JPH0519666B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0519666B2 JPH0519666B2 JP59103076A JP10307684A JPH0519666B2 JP H0519666 B2 JPH0519666 B2 JP H0519666B2 JP 59103076 A JP59103076 A JP 59103076A JP 10307684 A JP10307684 A JP 10307684A JP H0519666 B2 JPH0519666 B2 JP H0519666B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- metal object
- circuit
- oscillation
- transistor
- oscillation circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V3/00—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
- G01V3/08—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices
- G01V3/10—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils
- G01V3/101—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils by measuring the impedance of the search coil; by measuring features of a resonant circuit comprising the search coil
- G01V3/102—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils by measuring the impedance of the search coil; by measuring features of a resonant circuit comprising the search coil by measuring amplitude
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Geology (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、金属物体例えば遊戯機器でのパチン
コ玉の通過検出に用いる金属物体通過検出装置に
関するものである。
コ玉の通過検出に用いる金属物体通過検出装置に
関するものである。
背景技術とその問題点
従来、金属物体例えばパチンコ玉の通過検出に
はバネのスナツプ・アクシヨンによつてスイツチ
作用を行うマイクロスイツチを用いた検出装置が
使用されていた。
はバネのスナツプ・アクシヨンによつてスイツチ
作用を行うマイクロスイツチを用いた検出装置が
使用されていた。
しかし、パチンコ玉の通過検出をマイクロスイ
ツチを用いて検出する検出装置は、部品点数が多
いため装置自体の小型化に限界があると共に、パ
チンコ玉が連続して通過する場合パチンコ玉の通
過速度とバネの反動共振によりパチンコ玉検出の
精度が低い点に問題があつた。
ツチを用いて検出する検出装置は、部品点数が多
いため装置自体の小型化に限界があると共に、パ
チンコ玉が連続して通過する場合パチンコ玉の通
過速度とバネの反動共振によりパチンコ玉検出の
精度が低い点に問題があつた。
発明の目的
本発明はかかる点に鑑み部品点数が大幅に削減
できると共に、金属物体の通過選出の信頼性の高
い金属物体通過検出装置を提供することを目的と
する。
できると共に、金属物体の通過選出の信頼性の高
い金属物体通過検出装置を提供することを目的と
する。
発明の概要
本発明金属物体通過検出装置は、正帰還路に金
属物体通過検出コイルを含む共振回路を有する発
振回路と、この発振回路に所定のバイアス電圧を
与えるバイアス回路と、差動接続構成とされた一
対のトランジスタ及びこのトランジスタの共通エ
ミツタ側に配されたコンデンサを有し、発振回路
の出力を検波する検波手段と、この検波手段の出
力によりオン・オフ制御されるスイツチング回路
とを備え、金属物体通過検出コイル内を金属物体
が通過したとき発振回路の発振を停止させて金属
物体の通過検出を行うようにしたものである。
属物体通過検出コイルを含む共振回路を有する発
振回路と、この発振回路に所定のバイアス電圧を
与えるバイアス回路と、差動接続構成とされた一
対のトランジスタ及びこのトランジスタの共通エ
ミツタ側に配されたコンデンサを有し、発振回路
の出力を検波する検波手段と、この検波手段の出
力によりオン・オフ制御されるスイツチング回路
とを備え、金属物体通過検出コイル内を金属物体
が通過したとき発振回路の発振を停止させて金属
物体の通過検出を行うようにしたものである。
かかる発明によれば金属物体通過検出装置の部
品点数が大幅に削減できると共に、金属物体の通
過検出の信頼性を高くすることができる。
品点数が大幅に削減できると共に、金属物体の通
過検出の信頼性を高くすることができる。
実施例
以下第１図〜第３図を参照して本発明金属物体
通過検出装置の一実施例について説明しよう。
通過検出装置の一実施例について説明しよう。
第１図はこの発明の一実施例を示すもので、同
図において、発振用のトランジスタ１及び２を設
け、トランジスタ１のベースとトランジスタ２の
エミツタを相互に接続し、トランジスタ１のコレ
クタを接続端子３を介してパチンコ玉通過検出用
コイル４ａ及びコンデンサ４ｂ，４ｃからなる並
列共振回路４の一端側に接続し、この共振回路４
の他端側を接続端子５を介してトランジスタ２の
ベースに接続する。ここで、パチンコ玉通過検出
用コイル４ａは第２図に示すようにパチンコ玉の
移動路４ｄの外側に巻装した空心コイルとし、か
かる移動路４ｄをパチンコ玉が通過していくとき
にコイル４ａの内側を通過するように配する。ま
たトランジスタ１及び２の各エミツタを、夫々電
流源としてのトランジスタ６、抵抗器７及びトラ
ンジスタ８、抵抗器９、接続端子１０を介して接
地する。なお、トランジスタ２のコレクタは正の
電源端子＋Vccが接続されている接続端子１１に
接続する。またトランジスタ１のエミツタを、接
続端子１２を介して感度調整用の帰還抵抗器１３
を介して共振回路４のコンデンサ４ｂ及び４ｃの
接続点に接続する。なお共振回路４の共振周波数
f0は、コイル４ａインダクタンスをL1、コンデン
サ４ｂ，４ｃの容量をそれぞれC1、C2とすると、
次式で与えられる。
図において、発振用のトランジスタ１及び２を設
け、トランジスタ１のベースとトランジスタ２の
エミツタを相互に接続し、トランジスタ１のコレ
クタを接続端子３を介してパチンコ玉通過検出用
コイル４ａ及びコンデンサ４ｂ，４ｃからなる並
列共振回路４の一端側に接続し、この共振回路４
の他端側を接続端子５を介してトランジスタ２の
ベースに接続する。ここで、パチンコ玉通過検出
用コイル４ａは第２図に示すようにパチンコ玉の
移動路４ｄの外側に巻装した空心コイルとし、か
かる移動路４ｄをパチンコ玉が通過していくとき
にコイル４ａの内側を通過するように配する。ま
たトランジスタ１及び２の各エミツタを、夫々電
流源としてのトランジスタ６、抵抗器７及びトラ
ンジスタ８、抵抗器９、接続端子１０を介して接
地する。なお、トランジスタ２のコレクタは正の
電源端子＋Vccが接続されている接続端子１１に
接続する。またトランジスタ１のエミツタを、接
続端子１２を介して感度調整用の帰還抵抗器１３
を介して共振回路４のコンデンサ４ｂ及び４ｃの
接続点に接続する。なお共振回路４の共振周波数
f0は、コイル４ａインダクタンスをL1、コンデン
サ４ｂ，４ｃの容量をそれぞれC1、C2とすると、
次式で与えられる。
またバイアス回路としてのトランジスタ１４，
１５及び１６を設け、トランジスタ１４のコレク
タをトランジスタ１５のベースに接続すると共に
抵抗器１７を介して接続端子１８に接続する。接
続端子１８は電源電圧が低くなつた場合に、本回
路とこの接続端子１８を介して外部電源に接続
し、回路内の電流源の電流量を制御するものであ
る。従つて電源電圧は、所定範囲例えば４〜14V
程度の広範囲に渡り使用可能となる。またトラン
ジスタ１４のコレクタを抵抗器１９及び２０を介
して接続端子３１に接続し、抵抗器１９及び２０
の接続点をトランジスタ１６のベースに接続す
る。更にトランジスタ１４のエミツタ抵抗器２１
を介して接続端子１０に接続し、トランジスタ１
５のコレクタを接続端子１１に接続すると共にエ
ミツタを抵抗器２２を介して接続端子１０に接続
する。またトランジスタ１６のコレクタを接続端
子１１に接続し、エミツタをトランジスタ２のベ
ースに接続すると共に抵抗器２３を介して接続端
子１０に接続する。またトランジスタ１４のベー
スをトランジスタ１５のエミツタに接続すると共
にトランジスタ８及び６のベースと共通接続す
る。そして抵抗器１９，２０，２１及びトランジ
スタ１４，１５により電流源の電流量の設定を行
うと共にトランジスタ１６により発振回路の為の
２次電源を与えるバイアス電圧を設定する。
１５及び１６を設け、トランジスタ１４のコレク
タをトランジスタ１５のベースに接続すると共に
抵抗器１７を介して接続端子１８に接続する。接
続端子１８は電源電圧が低くなつた場合に、本回
路とこの接続端子１８を介して外部電源に接続
し、回路内の電流源の電流量を制御するものであ
る。従つて電源電圧は、所定範囲例えば４〜14V
程度の広範囲に渡り使用可能となる。またトラン
ジスタ１４のコレクタを抵抗器１９及び２０を介
して接続端子３１に接続し、抵抗器１９及び２０
の接続点をトランジスタ１６のベースに接続す
る。更にトランジスタ１４のエミツタ抵抗器２１
を介して接続端子１０に接続し、トランジスタ１
５のコレクタを接続端子１１に接続すると共にエ
ミツタを抵抗器２２を介して接続端子１０に接続
する。またトランジスタ１６のコレクタを接続端
子１１に接続し、エミツタをトランジスタ２のベ
ースに接続すると共に抵抗器２３を介して接続端
子１０に接続する。またトランジスタ１４のベー
スをトランジスタ１５のエミツタに接続すると共
にトランジスタ８及び６のベースと共通接続す
る。そして抵抗器１９，２０，２１及びトランジ
スタ１４，１５により電流源の電流量の設定を行
うと共にトランジスタ１６により発振回路の為の
２次電源を与えるバイアス電圧を設定する。
また検波手段としての一対のトランジスタ２４
及び２５を設け、トランジスタ２４のベースをト
ランジスタ１のコレクタ側に接続し、トランジス
タ２５のベースをトランジスタ２のベース側に接
続する。更にトランジスタ２４及び２５の各エミ
ツタを共通接続した後電源としてのトランジスタ
２６及び抵抗器２７を介して接続端子１０に接続
し、トランジスタ２６のベースをトランジスタ
６，８及び１４のベースと共通接続する。またト
ランジスタ２４及び２５の各エミツタの共通接続
点を接続端子２８を介して大容量のコンデンサ２
９の一端に接続し、このコンデンサ２９の他端を
接地する。
及び２５を設け、トランジスタ２４のベースをト
ランジスタ１のコレクタ側に接続し、トランジス
タ２５のベースをトランジスタ２のベース側に接
続する。更にトランジスタ２４及び２５の各エミ
ツタを共通接続した後電源としてのトランジスタ
２６及び抵抗器２７を介して接続端子１０に接続
し、トランジスタ２６のベースをトランジスタ
６，８及び１４のベースと共通接続する。またト
ランジスタ２４及び２５の各エミツタの共通接続
点を接続端子２８を介して大容量のコンデンサ２
９の一端に接続し、このコンデンサ２９の他端を
接地する。
更にトランジスタ２４のコレクタを接続端子１
１に接続し、トランジスタ２５のコレクタをトラ
ンジスタ３０のコレクタ−エミツタ路及び抵抗器
３１を介して接続端子１１に接続し、トランジス
タ３０のコレクタとベースを相互接続した後トラ
ンジスタ３２のベースに接続する。そしてトラン
ジスタ３２のエミツタを抵抗器３３を介して接続
端子１１に接続し、コレクタを抵抗器３４及びダ
イオード３５を介して接続端子１０に接続する。
つまりトランジスタ３０及び３２は所謂カレント
ミラー回路を構成している。
１に接続し、トランジスタ２５のコレクタをトラ
ンジスタ３０のコレクタ−エミツタ路及び抵抗器
３１を介して接続端子１１に接続し、トランジス
タ３０のコレクタとベースを相互接続した後トラ
ンジスタ３２のベースに接続する。そしてトラン
ジスタ３２のエミツタを抵抗器３３を介して接続
端子１１に接続し、コレクタを抵抗器３４及びダ
イオード３５を介して接続端子１０に接続する。
つまりトランジスタ３０及び３２は所謂カレント
ミラー回路を構成している。
更にトランジスタ３２のコレクタをトランジス
タ３６のベースに接続し、このトランジスタ３６
のコレクタを抵抗器３７を介して接続端子１１に
接続すると共にエミツタを接続端子１０に接続す
る。またトランジスタ３６のコレクタをトランジ
スタ３８のベースに接続し、このトランジスタ３
８のコレクタを出力端子としての接続端子３９に
接続すると共にエミツタを接続端子１０に接続す
る。トランジスタ３６，３８はスイツチング回路
を構成するものである。なお、ここで接続端子
３，５，１０，１１，１２，１８及び２８で囲ま
れる部分はIC化し得るもので、従つてIC化した
場合これ等の接続端子が外部接続用の端子として
使用され、この場合並列共振回路４とコンデンサ
２９が外付けとなる。
タ３６のベースに接続し、このトランジスタ３６
のコレクタを抵抗器３７を介して接続端子１１に
接続すると共にエミツタを接続端子１０に接続す
る。またトランジスタ３６のコレクタをトランジ
スタ３８のベースに接続し、このトランジスタ３
８のコレクタを出力端子としての接続端子３９に
接続すると共にエミツタを接続端子１０に接続す
る。トランジスタ３６，３８はスイツチング回路
を構成するものである。なお、ここで接続端子
３，５，１０，１１，１２，１８及び２８で囲ま
れる部分はIC化し得るもので、従つてIC化した
場合これ等の接続端子が外部接続用の端子として
使用され、この場合並列共振回路４とコンデンサ
２９が外付けとなる。
次に回路動作を説明する。パチンコ玉４ｅが移
動器４ｄ内を移動し検出用コイル４ａ内を通過し
ている場合には、共振回路４のＱは低くなりその
インピーダンス（2πf0L1Q）も小さくなる。従つ
て、共振回路４からトランジスタ１のエミツタ側
への正帰還の帰還量は十分でなく、回路は発振し
ない。そしてこの発振回路が発振してにない状態
では、トランジスタ２４及び２５の各々のベース
電位は同じであるため、電流源としてのトランジ
スタ２６を流れる電流は、1/2づつトランジスタ
２４，２５のコレクタ電流として流れる。またト
ランジスタ３０及び３２は、カレントミラー回路
を構成しているので、トランジスタ３２のコレク
タ側にトランジスタ２５のコレクタ電流と等しい
コレクタ電流が流れる。このためトランジスタ３
６がオンとなり、これによつてトランジスタ３８
がオフ状態となり、従つて出力端子としての接続
端子３９には“１”の出力が得られる。
動器４ｄ内を移動し検出用コイル４ａ内を通過し
ている場合には、共振回路４のＱは低くなりその
インピーダンス（2πf0L1Q）も小さくなる。従つ
て、共振回路４からトランジスタ１のエミツタ側
への正帰還の帰還量は十分でなく、回路は発振し
ない。そしてこの発振回路が発振してにない状態
では、トランジスタ２４及び２５の各々のベース
電位は同じであるため、電流源としてのトランジ
スタ２６を流れる電流は、1/2づつトランジスタ
２４，２５のコレクタ電流として流れる。またト
ランジスタ３０及び３２は、カレントミラー回路
を構成しているので、トランジスタ３２のコレク
タ側にトランジスタ２５のコレクタ電流と等しい
コレクタ電流が流れる。このためトランジスタ３
６がオンとなり、これによつてトランジスタ３８
がオフ状態となり、従つて出力端子としての接続
端子３９には“１”の出力が得られる。
一方、パチンコ玉がコイル４ａから離れている
場合には共振回路４のＱが大きくなり、そのイン
ピーダンスも大きくなる。従つて、共振回路４か
らトランジスタ１のエミツタ側に充分な正帰還が
かかるので、この回路はコルピツツ発振回路とし
て発振する。この時の発振の最大振幅電圧は約
4VBEｐ−ｐ（トランジスタ１，２のベース−エミ
ツタ間電圧の和の２倍）となる。
場合には共振回路４のＱが大きくなり、そのイン
ピーダンスも大きくなる。従つて、共振回路４か
らトランジスタ１のエミツタ側に充分な正帰還が
かかるので、この回路はコルピツツ発振回路とし
て発振する。この時の発振の最大振幅電圧は約
4VBEｐ−ｐ（トランジスタ１，２のベース−エミ
ツタ間電圧の和の２倍）となる。
そして発振回路が発振している状態では、トラ
ンジスタ２４のベース側には第２図に曲線ａで示
すように２次電源Vcc′を中心とした約4VBEｐ−
ｐの電圧が印加される。この時トランジスタ２４
のエミツタには接続端子２８を介して大容量のコ
ンデンサ２９が接続されているので、そのエミツ
タ側には第２図に曲線ｂで示すようなVcc′＋
2VBE（トランジスタ１，２のベースエミツタ間電
圧）−VBE′（トランジスタ２４のベース−エミツ
タ間電圧）≒Vcc′＋VBEの直流電圧が得られる。
つまり発振出力がピーク検波されることになる。
これによつてトランジスタ２５のベース−エミツ
タ間が逆にバイアスされ、トランジスタ２５がオ
フ状態となる。これによつてトランジスタ３０及
び３２のコレクタ電流は零となり、トランジスタ
３６がオフとなる。このトランジスタ３６のオフ
によりトランジスタ３８がオンし、もつて接続端
子３９には“０”の出力が得られる。
ンジスタ２４のベース側には第２図に曲線ａで示
すように２次電源Vcc′を中心とした約4VBEｐ−
ｐの電圧が印加される。この時トランジスタ２４
のエミツタには接続端子２８を介して大容量のコ
ンデンサ２９が接続されているので、そのエミツ
タ側には第２図に曲線ｂで示すようなVcc′＋
2VBE（トランジスタ１，２のベースエミツタ間電
圧）−VBE′（トランジスタ２４のベース−エミツ
タ間電圧）≒Vcc′＋VBEの直流電圧が得られる。
つまり発振出力がピーク検波されることになる。
これによつてトランジスタ２５のベース−エミツ
タ間が逆にバイアスされ、トランジスタ２５がオ
フ状態となる。これによつてトランジスタ３０及
び３２のコレクタ電流は零となり、トランジスタ
３６がオフとなる。このトランジスタ３６のオフ
によりトランジスタ３８がオンし、もつて接続端
子３９には“０”の出力が得られる。
従つて、接続端子３９の出力としてはトランジ
スタ３８のオン、オフに対応した“０”、“１”の
２値論理となる。なお、トランジスタ２６の定電
流量とコンデンサ２９の値を適当に選ぶことによ
つて、発振感度についてヒステリス特性、つまり
検出用コイルに導電性体が接近して発振が停止す
る時間と、逆に検出用コイルより導電性体が離れ
て発振が開始する時間の差を制御することも可能
である。
スタ３８のオン、オフに対応した“０”、“１”の
２値論理となる。なお、トランジスタ２６の定電
流量とコンデンサ２９の値を適当に選ぶことによ
つて、発振感度についてヒステリス特性、つまり
検出用コイルに導電性体が接近して発振が停止す
る時間と、逆に検出用コイルより導電性体が離れ
て発振が開始する時間の差を制御することも可能
である。
第４図は、この発明の他の実施例を示すもの
で、同図において、第１図と対応する部分には同
一符号を付し、その詳細説明は省略する。
で、同図において、第１図と対応する部分には同
一符号を付し、その詳細説明は省略する。
本実施例では検波手段に設けられた差動接続構
成のトランジスタ２４及び２５に対して夫々トラ
ンジスタ４０及び４１を設け、トランジスタ４０
のエミツタをトランジスタ２４のベースに接続
し、コレクタを接続端子１１に接続し、ベースを
トランジスタ１のコレクタ側に接続する。一方ト
ランジスタ４１のエミツタをトランジスタ２５の
ベースに接続し、コレクタを接続端子１１に接続
し、ベースをトランジスタ１６のエミツタ側に接
続する。またコンデンサ２９はトランジスタ４０
のエミツタとトランジスタ２４のベースの接続点
に接続端子２８を介して接続するようにする。そ
の他の構成は第４図同様である。
成のトランジスタ２４及び２５に対して夫々トラ
ンジスタ４０及び４１を設け、トランジスタ４０
のエミツタをトランジスタ２４のベースに接続
し、コレクタを接続端子１１に接続し、ベースを
トランジスタ１のコレクタ側に接続する。一方ト
ランジスタ４１のエミツタをトランジスタ２５の
ベースに接続し、コレクタを接続端子１１に接続
し、ベースをトランジスタ１６のエミツタ側に接
続する。またコンデンサ２９はトランジスタ４０
のエミツタとトランジスタ２４のベースの接続点
に接続端子２８を介して接続するようにする。そ
の他の構成は第４図同様である。
斯る構成において、パチンコ玉がコイル４ａを
通過している状態では、上述の如く発振回路が発
振しないので、トランジスタ４０及び４１の各ベ
ース電位は直流的に同電位にあり、従つて電流源
としてのトランジスタ２６を流れる電流は、1/2
づつトランジスタ２４及び２５のコレクタ電流と
して流れる。一方トランジスタ３０と共にカレン
トミラー回路を構成しているトランジスタ３２の
コレクタ側にはトランジスタ２５のコレクタ電流
と等しい電流が流れる。このためトランジスタ３
６がオンし、トランジスタ３８がオフ状態となる
ので接続端子３９には“１”の出力が得られる。
通過している状態では、上述の如く発振回路が発
振しないので、トランジスタ４０及び４１の各ベ
ース電位は直流的に同電位にあり、従つて電流源
としてのトランジスタ２６を流れる電流は、1/2
づつトランジスタ２４及び２５のコレクタ電流と
して流れる。一方トランジスタ３０と共にカレン
トミラー回路を構成しているトランジスタ３２の
コレクタ側にはトランジスタ２５のコレクタ電流
と等しい電流が流れる。このためトランジスタ３
６がオンし、トランジスタ３８がオフ状態となる
ので接続端子３９には“１”の出力が得られる。
一方パチンコ玉４ｅのコイル４ａ内を通過して
いる状態では、上述の如く発振回路が発振するの
で、トランジスタ４０のベース側には２次電源
Vcc′を中心として約4VBEｐ−ｐの電圧が印加さ
れる。この時トランジスタ４０のエミツタ側の電
圧はコンデンサ２９の存在により平滑化され、
Vcc′＋2VBE−VBE″（トランジスタ４０のベース
−エミツタ間電圧）＝Vcc′＋VBEの直流電圧とな
る。つまりピーク検波出力が得られる。このため
トランジスタ２４のエミツタの電圧はVcc′＋VBE
−VBE″≒Vcc′となる。従つてトランジスタ４１
のベースとトランジスタ２５のエミツタ間の電位
差がほぼ零となり、トランジスタ４１と２５は逆
バイアスされたことになるため、オフ状態とな
る。この結果トランジスタ３０，３２がオフとな
り、トランジスタ３６もオフとなるので、トラン
ジスタ３８がオンし、もつて接続端子３９には
“０”の出力が得られる。
いる状態では、上述の如く発振回路が発振するの
で、トランジスタ４０のベース側には２次電源
Vcc′を中心として約4VBEｐ−ｐの電圧が印加さ
れる。この時トランジスタ４０のエミツタ側の電
圧はコンデンサ２９の存在により平滑化され、
Vcc′＋2VBE−VBE″（トランジスタ４０のベース
−エミツタ間電圧）＝Vcc′＋VBEの直流電圧とな
る。つまりピーク検波出力が得られる。このため
トランジスタ２４のエミツタの電圧はVcc′＋VBE
−VBE″≒Vcc′となる。従つてトランジスタ４１
のベースとトランジスタ２５のエミツタ間の電位
差がほぼ零となり、トランジスタ４１と２５は逆
バイアスされたことになるため、オフ状態とな
る。この結果トランジスタ３０，３２がオフとな
り、トランジスタ３６もオフとなるので、トラン
ジスタ３８がオンし、もつて接続端子３９には
“０”の出力が得られる。
なお、本実施例でコンデンサ２９の放電は、ト
ランジスタ２４のベース電流及び自己放電を利用
するため放電時定数を大きくすることができ、コ
ンデンサ２９の容量を特に大きくする必要はな
い。またトランジスタ４０，２４の４１，２５の
差動アンプを設けたことにより、感度が高くな
り、発振感度のヒステリシスもなくなると同時に
スイツチングのトランジスタも極めて早くなる。
また発振振幅の影響もなくなり温度特性に優れて
いる。
ランジスタ２４のベース電流及び自己放電を利用
するため放電時定数を大きくすることができ、コ
ンデンサ２９の容量を特に大きくする必要はな
い。またトランジスタ４０，２４の４１，２５の
差動アンプを設けたことにより、感度が高くな
り、発振感度のヒステリシスもなくなると同時に
スイツチングのトランジスタも極めて早くなる。
また発振振幅の影響もなくなり温度特性に優れて
いる。
上述の如くこの実施例によれば、検出用コイル
からスイツチング回路を含む検波部までを同一基
板上に装架できる一体化がなされ、共振回路４と
コンデンサ２９を除くその他の回路のIC化が可
能となるので、素子バラツキによる発振感度のバ
ラツキ及び温度によるコイル感度の変化もなくな
り、回路の信頼性を向上できる。また一体化によ
り部品点数の削減、組立て工数の削減等も達成で
き、小型で低廉価が可能となる。
からスイツチング回路を含む検波部までを同一基
板上に装架できる一体化がなされ、共振回路４と
コンデンサ２９を除くその他の回路のIC化が可
能となるので、素子バラツキによる発振感度のバ
ラツキ及び温度によるコイル感度の変化もなくな
り、回路の信頼性を向上できる。また一体化によ
り部品点数の削減、組立て工数の削減等も達成で
き、小型で低廉価が可能となる。
また、上述実施例において、検出コイル４ａに
よる２以上の移動路検出が極めて接近している場
合、第１の移動路をパチンコ玉が通過した場合に
接近している第２の移動路での検出がかかる通過
により悪影響を受け誤動作となるおそれがある。
これを防止するために隣接する検出に係る共振回
路の周波数を異ならしめ隣接する検出器の相互干
渉を起こさないようにする。例えば、第１の移動
路に係る共振回路４′の共振周波数を1MHz、第２
の移動路に係る共振回路４″の共振周波数を2MHz
とすると共振回路それぞれのインピーダンス特性
α、βが第５図に示すようにずれて、磁束の悪影
響が防止できパチンコ玉通過検出装置におけるパ
チンコ玉通過検出について移動路相互に悪影響が
なくなり、より正確なパチンコ玉通過検出を行う
ことができる利益がある。
よる２以上の移動路検出が極めて接近している場
合、第１の移動路をパチンコ玉が通過した場合に
接近している第２の移動路での検出がかかる通過
により悪影響を受け誤動作となるおそれがある。
これを防止するために隣接する検出に係る共振回
路の周波数を異ならしめ隣接する検出器の相互干
渉を起こさないようにする。例えば、第１の移動
路に係る共振回路４′の共振周波数を1MHz、第２
の移動路に係る共振回路４″の共振周波数を2MHz
とすると共振回路それぞれのインピーダンス特性
α、βが第５図に示すようにずれて、磁束の悪影
響が防止できパチンコ玉通過検出装置におけるパ
チンコ玉通過検出について移動路相互に悪影響が
なくなり、より正確なパチンコ玉通過検出を行う
ことができる利益がある。
また、本発明はパチンコ玉の通過検出に限らず
金属物体例えば螺子の通過検出にも同様にして適
用できる。
金属物体例えば螺子の通過検出にも同様にして適
用できる。
なお、本発明は上述実施例に限らず本発明の要
旨を逸脱することなくその他種々の構成が取り得
ることは勿論である。
旨を逸脱することなくその他種々の構成が取り得
ることは勿論である。
発明の効果
本発明金属物体通過検出装置によれば、発振回
路の出力により金属物体の通過検出を行うように
したので、部品点数が大幅に削減できIC化に適
し、小型化省電力化できると共に電気的に非接触
に通過検出でき金属物体の通過検出感度の向上及
び安定化が図れ、信頼性の高い金属物体通過検出
装置を安価に得ることができる利益がある。
路の出力により金属物体の通過検出を行うように
したので、部品点数が大幅に削減できIC化に適
し、小型化省電力化できると共に電気的に非接触
に通過検出でき金属物体の通過検出感度の向上及
び安定化が図れ、信頼性の高い金属物体通過検出
装置を安価に得ることができる利益がある。
第１図は本発明金属物体検出装置の一実施例を
示す構成図、第２図は第１図に示す例の要部の例
を示す線図、第３図は第１図に示す例の説明に供
する線図、第４図は本発明の他の実施例を示す構
成図、第５図は本発明の説明に供する線図であ
る。 １，２，１４，１５，１６，２４，２５，３
６，３８，４０及び４１はトランジスタ、４は発
振回路、４ａはパチンコ玉通過検出用コイル、４
ｂ及び４ｃはコンデンサ、４ｄは移動路、４ｅは
パチンコ玉、１３は帰還抵抗器、２９はコンデン
サである。
示す構成図、第２図は第１図に示す例の要部の例
を示す線図、第３図は第１図に示す例の説明に供
する線図、第４図は本発明の他の実施例を示す構
成図、第５図は本発明の説明に供する線図であ
る。 １，２，１４，１５，１６，２４，２５，３
６，３８，４０及び４１はトランジスタ、４は発
振回路、４ａはパチンコ玉通過検出用コイル、４
ｂ及び４ｃはコンデンサ、４ｄは移動路、４ｅは
パチンコ玉、１３は帰還抵抗器、２９はコンデン
サである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 正帰還路に金属物体通過検出コイルを含む共
振回路を有する発振回路と、該発振回路に所定の
バイアス電圧を与えるバイアス回路と、差動接続
構成とされた一対のトランジスタ及び該トランジ
スタの共通エミツタ側に配されたコンデンサを有
し、上記発振回路の出力を検波する検波手段と、
該検波手段の出力によりオン・オフ制御されるス
イツチング回路とを備え、上記金属物体通過検出
コイル内を金属物体が通過したとき上記発振回路
の発振を停止させて上記金属物体の通過検出を行
うようにしたことを特徴とする金属物体通過検出
装置。 ２ 正帰還路に金属物体通過検出用コイルを含む
共振回路を有する発振回路と、該発振回路に所定
のバイアス電圧を与えるバイアス回路と、複数の
トランジスタの対より差動接続構成されると共に
上記複数のトランジスタの接続点に接続されたコ
ンデンサを有し、上記発振回路の出力を検波する
検波手段と、該検波手段の出力によりオン・オフ
制御されるスイツチング回路とを備え、上記金属
物体通過検出コイルを金属物体が通過したとき上
記発振回路の発振を停止させて、上記金属物体の
通過検出を行うようにしたことを特徴とする金属
物体通過検出装置。 ３ 正帰還路に金属物体通過検出コイルを含む共
振回路を有する発振回路と、該発振回路に所定の
バイアス電圧を与えるバイアス回路と差動接続構
成とされた一対のトランジスタ及び該トランジス
タの共通エミツタ側に配されたコンデンサを有
し、上記発振回路の出力を検波する検波手段と、
該検波手段の出力によりオン・オフ制御されるス
イツチング回路とを備え、上記金属物体通過検出
コイル内を金属物体が通過したとき上記発振回路
の発振を停止させて上記金属物体の通過検出を行
うようにした金属物体通過検出装置において、近
接配置された２以上の金属物体通過検出コイルに
ついての発振回路それぞれの発振周波数を異なら
しめるようにしたことを特徴とする金属物体通過
検出装置。 ４ 正帰還路に金属物体通過検出コイルを含む共
振回路を有する発振回路と、該発振回路に所定の
バイアス電圧を与えるバイアス回路と、複数のト
ランジスタの対より差動接続構成されると共に上
記複数のトランジスタの接続点に接続されたコン
デンサを有し、上記発振回路の出力を検波する検
波手段と、該検波手段の出力によりオン・オフ制
御されるスイツチング回路とを備え、上記金属物
体通過検出コイルを金属物体が通過したとき上記
発振回路の発振を停止させて、上記金属物体の通
過検出を行う金属物体通過検出装置において、近
接配置された２以上の金属物体通過検出コイルに
ついての発振回路それぞれの発振周波数を異なら
しめるようにしたことを特徴とする金属物体通過
検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59103076A JPS60247182A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 金属物体通過検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59103076A JPS60247182A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 金属物体通過検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60247182A JPS60247182A (ja) | 1985-12-06 |
| JPH0519666B2 true JPH0519666B2 (ja) | 1993-03-17 |
Family
ID=14344549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59103076A Granted JPS60247182A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 金属物体通過検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60247182A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105607132A (zh) * | 2015-12-17 | 2016-05-25 | 无锡信大气象传感网科技有限公司 | 一种基于振荡检测的金属探测器 |
-
1984
- 1984-05-22 JP JP59103076A patent/JPS60247182A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60247182A (ja) | 1985-12-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0510847B2 (ja) | ||
| EP0296668B1 (en) | Relaxation oscillator | |
| US20040008058A1 (en) | Impedance comparison integrator circuit | |
| JPH0519666B2 (ja) | ||
| JPH0320792Y2 (ja) | ||
| JPH0551211B2 (ja) | ||
| JPH0345463B2 (ja) | ||
| JPH0511444B2 (ja) | ||
| JP3384058B2 (ja) | 近接スイッチ | |
| JP3380163B2 (ja) | 高周波発振形近接センサ | |
| JPH0548646B2 (ja) | ||
| JP3418886B2 (ja) | 近接スイッチ | |
| JPH039650B2 (ja) | ||
| JPH0462484B2 (ja) | ||
| JP3391010B2 (ja) | 近接スイッチ | |
| JP2782748B2 (ja) | 発振回路 | |
| JP3353361B2 (ja) | 近接スイッチ | |
| JP3990158B2 (ja) | 高周波電圧制御発振器 | |
| JPS5842925B2 (ja) | 近接スイッチ | |
| JP2558878B2 (ja) | 容量結合回路 | |
| SU1001143A1 (ru) | Устройство дл передачи сигналов | |
| JPH0992106A (ja) | 近接センサ | |
| JPH0888546A (ja) | コンパレータ及び近接センサ | |
| JPH04101509A (ja) | 近接スイッチ | |
| JPS6328125A (ja) | 信号切換装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |