JPH0493033A - 電力用トランジスタ - Google Patents

電力用トランジスタ

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Publication number
JPH0493033A
JPH0493033A JP2209890A JP20989090A JPH0493033A JP H0493033 A JPH0493033 A JP H0493033A JP 2209890 A JP2209890 A JP 2209890A JP 20989090 A JP20989090 A JP 20989090A JP H0493033 A JPH0493033 A JP H0493033A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
emitter
current
electrode
region
source
Prior art date
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Pending
Application number
JP2209890A
Other languages
English (en)
Inventor
Fumiyoshi Matsumura
松村 文好
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0493033A publication Critical patent/JPH0493033A/ja
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  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)
  • Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電力用トランジスタに関し、特に電流検出用電
極を有する電力用トランジスタに関する。
〔従来の技術〕
第2図の断面図を用いて、従来の電流検出用電極を有す
る電力用バイポーラトランジスタの構造を説明する。
半導体基板をコレクタ領域11とし、コレクタ領域11
内にベース領域12が設けられ、ベース領域12内にエ
ミッタ領域1B、1.:3aが設けられる。半導体基板
表面にはシリコン酸化M14が形成され、ベース領域コ
2.エミッタ領域]3およびエミッタ領域13a」二の
シリコン酸化膜14に設けられた開口部を介して、ベー
ス電極18、エミッタ電極17.電流検出用エミッタ電
極15が設けられている。
電力用バイポーラトランジスタでは、エミッタ領域の周
囲長を長くすることによる電流および熱分布のバランス
を保つため、エミッタ領域の構造はマルチエミッタ構造
となっている。このため、エミッタ領域13aの面積は
エミッタ領域13の面積より小さく設定され、電流検出
用エミッタ電極15に流れる電流とエミッタ電極17流
れるエミッタ電流とがエミッタ領域13aとエミッタ領
域13との面積に比例することを利用して、エミッタ電
流の値を推定している。
従来の電流検出用電極を有する電力用電界効果トランジ
スタの構造も同じ技術思想のもとに構成されている。つ
まり、同一半導体基板内に小面積のソース領域を設け、
この上に電流検出用ソース電極を設け、電流検出用ソー
ス電極に流れる電流により、ソース電流の値を推定して
いる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の電流検出用電極を有する電力用バイポー
ラトランジスタ(または、従来の電流検出用電極を有す
る電力用電界効果トランジスタ)は、専用に設けられた
小面積のエミッタ領域(または、ソース領域)上に電流
検出用電極を設け、そこに流れる電流により全エミッタ
電流(または、全ソース電流)を推定しているため、ト
ランジスタ内部の電流経路およびエミッタ領域(または
、ソース領域)の形状に依存するエミッション効果が一
様でないため、正確な検出がなされないという欠点があ
る。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の電力用トランジスタは、エミッタ領域上に設け
られたエミッタ開口部に(または、ソース領域上に設け
られたソース開口部に)、電流検出用エミッタ電極、抵
抗体膜、およびエミッタ電極(または、電流検出用ソー
ス電極、抵抗体膜およびソース電極)が順次積層されて
形成される構造を有している。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の電力用バイポーラトランジ
スタを説明するための断面図である。
半導体基板をコレクタ領域1とし、コレクタ領域1内に
ベース領域2が設けられ、ベース領域2内にエミッタ領
域3が設けられる。半導体基板表面にはシリコン酸化膜
4が形成され、ベース領域2上のシリコン酸化膜4に設
けらるな開口部を介して、ベース電極8が設けられてい
る。更に、エミッタ領域3上のシリコン酸化膜4に設け
られた開口部を介して、電流検出用エミッタ電極5.抵
抗体膜6.およびエミッタ電極7が順次積層されて形成
されている。電流検出用エミッタ電極5は露出部を有し
ている。
一ヒ述の電力用バイポーラトランジスタをパッケージに
搭載し、電流検出用エミッタ電極5.およびエミッタ電
極7はパッケージの別々のリード端子に接続され、この
端子間の電圧降下により全エミッタ電流を検出する。
電力用電界効果トランジスタの場合も同様に、ソース領
域上に電流検出用ソース電極、抵抗体膜、およびソース
電極を順次積層して形成し、この電力用電界効果トラン
ジスタをパッケージに搭載し、電流検出用ソース電極、
およびソース電極をパッケージの別々のリード端子に接
続し、この端子間の電圧降下により全ソース電流を検出
している。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明の電力用バイポーラトランジ
スタ(まなは、電力用電界効果トランジスタ)は、エミ
ッタ領域とエミッタ電極との間に電流検出用エミッタ電
極および抵抗体膜(または、ソース領域とソース電極と
の間に電流検出用ソース電極および抵抗体膜)を設けて
いる。
全エミッタ電流(または、全ソース電流)は、エミッタ
電極と電流検出用エミッタ電極との間(または、ソース
電極と電流検出用ソース電極との間)の電圧降下により
検出される。このため、トランジスタ内部の電流経路お
よびエミッタ領域(または、ソース領域)の形状に依存
するエミッション効果に関係するこのなく、全エミッタ
電流(または、全ソース電流)を正確に検出することが
可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の縦断面図、第2図は従来の
電力用バイポーラトランジスタの縦断面図である。 1.11・・・コレクタ領域、2,12・・・ベース領
域、3,13.13a・・・エミッタ領域、4.14・
・・シリコン酸化膜、5,15・・・電流検出用エミッ
タ電極、6・・・抵抗体膜、7,17・・・エミッタ電
極、8,18ベース電極。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、電力用バイポーラトランジスタにおいて、エミッタ
    領域上に設けられたエミッタ開口部に、電流検出用エミ
    ッタ電極、抵抗体膜、およびエミッタ電極が順次積層さ
    れて形成されることを特徴とする電力用トランジスタ。 2、電力用電界効果トランジスタにおいて、ソース領域
    上に設けられたソース開口部に、電流検出用ソース電極
    、抵抗体膜、およびソース電極が順次積層されて形成さ
    れることを特徴とする電力用トランジスタ。
JP2209890A 1990-08-08 1990-08-08 電力用トランジスタ Pending JPH0493033A (ja)

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JP2209890A JPH0493033A (ja) 1990-08-08 1990-08-08 電力用トランジスタ

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JP2209890A JPH0493033A (ja) 1990-08-08 1990-08-08 電力用トランジスタ

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JPH0493033A true JPH0493033A (ja) 1992-03-25

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ID=16580345

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JP2209890A Pending JPH0493033A (ja) 1990-08-08 1990-08-08 電力用トランジスタ

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7560773B2 (en) 2005-10-14 2009-07-14 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7560773B2 (en) 2005-10-14 2009-07-14 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor device
DE102006044808B4 (de) * 2005-10-14 2011-04-07 Mitsubishi Electric Corp. Halbleitervorrichtung

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