JPH04223323A - 固体電解コンデンサの検査方法 - Google Patents
固体電解コンデンサの検査方法Info
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- JPH04223323A JPH04223323A JP2405815A JP40581590A JPH04223323A JP H04223323 A JPH04223323 A JP H04223323A JP 2405815 A JP2405815 A JP 2405815A JP 40581590 A JP40581590 A JP 40581590A JP H04223323 A JPH04223323 A JP H04223323A
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- Japan
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- lead
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- capacitor element
- leads
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- Pending
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、固体電解コンデンサ
の検査方法に関し、特にリードのオープン状態のチェッ
ク方法に関するものである。
の検査方法に関し、特にリードのオープン状態のチェッ
ク方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、この種固体電解コンデンサは、
例えば図４の縦断面図に示すように、タンタル，ニオブ
，アルミニウムなどのように弁作用を有する金属粉末を
円柱状等に加圧成形し、焼結してなるコンデンサエレメ
ント１に、予め弁作用を有する金属線をペレットリード
２として植立し、このペレットリード２の導出部分に陽
極リード３を溶接するとともに、陰極リード４をコンデ
ンサエレメント１の外周面に形成された電極引出し層５
に半田層６にて接合し、然る後にコンデンサエレメント
１および上記両リード３，４の導出基端部を樹脂材７に
て被覆して製造される。
例えば図４の縦断面図に示すように、タンタル，ニオブ
，アルミニウムなどのように弁作用を有する金属粉末を
円柱状等に加圧成形し、焼結してなるコンデンサエレメ
ント１に、予め弁作用を有する金属線をペレットリード
２として植立し、このペレットリード２の導出部分に陽
極リード３を溶接するとともに、陰極リード４をコンデ
ンサエレメント１の外周面に形成された電極引出し層５
に半田層６にて接合し、然る後にコンデンサエレメント
１および上記両リード３，４の導出基端部を樹脂材７に
て被覆して製造される。
【０００３】上記製造過程において、コンデンサエレメ
ント１に植立されたペレットリード２は、図５（ａ）の
正面図に示すように多数のものがその一端を等間隔で帯
板状をなすアルミ保持板８に圧着または溶接され、この
後、各ペレットリード２の途中一部に図５（ｂ）の正面
図に示すように、陽極リード３の先端屈曲部３ａを溶接
し、続いてアルミ保持板８を切り離し、次に陰極リード
４の半田層６による接合工程（図示省略）ならびに樹脂
材７の被覆工程（図示省略）に供給される。
ント１に植立されたペレットリード２は、図５（ａ）の
正面図に示すように多数のものがその一端を等間隔で帯
板状をなすアルミ保持板８に圧着または溶接され、この
後、各ペレットリード２の途中一部に図５（ｂ）の正面
図に示すように、陽極リード３の先端屈曲部３ａを溶接
し、続いてアルミ保持板８を切り離し、次に陰極リード
４の半田層６による接合工程（図示省略）ならびに樹脂
材７の被覆工程（図示省略）に供給される。
【０００４】上記陽極リード３の溶接工程においては、
多数の陽極リード３が別の帯板状の陽極リード保持板９
に等間隔で取り付けられており、これをアルミ保持板８
に取り付けられている各ペレットリード２上に位置決め
載置して溶接が行われる。なお、陰極リード４の半田層
６による接合工程においても、図５（ｃ）の正面図に示
すように、上記と同様な帯板状の陰極リード保持板１０
を使用して行われる。
多数の陽極リード３が別の帯板状の陽極リード保持板９
に等間隔で取り付けられており、これをアルミ保持板８
に取り付けられている各ペレットリード２上に位置決め
載置して溶接が行われる。なお、陰極リード４の半田層
６による接合工程においても、図５（ｃ）の正面図に示
すように、上記と同様な帯板状の陰極リード保持板１０
を使用して行われる。
【０００５】この溶接部１１や半田付け部１２のオープ
ン不良を検出するために、従来は図５（ｃ）に示す陽極
リード３や陰極リード４を作業者が指でつかんで引っ張
ってみて、オープンか否かを陽極リード３や陰極リード
４の動きを見てその変位の大きさにより判定していた。
ン不良を検出するために、従来は図５（ｃ）に示す陽極
リード３や陰極リード４を作業者が指でつかんで引っ張
ってみて、オープンか否かを陽極リード３や陰極リード
４の動きを見てその変位の大きさにより判定していた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
検査方法では、作業者の熟練度に頼るところが多いため
に不良品の検出能力が低く、また手作業であり、かつ個
々のコンデンサエレメント１の溶接部１１や半田付け部
１２を逐一点検するために、莫大な工数がかかるという
欠点があった。
検査方法では、作業者の熟練度に頼るところが多いため
に不良品の検出能力が低く、また手作業であり、かつ個
々のコンデンサエレメント１の溶接部１１や半田付け部
１２を逐一点検するために、莫大な工数がかかるという
欠点があった。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明の固体電解コン
デンサの検査方法は、上記問題点を解決するために、帯
板状の陽極リード保持板に等間隔に多数個固着した陽極
リードと、帯板状の陰極リード保持板に等間隔に多数個
固着した陰極リードとを、コンデンサエレメントに植立
したペレットリードとコンデンサエレメントの外周面に
形成した電極引出し層に位置決め載置して、それぞれ溶
接および半田付けにて接合したもののリードのオープン
チェックをする際に、上記陽極リード保持板と陰極リー
ド保持板とを固定したうえで、その長尺方向に振動を与
え、各コンデンサエレメントの振幅巾の大小を判別する
ことによって、リードのオープン状態をチェックするも
のである。
デンサの検査方法は、上記問題点を解決するために、帯
板状の陽極リード保持板に等間隔に多数個固着した陽極
リードと、帯板状の陰極リード保持板に等間隔に多数個
固着した陰極リードとを、コンデンサエレメントに植立
したペレットリードとコンデンサエレメントの外周面に
形成した電極引出し層に位置決め載置して、それぞれ溶
接および半田付けにて接合したもののリードのオープン
チェックをする際に、上記陽極リード保持板と陰極リー
ド保持板とを固定したうえで、その長尺方向に振動を与
え、各コンデンサエレメントの振幅巾の大小を判別する
ことによって、リードのオープン状態をチェックするも
のである。
【０００８】
【作用】上記の構成によると、陽極リードが接合部から
離れてオープン状態にあるもの，あるいは陰極リードが
接合部から離れてオープン状態にあるものは、振動を与
えた時、コンデンサエレメントの振幅巾が良品のものよ
り大となるため、この振幅巾の大小を判断することによ
り、リードのオープン状態のチェックを行うことができ
る。
離れてオープン状態にあるもの，あるいは陰極リードが
接合部から離れてオープン状態にあるものは、振動を与
えた時、コンデンサエレメントの振幅巾が良品のものよ
り大となるため、この振幅巾の大小を判断することによ
り、リードのオープン状態のチェックを行うことができ
る。
【０００９】
【実施例】以下、この発明について図面を参照して説明
する。
する。
【００１０】図１（ａ），（ｂ）はこの発明の一実施例
である固体電解コンデンサの検査方法を説明するための
一部断面正面図である。
である固体電解コンデンサの検査方法を説明するための
一部断面正面図である。
【００１１】図において、１はコンデンサエレメント、
２はペレットリード、３は陽極リード、４は陰極リード
、５は電極引出し層、６は半田層、９は陽極リード保持
板、１０は陰極リード保持板を示している。
２はペレットリード、３は陽極リード、４は陰極リード
、５は電極引出し層、６は半田層、９は陽極リード保持
板、１０は陰極リード保持板を示している。
【００１２】次に、上記の固体電解コンデンサの検査方
法によるリードのオープン状態のチェック方法について
説明する。
法によるリードのオープン状態のチェック方法について
説明する。
【００１３】この実施例によれば、図１（ａ）のオープ
ン状態のチェック前の状態から図１（ｂ）に示すように
、帯板状の陽極リード保持板９と帯板状の陰極リード保
持板１０とを固定し、図面矢印方向に振動を与えると、
各コンデンサエレメント１がそれぞれ特有の振動を起こ
す。この時、良品の振幅巾は極めて小さくなるのに対し
、不良品すなわちオープン状態にあるものは振幅巾が前
者に比べ格段に大きくなるため、溶接あるいは半田付け
の不良品をこの振幅巾の大小を目視により判断すること
ができる。
ン状態のチェック前の状態から図１（ｂ）に示すように
、帯板状の陽極リード保持板９と帯板状の陰極リード保
持板１０とを固定し、図面矢印方向に振動を与えると、
各コンデンサエレメント１がそれぞれ特有の振動を起こ
す。この時、良品の振幅巾は極めて小さくなるのに対し
、不良品すなわちオープン状態にあるものは振幅巾が前
者に比べ格段に大きくなるため、溶接あるいは半田付け
の不良品をこの振幅巾の大小を目視により判断すること
ができる。
【００１４】また、図２に示すような各リード保持板９
，１０に対し、垂直方向にならべた透過型光学センサ１
１や、図３に示す各リード保持板９，１０の長尺方向に
沿ったところのコンデンサエレメント１の両脇に設けた
タッチセンサ１２等のセンサによって容易に検出するこ
とができる。
，１０に対し、垂直方向にならべた透過型光学センサ１
１や、図３に示す各リード保持板９，１０の長尺方向に
沿ったところのコンデンサエレメント１の両脇に設けた
タッチセンサ１２等のセンサによって容易に検出するこ
とができる。
【００１５】なお、不良品の検出能力の向上および工数
の削減をさらに拡大するために、カメラにて撮影し、コ
ンデンサエレメント１の振動によるぶれを画像処理し不
良品を検出する等の方法もある。
の削減をさらに拡大するために、カメラにて撮影し、コ
ンデンサエレメント１の振動によるぶれを画像処理し不
良品を検出する等の方法もある。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、この発明は固体電
解コンデンサのリードのオープン状態のチェックをする
方法において、陽極リード保持板と陰極リード保持体と
を固定したうえで、振動を与え、各コンデンサエレメン
トの振幅巾の大小を判別することで不良品を検出するよ
うにしたことにより、検出力の向上および工数の削減が
できるという効果がある。
解コンデンサのリードのオープン状態のチェックをする
方法において、陽極リード保持板と陰極リード保持体と
を固定したうえで、振動を与え、各コンデンサエレメン
トの振幅巾の大小を判別することで不良品を検出するよ
うにしたことにより、検出力の向上および工数の削減が
できるという効果がある。
【図１】 この発明の一実施例である固体電解コンデ
ンサの検査方法を説明するための図 （ａ） リードのオープンチェックをする前の状態を
示す一部断面正面図 （ｂ） リードのオープンチェックをするために両リ
ード保持板を固定し、振動を与えている状態を示す一部
断面正面図
ンサの検査方法を説明するための図 （ａ） リードのオープンチェックをする前の状態を
示す一部断面正面図 （ｂ） リードのオープンチェックをするために両リ
ード保持板を固定し、振動を与えている状態を示す一部
断面正面図
【図２】 図１（ｂ）の上面図であり、透過型光学セ
ンサ使用の実施例
ンサ使用の実施例
【図３】 図１（ｂ）の上面図であり、タッチセンサ
使用の実施例
使用の実施例
【図４】 一般的な固体電解コンデンサの縦断面図
【
図５】（ａ），（ｂ），（ｃ） 製造過程を説明する
ための一部断面正面図
図５】（ａ），（ｂ），（ｃ） 製造過程を説明する
ための一部断面正面図
１ コンデンサエレメント
２ ペレットリード
３ 陽極リード
４ 陰極リード
５ 電極引出し層
６ 半田層
９ 陽極リード保持板
１０ 陰極リード保持板
１１ 透過型光学センサ
１２ タッチセンサ
Claims (1)
- 【請求項１】コンデンサエレメントから導出したペレッ
トリードを介して各コンデンサエレメントをアルミ保持
板に適宜の間隔で保持させ、各ペレットリードに帯板状
の陽極リード保持板に等間隔に多数個固着した陽極リー
ドを接合した後、上記アルミ保持板を分離除去するとと
もに、上記コンデンサエレメントの電極引出し層に、帯
板状の陰極リード保持板に等間隔で多数個固着した陰極
リードを接合した後、上記コンデンサエレメントおよび
両リードの導出基端部を樹脂材で被覆して固体電解コン
デンサを製造するものにおいて、上記陰極リード接合後
、陽極リード保持板と陰極リード保持板とを固定した上
で、その長尺方向に振動を与え、各コンデンサエレメン
トの振幅巾の大小を判別することにより、両リードが接
合部分から離れてオープン状態にあるものをチェックす
ることを特徴とする固体電解コンデンサの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2405815A JPH04223323A (ja) | 1990-12-25 | 1990-12-25 | 固体電解コンデンサの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2405815A JPH04223323A (ja) | 1990-12-25 | 1990-12-25 | 固体電解コンデンサの検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04223323A true JPH04223323A (ja) | 1992-08-13 |
Family
ID=18515422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2405815A Pending JPH04223323A (ja) | 1990-12-25 | 1990-12-25 | 固体電解コンデンサの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04223323A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1995001273A1 (en) * | 1993-06-29 | 1995-01-12 | Hitachi, Ltd. | Method for manufacturing vehicle structural bodies |
| KR100434218B1 (ko) * | 2002-01-09 | 2004-06-04 | 파츠닉(주) | 콘덴서의 프레임 공장 검사 확인 장치 |
| JP2007180161A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Showa Denko Kk | 素子片の検査装置及びその用途 |
-
1990
- 1990-12-25 JP JP2405815A patent/JPH04223323A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1995001273A1 (en) * | 1993-06-29 | 1995-01-12 | Hitachi, Ltd. | Method for manufacturing vehicle structural bodies |
| KR100434218B1 (ko) * | 2002-01-09 | 2004-06-04 | 파츠닉(주) | 콘덴서의 프레임 공장 검사 확인 장치 |
| JP2007180161A (ja) * | 2005-12-27 | 2007-07-12 | Showa Denko Kk | 素子片の検査装置及びその用途 |
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