JPH0436531Y2 - - Google Patents
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- JPH0436531Y2 JPH0436531Y2 JP9875886U JP9875886U JPH0436531Y2 JP H0436531 Y2 JPH0436531 Y2 JP H0436531Y2 JP 9875886 U JP9875886 U JP 9875886U JP 9875886 U JP9875886 U JP 9875886U JP H0436531 Y2 JPH0436531 Y2 JP H0436531Y2
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- Japan
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- temperature fuse
- substrate
- insulating substrate
- electrodes
- heat
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- Expired
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Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は基板型温度ヒユーズの改良に関するも
のである。
のである。
(先行技術と問題点)
基板型温度ヒユーズは、絶縁基板の片面に一対
の層状電極を設け、層状電極間に層状低融点金属
体を橋設し、当該絶縁基板の片面に樹脂絶縁層を
モールドせる構成である。
の層状電極を設け、層状電極間に層状低融点金属
体を橋設し、当該絶縁基板の片面に樹脂絶縁層を
モールドせる構成である。
この基板型温度ヒユーズの使用例として、発熱
性の回路素子、例えば、抵抗素子、コンデンサ素
子に基板型温度ヒユーズを接触させ、これらの回
路素子の発熱性を低融点金属体に伝達し、当該回
路素子の異常発熱時に低融点金属体を溶断させて
回路を抵抗素子やコンデンサ素子の異常発熱から
保護することが公知である。
性の回路素子、例えば、抵抗素子、コンデンサ素
子に基板型温度ヒユーズを接触させ、これらの回
路素子の発熱性を低融点金属体に伝達し、当該回
路素子の異常発熱時に低融点金属体を溶断させて
回路を抵抗素子やコンデンサ素子の異常発熱から
保護することが公知である。
しかしながら、この場合、発熱性回路素子と基
板型温度ヒユーズとの接触は、素子の円筒外面と
基板型温度ヒユーズの平面との線接触となり、接
触面積が僅小である。従つて、回路素子の発生熱
が温度ヒユーズに伝達する間の熱経路の熱伝達性
が低く、温度ヒユーズの作動遅れが問題となる。
板型温度ヒユーズとの接触は、素子の円筒外面と
基板型温度ヒユーズの平面との線接触となり、接
触面積が僅小である。従つて、回路素子の発生熱
が温度ヒユーズに伝達する間の熱経路の熱伝達性
が低く、温度ヒユーズの作動遅れが問題となる。
(考案の目的)
本考案の目的は簡易な構成で基板型温度ヒユー
ズと発熱性回路素子との接触面積を充分に大きく
して、当該温度ヒユーズの作動遅れを効果的に防
止することにある。
ズと発熱性回路素子との接触面積を充分に大きく
して、当該温度ヒユーズの作動遅れを効果的に防
止することにある。
(考案の構成)
本考案に係る温度ヒユーズは、絶縁基板に一対
の層状電極を設け、電極間に低融点金属材を橋設
し、上記絶縁基板に発熱性回路素子を挿入するた
めの穴を設けたことを特徴とする構成である。
の層状電極を設け、電極間に低融点金属材を橋設
し、上記絶縁基板に発熱性回路素子を挿入するた
めの穴を設けたことを特徴とする構成である。
(実施例の説明)
以下、図面により本考案を説明する。
第1図は本考案に係る基板型温度ヒユーズを示
す説明図、第2図は第1図における−断面図
である。
す説明図、第2図は第1図における−断面図
である。
第1図並びに第2図において、1は絶縁基板で
あり、例えば、セラミツクス基板を用いることが
できる。2,2は絶縁基板の片面に設けた一対の
層状電極である。21,21は電極2,2に接続
したリード線である。3は電極間に橋設した層状
の低融点金属体であり、上面にはフラツクス層4
を設けることができる。5は絶縁基板に設けた穴
である。6は穴の内面に設けた熱良導伝性リング
であり、電極2,2に熱的に接合してある。(リ
ング6には電極2,2間の導通を遮断するため、
スリツト61を設けてある。)7は絶縁基板の片
面に設けたモールド絶縁層であり、省略すること
もできる。
あり、例えば、セラミツクス基板を用いることが
できる。2,2は絶縁基板の片面に設けた一対の
層状電極である。21,21は電極2,2に接続
したリード線である。3は電極間に橋設した層状
の低融点金属体であり、上面にはフラツクス層4
を設けることができる。5は絶縁基板に設けた穴
である。6は穴の内面に設けた熱良導伝性リング
であり、電極2,2に熱的に接合してある。(リ
ング6には電極2,2間の導通を遮断するため、
スリツト61を設けてある。)7は絶縁基板の片
面に設けたモールド絶縁層であり、省略すること
もできる。
第2図において、Aは発熱性回路素子、例え
ば、抵抗素子、コンデンサ素子であり、これを基
板の穴5に挿入し、素子Aの全外周面を穴内周面
に接触させてある。
ば、抵抗素子、コンデンサ素子であり、これを基
板の穴5に挿入し、素子Aの全外周面を穴内周面
に接触させてある。
而して、発熱性回路素子の全周面を温度ヒユー
ズの絶縁基板に接触させてあるから、その接触は
面接触であり、接触面積を充分に大きくできる。
従つて、発熱性回路素子の発生熱を温度ヒユーズ
の低融点金属材に容易に伝達でき、温度ヒユーズ
を迅速に作動させ得る。
ズの絶縁基板に接触させてあるから、その接触は
面接触であり、接触面積を充分に大きくできる。
従つて、発熱性回路素子の発生熱を温度ヒユーズ
の低融点金属材に容易に伝達でき、温度ヒユーズ
を迅速に作動させ得る。
上記において、発熱性回路素子を予め穴に挿入
し、該素子と基板との間に樹脂をモールドするこ
ともできる。
し、該素子と基板との間に樹脂をモールドするこ
ともできる。
また、発熱性回路素子のリード線導体のみを穴
に接触させる場合でも、温度ヒユーズの迅速作動
性は充分に確保できる。
に接触させる場合でも、温度ヒユーズの迅速作動
性は充分に確保できる。
(考案の効果)
本考案に係る温度ヒユーズは上述した通りの構
成であり、絶縁基板に穴を設け、発熱性回路素子
を全外周面で絶縁基板に面接触させているから、
発熱性回路素子の温度ヒユーズへの熱伝達性をよ
く向上させ得る。
成であり、絶縁基板に穴を設け、発熱性回路素子
を全外周面で絶縁基板に面接触させているから、
発熱性回路素子の温度ヒユーズへの熱伝達性をよ
く向上させ得る。
第1図は本考案に係る温度ヒユーズを示す上面
説明図、第2図は第1図における−断面図で
ある。 図において、1は絶縁基板、2,2は電極、3
は低融点金属材、5は穴である。
説明図、第2図は第1図における−断面図で
ある。 図において、1は絶縁基板、2,2は電極、3
は低融点金属材、5は穴である。
Claims (1)
- 絶縁基板に一対の層状電極を設け、電極間に低
融点金属材を橋設し、上記絶縁基板に発熱性回路
素子を挿入するための穴を設けたことを特徴とす
る基板型温度ヒユーズ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9875886U JPH0436531Y2 (ja) | 1986-06-26 | 1986-06-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9875886U JPH0436531Y2 (ja) | 1986-06-26 | 1986-06-26 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS634045U JPS634045U (ja) | 1988-01-12 |
| JPH0436531Y2 true JPH0436531Y2 (ja) | 1992-08-28 |
Family
ID=30967013
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9875886U Expired JPH0436531Y2 (ja) | 1986-06-26 | 1986-06-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0436531Y2 (ja) |
-
1986
- 1986-06-26 JP JP9875886U patent/JPH0436531Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS634045U (ja) | 1988-01-12 |
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