JPH0474860B2 - - Google Patents

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JPH0474860B2
JPH0474860B2 JP2211552A JP21155290A JPH0474860B2 JP H0474860 B2 JPH0474860 B2 JP H0474860B2 JP 2211552 A JP2211552 A JP 2211552A JP 21155290 A JP21155290 A JP 21155290A JP H0474860 B2 JPH0474860 B2 JP H0474860B2
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  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体素子のワイヤボンデイングに
おけるボンデイングツールとボンデイング面との
接触位置を検出する装置に関するものである。
〔従来の技術〕
ICチツプのパツドとリードとの間のボンデイ
ングを行うワイヤボンデイングにおいては、ボン
デイングアームの先端に設けられたボンデイング
ツール(例えば金線用のボールボンデイング用の
キヤピラリー、或いはアルミニウム線用のステツ
チボンデイング用のウエツジ)にてワイヤを保持
して対象物であるパツド又はリードのボンデイン
グ面に接触せしめ、かつボンデイングツールにて
ワイヤ先端に形成されたボール又はワイヤの一部
を押しつぶして、熱圧着により圧着するか超音波
の作用で溶着せしめる。
この種のボンデイング装置の従来の例を第3図
に示す。10は超音波の振動子であり、フレーム
11上にピン12により揺動可能に支えられてい
る。13はホーンであり、先端にキヤピラリー1
が設けられボンデイングアームの作用も有してい
る。振動子10の他端にはレバー14が設けら
れ、その端部に設けられたローラ15がカム16
と接触するようにバネ17により反時計方向のモ
ーメントを受けている。18はワイヤ2のリール
であり、19はワイヤ2を握持してカツトするた
めのクランプ、20はワイヤ先端のボールを引き
上げてキヤピラリー1の下端7に接触せしめるた
めのハーフクランプ、21はワイヤ2の先端にボ
ールを形成するためのトーチであり、垂直軸22
のまわりに回動し得るようになつている。23は
位置検出装置であり、ペレツト4及び各パツド5
の標準位置からのズレを検出する。このズレの検
出値に応じてフレーム11又はペレツト4を水平
面にX又はY方向に移動せしめてキヤピラリー1
とペレツト4のパツド5との間の相対位置を調整
し整合を行う。
このような従来の装置においては、キヤピラリ
ー1の昇降運動はカム16の形状によつて決めら
れ、異なる種類のペレツト4に対応する異なる昇
降パターンに対してそれぞれカムを用意して交換
せねばならず、また、ペレツト4の厚さ、ボール
の直径、ワイヤ2の直径などの寸法に誤差があつ
てもそれに応じられず、適正な押付力及び接触面
積が得られない欠点があつた。
ところで、ワイヤボンデイングにおいては、ワ
イヤがボンデイング面に接触したのちのボンデイ
ングツールによる押付力はボンデイングの品質に
大きな影響を与えることから、ボンデイングツー
ルがボンデイング面に接触したことを検出し、こ
の検出信号を基準として押付力を最適値に設定す
ることが行われている。この場合のボンデイング
ツールがボンデイング面に接触したことを検出す
る方法としては、特開昭55−24403号公報に示さ
れるように、昇降フレームとボンデイングアーム
のそれぞれに接触子を設け、両接触子に電圧をか
けて接触子のオン、オフによりボンデイングツー
ルがボンデイング面に接触したかどうかを判定し
ていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、特開昭55−24403号公報による
方法では、接触子は昇降フレームとボンデイング
アームとの位置関係を保持しており、その間に電
圧をかけることにより接触子が電食し、圧力変化
を起こして接触子が通電不能となり、正確なる検
出が不可能となるという問題点があつた。
本発明は、前記問題点を解決し、長期にわたつ
てボンデイングツールとボンデイング面との接触
位置を正確に検出し、ワイヤ直径、ボール直径な
どの寸法誤差による影響も少なく、ペレツトの種
類、ワイヤの種類が異なつても調整が容易であ
り、確実に、信頼性の高いボンデイングを行うこ
とができるボンデイング面接触検出装置を提供す
ることを目的とするものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、昇降フレームに、水平軸のまわりに
回動可能に支承された揺動フレームを設け、該揺
動フレームの一方側に先端にボンデイングツール
を有するボンデイングアームを設け、揺動フレー
ムの他方側に磁石チツプを設けると共に、前記昇
降フレームに前記磁石チツプと対向してマグネセ
ンサを設け、ボンデイングツールがボンデイング
面に接触した位置を前記磁石チツプとマグネセン
サよりなる無接触型変位検出センサにより検出す
ることを特徴とするボンデイング面接触検出装置
である。
〔実施例〕
本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第1図において、昇降フレーム24は、フレー
ム11の昇降ガイド25に沿つて昇降可能に保持
されており、昇降フレーム24に一体に形成され
ているメネジ部26がネジ軸27に螺合してお
り、パルスモータ28又はエンコーダを用いたモ
ータにより昇降駆動されるようになつている。昇
降フレーム24には水平軸であるピン29により
回動可能に支えられた揺動フレーム30に超音波
の振動子10が固定され、ボンデイングアームの
作用をするホーン13の先端にボンデイングツー
ルであるキヤピラリー1が設けられている。31
は昇降フレーム24に固定された板バネであり、
偏心ピン32を介して、揺動フレーム30に常に
反時計方向のモーメントを与え、押圧力付加機構
としてキヤピラリー1に下方向きの押圧力を与え
ている。偏心ピン32の偏心を調節することによ
り板バネ31の力を調節することができる。33
は電磁石にて構成されたストツパーであり、昇降
フレーム24に相対的なキヤピラリー1の最低位
置を定める。
34はマグネセンサであり、揺動フレーム30
に取り付けられたレバー35に設けられた永久磁
石のチツプ36との対距離に、即ち、マグネセン
サ34の中心に対するチツプ36の中心のズレ量
l0に応じた出力信号を制御機構37に送るように
なつている。即ち、キヤピラリー1の昇降方向の
変位に応じた出力信号が制御機構37に送られ、
昇降フレーム24に相対的なキヤピラリー1の上
下方向変位を検出する変位検出機構として作用す
る。
しかして、揺動フレーム30がストツパ33に
当接している位置、即ちキヤピラリー1が昇降フ
レーム24に対して最低位置にあるときにズレ量
l0はゼロではなく或る正の値にしておく。即ち、
その位置にて正の出力信号が出力されているよう
にしておく。
38,39はそれぞれクランパ19、ハーフク
ランプ20を操作するカムであり、それぞれパル
スモータで駆動される。
第2図は模型的な作用の説明図であり、ボール
3の大きさが誇張されて示されている。先ず、当
初の状態として第2図aの如くキヤピラリー1が
ペレツト4上の、ボンデイング対象のパツド5の
直上のhの高さにあるとする。
次にパルスモータ28を駆動して昇降フレーム
24を下降せしめる。当初は高速下降を行い、そ
の間、ホーン13が揺動してキヤピラリー1が徒
らに振動しないようにストツパー33を励磁して
吸着して振動を防ぐ。ボール3の下端がパツド5
上に近接したとき(例えば0.2mm程度)低速に切
替え、さらに下降してボール3の下端が第2図b
の如くパツド5に接触する。このときの下降変位
をZ0とすればZ0=h−t0である。但し、t0はキヤ
ピラリー1の下端から突出したボール3の高さで
ある。
さらに下降を続ければ、第2図cの如く、ボー
ル3は既にパツド5に接触しているので、キヤピ
ラリー1は下降せず同じ高さに止まるが、昇降フ
レーム24は下降を続ける。そしてチツプ36の
ズレ量l0は次第に増大し、それに応じて出力信号
を増大する。この増大開始時点にて接触時点を検
出し、スクラブ式熱圧着方式においてはスクラブ
を開始し、超音波方式においては超音波付加を開
始すると共に、パルスモータ28のパルス数のカ
ウントを開始し、カウント数により接触時点以降
の下降変位量を知る。
次に、接触時点から所定の下降距離Z1だけ下が
つた変位量Z2(即ちZ2=Z0+Z1)に達したことを、
これに対応する設定パルス数をカウントすること
により検出し昇降フレーム24の下降を停止す
る。
すなわち、カウント起算時点(接触時点)を検
出する変位検出機構と、パルスカウント及び停止
パルス数設定機構制御機構37などにより停止距
離設定機構が形成される。
この停止時点における板バネ31は最大撓みS2
となるが、見かけの撓みはS2−S0である。また、
接触時点以降の降下量Z1は、これに対応するカウ
ンターの設定パルス数により決められるが、ワイ
ヤ2の材質、ボール3の大きさ、押しつぶし量の
設定量、押付力の好ましい値などを考慮して選択
される。ズレ量はl2となる。
ここで、昇降フレーム24は停止するが、板バ
ネ31の復元力によりボール3が押しつぶされ
る。また、ボール3が押しつぶされるに従つてズ
レ量l2は再び減少するが、ズレ量の最大値l2から
の減少値である戻りズレ量は、押しつぶし量と比
例するので、戻りズレ量を出力信号に基づいて検
出すれば押しつぶし量を知ることができる。板バ
ネ31の撓みは再び減少する。
しかして第2図dの如く押しつぶし量t1が所定
の押しつぶし量に達したことを戻りズレ量L1
て検出し、押しつぶし動作を停止するために、ス
クラブの停止、又は超音波付加の停止或いは昇降
フレーム24の高速上昇を行う。この時のズレ量
はl1(即ちl1=l2−L1)、板バネ31の撓み量はS1
(見かけの撓みはS1−S0)となる。
かくて、押しつぶし量は所定の設定値t1に達
し、適切な押付力及び接触面積によりボンデイン
グが完了する。
このように変位検出機構及び戻りズレ量設定機
構、制御機構37などにより押しつぶし量設定機
構が形成される。
この好ましい押しつぶし量の設定値t1は、ワイ
ヤ2の材質、ボール3の大きさ、押付力の好まし
い値、接触面積の好ましい値、などに応じて選択
される。
次に、高速上昇開始と共にストツパー33を励
磁して、キヤピラリー1の振動を防ぎ、上昇途中
でキヤピラリー1の下端7がボール3(扁平部
8)の上端を離れ、ズレ量はl0に戻り板バネ31
の撓み量S0に戻る。なおも高速上昇を続け、適当
な時点で水平移動を開始し、第2図eの状態とな
る。
その後水平移動を続けながら昇降フレーム24
を再び下降せしめ、リード6のボンデイングすべ
き位置の直上付近に達した時点付近で低速下降に
切替え、その後は以上述べたボール3の押しつぶ
し過程と同様な過程でワイヤ2の一部を押しつぶ
しながらボンデイングを行う。この場合の好まし
い押しつぶし量はワイヤ2の直径、必要な押付
力、必要な接触面積などより決められる。
ボンデイング終了後、クランプ19の上方移動
によりワイヤ2のボンデイング点の端から切断
し、キヤピラリー1を上昇せしめ、クランプ19
の動作によりキヤピラリー1の下端7よりワイヤ
2を所定長突出せしめた状態でキヤピラリー1を
次のパツドの直上に位置せしめ、トーチ21にて
ボール3を形成せしめる。ボール3はパツドの直
上に至る前に形成してもよい。
キヤピラリー1を所定のパツドの直上及び所定
のリードの直上に移動せしめるのに、フレーム1
1或いはペレツト4の何れか一方をXYテーブル
に載せて水平面内のX又はY方向の相対的運動を
行わしめればよい。
制御機構37には次の如き異常検出機構が含ま
れている。即ち、昇降フレーム24が下降してボ
ール3の下端がパツド5に接触した時点でスター
トするタイマーを備え、正常な状態のボール3及
び昇降フレーム24のストロークに対し、適正な
押しつぶし量を与えるに十分な押しつぶし時間を
設定し、この所定の押しつぶし時間が経過しても
マグネセンサ34による変位検出機構によつて検
出されたワイヤ押しつぶし量が所定の押しつぶし
量に達していない時に異常信号を発するようにし
て、この異常信号によりボンデイング動作を停止
するようにする。
また、ボール3の寸法が過小であつた場合に、
所定の押しつぶし量に達する前に押しつぶし作業
が停止してしまうので、タイマーが所定の設定時
点に達しても、押しつぶし量検出値が所定の押し
つぶし量に達しないが、この場合に異常検出機構
の異常信号によりボンデイング動作を停止する。
これによりボール3が過小寸法であることを検知
し、ボール3の接触面積の不足による導通不良
や、はくりを未然に防止することができる。
以上はキヤピラリーボンデイングの例を示した
が、ウエツジボンデイングにおいても同様であ
る。
押圧力付加機構としては板バネ31に限らず、
変位に応じて押圧力が変化する機構ならよい。例
えばムービングコイルを用いて変位に応じた押圧
力を与えるようにしてもよい。この場合は印加電
圧を変えることにより押圧力を変化せしめること
ができる。例えば昇降フレーム24の急速下降時
に印加電圧を強めればストツパー33に強力に押
付けられるので、ホーン13などのボンデイング
アームの振動を防ぐことができる。従つてストツ
パー33を電磁石とする必要はなく、単なる固体
片でよく、構造が簡単となる。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明は、常にボンデイング
ツールと対象物との接触位置を変位側に固着した
磁石チツプと固定側に設けたマグネセンサからな
る無接触型変位検出センサにより検出するように
したから、その出力電圧波形がリニアーであるた
め制御機構による接触位置、押しつぶし量、異常
信号によるボンデイング動作の停止などワイヤボ
ンデイング作業の制御を容易にすることができ、
したがつて、ワイヤ径、ボール径の誤差、ワイヤ
の材質の変動に影響を受けることなく、常に適正
な押付力、接触面積により確実な、信頼性の高い
ボンデイングが行え、ペレツト、リードの寸法の
種類、ワイヤの材質、寸法、ボールの寸法などの
種類に応じて最適条件を容易に設定することがで
き、変位検出センサを無接触型のものとしたから
長期の使用に対しても誤差が生じたりするおそれ
がなく、実用上極めて大なる効果を奏することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す装置の一部断
面正面図、第2図a,b,c,d,eはその作用
工程順序を示す説明図、第3図は従来のボンデイ
ング装置の正面図である。 1…キヤピラリー、2…ワイヤ、3…ボール、
4…ペレツト、5…パツド、6…リード、8…扁
平部、10…振動子、11…フレーム、12,2
9…ピン、13…ホーン、14,35…レバー、
15…ローラ、16…カム、17…バネ、18…
リール、19…クランプ、20…ハーフクラン
プ、21…トーチ、22…垂直軸、23…位置検
出装置、24…昇降フレーム、25…昇降ガイ
ド、26…メネジ部、27…ネジ軸、28…パル
スモータ、30…揺動フレーム、31…板バネ、
32…偏心ピン、33…ストツパー、34…マグ
ネセンサ、36…チツプ、37…制御機構。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 昇降フレーム24に、水平軸29のまわりに
    回動可能に支承された揺動フレーム30を設け、
    該揺動フレーム30の一方側に先端にボンデイン
    グツール1を有するボンデイングアーム13を設
    け、揺動フレーム30の他方側に磁石チツプ36
    を設けると共に、前記昇降フレーム24に前記磁
    石チツプ36と対向してマグネセンサ34を設
    け、ボンデイングツール1がボンデイング面に接
    触した位置を前記磁石チツプ36とマグネセンサ
    34よりなる無接触型変位検出センサにより検出
    することを特徴とするボンデイング面接触検出装
    置。
JP2211552A 1990-08-13 1990-08-13 ボンディング面接触検出装置 Granted JPH03114239A (ja)

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