JPH0438517Y2 - - Google Patents

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JPH0438517Y2
JPH0438517Y2 JP1982034401U JP3440182U JPH0438517Y2 JP H0438517 Y2 JPH0438517 Y2 JP H0438517Y2 JP 1982034401 U JP1982034401 U JP 1982034401U JP 3440182 U JP3440182 U JP 3440182U JP H0438517 Y2 JPH0438517 Y2 JP H0438517Y2
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JP
Japan
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epitaxial
solution
carbon boat
growth
boat
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JP1982034401U
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JPS58138330U (ja
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  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は液相エピタキシヤル成長装置の構造に
関するものである。
半導体結晶を液相エピタキシヤル成長によつて
成長する場合、液相エピタキシヤル成長装置とし
て、水素雰囲気中で第1図に示すような成長基板
スライド式のカーボンボートが広く使用されてい
る。
上記カーボンボートはスライド板4をスライド
することにより成長基板3をエピタキシヤル溶液
1の下に移動して、所望の半導体層を成長し、そ
ののち再びスライド板4を移動して成長基板3を
エピタキシヤル溶液1から分離することにより成
長が終了する。ここで成長終了後は第2図に示す
ようにエピタキシヤル溶液1は溶液つぼ2a及び
スライド板4に接した状態で成長温度から室温に
冷却される為、エピタキシヤル溶液1は上記溶液
つぼ2a及びスライド板4に付着する。ここでカ
ーボンボートに付着したエピタキシヤル溶液を除
去する場合、従来は固化したエピタキシヤル溶液
が液化するまで再びカーボンボートを加熱したの
ち、機械的にエピタキシヤル溶液を除去してい
た。しかし、カーボンボートを加熱してエピタキ
シヤル溶液を除去する作業はかなりの労力を要す
る為、カーボンボートを加熱することなく室温に
おいてエピタキシヤル溶液を固化した状態のま
ま、機械的に容易に除去できるような構造のカー
ボンボートが要求されていた。
本考案の目的は成長終了後エピタキシヤル溶液
をカーボンボートから除去する場合、カーボンボ
ートを加熱することなく、室温でエピタキシヤル
溶液を固化した状態のまま容易に除去できるよう
な構造のカーボンボートを実現することにある。
本考案によれば成長終了後液相エピタキシヤル
装置を冷却する過程において、カーボンボート表
面のうち少なくともエピタキシヤル溶液が接する
部分に多数の溝を形成した構造のカーボンボート
を用いることによつて本考案の目的を実現するこ
とが可能となる。
以下図に従つて本考案を説明する。
第3図に本考案のカーボンボートを示すが、第
4図にスライド板14に形成された溝の断面図を
示す。第4図において成長終了時カーボンボート
を冷却する過程においてエピタキシヤル溶液11
はその表面張力の為溝14aの内部まで入り込む
ことはなく、溝外部のカーボンボート表面14b
に接した状態で固化する。したがつてカーボンボ
ート表面に多数の溝を設けることはエピタキシヤ
ル溶液11とカーボンボート14との接触面積を
小さくしたことに相当する。
一般的にエピタキシヤル溶液が固化した状態に
おいてエピタキシヤル溶液がカーボンボートと接
触している面積が小さくなると、エピタキシヤル
溶液とカーボンボートとの付着力は小さくなるか
ら、カーボンボートに溝を形成することは、エピ
タキシヤル溶液とカーボンボートとの付着力を小
さくしたことに相当する。
したがつて、エピタキシヤル溶液とカーボンボ
ートとの接触面積が十分小さくなるまで、多数の
溝をカーボンボート表面に形成すれば、室温にお
いてエピタキシヤル溶液が固化した状態のまま、
カーボンボートから、機械的に除去することが可
能となる。
以下実施例を上げて本考案を説明する。
第5図は本考案実施例の4つの溶液つぼ22a
を有するカーボンボートである。上記カーボンボ
ートのスライド板24の表面図を第6図に示すが
このスライド板24の表面には成長終了後に、4
つのエピタキシヤル溶液21が接する部分に深さ
1mm幅1mmの溝が1.5mm間隔に格子状に形成され
ている。
また同様の溝が溶液つぼ22aの表面にも形成
されており、これらの溝を形成することによりエ
ピタキシヤル溶液21と溶液つぼ22a及び、ス
ライド24との接触面積は9分の1に減少し、エ
ピタキシヤル溶液とカーボンボートとの付着力は
大幅に減少した。上記実施例のカーボンボートを
用いてIoを溶媒とし、IoAs,IoP及びGaAsを溶質
とするエピタキシヤル溶液を使用した液相エピタ
キシヤル成長を行つたところ成長終了後カーボン
ボートを加熱することなく、室温において固化し
たエピタキシヤル溶液を容易に機械的にカーボン
ボートから除去できることが確認され、本考案の
成長装置の有用性が示された。
また上記実施例では図6に示すようにカーボン
ボート表面のうち、成長終了後エピタキシヤル溶
液に接する部分にのみ溝を形成したことを述べた
がカーボンボート表面に形成された溝の領域は、
図7に示すように、成長終了後にエピタキシヤル
溶液が接していない部分を含んでいても、同様の
効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は従来の液相エピタキシヤル
成長装置の断面図。第3図は本考案の液相エピタ
キシヤル成長装置の断面図。第4図は本考案の液
相エピタキシヤル成長装置の表面に形成された溝
の断面図。第5図は本考案の液相エピタキシヤル
成長装置の実施例の断面図。第6図第7図は上記
美施例の装置のスライド板の表面図である。 各図において、1及び11……エピタキシヤル
溶液、2,12及び22……カーボンボート本
体、2a,12a及び22a……溶液つぼ、4,
14及び24……スライド板である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 液相エピタキシヤル成長用カーボンボート表面
    のうち、少なくとも結晶成長終了後のカーボンボ
    ート冷却時にエピタキシヤル溶液が接しているス
    ライド板表面部分および溶液つぼ内面に多数の溝
    を形成したことを特徴とするエピタキシヤル成長
    装置。
JP3440182U 1982-03-11 1982-03-11 液相エピタキシヤル成長装置 Granted JPS58138330U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3440182U JPS58138330U (ja) 1982-03-11 1982-03-11 液相エピタキシヤル成長装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3440182U JPS58138330U (ja) 1982-03-11 1982-03-11 液相エピタキシヤル成長装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58138330U JPS58138330U (ja) 1983-09-17
JPH0438517Y2 true JPH0438517Y2 (ja) 1992-09-09

Family

ID=30045884

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3440182U Granted JPS58138330U (ja) 1982-03-11 1982-03-11 液相エピタキシヤル成長装置

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5961531U (ja) * 1982-10-19 1984-04-23 三洋電機株式会社 液相エピタキシヤル成長装置
JPH0517878Y2 (ja) * 1985-05-13 1993-05-13

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5792598A (en) * 1980-11-26 1982-06-09 Fujitsu Ltd Unit for liquid-phase epitaxial growth

Also Published As

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JPS58138330U (ja) 1983-09-17

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