JPH05257564A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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Publication number
JPH05257564A
JPH05257564A JP4051162A JP5116292A JPH05257564A JP H05257564 A JPH05257564 A JP H05257564A JP 4051162 A JP4051162 A JP 4051162A JP 5116292 A JP5116292 A JP 5116292A JP H05257564 A JPH05257564 A JP H05257564A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
phase comparison
output
circuit
input
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4051162A
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English (en)
Inventor
Seiji Arai
誠司 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 PLL回路を含むクロックドライバにおける
出力遅延時間を短縮するとともに、入力設定時間の操作
性を改善する。 【構成】 クロック端子51を介して外部より供給され
るクロック101がPLL回路1に入力される。クロッ
クドライバ2より出力されるクロック104は、遅延時
間がそれぞれ異なる四つの遅延素子7、8、9および1
0に入力され、それぞれの遅延素子より出力されるクロ
ックは、制御レジスタ11より出力される制御信号10
6を介して、マルチプレクサ3、4、5および6におい
て選択され、クロック103として出力されることであ
る。これにより、制御レジスタ11による時間制御作用
を介して、クロックドライバ2より出力されるクロック
105の位相は適宜に制御される。しかも、この制御レ
ジスタ11に設定されているデータは、外部より容易に
書込み修正することができるために、遅延素子自体の選
択も外部より容易に行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に関し、
特にPLL(位相同期)回路を含むクロックドライバと
して形成される半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体集積回路においては、チッ
プサイズの増大、動作周波数の高速化によりクロックド
ライバの負荷が重くなりつつある。また、動作周波数の
高速化に伴ないバスサイクル時間が短縮され、クロック
ドライバの出力端子における遅延時間の改善が強く求め
られている。しかしながら、外部からクロックが供給さ
れる場合には、前述の半導体集積回路におけるチップサ
イズの増大ならびに動作周波数の高速化により、クロッ
クドライバの負荷が増大しているために、内部クロック
ドライバおける時間遅延は無視することができない程に
大きい値となっている。この改善策としては、最近、内
部のクロックドライバにPLL回路を付加して、外部よ
り供給されるクロックと、内部クロックドライバとのク
ロックの位相差を無くするようにする対応策がとられて
いる。
【0003】図3に示されるのは、この従来のPLL回
路を含むクロックドライバとして形成される半導体集積
回路のブロック図である。図3において、クロック端子
55を介して外部からのクロック111がPLL回路2
8に入力される。PLL回路28においては、クロック
ドライバ29より出力される位相比較用のクロック11
3との位相比較を介して同期がとられ、出力クロックと
してクロック112がクロックドライバ29に入力され
る。このクロック112は、PLL回路28による位相
同期作用により位相比較用のクロック113と位相同期
している。クロックドライバ29においては、このクロ
ック112の入力に対応して、クロック114と、この
クロック114の反転クロックとして、前述の位相比較
用のクロック113とを生成して出力する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のクロッ
クドライバを形成する半導体集積回路においては、当該
クロックドライバより出力されるクロックと、外部より
供給されるクロックとの位相差を排除して、本来、半導
体集積回路の高速化により要請される三つの改善要素、
即ち、入力設定時間、入力保持時間および出力設定時間
の内、出力設定時間および入力保持時間については改善
されるものの、より要求度が厳しくなる傾向にある入力
設定時間については依然として改善することができない
という欠点がある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体集積回路
は、PLL回路を含むクロックドライバを形成する半導
体集積回路において、前記クロックドライバより位相比
較用として出力されるクロックを入力し、それぞれ位相
の異なる複数の位相比較用クロックを生成するととも
に、所定の制御信号を介して、前記複数の位相比較用ク
ロックの内より、一つの位相比較用クロックを選択して
PLL回路に出力する位相比較クロック生成回路と、前
記PLL回路に対する位相比較用クロックを選択するた
めに、前記制御信号を生成して、前記位相比較クロック
生成回路に出力する位相比較クロック選択制御回路と、
を備えて構成される。
【0006】なお、前記位相比較クロック生成回路は、
前記クロックドライバより位相比較用として出力される
クロックを入力し、それぞれ位相の異なる複数の位相比
較用クロックを生成する複数の遅延素子と、これらの複
数の遅延素子より出力される位相比較用クロックを受け
て、前記制御信号を介して、その内の一つのクロックを
選択して出力する複数のマルチプレクサと、を備えて構
成してもよい。
【0007】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0008】図1は本発明の第1の実施例を示すブロッ
ク図である。図1に示されるように、本実施例は、クロ
ック端子51に対応して、PLL回路1と、クロックド
ライバ2と、マルチプレクサ3〜6と、遅延素子7〜1
0と、制御レジスタ11とを備えて構成される。
【0009】図1において、クロック端子51を介して
外部より供給されるクロック101がPLL回路1に入
力される。他方PLL回路1に対しては位相比較用のク
ロック103も入力されており、両クロックの位相比較
作用を介して同期がとられ、出力クロックとして、クロ
ック102が出力されてクロックドライバ2に入力され
る。クロックドライバ2においては、クロック102の
入力に対応して、クロック105と、このクロック10
5の反転クロックとして、前述の位相比較用のクロック
104とを生成して出力する。この一連の動作について
は前述の従来例の場合と同様である。
【0010】本発明の従来例と異なる点は、クロック1
04より位相比較用のクロック103を生成する方法に
ある。即ち、クロックドライバ2より出力されるクロッ
ク104は、遅延時間がそれぞれ異なる四つの遅延素子
7、8、9および10に入力され、それぞれの遅延素子
より出力されるクロックは、制御レジスタ11より出力
される制御信号106を介して、マルチプレクサ3、
4、5および6において選択され、クロック103とし
て出力されることである。これにより、制御レジスタ1
1による時間制御作用を介して、クロックドライバ2よ
り出力されるクロック105の位相は適宜に制御され
る。しかも、この制御レジスタ11に設定されているデ
ータは、外部より容易に書込み修正することができるた
めに、遅延素子自体の選択も外部より容易に行うことが
できる。
【0011】次に、本発明の第2の実施例について説明
する。図2は本発明の第2の実施例を示すブロック図で
ある。図2に示されるように、本実施例は、クロック端
子52、制御入力端子53および54に対応して、PL
L回路12と、クロックドライバ13と、マルチプレク
サ14〜17と、遅延素子18〜21と、AND回路2
2〜25と、インバータ26および27とを備えて構成
される。
【0012】図2において、クロック端子52を介して
外部より供給されるクロック106はPLL回路12に
入力される。他方PLL回路12に対しては位相比較用
のクロック108も入力されており、両クロックの位相
比較作用を介して同期がとられ、出力クロックとして、
クロック107が出力されてクロックドライバ13に入
力される。クロックドライバ13においては、クロック
107の入力に対応して、クロック110と、このクロ
ック110の反転クロックとして、前述の位相比較用と
して用いられるクロック109とを生成して出力する。
この一連の動作については前述の第1の実施例の場合と
同様である。
【0013】本実施例の前述の第1の実施例と異なる点
は、クロック109より位相比較用のクロック108を
生成する過程において、マルチプレクサ14、15、1
6および17に入力される制御信号202の生成方法の
差異にある。即ち、制御入力端子53および54より入
力される制御信号は、それぞれインバータ26および2
7を介してAND回路22、23、24および25に入
力される。従って、制御入力端子53および54に入力
される制御信号の入力レベルに応じて、ぞれぞれAND
回路22、23、24および25より出力される制御信
号202のレベレが適宜に設定されて、マルチプレクサ
14、15、16および17のオン・オフが制御され、
クロックドライバ13より出力されるクロック110の
位相が制御される。即ち、本実施例においては、外部よ
り入力される制御信号を介して、直接的に遅延素子が選
択される。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、PLL
回路を含むクロックドライバを形成する半導体集積回路
に適用されて、当該PLL回路に入力される比較用クロ
ックの位相を適宜に選択することにより、内部回路に適
合する内部クロックを選択することが可能となり、出力
遅延時間に加えて、入力設定時間をも容易に操作するこ
とができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示すブロック図であ
る。
【図2】本発明の第2の実施例を示すブロック図であ
る。
【図3】従来例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1、12、28 PLL回路 2、13、29 クロックドライバ 3〜6、14〜17 マルチプレクサ 7〜10、18〜21 遅延素子 11 制御レジスタ 22〜25 AND回路 26、27 インバータ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 PLL回路を含むクロックドライバを形
    成する半導体集積回路において、 前記クロックドライバより位相比較用として出力される
    クロックを入力し、それぞれ位相の異なる複数の位相比
    較用クロックを生成するとともに、所定の制御信号を介
    して、前記複数の位相比較用クロックの内より、一つの
    位相比較用クロックを選択してPLL回路に出力する位
    相比較クロック生成回路と、 前記PLL回路に対する位相比較用クロックを選択する
    ために、前記制御信号を生成して、前記位相比較クロッ
    ク生成回路に出力する位相比較クロック選択制御回路
    と、 を備えることを特徴とする半導体集積回路。
  2. 【請求項2】 前記位相比較クロック生成回路が、前記
    クロックドライバより位相比較用として出力されるクロ
    ックを入力し、それぞれ位相の異なる複数の位相比較用
    クロックを生成する複数の遅延素子と、 これらの複数の遅延素子より出力される位相比較用クロ
    ックを受けて、前記制御信号を介して、その内の一つの
    クロックを選択して出力する複数のマルチプレクサと、 を備えて構成される請求項1記載の半導体集積回路。
JP4051162A 1992-03-10 1992-03-10 半導体集積回路 Withdrawn JPH05257564A (ja)

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JP4051162A JPH05257564A (ja) 1992-03-10 1992-03-10 半導体集積回路

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JP4051162A JPH05257564A (ja) 1992-03-10 1992-03-10 半導体集積回路

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JPH05257564A true JPH05257564A (ja) 1993-10-08

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JP4051162A Withdrawn JPH05257564A (ja) 1992-03-10 1992-03-10 半導体集積回路

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Effective date: 19990518