヤ61と傾斜用ギヤ6が回転駆動され、その結果
フレーム62を介してガイド9がガイドlOに案内され
て回転し、傾斜用カバー11が回転駆動される。第2図
に断面図を示すように、傾斜用カバー11にはマグネッ
ト12が取り付けられており、このマグネットと磁気結
合するマグネット12がフレーム31内に設けられ、ガ
イド9の回転によりマグネット12が回転し、その結果
パイプ26が回転して試料をX軸の周りに傾斜させるこ
とができる。このときベアリング13がマグネット12
、パイプ26の軸受となっている。
また、ガイド10を外して傾斜用カバー11を回転させ
ると、パイプ26を360°エンドレスで回転させるこ
ともできるので、ガイド10というストッパーを外すと
、任意に試料ホルダーをX軸に対して回転することがで
きる。
ると、パイプ26を360°エンドレスで回転させるこ
ともできるので、ガイド10というストッパーを外すと
、任意に試料ホルダーをX軸に対して回転することがで
きる。
X動については、フレーム8にギヤ18が取り付けられ
、ギヤ18の内面側はフレーム8とネジ結合しており、
X軸駆動用モータ19によりギヤ】7、J8を回転させ
ることにより、ネジ駆動によりフレーム8、傾斜用カバ
ー11をX軸方向に移動できるようになっており、これ
と一体にフレーム31が移動し、試料をX軸方向に移動
させることができる。
、ギヤ18の内面側はフレーム8とネジ結合しており、
X軸駆動用モータ19によりギヤ】7、J8を回転させ
ることにより、ネジ駆動によりフレーム8、傾斜用カバ
ー11をX軸方向に移動できるようになっており、これ
と一体にフレーム31が移動し、試料をX軸方向に移動
させることができる。
フレーム3Iには試料をY軸の周りに傾斜させるために
、パイプ26内部に一端がメタルベローズ14に接続さ
れたシャフト25が設けられている。図示しないモータ
によりつまみ16を回すとネジ15が前後し、これによ
ってシャフト25が前後する。シャフト25の前後動は
金属製ベローズ14によって許容されるとともに、この
部分の真空シールが行われる。シャフト25の前後動に
より、第7図に示すようにシャフト25の先端部に設け
られた操作棒20が前後し、操作棒20でテコ21を軸
21aを中心にして回動させることにより、試料ホルダ
23をY軸の周りに回転させる。試料ホルダ23のY軸
周りの復帰はバネ38によって行われる。
、パイプ26内部に一端がメタルベローズ14に接続さ
れたシャフト25が設けられている。図示しないモータ
によりつまみ16を回すとネジ15が前後し、これによ
ってシャフト25が前後する。シャフト25の前後動は
金属製ベローズ14によって許容されるとともに、この
部分の真空シールが行われる。シャフト25の前後動に
より、第7図に示すようにシャフト25の先端部に設け
られた操作棒20が前後し、操作棒20でテコ21を軸
21aを中心にして回動させることにより、試料ホルダ
23をY軸の周りに回転させる。試料ホルダ23のY軸
周りの復帰はバネ38によって行われる。
なお、試料ホルダ23は受台支え24によって支持され
た試料ホルダ受台29によって反対側を支えられており
、試料ホルダの動きにつれて動けるように支持されてい
る。そして、試料ホルダ受台側を冷却されることにより
、試料ホルダを冷却することができる。
た試料ホルダ受台29によって反対側を支えられており
、試料ホルダの動きにつれて動けるように支持されてい
る。そして、試料ホルダ受台側を冷却されることにより
、試料ホルダを冷却することができる。
次に試料台ホルダを動かす操作方法について説明すると
、ゴニオメータ全体の軸合わせ、即ちユーセントリック
合わせはスクリュー4を調節し、ブロック5を押すこと
より行う。X動は、モータ19を駆動することによりギ
ヤ18を回転させると、このギヤに対してフレーム8が
ネジ結合をしているので、フレーム8と一体のフレーム
31がX軸方向に移動する。Y動についてはY軸駆動用
のネジ7を調節することにより反対側のスプリング22
の力に抗してY軸方向への移動を行うことができる。Z
動についてはモータ40によりギヤを介してテコ45を
支点46を中心に回動させることにより、スプリング2
2の力に抗してフレーム31をZ軸方向に移動させるこ
とができる。
、ゴニオメータ全体の軸合わせ、即ちユーセントリック
合わせはスクリュー4を調節し、ブロック5を押すこと
より行う。X動は、モータ19を駆動することによりギ
ヤ18を回転させると、このギヤに対してフレーム8が
ネジ結合をしているので、フレーム8と一体のフレーム
31がX軸方向に移動する。Y動についてはY軸駆動用
のネジ7を調節することにより反対側のスプリング22
の力に抗してY軸方向への移動を行うことができる。Z
動についてはモータ40によりギヤを介してテコ45を
支点46を中心に回動させることにより、スプリング2
2の力に抗してフレーム31をZ軸方向に移動させるこ
とができる。
X軸周りの傾斜はモータ60を回転させることにより、
ウオームギヤ61、フレーム62を介して傾斜用カバー
11を回転させ、これに結合された磁石12を回転させ
ることによりフレーム31内に設けられた磁石を回転さ
せ、これによってパイプ26を回転させることにより行
う。また、Y軸周りの試料傾斜はつまみ16を回転させ
ることによりねじ15を前後させ、パイプ26内に設け
られたシャフト25を前後させることにより行う。
ウオームギヤ61、フレーム62を介して傾斜用カバー
11を回転させ、これに結合された磁石12を回転させ
ることによりフレーム31内に設けられた磁石を回転さ
せ、これによってパイプ26を回転させることにより行
う。また、Y軸周りの試料傾斜はつまみ16を回転させ
ることによりねじ15を前後させ、パイプ26内に設け
られたシャフト25を前後させることにより行う。
このようにしてx、 y、 z動、X軸周り傾斜、Y軸
周り傾斜の5軸ユーセントリツクに試料移動させること
ができ、これらの動きは金属製ベローズを用いることに
より、超真空を保持したまま行うことができる。
周り傾斜の5軸ユーセントリツクに試料移動させること
ができ、これらの動きは金属製ベローズを用いることに
より、超真空を保持したまま行うことができる。
以上のように本発明によれば、同一部材にX。
Y、 Z動、X軸傾斜、Y軸傾斜の5軸ユーセントリツ
ク動の機構を設けることができ、金属ベローズによるメ
タルシール化によってガス放出を少なくすることができ
る。このように、ガス放出の少ない材料を設けたこと、
試料傾斜については中空パイプを介しての磁気結合と中
空パイプ内に挿通したシャフトを利用して行うことによ
り10−”〜I O−” Torrの超高真空に対応さ
せる構造とすることが可能である。また、超高真空では
150°C以上で各部品を真空焼だしする必要があるが
、全てこれらを行うことが可能となる。
ク動の機構を設けることができ、金属ベローズによるメ
タルシール化によってガス放出を少なくすることができ
る。このように、ガス放出の少ない材料を設けたこと、
試料傾斜については中空パイプを介しての磁気結合と中
空パイプ内に挿通したシャフトを利用して行うことによ
り10−”〜I O−” Torrの超高真空に対応さ
せる構造とすることが可能である。また、超高真空では
150°C以上で各部品を真空焼だしする必要があるが
、全てこれらを行うことが可能となる。
また、試料ホルダを反対側から加熱傾斜、冷却等もでき
る。
る。
第1図は本発明の試料装置の電子線光軸に垂直な断面図
、第2図はX軸傾斜機構を説明するための図、第3図Z
軸動を説明するための図、第4図はY軸動を説明するた
めの図、第5図は試料装置の電子線光軸方向における断
面図、第6図はX軸傾斜機構を説明するための図、第7
図はY軸傾斜機構を説明するための図、第8図(a)は
電子R微鏡の電子線光軸と垂直な断面を示す図、第8図
(b)は電線光軸に平行な断面を示す図である。 l・・・メタル0リング、2・・・ベローズ、3・・・
ベアリング、4・・・軸合わせ用ネジ、5・・・ブロッ
ク、6・・・傾斜用ギヤ、7・・・Y軸駆動用ネジ、8
・・・X、 Y。 Z軸用フレーム、9・・・X軸傾斜用ガイド、IO・・
・ガイド、11・・・傾斜用カバー、I2・・・マグネ
ット、13・・・ベアリング、14・・・ベローズ、1
5・・・ネジ、16・・・つまみ、17・・・ギヤ、1
8・・・X軸駆動用ギヤ、19・・・X軸駆動用モータ
、22・・・スプリング、23・・・試料ホルダー、2
5・・・試料傾斜用シャフト、26・・・傾斜用パイプ
、27・・・球面軸受、28・・・スプリング、30・
・・スプリング、31・・・x、y、z舶用フレーム、
32・・・マグネット支持部材、33・・シャフト結合
部材、35・・・パイプ、40・・・Z軸駆動用モータ
、41.42・・・ギヤ、43・・・ネジ、44・・・
スライダ、45・・・Z軸用テコ、50・・・ギヤ、5
】・・・ネジ、52・・・スライダ、60・・・X軸傾
斜用モータ、61・・・ウオームギヤ。 出 願 人 日本電子株式会社
、第2図はX軸傾斜機構を説明するための図、第3図Z
軸動を説明するための図、第4図はY軸動を説明するた
めの図、第5図は試料装置の電子線光軸方向における断
面図、第6図はX軸傾斜機構を説明するための図、第7
図はY軸傾斜機構を説明するための図、第8図(a)は
電子R微鏡の電子線光軸と垂直な断面を示す図、第8図
(b)は電線光軸に平行な断面を示す図である。 l・・・メタル0リング、2・・・ベローズ、3・・・
ベアリング、4・・・軸合わせ用ネジ、5・・・ブロッ
ク、6・・・傾斜用ギヤ、7・・・Y軸駆動用ネジ、8
・・・X、 Y。 Z軸用フレーム、9・・・X軸傾斜用ガイド、IO・・
・ガイド、11・・・傾斜用カバー、I2・・・マグネ
ット、13・・・ベアリング、14・・・ベローズ、1
5・・・ネジ、16・・・つまみ、17・・・ギヤ、1
8・・・X軸駆動用ギヤ、19・・・X軸駆動用モータ
、22・・・スプリング、23・・・試料ホルダー、2
5・・・試料傾斜用シャフト、26・・・傾斜用パイプ
、27・・・球面軸受、28・・・スプリング、30・
・・スプリング、31・・・x、y、z舶用フレーム、
32・・・マグネット支持部材、33・・シャフト結合
部材、35・・・パイプ、40・・・Z軸駆動用モータ
、41.42・・・ギヤ、43・・・ネジ、44・・・
スライダ、45・・・Z軸用テコ、50・・・ギヤ、5
】・・・ネジ、52・・・スライダ、60・・・X軸傾
斜用モータ、61・・・ウオームギヤ。 出 願 人 日本電子株式会社
Claims (1)
- (1)試料室壁より電子線光軸に対して直角に装着する
サイドエントリーゴニオメータにおいて、球面軸受で支
持されるともに、一端が試料室と大気とをシールする金
属ベローに接続された中空フレームと、中空フレームを
ネジ結合によりX軸方向に移動させて試料を長手方向に
動かす中空フレーム外周部に設けられたX軸駆動手段と
、中空フレームを押圧して試料をY軸方向に動かす中空
フレーム外周部に設けられたY軸駆動手段と、中空フレ
ームを押圧して試料をZ軸方向に動かす中空フレーム外
周部に設けられたZ軸駆動手段と、磁気結合により中空
フレーム外から中空フレーム内の中空パイプに回転力を
与えて試料をX軸周りに傾斜させるX軸傾斜駆動手段と
、中空パイプ内に設けられ、一端が金属ベローズに接続
されたシャフトを前後動させることにより試料をY軸周
りに傾斜させるY軸傾斜駆動手段とを備えたことを特徴
とする電子顕微鏡等における試料装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2292633A JP2839695B2 (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | 電子顕微鏡等における試料装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2292633A JP2839695B2 (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | 電子顕微鏡等における試料装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04167346A true JPH04167346A (ja) | 1992-06-15 |
| JP2839695B2 JP2839695B2 (ja) | 1998-12-16 |
Family
ID=17784319
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2292633A Expired - Fee Related JP2839695B2 (ja) | 1990-10-30 | 1990-10-30 | 電子顕微鏡等における試料装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2839695B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3823003A3 (en) * | 2019-11-15 | 2022-09-14 | FEI Company | Electron microscope stage |
| CN115881500A (zh) * | 2022-12-29 | 2023-03-31 | 北京中科科仪股份有限公司 | 一种回转密封结构及设计方法 |
-
1990
- 1990-10-30 JP JP2292633A patent/JP2839695B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3823003A3 (en) * | 2019-11-15 | 2022-09-14 | FEI Company | Electron microscope stage |
| CN115881500A (zh) * | 2022-12-29 | 2023-03-31 | 北京中科科仪股份有限公司 | 一种回转密封结构及设计方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2839695B2 (ja) | 1998-12-16 |
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Legal Events
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