JPH0441519B2 - - Google Patents

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JPH0441519B2
JPH0441519B2 JP57041807A JP4180782A JPH0441519B2 JP H0441519 B2 JPH0441519 B2 JP H0441519B2 JP 57041807 A JP57041807 A JP 57041807A JP 4180782 A JP4180782 A JP 4180782A JP H0441519 B2 JPH0441519 B2 JP H0441519B2
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子マイクロ回路の接点領域上に突出
接点部を形成する方法に関するものである。
突出接点部(“ボール接点”又は“バンプ接点”
と称されている)を有する半導体回路素子は公知
である。磁気バブルドメイン装置や液晶装置のよ
うな他の電子マイクロ回路にもバンプ接点を設け
ることができる。バンプ接点は支持体上の導体又
は金属導体格子と、接続線を必要とすることなく
電気的に接続するのに用いられる。既知のバンプ
接点形成法はかなり複雑で、多数の処理工程を必
要とする。通常、バンプ接点は電気メツキ法とホ
トエツチング法を用いて一又は数層の金属層で形
成している。
本発明の目的は電子メツキを用いずにバンプ接
点を形成する著しく簡単な方法を提供することに
ある。本発明方法はこの目的のために、金属ワイ
ヤの先端に熱エネルギーによつてボールを形成
し、このボールを電子マイクロ回路の接点領域に
押圧して前記接点領域に接続し、次いでワイヤを
ボール近くにおいてワイヤに付与された脆弱部で
切断することを特徴とする。
この方法によればバンプ接点は完全に機械的に
得られ、ホトエツチング及び電気メツキは不要で
ある。このバンプ接点の形成は略々完全に機械化
した方法で実施することができる。この際、半導
体製造技術においてワイヤボールを形成する既知
の方法を部分的に使用することができる。上述の
如きバンプ接点を形成する簡単な方法の結果とし
て著しいコストの削減を達成することができる。
本発明の好適例においては、ワイヤとキヤピラ
リ中に通し、ワイヤ先端に形成したボールをキヤ
ピラリの下端面で電子マイクロ回路の接点領域に
押圧接続し、次いでキヤピラリをワイヤに対し上
方及び横方向に小距離動かした後にキヤピラリを
再び押し下げてキヤピラリの下端面によりワイヤ
に切欠部を与える。
脆弱部を正確に付与することは好適な形状の突
出接点部を得るのに極めて重要であり、上記の方
法によればキヤピラリの下端面によりワイヤを一
定の個所で脆弱化できるので、高い再現性で突出
接点部を得ることができる。現在の制御技術(例
えばマイクロプロセツサを用いることができる)
によれば脆弱化する個所を予め極めて精密に決め
ることができる。
本発明の好適例では、キヤピラリを上方にワイ
ヤの太さの約2〜3倍の距離動かし、横方向にワ
イヤの太さの約1.5〜2倍の距離動かす。
本発明の他の例では、ワイヤとして高い硬度を
有すると共に微粒状結晶構造を有するものを用
い、その先端に熱エネルギーによりボールを形成
した後にこのボールに近接するワイヤ部分が再結
晶により粗粒状の結晶構造となつてワイヤの該部
分が脆弱部となるようにする。
図面につき本発明を説明する。
第1図は突出接点部又はバンプを設けるべき接
点領域2を有する基板1を示す。以下の説明にお
いては基板は半導体素子であつて、接点領域は半
導体素子の能動領域に接続された金属化領域であ
るものとする。しかし、本発明は他の電子マイク
ロ回路、例えば磁気バブルドメイン装置や液晶装
置にも用いることができ、なたマイクロエレクト
ロニクス用ハイブリツド回路に用いられる支持体
にも用いることができる。突出接点部を有する基
板はその全ての接点部を支持体の導体に同時に、
且つ接続線を必要とすることなく接続することが
できる。
第1図にはキヤピラリ3の下端部が半導体素子
1の上方に示してある。このキヤピラリ3の孔4
にワイヤ5を通す、このワイヤ5の先端にボール
6を形成する。このボールは既知のように例えば
ガス炎又は静電放電によつて形成することができ
る。ワイヤの材料は通常は金又はアルミニウムで
あるが、銅のような他の材料を用いることもでき
る。キヤピラリ3は例えばセラミツク材料で造る
ことができる。必要に応じてキヤピラリ3を既知
の手段で加熱することができる。
第2図は半導体素子1の接点領域2に固着した
ワイヤ5を示し、ボール6がキヤピラリ3により
接点領域2に押しつけられ、熱圧着又は超音波振
動によつて接点領域2に固着される。
次にキヤピラリ3を上方向及び横方向に少距離
だけ移動させる。この位置を第3図に示す。次に
キヤピラリ3を再び押し下げてワイヤに切欠部7
のような脆弱部を形成する(第4図)。この脆弱
化の結果、ワイヤを容易に切断することができ
る。第5図はバンプ又は突出接点部8が設けられ
た基板1を示す。
必要に応じ、突出接点部は基板1の他の接点領
域に設けることができる。このように機械的に突
出接点部を設けた基板は既知の方法で支持体の導
体に接続することができる。
突出接点部を基板に接続後にキヤピラリを上方
にワイヤの太さの約2〜3倍の距離だけ動かし、
横方向にワイヤの太さの約1.5〜2倍の距離だけ
動かすのが極めて有利であることを確かめた。こ
の場合、ワイヤの脆弱化が所望の個所に良好に得
られる。
ワイヤの脆弱化は異なる方法で達成することも
できる。例えば、比較的高い硬度を有すると共に
微粒状結晶構造を有するワイヤを用い、このワイ
ヤの先端に熱エネルギーによつてボール6を形成
すると(第1図)、ボール6のすぐ上のワイヤ部
分に再結晶の結果として粗い結晶構造が形成され
ることによりその部分が脆弱化するようにするこ
とができる。ワイヤを第2図に示すように接点領
域2に接続した後に、引張り力をワイヤに加えて
ワイヤを脆弱部で破断する。第6図はこのように
して設けた突出接点部を示す。この場合、時々接
点部8上に極く短かいワイヤ片が残存し得る。こ
の残片はじやまになるとは限らず、特に斯る接点
部を有する基板を金属化孔を有する支持体に接続
するときは残片は支持体の孔内におさまり、全く
じやまにならない。
ワイヤの脆弱化は他の任意の適当な方法で行な
つてもよいこと勿論である。
【図面の簡単な説明】
第1図は先端にボールが形成されたワイヤを有
するキヤピラリの下端部を示す図、第2図は基板
に圧着されたバンプを示す図、第3図はキヤピラ
リが上方及び横方向に移動した位置を示す図、第
4図はワイヤの加圧脆弱化工程を示す図、第5図
はワイヤ切断後におけるバンプが設けられた基板
を示す図、第6図は異なる方法で基板上に設けら
れたバンプを示す図である。 1……基板、2……接点領域、3……キヤピラ
リ、4……孔、5……金属ワイヤ、6……ボー
ル、7……切欠部、8……バンプ(突出接点部)。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 金属ワイヤの先端に熱エネルギーによつてボ
    ールで形成し、このボールを電子マイクロ回路の
    接点領域に押圧して該接点領域にくつつけ、次い
    でワイヤをボール近くで切断して電子マイクロ回
    路の接点領域上に突出接点部を形成する方法にお
    いて、金属ワイヤをキヤピラリに通し、ワイヤ先
    端に形成されたボールをこのキヤピラリの下端面
    によつて電子マイクロ回路の接点領域に押圧して
    該接点領域にくつつけ、次いでこのキヤピラリを
    ワイヤと相対的に動かし、このキヤピラリの下端
    面によりワイヤのボール近くに切欠部を付与し、
    次いでワイヤをこの切欠き部で引き切ることを特
    徴とする突出接点部形成方法。 2 特許請求の範囲第1項記載の突出接点部形成
    方法において、キヤピラリは上方にワイヤの太さ
    の約2〜3倍の距離動かし、横方向にワイヤの太
    さの約1.5〜2倍の距離動かし、次いで再び押し
    下げることを特徴とする突出接点部形成方法。 3 金属ワイヤの先端に熱エネルギーによつてボ
    ールで形成し、このボールを電子マイクロ回路の
    接点領域に押圧して該接点領域にくつつけ、次い
    でワイヤをボール近くで切断して電子マイクロ回
    路の接点領域上に突出接点部を形成する方法にお
    いて、金属ワイヤとして高い硬度を有すると共に
    微粒状結晶構造を有するものを用い、熱エネルギ
    ーによるボールの形成後にこのボールに近接する
    ワイヤ部分が再結晶により組粒状結晶構造となつ
    てこのワイヤ部分が脆弱化するようにし、ワイヤ
    をこの脆弱化部分で引き切ることを特徴とする突
    出接点部形成方法。
JP4180782A 1981-03-20 1982-03-18 Method of forming protruded contact Granted JPS57163919A (en)

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JPS57163919A JPS57163919A (en) 1982-10-08
JPH0441519B2 true JPH0441519B2 (ja) 1992-07-08

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DE (1) DE3209242C2 (ja)
FR (1) FR2502397B1 (ja)
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Families Citing this family (96)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4845543A (en) * 1983-09-28 1989-07-04 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the same
FR2555813B1 (fr) * 1983-09-28 1986-06-20 Hitachi Ltd Dispositif a semi-conducteurs et procede de fabrication d'un tel dispositif
IT1183375B (it) * 1984-02-24 1987-10-22 Hitachi Ltd Dispositivo a semiconduttori comprendente una pallina, fili conduttori e porzioni conduttrici esterneche sono collegate alla pallina mediante tali fili conduttori
JPS60223149A (ja) * 1984-04-19 1985-11-07 Hitachi Ltd 半導体装置
US5917707A (en) 1993-11-16 1999-06-29 Formfactor, Inc. Flexible contact structure with an electrically conductive shell
US5189507A (en) * 1986-12-17 1993-02-23 Raychem Corporation Interconnection of electronic components
JPS63173345A (ja) * 1987-01-12 1988-07-16 Nec Kansai Ltd バンプ電極形成方法
GB2201545B (en) * 1987-01-30 1991-09-11 Tanaka Electronics Ind Method for connecting semiconductor material
US5184400A (en) * 1987-05-21 1993-02-09 Cray Computer Corporation Method for manufacturing a twisted wire jumper electrical interconnector
EP0376924A3 (en) * 1987-05-21 1990-08-22 RAYCHEM CORPORATION (a Delaware corporation) Gold compression bonding
US5054192A (en) * 1987-05-21 1991-10-08 Cray Computer Corporation Lead bonding of chips to circuit boards and circuit boards to circuit boards
US5195237A (en) * 1987-05-21 1993-03-23 Cray Computer Corporation Flying leads for integrated circuits
US5112232A (en) * 1987-05-21 1992-05-12 Cray Computer Corporation Twisted wire jumper electrical interconnector
JP2506861B2 (ja) * 1987-12-08 1996-06-12 松下電器産業株式会社 電気的接続接点の形成方法
US5014111A (en) * 1987-12-08 1991-05-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electrical contact bump and a package provided with the same
JPH0237735A (ja) * 1988-07-27 1990-02-07 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体チップの実装構造
DE3829538A1 (de) * 1988-08-31 1990-03-08 Siemens Ag Verfahren zum verbinden eines halbleiterchips mit einem substrat
JPH02101754A (ja) * 1988-10-11 1990-04-13 Hitachi Ltd ボンディング方法及びボンディング装置
US4948030A (en) * 1989-01-30 1990-08-14 Motorola, Inc. Bond connection for components
JPH0749794Y2 (ja) * 1989-03-15 1995-11-13 三菱マテリアル株式会社 ワイヤレスボンデイング用金バンプ
JPH02250328A (ja) * 1989-03-24 1990-10-08 Toshiba Corp ワイヤボンダ、ワイヤボンダを用いたバンプ形成方法
US5060843A (en) * 1989-06-07 1991-10-29 Nec Corporation Process of forming bump on electrode of semiconductor chip and apparatus used therefor
JP2830109B2 (ja) * 1989-07-19 1998-12-02 日本電気株式会社 バンプ形成方法およびバンプ形成装置
JPH03208354A (ja) * 1990-01-10 1991-09-11 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置およびその製造方法
US5172851A (en) * 1990-09-20 1992-12-22 Matsushita Electronics Corporation Method of forming a bump electrode and manufacturing a resin-encapsulated semiconductor device
JP2555811B2 (ja) * 1991-09-10 1996-11-20 富士通株式会社 半導体チップのフリップチップ接合方法
DE4307162C2 (de) * 1993-03-06 2000-06-08 Amatech Advanced Micromechanic Verbindung, Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer Verbindung auf einer Chipanschlußfläche
KR960000793B1 (ko) * 1993-04-07 1996-01-12 삼성전자주식회사 노운 굳 다이 어레이 및 그 제조방법
US5820014A (en) 1993-11-16 1998-10-13 Form Factor, Inc. Solder preforms
US7073254B2 (en) 1993-11-16 2006-07-11 Formfactor, Inc. Method for mounting a plurality of spring contact elements
US20020053734A1 (en) 1993-11-16 2002-05-09 Formfactor, Inc. Probe card assembly and kit, and methods of making same
US5559054A (en) * 1994-12-23 1996-09-24 Motorola, Inc. Method for ball bumping a semiconductor device
DE19609147A1 (de) * 1995-03-10 1996-09-12 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren und Vorrichtung zur Ausbildung einer erhöhten Kontaktmetallisierung
US5650667A (en) * 1995-10-30 1997-07-22 National Semiconductor Corporation Process of forming conductive bumps on the electrodes of semiconductor chips using lapping and the bumps thereby created
US5994152A (en) 1996-02-21 1999-11-30 Formfactor, Inc. Fabricating interconnects and tips using sacrificial substrates
US8033838B2 (en) 1996-02-21 2011-10-11 Formfactor, Inc. Microelectronic contact structure
JP3349886B2 (ja) * 1996-04-18 2002-11-25 松下電器産業株式会社 半導体素子の2段突起形状バンプの形成方法
JP3344235B2 (ja) * 1996-10-07 2002-11-11 株式会社デンソー ワイヤボンディング方法
JP2000133672A (ja) 1998-10-28 2000-05-12 Seiko Epson Corp 半導体装置及びその製造方法、回路基板並びに電子機器
JP2000150560A (ja) 1998-11-13 2000-05-30 Seiko Epson Corp バンプ形成方法及びバンプ形成用ボンディングツール、半導体ウエーハ、半導体チップ及び半導体装置並びにこれらの製造方法、回路基板並びに電子機器
CN1184616C (zh) 1998-12-04 2005-01-12 阿尔卑斯电气株式会社 磁头和磁头的制造方法及其所用的连接用毛细管
US6227437B1 (en) 1999-08-24 2001-05-08 Kulicke & Soffa Industries Inc. Solder ball delivery and reflow apparatus and method of using the same
US6386433B1 (en) 1999-08-24 2002-05-14 Kulicke & Soffa Investments, Inc. Solder ball delivery and reflow apparatus and method
JP4000743B2 (ja) 2000-03-13 2007-10-31 株式会社デンソー 電子部品の実装方法
GB2362504A (en) * 2000-04-20 2001-11-21 Pixel Fusion Ltd Pin contacts
ATE371265T1 (de) 2000-04-20 2007-09-15 Elwyn Paul Michael Wakefield Verfahren zur herstellung elektrischer/mechanischer verbindungen
US6350632B1 (en) 2000-09-20 2002-02-26 Charles W. C. Lin Semiconductor chip assembly with ball bond connection joint
US6511865B1 (en) 2000-09-20 2003-01-28 Charles W. C. Lin Method for forming a ball bond connection joint on a conductive trace and conductive pad in a semiconductor chip assembly
US6350386B1 (en) 2000-09-20 2002-02-26 Charles W. C. Lin Method of making a support circuit with a tapered through-hole for a semiconductor chip assembly
US6544813B1 (en) 2000-10-02 2003-04-08 Charles W. C. Lin Method of making a semiconductor chip assembly with a conductive trace subtractively formed before and after chip attachment
US6448108B1 (en) 2000-10-02 2002-09-10 Charles W. C. Lin Method of making a semiconductor chip assembly with a conductive trace subtractively formed before and after chip attachment
US6667229B1 (en) 2000-10-13 2003-12-23 Bridge Semiconductor Corporation Method of connecting a bumped compliant conductive trace and an insulative base to a semiconductor chip
US7129113B1 (en) 2000-10-13 2006-10-31 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a three-dimensional stacked semiconductor package with a metal pillar in an encapsulant aperture
US6949408B1 (en) 2000-10-13 2005-09-27 Bridge Semiconductor Corporation Method of connecting a conductive trace and an insulative base to a semiconductor chip using multiple etch steps
US6984576B1 (en) 2000-10-13 2006-01-10 Bridge Semiconductor Corporation Method of connecting an additively and subtractively formed conductive trace and an insulative base to a semiconductor chip
US7264991B1 (en) 2000-10-13 2007-09-04 Bridge Semiconductor Corporation Method of connecting a conductive trace to a semiconductor chip using conductive adhesive
US7129575B1 (en) 2000-10-13 2006-10-31 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with bumped metal pillar
US7319265B1 (en) 2000-10-13 2008-01-15 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with precision-formed metal pillar
US6576493B1 (en) 2000-10-13 2003-06-10 Bridge Semiconductor Corporation Method of connecting a conductive trace and an insulative base to a semiconductor chip using multiple etch steps
US6699780B1 (en) 2000-10-13 2004-03-02 Bridge Semiconductor Corporation Method of connecting a conductive trace to a semiconductor chip using plasma undercut etching
US6537851B1 (en) 2000-10-13 2003-03-25 Bridge Semiconductor Corporation Method of connecting a bumped compliant conductive trace to a semiconductor chip
US6440835B1 (en) 2000-10-13 2002-08-27 Charles W. C. Lin Method of connecting a conductive trace to a semiconductor chip
US6492252B1 (en) 2000-10-13 2002-12-10 Bridge Semiconductor Corporation Method of connecting a bumped conductive trace to a semiconductor chip
US6872591B1 (en) 2000-10-13 2005-03-29 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a semiconductor chip assembly with a conductive trace and a substrate
US7262082B1 (en) 2000-10-13 2007-08-28 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a three-dimensional stacked semiconductor package with a metal pillar and a conductive interconnect in an encapsulant aperture
US7132741B1 (en) 2000-10-13 2006-11-07 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with carved bumped terminal
US7071089B1 (en) 2000-10-13 2006-07-04 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a semiconductor chip assembly with a carved bumped terminal
US6673710B1 (en) 2000-10-13 2004-01-06 Bridge Semiconductor Corporation Method of connecting a conductive trace and an insulative base to a semiconductor chip
US6576539B1 (en) 2000-10-13 2003-06-10 Charles W.C. Lin Semiconductor chip assembly with interlocked conductive trace
US7094676B1 (en) 2000-10-13 2006-08-22 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with embedded metal pillar
US6876072B1 (en) 2000-10-13 2005-04-05 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with chip in substrate cavity
US7075186B1 (en) 2000-10-13 2006-07-11 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with interlocked contact terminal
US6548393B1 (en) 2000-10-13 2003-04-15 Charles W. C. Lin Semiconductor chip assembly with hardened connection joint
US7009297B1 (en) 2000-10-13 2006-03-07 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with embedded metal particle
US6740576B1 (en) 2000-10-13 2004-05-25 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a contact terminal with a plated metal peripheral sidewall portion for a semiconductor chip assembly
US7414319B2 (en) * 2000-10-13 2008-08-19 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with metal containment wall and solder terminal
US7190080B1 (en) 2000-10-13 2007-03-13 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with embedded metal pillar
US6908788B1 (en) 2000-10-13 2005-06-21 Bridge Semiconductor Corporation Method of connecting a conductive trace to a semiconductor chip using a metal base
US6444489B1 (en) 2000-12-15 2002-09-03 Charles W. C. Lin Semiconductor chip assembly with bumped molded substrate
US6653170B1 (en) 2001-02-06 2003-11-25 Charles W. C. Lin Semiconductor chip assembly with elongated wire ball bonded to chip and electrolessly plated to support circuit
JP3935370B2 (ja) * 2002-02-19 2007-06-20 セイコーエプソン株式会社 バンプ付き半導体素子の製造方法、半導体装置及びその製造方法、回路基板並びに電子機器
US6622903B1 (en) * 2002-03-27 2003-09-23 Palomar Technologies, Inc. Production of a tailless ball bump
JP3854232B2 (ja) * 2003-02-17 2006-12-06 株式会社新川 バンプ形成方法及びワイヤボンディング方法
DE10325566A1 (de) * 2003-06-05 2005-01-13 Infineon Technologies Ag Chipkartenmodul
US7993983B1 (en) 2003-11-17 2011-08-09 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a semiconductor chip assembly with chip and encapsulant grinding
US7538415B1 (en) 2003-11-20 2009-05-26 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with bumped terminal, filler and insulative base
US7425759B1 (en) 2003-11-20 2008-09-16 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with bumped terminal and filler
US7750483B1 (en) 2004-11-10 2010-07-06 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with welded metal pillar and enlarged plated contact terminal
US7268421B1 (en) * 2004-11-10 2007-09-11 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with welded metal pillar that includes enlarged ball bond
US7446419B1 (en) 2004-11-10 2008-11-04 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with welded metal pillar of stacked metal balls
US20070216026A1 (en) * 2006-03-20 2007-09-20 Adams Zhu Aluminum bump bonding for fine aluminum wire
DE102006033222B4 (de) * 2006-07-18 2014-04-30 Epcos Ag Modul mit flachem Aufbau und Verfahren zur Bestückung
DE102006038875B4 (de) * 2006-08-18 2013-02-28 Infineon Technologies Ag Herstellungsverfahre für ein elektronisches Bauelement und elektronisches Bauelement
US7811863B1 (en) 2006-10-26 2010-10-12 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a semiconductor chip assembly with metal pillar and encapsulant grinding and heat sink attachment
US7494843B1 (en) 2006-12-26 2009-02-24 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a semiconductor chip assembly with thermal conductor and encapsulant grinding
US8372741B1 (en) * 2012-02-24 2013-02-12 Invensas Corporation Method for package-on-package assembly with wire bonds to encapsulation surface

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3357090A (en) * 1963-05-23 1967-12-12 Transitron Electronic Corp Vibratory welding tip and method of welding
US3358897A (en) * 1964-03-31 1967-12-19 Tempress Res Co Electric lead wire bonding tools
US3430835A (en) * 1966-06-07 1969-03-04 Westinghouse Electric Corp Wire bonding apparatus for microelectronic components
US3460238A (en) * 1967-04-20 1969-08-12 Motorola Inc Wire severing in wire bonding machines
DE7006122U (ja) * 1969-04-26 1900-01-01
US3623649A (en) * 1969-06-09 1971-11-30 Gen Motors Corp Wedge bonding tool for the attachment of semiconductor leads
DE2006703A1 (de) * 1970-02-13 1971-08-26 Siemens Ag Isolationsschicht auf einem Halbleiter grundkorper
JPS50160773A (ja) * 1974-06-18 1975-12-26
GB1536872A (en) * 1975-05-15 1978-12-20 Welding Inst Electrical inter-connection method and apparatus
FR2412943A1 (fr) * 1977-12-20 1979-07-20 Thomson Csf Procede de realisation de connexions d'un dispositif semi-conducteur sur embase, appareil pour la mise en oeuvre du procede, et dispositif semi-conducteur obtenu par ce procede
US4213556A (en) * 1978-10-02 1980-07-22 General Motors Corporation Method and apparatus to detect automatic wire bonder failure
JPS55118643A (en) * 1979-03-06 1980-09-11 Toshiba Corp Wire bonding process
JPS55158642A (en) * 1979-05-30 1980-12-10 Noge Denki Kogyo:Kk Bonding alloy wire for assembling semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
IE820631L (en) 1982-09-20
IE53371B1 (en) 1988-10-26
IT1150472B (it) 1986-12-10
AU8160382A (en) 1982-09-23
US4442967A (en) 1984-04-17
KR900007043B1 (ko) 1990-09-27
NL184184C (nl) 1989-05-01
FR2502397A1 (fr) 1982-09-24
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DE3209242C2 (de) 1985-04-11
GB2095473A (en) 1982-09-29
CA1181534A (en) 1985-01-22
DE3209242A1 (de) 1982-11-11
GB2095473B (en) 1984-09-19
CH658540A5 (de) 1986-11-14
JPS57163919A (en) 1982-10-08
KR830009648A (ko) 1983-12-22
IT8220237A0 (it) 1982-03-17
FR2502397B1 (fr) 1986-07-25
NL184184B (nl) 1988-12-01

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