JPH0472177B2 - - Google Patents

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JPH0472177B2
JPH0472177B2 JP58113722A JP11372283A JPH0472177B2 JP H0472177 B2 JPH0472177 B2 JP H0472177B2 JP 58113722 A JP58113722 A JP 58113722A JP 11372283 A JP11372283 A JP 11372283A JP H0472177 B2 JPH0472177 B2 JP H0472177B2
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JP
Japan
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flow rate
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time
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measurement
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP58113722A
Other languages
English (en)
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JPS604818A (ja
Inventor
Hiroshi Fujeda
Tatsuo Saka
Tadanori Shirasawa
Masayuki Okamoto
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP58113722A priority Critical patent/JPS604818A/ja
Publication of JPS604818A publication Critical patent/JPS604818A/ja
Publication of JPH0472177B2 publication Critical patent/JPH0472177B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01FMEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
    • G01F3/00Measuring the volume flow of fluids or fluent solid material wherein the fluid passes through the meter in successive and more or less isolated quantities, the meter being driven by the flow
    • G01F3/02Measuring the volume flow of fluids or fluent solid material wherein the fluid passes through the meter in successive and more or less isolated quantities, the meter being driven by the flow with measuring chambers which expand or contract during measurement
    • G01F3/20Measuring the volume flow of fluids or fluent solid material wherein the fluid passes through the meter in successive and more or less isolated quantities, the meter being driven by the flow with measuring chambers which expand or contract during measurement having flexible movable walls, e.g. diaphragms, bellows
    • G01F3/22Measuring the volume flow of fluids or fluent solid material wherein the fluid passes through the meter in successive and more or less isolated quantities, the meter being driven by the flow with measuring chambers which expand or contract during measurement having flexible movable walls, e.g. diaphragms, bellows for gases
    • G01F3/227Measuring the volume flow of fluids or fluent solid material wherein the fluid passes through the meter in successive and more or less isolated quantities, the meter being driven by the flow with measuring chambers which expand or contract during measurement having flexible movable walls, e.g. diaphragms, bellows for gases characterised by the means for transfer of membrane movement information to indicating means

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Fluid Mechanics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Details Of Flowmeters (AREA)
  • Measuring Volume Flow (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は流体の流量測定に関し、特に単位時間
当りの流量を測定することを目的とした流量測定
装置に関する。
従来例の構成とその問題点 従来の流体の流量装置としては、例えば、いわ
ゆる膜式のガスメータがある。このガスメータは
例えば、2枚の膜で仕切れた4つの計量室と、膜
の移動を伝達するリンク機構と、リンク機構を介
して駆動されるバルブ、指示部とより成る。膜が
一往復する都度ガスメータの大きさ毎に定めた単
位計量体積が計測される。ガスメータの計測値は
指示部にて表示されるが、周知の如く、この指示
部はメータを通過するガス量の積算値を指示し、
単位時間当りの流量を指示するものではない。
上述したガスメータの回転軸に永久磁石を円周
の一部に取付けた円盤と、前記永久磁石の磁界を
検出するホールICとで構成した流量センサと、
この流量センサからの流量パルスをカウントし一
分ごとに平均流量を計算する装置が知られてい
る。この装置では、所定時間(1分間)のパルス
数をカウントしているから、所定時間内に流量変
化があれば、その回の平均流量は、変化前の流量
QPと変化後の流量QP+1との時間平均となり、変
化後の流量を正確に計測できない。
発明の目的 本発明は上記従来の欠点を解消するもので、流
体の流量変化後の流量を単位時間当り流量として
正確に計測することを目的とする。
発明の構成 上記目的を達成するため、本発明の流量測定装
置は、流体供給ライン中に設けられ、単位計量体
積を計量するつど流量パルスを発信する流量セン
サと、前記流量パルスを入力とし、この流量パル
スに基づき単位時間当りの流量を演算する演算処
理装置とを備え、前記演算処理装置は、少くとも
前回の測定値を記憶する記憶部と、今回の測定値
に所定の係数を乗ずる演算手段と、その結果と、
前記記憶部に記憶している前回測定値と今回の測
定値との差の絶対値とを比較する比較手段と、前
記今回測定値に所定の係数を乗じた演算結果が前
記差の絶対値よりも大きいときに、今回測定値と
記憶部に記憶されている測定値とより単位時間当
りの流量演算し、前記今回測定値に所定の係数を
乗じた演算結果が前記差の絶対値よりも小さい時
に前記記憶部に記憶されている測定値を消去する
流量演算手段を備えたものであり、今回測定値所
定演算結果は、一定流量を流した場合に生ずる測
定毎のばらつき等を考慮した許容変動巾を示し、
この許容変動巾以内であれば変化なしとして流量
を演算するから、もしも流量変化が生じ、今回測
定値が許容変動巾よりも大きくなれば変化ありと
し、測定値が許容変動巾以内になつたとき流量を
演算し、その演算結果は極めて正確な単位時間当
り流量となるという効果を有するものである。
実施例の説明 以下、本発明の一実施例につて、図面に基づい
て説明する。
第1図において、1は流量センサで、ガス供給
ライン中に設けられており、膜式ガスメータ2
と、膜式ガスメータ2の膜またはリンク機構に永
久磁石を設け、膜の一往復を前記永久磁石の磁界
の変化として検出する磁界検出器であるリードス
イツチ3とで構成する。リードスイツチ3は、メ
ータ2が単位計量体積を計量する都度一回オンオ
フし、このリードスイツチ3のオフからオンへの
変化が流量パルスとして発信される。4は演算処
理装置で、流量パルスの時間間隔を測定するタイ
マ5と、過去に測定した時間間隔を記憶する記憶
部7を有し、タイマ5の測定値と記憶部7に記憶
している過去の測定値とから単位時間当りの流量
を演算する演算処理部6とから構成する。演算処
理部は、さらに、今回の測定値に所定の演算を施
す演算手段と、その結果と、前回測定値と今回測
定値の差の絶対値を比較する比較手段と、前記演
算結果が大なるとき今回測定値と記憶部の測定値
とから単位時間当りの流量を演算する流量演算手
段を備えている。演算処理部6の典型的な例はマ
イクロコンピユータであつて、時間計測機能を有
するマイクロコンピユータを使用する場合には、
タイマ5をマイクロコンピユータに内蔵させるこ
とができる。
以下上記構成における作用について説明する。
メータ2が単位計量体積を計量するづとリードス
イツチ3がオフからオンになる流量パルスを発信
する。流量パルスの時間間隔が、タイマ5によつ
て測定され、測定値が演算処理部に入力される。
演算処理部6は、測定時間間隔が所定の時間(例
えば20秒)以下であるか否かを比較する。もしも
20秒以下であれば、一定流量を流した場合の測定
時間のばらつき等を考慮した一定の係数α(例え
ば1%)を測定値に乗ずる。式で表せば、測定時
間をTP、係数をαとすれば、α・TPとなる。
次に記憶部に記憶している過去の測定値のうち
最新のものすなわち前回測定値TP-1と今回測定
値TPとの差の絶対値|TP-1−TP|を演算する。
次に△TP=α・TPと上述の|TP-1−TP|とを比
較し、△TP≧|TP-1−TP|であれば変化なしと
して、記憶部に記憶している過去の所定数の測定
値と、今回の測定値とから平均値Pを求める。
例えば前々回、前回と今回との測定値(すなわち
3回の平均)を求めるには、(TP-2+TP-1
TP)/3=TPと演算する。次にこうして求めた
平均時間間隔Pと、メータの単位計量体積Fu
から、単位時間当りの流qはFu/TPにより演算
し、その結果を流量qとして出力する。もしも△
TP=d・TP<|TP-1−TP|であれば、流量変化
有として、変化有信号qcとして出力するととも
に、記憶部7のデータを全て消去する。このよう
にして、記憶部7に記憶している測定値と今回の
測定値との回数和が所定回数に達し(例えば3
回)、前回の測定値と今回の測定値とが上述した
関係を満足する(△TP=d・TP≧|TP-1−TP
|)場合に、記憶部7に記憶している測定値と今
回の測定値とから平均時間間隔を演算し、単位時
間当り流量を演算する。
次に、測定した時間間隔が所定の時間以上の場
合につき説明する。この場合も、上述の場合同様
に、まず一定の係数βを測定値に乗ずる。この場
合のβは、係数αと同一であつてもよいし、また
長時間測定となるので、大きな値であつてもよ
い。次に、前回測定値TP-1と今回測定値TPの差
の絶対値を先に計算したβ・TPと比較し、β・
TP≧|TP-1−TP|となれば、今回の測定値TP
と、単位計量体積Fuにより、Fu/TPの演算によ
り単位時間当り流量qを出力する。次にβ・TP
<|TP-1−TP|であれば、変化有信号qcを出力
し、記憶部7の記憶内容を消去し、今回測定値を
前回測定値として記憶部7に記憶し、次回の測定
演算に備える。このようにして記憶部7に記憶し
ている前記測定値TP-1と今回測定値TPとがβ・
TP≧|TP-1−TP|を満足すると上述したように、
Fu/TPを演算し、単位時間当り流量qを出す。
上述の例では、今回測定結果TPより流量q演算
したが、前回測定値TP-1と今回測定値TPとの平
均値TP=(TP-1+TP)/2より流量qを演算して
もよい。
次に、流量パルスの時間間隔が極めて長く、す
なわち流量が極めて少くなり、或いはゼロとなつ
た場合、すなわちタイマ5で計測している時間間
隔が第2の所定時間よりも長くなつたときは、演
算処理部6は、流量ゼロとしてゼロ流量をqとし
て出力し、記憶部7の記憶内容を全て消去し、次
の流量パルスがタイマ5に入力されるのを待機す
る。
上述した実施例では、流量パルスの時間間隔に
基づいて単位時間当り流量を測定したが、所定時
間内の流量パルス数に基づくもの等、いずれの手
段であつてもよい。また記憶部には、流量パルス
の時間間隔の測定値を記憶させ、時間間隔の測定
値の処理をまず行なうが、時間間隔から直ちに単
位時間当りの流量を求め、その単位時間当り流量
において前回流量との比較等の処理を施しても同
一の効果が得られる。
このように本実施例によれば、流量パルス間隔
が所定時間内の場合は過去の所定数の測定結果と
の平均を求め、この平均値より単位時間当り流量
を演算し、流量パルス間隔が所定時間以上であれ
ば、今回の測定時間間隔からまたは今回と前回の
測定時間間隔の平均値から単位時間当りの流量を
演算するものであり、流量パルスと測定時間が完
全に同期状態となり、非同期測定の如き誤差が発
生せず正確に単位時間当り流量が測定できる。ま
た所定時間以上の流量パルス間隔となるような低
流量でも測定できる。また大流量になるほど流量
パルスの時間間隔が短くなり、従つて計測時間が
短くなる、流量変化が発生した場合、流量変化後
ほぼ一定の流量となつた時点で変化後の流量を測
定するので、正確に変化後の流量を測定できると
いう効果を有する。
発明の効果 以上のように本発明によれば、流体の流量測定
装置において、流量が変化した後の流量を正確に
測定できるものである。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例の流量測定装置の概略構
成図である。 1……流量センサ、4……演算処理装置、7…
…記憶部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 流体供給ライン中に設けられ、単位計量体積
    を計量するつど流量パルスを発信する流量センサ
    と、前記流量パルスを入力とし、この流量パルス
    に基づき単位時間当りの流量を演算する演算処理
    装置とを備え、前記演算処理装置は、少くとも前
    回の測定値を記憶する記憶部と、今回の測定値に
    所定の係数を乗ずる演算手段と、その結果と、前
    記記憶部に記憶している前回測定値と今回の測定
    値との差の絶対値とを比較する比較手段と、前記
    今回測定値に所定の係数を乗じた演算結果が前記
    差の絶対値よりも大きいときに、今回測定値と記
    憶部に記憶されている測定値とより単位時間当り
    の流量を演算し、前記今回測定値に所定の係数を
    乗じた演算結果が前記差の絶対値よりも小さい時
    に前記記憶部に記憶されている測定値を消去する
    流量演算手段を備える構成とした流量測定装置。
JP58113722A 1983-06-23 1983-06-23 流量測定装置 Granted JPS604818A (ja)

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JP58113722A JPS604818A (ja) 1983-06-23 1983-06-23 流量測定装置

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JP58113722A JPS604818A (ja) 1983-06-23 1983-06-23 流量測定装置

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JPS604818A JPS604818A (ja) 1985-01-11
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6122210A (ja) * 1984-07-10 1986-01-30 Noritsu Co Ltd 流量検出方法
JPH07111360B2 (ja) * 1988-05-10 1995-11-29 トキコ株式会社 タービン式流量計の補正回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5853723B2 (ja) * 1978-02-14 1983-12-01 マツダ株式会社 自動車のデジタル式燃料残量表示装置

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