JPH05128735A - 不良ブロツク交代制御方式 - Google Patents
不良ブロツク交代制御方式Info
- Publication number
- JPH05128735A JPH05128735A JP28584591A JP28584591A JPH05128735A JP H05128735 A JPH05128735 A JP H05128735A JP 28584591 A JP28584591 A JP 28584591A JP 28584591 A JP28584591 A JP 28584591A JP H05128735 A JPH05128735 A JP H05128735A
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- JP
- Japan
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- block
- defective
- magnetic disk
- blocks
- defective block
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- Pending
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁気ディスク装置を有する外部記憶装置の不
良ブロック交代制御方式に関し、アクセス時間を短縮す
ることを目的とする。 【構成】 記録媒体のフォーマット後にベリファイ動作
により欠陥データブロックの有無を検出する欠陥ブロッ
ク検出手段１０Ａと、欠陥ブロックが検出されたときは
その代替ブロックとして物理的に連続した隣接ブロック
を割り当てて再びフォーマットを行う再フォーマット手
段１０Ｂを備えるように構成する。
良ブロック交代制御方式に関し、アクセス時間を短縮す
ることを目的とする。 【構成】 記録媒体のフォーマット後にベリファイ動作
により欠陥データブロックの有無を検出する欠陥ブロッ
ク検出手段１０Ａと、欠陥ブロックが検出されたときは
その代替ブロックとして物理的に連続した隣接ブロック
を割り当てて再びフォーマットを行う再フォーマット手
段１０Ｂを備えるように構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置を有
する外部記憶装置の不良ブロック交代制御方式に関す
る。記録媒体の製造時にできた欠陥、あるいは磁気記録
特性の劣化などに起因して、正常にデータの読み出しあ
るいは書き込み処理が不可能となった不良ブロックを検
出したときは、記録媒体のフォーマット（イニシャライ
ズ）を行う場合、交代ブロック（不良ブロックの代替と
して使用すべきブロック）の割り付けを行う。
する外部記憶装置の不良ブロック交代制御方式に関す
る。記録媒体の製造時にできた欠陥、あるいは磁気記録
特性の劣化などに起因して、正常にデータの読み出しあ
るいは書き込み処理が不可能となった不良ブロックを検
出したときは、記録媒体のフォーマット（イニシャライ
ズ）を行う場合、交代ブロック（不良ブロックの代替と
して使用すべきブロック）の割り付けを行う。
【０００２】この場合、交代ブロックをアクセスすると
きのオーバヘッドを最少にして、アクセス時間を短縮す
ることが必要である。
きのオーバヘッドを最少にして、アクセス時間を短縮す
ることが必要である。
【０００３】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】磁気
ディスク装置を有する外部記憶装置において、１つのブ
ロック当たりの記憶容量が固定であり、ホスト装置から
データの読み出しおよび書き込み処理が可能な一般領域
の各ブロックについて論理的に連続したアドレス（LBA:
Logical Block Address ）が付けられている場合、予め
一般領域とは異なる領域に予備のブロック群を用意して
おき、一般ブロックの中に不良ブロックが見つかった時
にはその不良ブロックの代替として使用するブロック
（交代ブロック）をこの予備のブロック群の中から割り
当てる。
ディスク装置を有する外部記憶装置において、１つのブ
ロック当たりの記憶容量が固定であり、ホスト装置から
データの読み出しおよび書き込み処理が可能な一般領域
の各ブロックについて論理的に連続したアドレス（LBA:
Logical Block Address ）が付けられている場合、予め
一般領域とは異なる領域に予備のブロック群を用意して
おき、一般ブロックの中に不良ブロックが見つかった時
にはその不良ブロックの代替として使用するブロック
（交代ブロック）をこの予備のブロック群の中から割り
当てる。
【０００４】ホスト装置からこの不良ブロックを含む領
域に対してデータの読み出しまたは書き込み命令が発行
された場合には、この不良ブロックに読み出しまたは書
き込み処理を行うのではなく、その代替として割り付け
られた交代ブロックに読み出しまたは書き込み処理を行
うように制御することで、一般領域の一部のブロックが
何らかの理由により正常にデータの読み出しあるいは書
き込みができなかった時でも、ホスト装置からは論理的
に連続した全ブロックが使用可能であるようにする方法
が提供されている。
域に対してデータの読み出しまたは書き込み命令が発行
された場合には、この不良ブロックに読み出しまたは書
き込み処理を行うのではなく、その代替として割り付け
られた交代ブロックに読み出しまたは書き込み処理を行
うように制御することで、一般領域の一部のブロックが
何らかの理由により正常にデータの読み出しあるいは書
き込みができなかった時でも、ホスト装置からは論理的
に連続した全ブロックが使用可能であるようにする方法
が提供されている。
【０００５】ところが、一般的には交代割り付け処理に
使用する予備のブロック群は一般領域とは異なる領域
（トラックまたはシリンダ毎に予め用意された交代処理
用ブロック＝スペアブロック、または交代処理用のブロ
ック群が存在するシリンダ＝交代シリンダ、など）に存
在する。したがって、ホスト装置が交代割り付け処理さ
れた不良ブロックを含んだ複数のブロックに対するデー
タの読み出し、または、書き込みを指示した場合、不良
ブロックに対してはスペアブロックまたは交代シリンダ
内の交代処理用ブロックに交代割り付け処理していたた
め、磁気ディスク装置内部の動作としては、処理すべき
先頭ブロックから不良ブロックの直前のブロックまでを
連続して処理した後、この不良ブロックに対して交代割
り付けされた交代ブロックの位置にヘッドを位置付け
（シーク）してこの交代ブロックを処理し、次に、不良
ブロックの直後のブロックの位置にヘッドを位置付けて
不良ブロックの直後のブロックから処理すべき最終ブロ
ックまでを連続して処理する。
使用する予備のブロック群は一般領域とは異なる領域
（トラックまたはシリンダ毎に予め用意された交代処理
用ブロック＝スペアブロック、または交代処理用のブロ
ック群が存在するシリンダ＝交代シリンダ、など）に存
在する。したがって、ホスト装置が交代割り付け処理さ
れた不良ブロックを含んだ複数のブロックに対するデー
タの読み出し、または、書き込みを指示した場合、不良
ブロックに対してはスペアブロックまたは交代シリンダ
内の交代処理用ブロックに交代割り付け処理していたた
め、磁気ディスク装置内部の動作としては、処理すべき
先頭ブロックから不良ブロックの直前のブロックまでを
連続して処理した後、この不良ブロックに対して交代割
り付けされた交代ブロックの位置にヘッドを位置付け
（シーク）してこの交代ブロックを処理し、次に、不良
ブロックの直後のブロックの位置にヘッドを位置付けて
不良ブロックの直後のブロックから処理すべき最終ブロ
ックまでを連続して処理する。
【０００６】この場合、交代ブロックが存在するトラッ
ク上にヘッドを位置付けるのにかかる時間はシークする
距離（シリンダ数）によって変化し、また、交代ブロッ
クが存在するトラック上にヘッドを位置付けてから実際
に交代ブロックを処理するまでの時間（ディスクの回転
待ち時間）はこのトラック上の交代ブロックの位置およ
びディスクの回転速度によって変化するが、一般的には
不良ブロックが存在しない場合に比べて数十ミリ秒程度
処理時間が長く必要となる。
ク上にヘッドを位置付けるのにかかる時間はシークする
距離（シリンダ数）によって変化し、また、交代ブロッ
クが存在するトラック上にヘッドを位置付けてから実際
に交代ブロックを処理するまでの時間（ディスクの回転
待ち時間）はこのトラック上の交代ブロックの位置およ
びディスクの回転速度によって変化するが、一般的には
不良ブロックが存在しない場合に比べて数十ミリ秒程度
処理時間が長く必要となる。
【０００７】記録媒体のフォーマットを行う場合に、ベ
リファイ動作（Certification ）を行うよう指定し、ベ
リファイ動作で欠陥データブロックが存在することが検
出された場合、従来は上記のように交代処理していたた
めに、交代処理されたブロックに関しては再フォーマッ
トされることがない限り、常に余分な処理時間が必要と
なる。
リファイ動作（Certification ）を行うよう指定し、ベ
リファイ動作で欠陥データブロックが存在することが検
出された場合、従来は上記のように交代処理していたた
めに、交代処理されたブロックに関しては再フォーマッ
トされることがない限り、常に余分な処理時間が必要と
なる。
【０００８】例えば、図５に示すように、トラック上に
おいて、ブロック６が欠陥ブロックであることが検出さ
れたときは、ブロック６に対して、スペアブロック６を
交代ブロックとして割り付けていたため、ブロック０か
らブロック５まで連続して処理した後に、スペアブロッ
ク６の位置にシークし、このスペアブロック６を処理し
てから、ブロック７に戻り、最後のブロック１２まで連
続して処理していた。このため、交代ブロックをアクセ
スするときのオーバヘッドが大きくなり、アクセス時間
がかかるという問題点があった。
おいて、ブロック６が欠陥ブロックであることが検出さ
れたときは、ブロック６に対して、スペアブロック６を
交代ブロックとして割り付けていたため、ブロック０か
らブロック５まで連続して処理した後に、スペアブロッ
ク６の位置にシークし、このスペアブロック６を処理し
てから、ブロック７に戻り、最後のブロック１２まで連
続して処理していた。このため、交代ブロックをアクセ
スするときのオーバヘッドが大きくなり、アクセス時間
がかかるという問題点があった。
【０００９】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたものであって、交代ブロックをアクセスする
ときのオーバヘッドを最少にすることで、アクセス時間
を短縮することを目的とする。
てなされたものであって、交代ブロックをアクセスする
ときのオーバヘッドを最少にすることで、アクセス時間
を短縮することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】図１（Ａ），（Ｂ）は本
発明の原理説明図である。図１（Ａ）において、２は磁
気ディスク装置８と、該磁気ディスク装置８を制御する
マイクロプロセッサ１０を有する外部記憶装置、１０Ａ
は記録媒体のフォーマット後にベリファイ動作により欠
陥データブロックの有無を検出する欠陥ブロック検出手
段、１０Ｂは欠陥ブロックが検出されたときはその代替
ブロックとして物理的に連続した隣接ブロックを割り当
てて再びフォーマットを行う再フォーマット手段であ
る。
発明の原理説明図である。図１（Ａ）において、２は磁
気ディスク装置８と、該磁気ディスク装置８を制御する
マイクロプロセッサ１０を有する外部記憶装置、１０Ａ
は記録媒体のフォーマット後にベリファイ動作により欠
陥データブロックの有無を検出する欠陥ブロック検出手
段、１０Ｂは欠陥ブロックが検出されたときはその代替
ブロックとして物理的に連続した隣接ブロックを割り当
てて再びフォーマットを行う再フォーマット手段であ
る。
【００１１】
【作用】図１（Ｂ）に示すように、上位装置からの指示
で、マイクロプロセッサがフォーマットを行う際、トラ
ックに対して、（ａ）に示すようにフォーマットを行っ
たとする。各ブロックにはトラック内での論理アドレス
が書き加えてある。次に、（ｂ）ではベリファイ動作を
行い、ブロック６に欠陥があったことが検出されたこと
を示している。次に、（ｃ）ではブロック６の代替ブロ
ックとして物理的に連続した隣接ブロックを割り当てて
再フォーマットを行ったことを示している。このよう
に、ベリファイ動作で検出した欠陥データブロックの位
置情報を用いて、トラック単位またはシリンダ単位また
は複数シリンダ内で、欠陥ブロックに対して物理的に最
も近い位置にあり、欠陥ブロックをスキップすることに
より連続してアクセス可能なブロックを割り付けるよう
に再フォーマットを行う。
で、マイクロプロセッサがフォーマットを行う際、トラ
ックに対して、（ａ）に示すようにフォーマットを行っ
たとする。各ブロックにはトラック内での論理アドレス
が書き加えてある。次に、（ｂ）ではベリファイ動作を
行い、ブロック６に欠陥があったことが検出されたこと
を示している。次に、（ｃ）ではブロック６の代替ブロ
ックとして物理的に連続した隣接ブロックを割り当てて
再フォーマットを行ったことを示している。このよう
に、ベリファイ動作で検出した欠陥データブロックの位
置情報を用いて、トラック単位またはシリンダ単位また
は複数シリンダ内で、欠陥ブロックに対して物理的に最
も近い位置にあり、欠陥ブロックをスキップすることに
より連続してアクセス可能なブロックを割り付けるよう
に再フォーマットを行う。
【００１２】なお、一般的にはトラック単位またはシリ
ンダ単位または複数シリンダ内に交代処理用のスペアセ
クタが予め用意されており、この場合には、本発明によ
る交代処理により欠陥ブロック以降に位置するブロック
はずらされてフォーマットされるため、このスペアセク
タを使用することになる。このように、記録媒体のフォ
ーマット後のベリファイ動作で欠陥データブロックが存
在することが検出され、そのブロックに対して交代処理
を行った時、そのブロックを含む読み出しまたは書き込
み動作を行う場合には、欠陥ブロックの代替ブロックと
して物理的に連続した隣接ブロックを割り当ててあるた
め、代替ブロックをアクセスするためには、欠陥ブロッ
クが通過するまで読み出しまたは書き込み動作を待たせ
るだけで済むため、従来のような交代されたブロックが
位置するトラックにシークする場合に比べて、交代され
たブロックをアクセスする時のオーバヘッドが少なくな
り、高速にアクセスすることができる。
ンダ単位または複数シリンダ内に交代処理用のスペアセ
クタが予め用意されており、この場合には、本発明によ
る交代処理により欠陥ブロック以降に位置するブロック
はずらされてフォーマットされるため、このスペアセク
タを使用することになる。このように、記録媒体のフォ
ーマット後のベリファイ動作で欠陥データブロックが存
在することが検出され、そのブロックに対して交代処理
を行った時、そのブロックを含む読み出しまたは書き込
み動作を行う場合には、欠陥ブロックの代替ブロックと
して物理的に連続した隣接ブロックを割り当ててあるた
め、代替ブロックをアクセスするためには、欠陥ブロッ
クが通過するまで読み出しまたは書き込み動作を待たせ
るだけで済むため、従来のような交代されたブロックが
位置するトラックにシークする場合に比べて、交代され
たブロックをアクセスする時のオーバヘッドが少なくな
り、高速にアクセスすることができる。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図２〜図４は本発明の一実施例を示す図である。
図２において、１は中央処理装置などからなる上位装置
（ホスト装置）、２は外部記憶装置、３は上位装置１と
外部記憶装置２を接続する上位インタフェース接続線で
ある。
する。図２〜図４は本発明の一実施例を示す図である。
図２において、１は中央処理装置などからなる上位装置
（ホスト装置）、２は外部記憶装置、３は上位装置１と
外部記憶装置２を接続する上位インタフェース接続線で
ある。
【００１４】４はデータが一時的に格納されるデータバ
ッファ、５はデータバッファ４を制御するデータバッフ
ァ制御部、６は上位インタフェース制御部、７は下位イ
ンタフェース制御部、８は下位インタフェース制御部７
に下位インタフェース接続線９を介して接続される磁気
ディスク装置、１０は磁気ディスク装置８の制御あるい
は上位装置１と磁気ディスク装置８の入出力の制御を行
うマイクロプロセッサ、１１はマイクロプロセッサ１０
のプログラムを格納したＲＯＭ、１２はマイクロプロセ
ッサ１０の動作時に使用するＲＡＭである。
ッファ、５はデータバッファ４を制御するデータバッフ
ァ制御部、６は上位インタフェース制御部、７は下位イ
ンタフェース制御部、８は下位インタフェース制御部７
に下位インタフェース接続線９を介して接続される磁気
ディスク装置、１０は磁気ディスク装置８の制御あるい
は上位装置１と磁気ディスク装置８の入出力の制御を行
うマイクロプロセッサ、１１はマイクロプロセッサ１０
のプログラムを格納したＲＯＭ、１２はマイクロプロセ
ッサ１０の動作時に使用するＲＡＭである。
【００１５】上位装置１は上位インタフェース接続線３
を通して外部記憶装置２に入出力命令などを発行し、入
出力動作を実行させる。上位装置１からのデータは一時
的にデータバッファ４に格納された後に、磁気ディスク
装置８内に蓄積される。また、磁気ディスク装置８内に
蓄積されたデータはデータバッファ４に一時的に格納さ
れた後に上位装置１に送られる。
を通して外部記憶装置２に入出力命令などを発行し、入
出力動作を実行させる。上位装置１からのデータは一時
的にデータバッファ４に格納された後に、磁気ディスク
装置８内に蓄積される。また、磁気ディスク装置８内に
蓄積されたデータはデータバッファ４に一時的に格納さ
れた後に上位装置１に送られる。
【００１６】ここで、上位装置１が外部記憶装置２に対
して記録媒体のフォーマットを行うよう指示した場合
は、マイクロプロセッサ１０が下位インタフェース制御
部７などを制御しながら磁気ディスク装置８に対してフ
ォーマットを行う。また、フォーマット後にベリファイ
動作（Certification ）を行う場合には、一般空間（上
位装置１がアクセス可能な領域）等のベリファイ対象と
なる全データブロックに対してベリファイ動作（正常に
データが読み出せることの確認）を行う。
して記録媒体のフォーマットを行うよう指示した場合
は、マイクロプロセッサ１０が下位インタフェース制御
部７などを制御しながら磁気ディスク装置８に対してフ
ォーマットを行う。また、フォーマット後にベリファイ
動作（Certification ）を行う場合には、一般空間（上
位装置１がアクセス可能な領域）等のベリファイ対象と
なる全データブロックに対してベリファイ動作（正常に
データが読み出せることの確認）を行う。
【００１７】この場合、前記マイクロプロセッサ１０
は、ベリファイ動作により欠陥データブロックの有無を
検出する欠陥ブロック検出手段１０Ａおよび欠陥ブロッ
クが検出されたとき、その代替ブロックとして物理的に
連続した隣接ブロックを割当てて再びフォーマットを行
う再フォーマット手段１０Ｂとしての機能を有する。次
に、動作を説明する。
は、ベリファイ動作により欠陥データブロックの有無を
検出する欠陥ブロック検出手段１０Ａおよび欠陥ブロッ
クが検出されたとき、その代替ブロックとして物理的に
連続した隣接ブロックを割当てて再びフォーマットを行
う再フォーマット手段１０Ｂとしての機能を有する。次
に、動作を説明する。
【００１８】図３および図４はあるシリンダ内のフォー
マットを示している。便宜上１つのシリンダ内には４つ
のトラックｄ〜ｇがあり、１つのトラックには１０個の
ブロックがあり、１つのシリンダ内には３つのスペアセ
クタがあるものとする。上位装置１からの指示でフォー
マットを行った際、図３のようにフォーマットを行い、
次に、ベリファイ動作を行ってブロック１１および３４
に欠陥があったことが検出されたとする。次に、図４に
示すように、ブロック１１および３４の代替ブロックと
して物理的に連続した隣接ブロックを割り当てて再フォ
ーマットを行う。上位装置１からの指示でブロック１１
または３４を含むアクセスの要求がある時には、欠陥ブ
ロック１１，３４をスキップして処理を行うよう制御す
る。
マットを示している。便宜上１つのシリンダ内には４つ
のトラックｄ〜ｇがあり、１つのトラックには１０個の
ブロックがあり、１つのシリンダ内には３つのスペアセ
クタがあるものとする。上位装置１からの指示でフォー
マットを行った際、図３のようにフォーマットを行い、
次に、ベリファイ動作を行ってブロック１１および３４
に欠陥があったことが検出されたとする。次に、図４に
示すように、ブロック１１および３４の代替ブロックと
して物理的に連続した隣接ブロックを割り当てて再フォ
ーマットを行う。上位装置１からの指示でブロック１１
または３４を含むアクセスの要求がある時には、欠陥ブ
ロック１１，３４をスキップして処理を行うよう制御す
る。
【００１９】したがって、代替ブロック（図４のブロッ
ク１１，３３）をアクセスするためには、欠陥ブロック
が通過するまで、読み出しまたは書き込み動作を待たせ
るだけですむため、従来のような交代されたブロックが
位置するトラックにシークする場合に比べて、交代され
たブロックをアクセスする時のオーバヘッドが少なくな
り、アクセス時間を短縮することができる。
ク１１，３３）をアクセスするためには、欠陥ブロック
が通過するまで、読み出しまたは書き込み動作を待たせ
るだけですむため、従来のような交代されたブロックが
位置するトラックにシークする場合に比べて、交代され
たブロックをアクセスする時のオーバヘッドが少なくな
り、アクセス時間を短縮することができる。
【００２０】なお、本実施例においては、フォーマット
時に欠陥ブロックが検出され、そのブロックに対して交
代処理を行う場合に、欠陥ブロックが存在するシリンダ
内の全ブロックのみを再フォーマットしているが、トラ
ック単位に交代処理用の予備ブロックを用意する場合に
はトラック単位で再フォーマットしてもよいし、一般空
間の全ブロックを再フォーマットしてもよい。また、上
位装置１から特定のブロックに対して交代処理を行うよ
う指示された場合にも、本実施例のように交代処理を行
うことで同様の効果を得ることができる。
時に欠陥ブロックが検出され、そのブロックに対して交
代処理を行う場合に、欠陥ブロックが存在するシリンダ
内の全ブロックのみを再フォーマットしているが、トラ
ック単位に交代処理用の予備ブロックを用意する場合に
はトラック単位で再フォーマットしてもよいし、一般空
間の全ブロックを再フォーマットしてもよい。また、上
位装置１から特定のブロックに対して交代処理を行うよ
う指示された場合にも、本実施例のように交代処理を行
うことで同様の効果を得ることができる。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
フォーマット時に欠陥ブロックとして検出され、交代処
理されたブロックを含む読み出しまたは書き込み動作を
行う場合でも、欠陥ブロックが存在しない場合とほぼ同
等の処理時間でアクセスすることができ、アクセス時間
を短縮することができる。
フォーマット時に欠陥ブロックとして検出され、交代処
理されたブロックを含む読み出しまたは書き込み動作を
行う場合でも、欠陥ブロックが存在しない場合とほぼ同
等の処理時間でアクセスすることができ、アクセス時間
を短縮することができる。
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明の一実施例を示す図
【図３】フォーマットしたトラックを示す図
【図４】再フォーマットしたトラックを示す図
【図５】問題点の説明図
１：上位装置 ２：外部記憶装置 ３：上位インタフェース接続線 ４：データバッファ ５：データバッファ制御部 ６：上位インタフェース制御部 ７：下位インタフェース制御部 ８：磁気ディスク装置 ９：下位インタフェース接続線 １０：マイクロプロセッサ １０Ａ：欠陥ブロック検出手段 １０Ｂ：再フォーマット手段 １１：ＲＯＭ １２：ＲＡＭ
Claims (1)
- 【請求項１】磁気ディスク装置（８）と、該磁気ディス
ク装置（８）を制御するマイクロプロセッサ（１０）を
有する外部記憶装置（２）において、記録媒体のフォー
マット後にベリファイ動作により欠陥データブロックの
有無を検出する欠陥ブロック検出手段（１０Ａ）と、欠
陥ブロックが検出されたときはその代替ブロックとして
物理的に連続した隣接ブロックを割り当てて再びフォー
マットを行う再フォーマット手段（１０Ｂ）を備えたこ
とを特徴とする不良ブロック交代制御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28584591A JPH05128735A (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | 不良ブロツク交代制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28584591A JPH05128735A (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | 不良ブロツク交代制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05128735A true JPH05128735A (ja) | 1993-05-25 |
Family
ID=17696824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28584591A Pending JPH05128735A (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | 不良ブロツク交代制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05128735A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6043945A (en) * | 1994-12-21 | 2000-03-28 | Fujitsu Limited | Recording/reproducing device and method of replacing defective sector on media |
| KR100442236B1 (ko) * | 1998-09-07 | 2004-10-14 | 엘지전자 주식회사 | 광기록매체및그의사용가능한대체블럭서치방법 |
| KR100546576B1 (ko) * | 1998-11-10 | 2006-04-28 | 엘지전자 주식회사 | 광 기록매체 및 광 기록매체의 결함 영역 관리 방법 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS583104A (ja) * | 1981-06-30 | 1983-01-08 | Toshiba Corp | 磁気デイスク装置 |
| JPS60235260A (ja) * | 1984-05-08 | 1985-11-21 | Fujitsu Ltd | 記憶装置 |
| JPH01241060A (ja) * | 1988-03-22 | 1989-09-26 | Hitachi Ltd | フアイル検索方式 |
| JPH03154268A (ja) * | 1989-11-13 | 1991-07-02 | Fuji Electric Co Ltd | ディスク記憶装置の記録媒体の欠陥検査方法 |
-
1991
- 1991-10-31 JP JP28584591A patent/JPH05128735A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980818 |