JPH05318930A - Cdまたはcd−rom対応の追記型光ディスク - Google Patents
Cdまたはcd−rom対応の追記型光ディスクInfo
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- JPH05318930A JPH05318930A JP4151184A JP15118492A JPH05318930A JP H05318930 A JPH05318930 A JP H05318930A JP 4151184 A JP4151184 A JP 4151184A JP 15118492 A JP15118492 A JP 15118492A JP H05318930 A JPH05318930 A JP H05318930A
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- film
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Abstract
(57)【要約】
【目的】高密度記録が可能で、高い信頼性を有するCD
あるいはCD−ROM対応の追記型光ディスクや、LD
対応、フォトCD対応の追記型光ディスクにおいて、良
好な記録特性を有しながら、さらに極めて高い安定性も
併せ持つ記録材料を提供すること。 【構成】透明基板/記録膜/反射膜/保護膜からなり、
CD−フォ−マット信号の記録を行う追記型光ディスク
において、その記録膜が特定の構造を有する少なくとも
1種以上のフタロシアニン化合物と、紫外線吸収剤およ
び/または紫外線安定剤を少なくとも1種以上含有する
ことを特徴とするCDまたはCD−ROM対応の追記型
光ディスク。
あるいはCD−ROM対応の追記型光ディスクや、LD
対応、フォトCD対応の追記型光ディスクにおいて、良
好な記録特性を有しながら、さらに極めて高い安定性も
併せ持つ記録材料を提供すること。 【構成】透明基板/記録膜/反射膜/保護膜からなり、
CD−フォ−マット信号の記録を行う追記型光ディスク
において、その記録膜が特定の構造を有する少なくとも
1種以上のフタロシアニン化合物と、紫外線吸収剤およ
び/または紫外線安定剤を少なくとも1種以上含有する
ことを特徴とするCDまたはCD−ROM対応の追記型
光ディスク。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レ−ザ−光による情報
の記録、再生を行う光ディスクに関する。さらに詳しく
はコンパクトディスク(CD)あるいはコンパクトディ
スク−ROM(CD−ROM)対応の追記型光ディスク
に関する。
の記録、再生を行う光ディスクに関する。さらに詳しく
はコンパクトディスク(CD)あるいはコンパクトディ
スク−ROM(CD−ROM)対応の追記型光ディスク
に関する。
【0002】
【従来の技術】集光レ−ザ−光による情報記録媒体の中
で、オ−ディオ等の音楽再生用としてCDおよびコンピ
ュ−タ−ROMとしてCD−ROMが広く普及してい
る。このようなCDまたはCD−ROMは、通常ポリカ
−ボネ−ト等の透明基板表面にCDまたはCD−ROM
フォ−マット信号を有するピット列を射出成形時に形成
し、その上からアルミニウムまたは金等を蒸着あるいは
スパッタリングにより反射膜として設け、さらに保護コ
−トして作成する。このようにして作成した光ディスク
の基板の裏面から再生レ−ザ−光(780nm半導体レ
−ザ−光)を照射して、ピットの凹凸による反射率の変
化から各信号を読み取り、情報を提供するものである。
しかし、このようなCDまたはCD−ROMは再生専用
であり記録ができないため、追記型光ディスクあるいは
書換え可能な光磁気ディスクのような編集機能がないと
いう不都合さがあった。一方、編集機能を有する追記型
光ディスクあるいは光磁気ディスクとしては、Te等カ
ルコゲナイト化合物、希土類金属化合物もしくはシアニ
ン等の有機化合物を記録膜としたものが実用化されてい
る。しかしながら、これらの光ディスクは、基板面から
の反射率が30〜40%であり、現在のCDの国際規格
であるレッドブックに記載されている基板面からの反射
率70%以上には到達しておらず、現状のままCDある
いはCD−ROMの再生装置により信号の再生を行うこ
とはできないという問題点がある。このような問題点を
解決するために、シアニン化合物等の記録膜の上に金等
の反射膜を設けて、基板面反射率で70%以上を確保し
て780nmでCDフォ−マットあるいはCD−ROM
フォ−マット信号を記録し、CDまたはCD−ROMの
再生装置で情報を読み出す光ディスクおよび方法が提案
されている。
で、オ−ディオ等の音楽再生用としてCDおよびコンピ
ュ−タ−ROMとしてCD−ROMが広く普及してい
る。このようなCDまたはCD−ROMは、通常ポリカ
−ボネ−ト等の透明基板表面にCDまたはCD−ROM
フォ−マット信号を有するピット列を射出成形時に形成
し、その上からアルミニウムまたは金等を蒸着あるいは
スパッタリングにより反射膜として設け、さらに保護コ
−トして作成する。このようにして作成した光ディスク
の基板の裏面から再生レ−ザ−光(780nm半導体レ
−ザ−光)を照射して、ピットの凹凸による反射率の変
化から各信号を読み取り、情報を提供するものである。
しかし、このようなCDまたはCD−ROMは再生専用
であり記録ができないため、追記型光ディスクあるいは
書換え可能な光磁気ディスクのような編集機能がないと
いう不都合さがあった。一方、編集機能を有する追記型
光ディスクあるいは光磁気ディスクとしては、Te等カ
ルコゲナイト化合物、希土類金属化合物もしくはシアニ
ン等の有機化合物を記録膜としたものが実用化されてい
る。しかしながら、これらの光ディスクは、基板面から
の反射率が30〜40%であり、現在のCDの国際規格
であるレッドブックに記載されている基板面からの反射
率70%以上には到達しておらず、現状のままCDある
いはCD−ROMの再生装置により信号の再生を行うこ
とはできないという問題点がある。このような問題点を
解決するために、シアニン化合物等の記録膜の上に金等
の反射膜を設けて、基板面反射率で70%以上を確保し
て780nmでCDフォ−マットあるいはCD−ROM
フォ−マット信号を記録し、CDまたはCD−ROMの
再生装置で情報を読み出す光ディスクおよび方法が提案
されている。
【0003】しかしながら、一般にシアニン化合物は光
安定性が悪いため、CDまたはCD−ROMのような単
板構成で直接太陽光にさらされるような使用条件下で
は、記録の信頼性に問題を生ずる可能性がある。そのた
め、シアニン化合物に代えて、化学的、物理的安定性の
優れたフタロシアニン化合物を記録膜材料に使用する試
みが検討されている。
安定性が悪いため、CDまたはCD−ROMのような単
板構成で直接太陽光にさらされるような使用条件下で
は、記録の信頼性に問題を生ずる可能性がある。そのた
め、シアニン化合物に代えて、化学的、物理的安定性の
優れたフタロシアニン化合物を記録膜材料に使用する試
みが検討されている。
【0004】このフタロシアニン化合物の場合には、熱
的にも安定なため記録感度が低く、さらに吸収バンドが
非常にシャ−プであるため、CDドライブのピックアッ
プに搭載される半導体レ−ザ−の発振波長の許容範囲
(780〜800nm程度)で安定した光学特性(反射
率および吸収)を得ることが困難であり、記録感度の波
長依存性が大きく、汎用性のある追記型光ディスクに成
りにくいという問題点がある。
的にも安定なため記録感度が低く、さらに吸収バンドが
非常にシャ−プであるため、CDドライブのピックアッ
プに搭載される半導体レ−ザ−の発振波長の許容範囲
(780〜800nm程度)で安定した光学特性(反射
率および吸収)を得ることが困難であり、記録感度の波
長依存性が大きく、汎用性のある追記型光ディスクに成
りにくいという問題点がある。
【0005】そこでフタロシアニン化合物を記録膜材料
として用いる場合に生ずる低記録感度および記録感度の
波長依存性を防ぎ、良好な再生信号が得られる記録材料
について検討を行った結果、一般式[1]で示される化
合物を得るに至った。一般式[1]で示されるフタロシ
アニン化合物の特徴は、まず第一に中心金属からフタロ
シアニン環の分子平面に垂直な方向に導入された置換基
(一般式[1]中の置換基Z)の効果により媒体の反射
レベルが高くなること、良好な記録ピットを形成するた
め、再生信号のコントラストが良く、きれいな再生波形
がえられること、加えて、溶解性が飛躍的に向上し、汎
用の有機溶媒(例えばメタノ−ルやエタノ−ル)に高い
溶解性を持つようになり、スピンコ−ト法による記録膜
の作成が容易になることである。第二にフタロシアニン
環に導入された置換基(一般式[1]中の置換基X、
Y)の効果によりフタロシアニン化合物の分解温度が低
温側に大きくシフトするため、これらのフタロシアニン
化合物を記録膜に用いた場合、記録感度が大幅に向上す
る。またフタロシアニン環に導入された置換基によって
も溶解性が向上する。
として用いる場合に生ずる低記録感度および記録感度の
波長依存性を防ぎ、良好な再生信号が得られる記録材料
について検討を行った結果、一般式[1]で示される化
合物を得るに至った。一般式[1]で示されるフタロシ
アニン化合物の特徴は、まず第一に中心金属からフタロ
シアニン環の分子平面に垂直な方向に導入された置換基
(一般式[1]中の置換基Z)の効果により媒体の反射
レベルが高くなること、良好な記録ピットを形成するた
め、再生信号のコントラストが良く、きれいな再生波形
がえられること、加えて、溶解性が飛躍的に向上し、汎
用の有機溶媒(例えばメタノ−ルやエタノ−ル)に高い
溶解性を持つようになり、スピンコ−ト法による記録膜
の作成が容易になることである。第二にフタロシアニン
環に導入された置換基(一般式[1]中の置換基X、
Y)の効果によりフタロシアニン化合物の分解温度が低
温側に大きくシフトするため、これらのフタロシアニン
化合物を記録膜に用いた場合、記録感度が大幅に向上す
る。またフタロシアニン環に導入された置換基によって
も溶解性が向上する。
【0006】このように一般式[1]で示されるフタロ
シアニン化合物を記録膜材料としてとして用いることに
より従来の追記機能、編集機能を有するCDあるいはC
D−ROMの持つ欠点を解決し、安定性に優れ、さらに
記録特性も良好なCDまたはCD−ROM対応の追記型
光ディスクを提供することができる。
シアニン化合物を記録膜材料としてとして用いることに
より従来の追記機能、編集機能を有するCDあるいはC
D−ROMの持つ欠点を解決し、安定性に優れ、さらに
記録特性も良好なCDまたはCD−ROM対応の追記型
光ディスクを提供することができる。
【0007】一般式[1]で示されるフタロシアニン化
合物を記録膜材料としてとして用いたCDあるいはCD
−ROM対応の追記型光ディスクは優れた安定性、記録
特性を有しているが、今後、さらに高密度な記録が可能
で、高い信頼性を有するCDあるいはCD−ROM対応
の追記型光ディスクや、LD対応の追記型光ディスク、
フォトCD対応の追記型光ディスク等次世代の追記型光
ディスクを開発していくためには、より優れた安定性が
要求される。現状ではこれらの用途に対応し得るような
優れた安定性を有する追記型光ディスクは提供されてい
ない。
合物を記録膜材料としてとして用いたCDあるいはCD
−ROM対応の追記型光ディスクは優れた安定性、記録
特性を有しているが、今後、さらに高密度な記録が可能
で、高い信頼性を有するCDあるいはCD−ROM対応
の追記型光ディスクや、LD対応の追記型光ディスク、
フォトCD対応の追記型光ディスク等次世代の追記型光
ディスクを開発していくためには、より優れた安定性が
要求される。現状ではこれらの用途に対応し得るような
優れた安定性を有する追記型光ディスクは提供されてい
ない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】 本発明者らは、高密
度記録が可能で、高い信頼性を有するCDあるいはCD
−ROM対応の追記型光ディスクや、LD対応、フォト
CD対応の追記型光ディスクを提供するために、良好な
記録特性を有しながら、さらに極めて高い安定性も併せ
持つ記録材料について鋭意検討を行った結果、本発明を
得るに至った。
度記録が可能で、高い信頼性を有するCDあるいはCD
−ROM対応の追記型光ディスクや、LD対応、フォト
CD対応の追記型光ディスクを提供するために、良好な
記録特性を有しながら、さらに極めて高い安定性も併せ
持つ記録材料について鋭意検討を行った結果、本発明を
得るに至った。
【0009】
【課題を解決する手段】上記のような良好な記録特性と
極めて高い安定性を有するCDまたはCD−ROM対応
の追記型光ディスクは以下のように実現される。透明基
板/記録膜/反射膜/保護膜からなり、CD−フォ−マ
ット信号の記録を行う追記型光ディスクにおいて、その
記録膜が下記一般式[1]で示される化合物から選ばれ
る少なくとも1種以上のフタロシアニン化合物と、紫外
線吸収剤および/または紫外線安定剤を少なくとも1種
以上含有することを特徴とするCDまたはCD−ROM
対応の追記型光ディスク。である。一般式[1]
極めて高い安定性を有するCDまたはCD−ROM対応
の追記型光ディスクは以下のように実現される。透明基
板/記録膜/反射膜/保護膜からなり、CD−フォ−マ
ット信号の記録を行う追記型光ディスクにおいて、その
記録膜が下記一般式[1]で示される化合物から選ばれ
る少なくとも1種以上のフタロシアニン化合物と、紫外
線吸収剤および/または紫外線安定剤を少なくとも1種
以上含有することを特徴とするCDまたはCD−ROM
対応の追記型光ディスク。である。一般式[1]
【化2】 [式中、置換基X1 〜X4 は、それぞれ独立に置換基を
有してもよいアルキル基、置換基を有してもよいアルコ
キシ基を表す。k1 〜k4 は置換基X1 〜X4 の置換数
で1〜4の整数を表す。置換基Y1 〜Y4 は、それぞれ
独立にニトロ基、ハロゲン原子を表す。m1 〜m4 は置
換基Y1 〜Y4 の置換数で0〜4の整数を表す。中心金
属Mは、Si、Alを表す。置換基Zは、 を表す。ここでR1 、R2 は置換基を有してもよいアル
キル基、置換基を有してもよいアリ−ル基、置換基を有
してもよいアルコキシ基を表す。nは置換基Zの置換数
で1〜2の整数を表す。]
有してもよいアルキル基、置換基を有してもよいアルコ
キシ基を表す。k1 〜k4 は置換基X1 〜X4 の置換数
で1〜4の整数を表す。置換基Y1 〜Y4 は、それぞれ
独立にニトロ基、ハロゲン原子を表す。m1 〜m4 は置
換基Y1 〜Y4 の置換数で0〜4の整数を表す。中心金
属Mは、Si、Alを表す。置換基Zは、 を表す。ここでR1 、R2 は置換基を有してもよいアル
キル基、置換基を有してもよいアリ−ル基、置換基を有
してもよいアルコキシ基を表す。nは置換基Zの置換数
で1〜2の整数を表す。]
【0010】本発明においてフタロシアニン化合物と共
に記録膜材料に用いた紫外線吸収剤は、多くの有機化合
物を劣化、変質させる有害な紫外線を吸収し、そのエネ
ルギ−を主として無害な熱エネルギ−として再輻射し、
また紫外線吸収剤自身はなんら変質しないことにより、
フタロシアニン化合物の光劣化を防止し、記録膜に極め
て高い安定性をもたらす。また紫外線安定剤は、それ自
体は紫外線を吸収する能力を有さないが、クエンチャ−
として光エネルギ−変換剤的な作用をすることにより、
フタロシアニン化合物の光劣化を防止し、記録膜に極め
て高い安定性をもたらす。
に記録膜材料に用いた紫外線吸収剤は、多くの有機化合
物を劣化、変質させる有害な紫外線を吸収し、そのエネ
ルギ−を主として無害な熱エネルギ−として再輻射し、
また紫外線吸収剤自身はなんら変質しないことにより、
フタロシアニン化合物の光劣化を防止し、記録膜に極め
て高い安定性をもたらす。また紫外線安定剤は、それ自
体は紫外線を吸収する能力を有さないが、クエンチャ−
として光エネルギ−変換剤的な作用をすることにより、
フタロシアニン化合物の光劣化を防止し、記録膜に極め
て高い安定性をもたらす。
【0011】紫外線吸収剤および紫外線安定剤の混合比
としては特に制限はないが、フタロシアニン化合物に対
して10重量%以上50重量%以下が好ましい。
としては特に制限はないが、フタロシアニン化合物に対
して10重量%以上50重量%以下が好ましい。
【0012】本発明において記録膜材料として用いられ
る紫外線吸収剤の代表例としては、サリチル酸系紫外線
吸収剤としては、フェニルサリシレ−ト、p−tert
−ブチルフェニルサリシレ−ト、p−オクチルフェニル
サリシレ−ト等が、ベンゾフェノン系紫外線吸収剤とし
ては、2,4−ジヒドロキシベンゾフェノン、2−ヒド
ロキシ−4−メトキシベンゾフェノン、2−ヒドロキシ
−4−オクチルオキシベンゾフェノン、2−ヒドロキシ
−4−ドデシルオキシベンゾフェノン、2,2’−ジヒ
ドロキシ−4−メトキシベンゾフェノン、2,2’−ジ
ヒドロキシ−4,4’−ジメトキシベンゾフェノン、2
−ヒドロキシ−4−メトキシベンゾフェノン−5−スル
ホン酸等があり、ベンゾトリアゾ−ル系紫外線吸収剤と
しては、2−(2’−ヒドロキシ−5’−メチルフェニ
ル)ベンゾトリアゾ−ル、2−(2’−ヒドロキシ−
5’−tert−ブチルフェニル)ベンゾトリアゾ−
ル、2−(2’−ヒドロキシ−3’,5’−ジ−ter
t−ブチルフェニル)−5−クロロベンゾトリアゾ−ル
等が、シアノアクリレ−ト系紫外線吸収剤としては、2
−エチルヘキシル−2−シアノ−3,3’−ジフェニル
アクリレ−ト、エチル−2−シアノ−3,3’−ジフェ
ニルアクリレ−ト等がそれぞれ挙げられるが、これらに
限定されるものではない。
る紫外線吸収剤の代表例としては、サリチル酸系紫外線
吸収剤としては、フェニルサリシレ−ト、p−tert
−ブチルフェニルサリシレ−ト、p−オクチルフェニル
サリシレ−ト等が、ベンゾフェノン系紫外線吸収剤とし
ては、2,4−ジヒドロキシベンゾフェノン、2−ヒド
ロキシ−4−メトキシベンゾフェノン、2−ヒドロキシ
−4−オクチルオキシベンゾフェノン、2−ヒドロキシ
−4−ドデシルオキシベンゾフェノン、2,2’−ジヒ
ドロキシ−4−メトキシベンゾフェノン、2,2’−ジ
ヒドロキシ−4,4’−ジメトキシベンゾフェノン、2
−ヒドロキシ−4−メトキシベンゾフェノン−5−スル
ホン酸等があり、ベンゾトリアゾ−ル系紫外線吸収剤と
しては、2−(2’−ヒドロキシ−5’−メチルフェニ
ル)ベンゾトリアゾ−ル、2−(2’−ヒドロキシ−
5’−tert−ブチルフェニル)ベンゾトリアゾ−
ル、2−(2’−ヒドロキシ−3’,5’−ジ−ter
t−ブチルフェニル)−5−クロロベンゾトリアゾ−ル
等が、シアノアクリレ−ト系紫外線吸収剤としては、2
−エチルヘキシル−2−シアノ−3,3’−ジフェニル
アクリレ−ト、エチル−2−シアノ−3,3’−ジフェ
ニルアクリレ−ト等がそれぞれ挙げられるが、これらに
限定されるものではない。
【0013】本発明において記録膜材料として用いられ
る紫外線安定剤の代表例としては、ニッケルビス(オク
チルフェニル)サルファイド、〔2,2’−チオビス
(4−tert−オクチルフェノラ−ト)〕−n−ブチ
ルアミンニッケル、ニッケルコンプレックス−3,5−
ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシベンジル・リン
酸モノエチレ−ト、ニッケル・ジブチルジチオカルバメ
−ト、ヒンダ−ドアミン系光安定剤等が挙げられるが、
これらに限定されるものではない。
る紫外線安定剤の代表例としては、ニッケルビス(オク
チルフェニル)サルファイド、〔2,2’−チオビス
(4−tert−オクチルフェノラ−ト)〕−n−ブチ
ルアミンニッケル、ニッケルコンプレックス−3,5−
ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシベンジル・リン
酸モノエチレ−ト、ニッケル・ジブチルジチオカルバメ
−ト、ヒンダ−ドアミン系光安定剤等が挙げられるが、
これらに限定されるものではない。
【0014】本発明の一般式[1]で示されるフタロシ
アニン化合物に導入される置換基Xの代表例としては、
置換基を有してもよいアルキル基としては、メチル基、
エチル基、n−ブチル基、tert−ブチル基、ステア
リル基、ネオペンチル基、トリクロロメチル基、トリフ
ルオロメチル基、2−メトキシエチル基、フタルイミド
メチル基等が、置換基を有してもよいアルコキシ基とし
ては、メトキシ基、エトキシ基、n−ブトキシ基、te
rt−ブトキシ基、ネオペンチルオキシ基、2,2,2
−トリクロロエトキシ基、2,2,2−トリフルオロエ
トキシ基、2,2,3,3−テトラフルオロプロポキシ
基、2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロポキシ
基、2−エトキシエトキシ基等がそれぞれ挙げられるが
これらに限定されるものではない。
アニン化合物に導入される置換基Xの代表例としては、
置換基を有してもよいアルキル基としては、メチル基、
エチル基、n−ブチル基、tert−ブチル基、ステア
リル基、ネオペンチル基、トリクロロメチル基、トリフ
ルオロメチル基、2−メトキシエチル基、フタルイミド
メチル基等が、置換基を有してもよいアルコキシ基とし
ては、メトキシ基、エトキシ基、n−ブトキシ基、te
rt−ブトキシ基、ネオペンチルオキシ基、2,2,2
−トリクロロエトキシ基、2,2,2−トリフルオロエ
トキシ基、2,2,3,3−テトラフルオロプロポキシ
基、2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロポキシ
基、2−エトキシエトキシ基等がそれぞれ挙げられるが
これらに限定されるものではない。
【0015】本発明の一般式[1]で示されるフタロシ
アニン化合物に導入される置換基Yのハロゲン原子とし
ては、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素を挙げることができ
る。
アニン化合物に導入される置換基Yのハロゲン原子とし
ては、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素を挙げることができ
る。
【0016】本発明の一般式[1]で示されるフタロシ
アニン化合物に導入される置換基ZのR1 、R2 を構成
する原子および基の代表例としては、置換基を有しても
よいアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−ブ
チル基、tert−ブチル基、ステアリル基、ネオペン
チル基、トリクロロメチル基、トリフルオロメチル基、
2−メトキシエチル基等が、置換基を有してもよいアリ
−ル基としてはフェニル基、ナフチル基、p−ニトロフ
ェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、ペンタフ
ルオロフェニル基等があり、置換基を有してもよいアル
コキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、n−ブト
キシ基、tert−ブトキシ基、ネオペンチルオキシ
基、2,2,2−トリクロロエトキシ基、2,2,2−
トリフルオロエトキシ基、2,2,3,3−テトラフル
オロプロポキシ基、2,2,3,3,3−ペンタフルオ
ロプロポキシ基、2−エトキシエトキシ基等がそれぞれ
挙げられるがこれらに限定されるものではない。
アニン化合物に導入される置換基ZのR1 、R2 を構成
する原子および基の代表例としては、置換基を有しても
よいアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−ブ
チル基、tert−ブチル基、ステアリル基、ネオペン
チル基、トリクロロメチル基、トリフルオロメチル基、
2−メトキシエチル基等が、置換基を有してもよいアリ
−ル基としてはフェニル基、ナフチル基、p−ニトロフ
ェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、ペンタフ
ルオロフェニル基等があり、置換基を有してもよいアル
コキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、n−ブト
キシ基、tert−ブトキシ基、ネオペンチルオキシ
基、2,2,2−トリクロロエトキシ基、2,2,2−
トリフルオロエトキシ基、2,2,3,3−テトラフル
オロプロポキシ基、2,2,3,3,3−ペンタフルオ
ロプロポキシ基、2−エトキシエトキシ基等がそれぞれ
挙げられるがこれらに限定されるものではない。
【0017】本発明において用いられる透明基板として
は、信号の書き込みや読み出しを行なうために光の透過
率が好ましくは85%以上であり、かつ光学異方性の小
さいものが望ましい。例えば、ガラスまたはアクリル樹
脂、ポリカ−ボネ−ト樹脂、ポリエステル樹脂、ポリア
ミド樹脂、塩化ビニ系ル樹脂、ポリビニルエステル系樹
脂、ポリスチレン系樹脂、ポリオレフィン系樹脂(例え
ばポリ−4−メチルペンテン等)、ポリエ−テルスルホ
ン樹脂等の熱可塑性樹脂やエポキシ樹脂、アリル樹脂等
の熱硬化性樹脂を用いた基板が挙げられる。これらの中
で、成型のしやすさ、ATIP用のウォブル信号および
案内溝等の付与のしやすさなどから熱可塑性樹脂からな
るものが好ましく、さらに光学特性や機械特性およびコ
ストからみてアクリル樹脂やポリカ−ボネ−ト樹脂から
なるものが特に好ましい。
は、信号の書き込みや読み出しを行なうために光の透過
率が好ましくは85%以上であり、かつ光学異方性の小
さいものが望ましい。例えば、ガラスまたはアクリル樹
脂、ポリカ−ボネ−ト樹脂、ポリエステル樹脂、ポリア
ミド樹脂、塩化ビニ系ル樹脂、ポリビニルエステル系樹
脂、ポリスチレン系樹脂、ポリオレフィン系樹脂(例え
ばポリ−4−メチルペンテン等)、ポリエ−テルスルホ
ン樹脂等の熱可塑性樹脂やエポキシ樹脂、アリル樹脂等
の熱硬化性樹脂を用いた基板が挙げられる。これらの中
で、成型のしやすさ、ATIP用のウォブル信号および
案内溝等の付与のしやすさなどから熱可塑性樹脂からな
るものが好ましく、さらに光学特性や機械特性およびコ
ストからみてアクリル樹脂やポリカ−ボネ−ト樹脂から
なるものが特に好ましい。
【0018】また本発明の透明基板には、記録および読
み出しの際の位置制御のための案内溝やATIP用ウォ
ブル信号や各種マ−ク等のプレフォ−マット用の凹凸を
通常有しているが、これらの凹凸は前記したような熱可
塑性樹脂を成形(射出成形、圧縮成形)する際にスタン
パ−などを用いて付与する方法が好ましいが、フォトポ
リマ−樹脂を用いるいわゆる2P法によっても行なうこ
とができる。
み出しの際の位置制御のための案内溝やATIP用ウォ
ブル信号や各種マ−ク等のプレフォ−マット用の凹凸を
通常有しているが、これらの凹凸は前記したような熱可
塑性樹脂を成形(射出成形、圧縮成形)する際にスタン
パ−などを用いて付与する方法が好ましいが、フォトポ
リマ−樹脂を用いるいわゆる2P法によっても行なうこ
とができる。
【0019】本発明の案内溝の形状については特に制限
はなく、短形、台形、U字形であってもよい。また案内
溝の寸法については、記録膜材料の種類および組合せ等
により最適値はそれぞれ異なるが、平均溝幅(溝深さの
1/2の位置の幅)が0.3〜0.6ミクロン、また溝
深さが800〜1200オングストロ−ムの範囲が好ま
しい。
はなく、短形、台形、U字形であってもよい。また案内
溝の寸法については、記録膜材料の種類および組合せ等
により最適値はそれぞれ異なるが、平均溝幅(溝深さの
1/2の位置の幅)が0.3〜0.6ミクロン、また溝
深さが800〜1200オングストロ−ムの範囲が好ま
しい。
【0020】本発明の光学記録媒体において、フタロシ
アニン系化合物を含有する記録膜層を透明基板上に成膜
するには、ドライプロセス、例えば、真空蒸着法、スパ
ッタリング法によっても可能であるが、ウエットプロセ
ス、例えば、スピンコ−ト法、ディップ法、スプレ−
法、ロ−ルコ−ト法あるいはLB(ラングミュア−ブロ
ジェット)法によっても可能である。本発明の光学記録
媒体は、汎用の有機溶媒、例えば、アルコ−ル系、ケト
ン系、セロソルブ系、ハロゲン化炭化水素系、フロン系
溶媒等に溶解するため、生産性および記録膜の均一性か
らスピンコ−ト法により成膜する方法が好ましい。
アニン系化合物を含有する記録膜層を透明基板上に成膜
するには、ドライプロセス、例えば、真空蒸着法、スパ
ッタリング法によっても可能であるが、ウエットプロセ
ス、例えば、スピンコ−ト法、ディップ法、スプレ−
法、ロ−ルコ−ト法あるいはLB(ラングミュア−ブロ
ジェット)法によっても可能である。本発明の光学記録
媒体は、汎用の有機溶媒、例えば、アルコ−ル系、ケト
ン系、セロソルブ系、ハロゲン化炭化水素系、フロン系
溶媒等に溶解するため、生産性および記録膜の均一性か
らスピンコ−ト法により成膜する方法が好ましい。
【0021】このように、いわゆる塗布法で成膜する場
合には、必要に応じて高分子バインダ−を加えてもよ
い。高分子バインダ−としてはアクリル樹脂、ポリカ−
ボネ−ト樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩
化ビニル系樹脂、酢酸ビニル系樹脂、ニトロセルロ−
ス、フェノ−ル樹脂などが挙げられるがこれらに限られ
るものではない。高分子バインダ−の混合比としては特
に制限はないが、フタロシアニン系化合物に対して30
重量%以下が好ましい。
合には、必要に応じて高分子バインダ−を加えてもよ
い。高分子バインダ−としてはアクリル樹脂、ポリカ−
ボネ−ト樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩
化ビニル系樹脂、酢酸ビニル系樹脂、ニトロセルロ−
ス、フェノ−ル樹脂などが挙げられるがこれらに限られ
るものではない。高分子バインダ−の混合比としては特
に制限はないが、フタロシアニン系化合物に対して30
重量%以下が好ましい。
【0022】記録膜の最適膜厚は、記録材料の種類およ
び組合せにより異なるため特に制限はなく、500〜3
000オングストロ−ムが好ましく、さらに1000〜
2500オングストロ−ムが最適膜厚範囲である。
び組合せにより異なるため特に制限はなく、500〜3
000オングストロ−ムが好ましく、さらに1000〜
2500オングストロ−ムが最適膜厚範囲である。
【0023】反射膜素材としては、金、銀、銅、白金、
アルミニウム、コバルト、スズ等の金属およびこれらを
主成分とした合金、MgO、ZnO、SnO等の金属酸
化物、SiN4 、AlN、TiN等の窒化物等が挙げら
れるが、絶対反射率が高く安定性に優れている点から金
が最適である。このように、反射膜素材としては金が最
適であるが、金は高価であるため、安価な追記型光ディ
スクを得ることが困難となる問題点がある。この問題点
を解決する目的で、金の膜厚を最小限に小さくし、膜厚
不足分を他の金属、金属酸化物(例えば、アルミニウ
ム、銀、ZnO等)で補うような積層膜を反射膜に用い
ることも可能である。なお、この場合、絶対反射率を金
単独膜とほぼ同等にするためには、積層する下層(記録
膜に接する層)の金膜厚は最低200オングストロ−ム
以上必要であり、反射膜の厚みは800〜2500オン
グストロ−ムが最適である。また場合によっては有機系
の高反射膜を使用することもできる。このような反射膜
の成膜方法としては、ドライプロセス例えば真空蒸着
法、スパッタリング法が最も好ましいが、これに限られ
るものではない。反射膜の最適膜厚については、特に制
限はないが400〜1300オングストロ−ムの範囲が
好ましい。
アルミニウム、コバルト、スズ等の金属およびこれらを
主成分とした合金、MgO、ZnO、SnO等の金属酸
化物、SiN4 、AlN、TiN等の窒化物等が挙げら
れるが、絶対反射率が高く安定性に優れている点から金
が最適である。このように、反射膜素材としては金が最
適であるが、金は高価であるため、安価な追記型光ディ
スクを得ることが困難となる問題点がある。この問題点
を解決する目的で、金の膜厚を最小限に小さくし、膜厚
不足分を他の金属、金属酸化物(例えば、アルミニウ
ム、銀、ZnO等)で補うような積層膜を反射膜に用い
ることも可能である。なお、この場合、絶対反射率を金
単独膜とほぼ同等にするためには、積層する下層(記録
膜に接する層)の金膜厚は最低200オングストロ−ム
以上必要であり、反射膜の厚みは800〜2500オン
グストロ−ムが最適である。また場合によっては有機系
の高反射膜を使用することもできる。このような反射膜
の成膜方法としては、ドライプロセス例えば真空蒸着
法、スパッタリング法が最も好ましいが、これに限られ
るものではない。反射膜の最適膜厚については、特に制
限はないが400〜1300オングストロ−ムの範囲が
好ましい。
【0024】さらに反射膜の上より、ディスクの化学的
劣化(例えば酸化、吸水等)および物理的劣化(傷、け
ずれ等)を防ぐ目的でディスクを保護するための保護膜
を設ける。保護膜用の材料としては、紫外線硬化型樹脂
を用いて、スピンコ−トにより塗布し、紫外線照射によ
り硬化させる方法が好ましいがこれに限られるものでは
ない。保護膜の最適膜厚については、薄い場合には、保
護の効果が低下し、厚い場合には樹脂の硬化時の収縮に
よりディスクのそり等の機械特性の悪化の原因になるた
め、2〜20ミクロンの範囲で成膜することが好まし
い。
劣化(例えば酸化、吸水等)および物理的劣化(傷、け
ずれ等)を防ぐ目的でディスクを保護するための保護膜
を設ける。保護膜用の材料としては、紫外線硬化型樹脂
を用いて、スピンコ−トにより塗布し、紫外線照射によ
り硬化させる方法が好ましいがこれに限られるものでは
ない。保護膜の最適膜厚については、薄い場合には、保
護の効果が低下し、厚い場合には樹脂の硬化時の収縮に
よりディスクのそり等の機械特性の悪化の原因になるた
め、2〜20ミクロンの範囲で成膜することが好まし
い。
【0025】ディスク形態は、記録後CDあるいはCD
−ROMとして機能する必要があるため、CDあるいは
CD−ROMの規格(レッドブック)およびR−CDの
規格(オレンジブック)に準拠していることが好まし
い。
−ROMとして機能する必要があるため、CDあるいは
CD−ROMの規格(レッドブック)およびR−CDの
規格(オレンジブック)に準拠していることが好まし
い。
【0026】
【実施例】以下の実施例により本発明を具体的に説明す
るが、本発明は以下の実施例に限られるものではない。
るが、本発明は以下の実施例に限られるものではない。
【0027】実施例1 深さ1200オングストロ−ム、幅0.50ミクロン、
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(a)60mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してジアセトン
アルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフ
ィルタ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ
−により膜厚1200オングストロ−ムに色素膜を成膜
した。同様の方法により、フタロシアニン化合物(a)
60mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(a)6
0mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフ
ェノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(a)
と2−(2’−ヒドロキシ−5’−メチルフェニル)ベ
ンゾトリアゾ−ル12mgの混合物およびフタロシアニ
ン化合物(a)60mgのみに対してジアセトンアルコ
−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフィルタ
−を通して調整した塗液を用いて色素膜を成膜した。作
成した5点の記録膜サンプルを紫外線照射装置を用い記
録膜面より紫外光を照射し、吸光度スペクトルの経時変
化を追跡した。結果を表1に示す。紫外光照射前の吸光
度極大の値を100としたときの相対値である。フタロ
シアニン化合物(a)は単独の色素薄膜でも良好な耐光
性を有しているが、紫外線吸収剤の添加により、さらに
耐光性が向上し、極めて高い紫外光安定性を有する色素
薄膜の提供が可能となる。
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(a)60mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してジアセトン
アルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフ
ィルタ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ
−により膜厚1200オングストロ−ムに色素膜を成膜
した。同様の方法により、フタロシアニン化合物(a)
60mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(a)6
0mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフ
ェノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(a)
と2−(2’−ヒドロキシ−5’−メチルフェニル)ベ
ンゾトリアゾ−ル12mgの混合物およびフタロシアニ
ン化合物(a)60mgのみに対してジアセトンアルコ
−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフィルタ
−を通して調整した塗液を用いて色素膜を成膜した。作
成した5点の記録膜サンプルを紫外線照射装置を用い記
録膜面より紫外光を照射し、吸光度スペクトルの経時変
化を追跡した。結果を表1に示す。紫外光照射前の吸光
度極大の値を100としたときの相対値である。フタロ
シアニン化合物(a)は単独の色素薄膜でも良好な耐光
性を有しているが、紫外線吸収剤の添加により、さらに
耐光性が向上し、極めて高い紫外光安定性を有する色素
薄膜の提供が可能となる。
【0028】フタロシアニン化合物(a)
【化3】
【0029】
【表1】
【0030】実施例2 深さ1500オングストロ−ム、幅0.52ミクロン、
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(b)60mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してジアセトン
アルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフ
ィルタ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ
−により膜厚1200オングストロ−ムに色素膜を成膜
した。同様の方法により、フタロシアニン化合物(b)
60mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(b)6
0mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフ
ェノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(b)
60mgと2−エチルヘキシル−2−シアノ−3,3’
−ジフェニルアクリレ−ト12mgの混合物およびフタ
ロシアニン化合物(b)60mgのみに対してジアセト
ンアルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンの
フィルタ−を通して調整した塗液を用いて色素膜を成膜
した。作成した5点の色素膜サンプルを紫外線照射装置
を用い色素面より紫外光を照射し、吸光度スペクトルの
経時変化を追跡した。結果を表1に示す。紫外光照射前
の吸光度極大の値を100としたときの相対値である。
フタロシアニン化合物(b)は単独の色素薄膜でも良好
な耐光性を有しているが、紫外線吸収剤の添加により、
さらに耐光性が向上し、極めて高い紫外光安定性を有す
る色素薄膜の提供が可能となる。
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(b)60mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してジアセトン
アルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフ
ィルタ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ
−により膜厚1200オングストロ−ムに色素膜を成膜
した。同様の方法により、フタロシアニン化合物(b)
60mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(b)6
0mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフ
ェノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(b)
60mgと2−エチルヘキシル−2−シアノ−3,3’
−ジフェニルアクリレ−ト12mgの混合物およびフタ
ロシアニン化合物(b)60mgのみに対してジアセト
ンアルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンの
フィルタ−を通して調整した塗液を用いて色素膜を成膜
した。作成した5点の色素膜サンプルを紫外線照射装置
を用い色素面より紫外光を照射し、吸光度スペクトルの
経時変化を追跡した。結果を表1に示す。紫外光照射前
の吸光度極大の値を100としたときの相対値である。
フタロシアニン化合物(b)は単独の色素薄膜でも良好
な耐光性を有しているが、紫外線吸収剤の添加により、
さらに耐光性が向上し、極めて高い紫外光安定性を有す
る色素薄膜の提供が可能となる。
【0031】フタロシアニン化合物(b)
【化4】
【0032】実施例3 深さ1400オングストロ−ム、幅0.60ミクロン、
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(c)40mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してエチルセロ
ソルブ1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフィル
タ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ−に
より膜厚1000オングストロ−ムに色素膜を成膜し
た。同様の方法により、フタロシアニン化合物(c)4
0mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェノ
ン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(c)40
mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(c)4
0mgとニッケルビス(オクチルフェニル)サルファイ
ド12mgの混合物およびフタロシアニン化合物(c)
40mgのみに対してエチルセロソルブ1mlの濃度で
溶解し、0.2ミクロンのフィルタ−を通して調整した
塗液を用いて色素膜を成膜した。作成した5点の色素膜
サンプルを紫外線照射装置を用い基板面より紫外光を照
射し、吸光度スペクトルの経時変化を追跡した。結果を
表2に示す。紫外光照射前の吸光度極大の値を100と
したときの相対値である。フタロシアニン化合物(c)
は単独の色素薄膜でも良好な耐光性を有しているが、紫
外線吸収剤または紫外線安定剤の添加により、さらに耐
光性が向上し、極めて高い紫外光安定性を有する色素薄
膜の提供が可能となる。
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(c)40mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してエチルセロ
ソルブ1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフィル
タ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ−に
より膜厚1000オングストロ−ムに色素膜を成膜し
た。同様の方法により、フタロシアニン化合物(c)4
0mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェノ
ン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(c)40
mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(c)4
0mgとニッケルビス(オクチルフェニル)サルファイ
ド12mgの混合物およびフタロシアニン化合物(c)
40mgのみに対してエチルセロソルブ1mlの濃度で
溶解し、0.2ミクロンのフィルタ−を通して調整した
塗液を用いて色素膜を成膜した。作成した5点の色素膜
サンプルを紫外線照射装置を用い基板面より紫外光を照
射し、吸光度スペクトルの経時変化を追跡した。結果を
表2に示す。紫外光照射前の吸光度極大の値を100と
したときの相対値である。フタロシアニン化合物(c)
は単独の色素薄膜でも良好な耐光性を有しているが、紫
外線吸収剤または紫外線安定剤の添加により、さらに耐
光性が向上し、極めて高い紫外光安定性を有する色素薄
膜の提供が可能となる。
【0033】フタロシアニン化合物(c)
【化5】
【0034】
【表2】
【0035】実施例4 深さ1000オングストロ−ム、幅0.40ミクロン、
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(a)60mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してジアセトン
アルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフ
ィルタ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ
−により膜厚1500オングストロ−ムに記録膜を成膜
した。同様の方法により、フタロシアニン化合物(a)
60mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(a)6
0mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフ
ェノン12mgの混合物およびフタロシアニン化合物
(a)60mgのみに対してジアセトンアルコ−ル1m
lの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフィルタ−を通し
て調整した塗液を用いて記録膜を成膜した。次に、この
ようにして得た記録膜の上に真空蒸着により金膜を厚さ
500オングストロ−ムに成膜した。さらに、この上に
紫外線硬化樹脂により保護層を5ミクロンの膜厚で設け
て光ディスクを作成した。このようにして作成した光デ
ィスクの反射率および波長785nmの半導体レ−ザ−
を使用して線速度1.4m/secで、EFM−CDフ
ォ−マット信号を記録したときの最適記録レ−ザ−パワ
−を表3に示す。この信号をCDプレ−ヤ−によりレ−
ザ−パワ−0.5mWで再生を行ったところ、いずれの
ディスクについても得られた信号は良好であり、市販の
CDプレ−ヤ−に十分かかるレベルであった。次に、こ
のようにして作成した光ディスクを紫外線照射装置を用
い基板面より100時間紫外線照射した。照射後のディ
スクについてCDプレ−ヤ−によりレ−ザ−パワ−0.
5mWで再生を行ったところ、いずれのディスクについ
ても得られた信号は良好であり、市販のCDプレ−ヤ−
に十分かかるレベルであったが、フタロシアニン化合物
(a)のみを記録膜に用いたディスクは反射率が若干低
下し、またビットエラ−レ−トが若干高くなる傾向が観
測された。これに対して紫外線吸収剤を記録膜に添加し
たディスクでは、反射率の低下は観測されず、ビットエ
ラ−レ−トも変化は見られなかった(紫外線照射後の反
射率も表3に示した)。以上の結果から、紫外線吸収剤
を記録膜に添加することにより、極めて高い紫外光安定
性を有する光ディスクを作成することができる。
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(a)60mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してジアセトン
アルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフ
ィルタ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ
−により膜厚1500オングストロ−ムに記録膜を成膜
した。同様の方法により、フタロシアニン化合物(a)
60mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(a)6
0mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフ
ェノン12mgの混合物およびフタロシアニン化合物
(a)60mgのみに対してジアセトンアルコ−ル1m
lの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフィルタ−を通し
て調整した塗液を用いて記録膜を成膜した。次に、この
ようにして得た記録膜の上に真空蒸着により金膜を厚さ
500オングストロ−ムに成膜した。さらに、この上に
紫外線硬化樹脂により保護層を5ミクロンの膜厚で設け
て光ディスクを作成した。このようにして作成した光デ
ィスクの反射率および波長785nmの半導体レ−ザ−
を使用して線速度1.4m/secで、EFM−CDフ
ォ−マット信号を記録したときの最適記録レ−ザ−パワ
−を表3に示す。この信号をCDプレ−ヤ−によりレ−
ザ−パワ−0.5mWで再生を行ったところ、いずれの
ディスクについても得られた信号は良好であり、市販の
CDプレ−ヤ−に十分かかるレベルであった。次に、こ
のようにして作成した光ディスクを紫外線照射装置を用
い基板面より100時間紫外線照射した。照射後のディ
スクについてCDプレ−ヤ−によりレ−ザ−パワ−0.
5mWで再生を行ったところ、いずれのディスクについ
ても得られた信号は良好であり、市販のCDプレ−ヤ−
に十分かかるレベルであったが、フタロシアニン化合物
(a)のみを記録膜に用いたディスクは反射率が若干低
下し、またビットエラ−レ−トが若干高くなる傾向が観
測された。これに対して紫外線吸収剤を記録膜に添加し
たディスクでは、反射率の低下は観測されず、ビットエ
ラ−レ−トも変化は見られなかった(紫外線照射後の反
射率も表3に示した)。以上の結果から、紫外線吸収剤
を記録膜に添加することにより、極めて高い紫外光安定
性を有する光ディスクを作成することができる。
【0036】
【表3】
【0037】実施例5 深さ1000オングストロ−ム、幅0.40ミクロン、
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(b)60mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してジアセトン
アルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフ
ィルタ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ
−により膜厚1500オングストロ−ムに記録膜を成膜
した。同様の方法により、フタロシアニン化合物(b)
60mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(b)6
0mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフ
ェノン12mgの混合物およびフタロシアニン化合物
(b)60mgのみに対してジアセトンアルコ−ル1m
lの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフィルタ−を通し
て調整した塗液を用いて記録膜を成膜した。次に、この
ようにして得た記録膜の上にスパッタリングにより金膜
を厚さ1000オングストロ−ムに成膜した。さらに、
この上に紫外線硬化樹脂により保護層を5ミクロンの膜
厚で設けて光ディスクを作成した。このようにして作成
した光ディスクの反射率および波長785nmの半導体
レ−ザ−を使用して線速度1.4m/secで、EFM
−CDフォ−マット信号を記録したときの最適記録レ−
ザ−パワ−を表3に示す。この信号をCDプレ−ヤ−に
よりレ−ザ−パワ−0.5mWで再生を行ったところ、
いずれのディスクについても得られた信号は良好であ
り、市販のCDプレ−ヤ−に十分かかるレベルであっ
た。次に、このようにして作成した光ディスクを紫外線
照射装置を用い基板面より100時間紫外線照射した。
照射後のディスクについてCDプレ−ヤ−によりレ−ザ
−パワ−0.5mWで再生を行ったところ、いずれのデ
ィスクについても得られた信号は良好であり、市販のC
Dプレ−ヤ−に十分かかるレベルであったが、フタロシ
アニン化合物(b)のみを記録膜に用いたディスクは反
射率が若干低下し、またビットエラ−レ−トが若干高く
なる傾向が観測された。これに対して紫外線吸収剤を記
録膜に添加したディスクでは、反射率の低下は観測され
ず、ビットエラ−レ−トも変化は見られなかった(紫外
線照射後の反射率も表3に示した)。以上の結果から、
紫外線吸収剤を記録膜に添加することにより、極めて高
い紫外光安定性を有する光ディスクを作成することがで
きる。
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(b)60mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してジアセトン
アルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフ
ィルタ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ
−により膜厚1500オングストロ−ムに記録膜を成膜
した。同様の方法により、フタロシアニン化合物(b)
60mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(b)6
0mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフ
ェノン12mgの混合物およびフタロシアニン化合物
(b)60mgのみに対してジアセトンアルコ−ル1m
lの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフィルタ−を通し
て調整した塗液を用いて記録膜を成膜した。次に、この
ようにして得た記録膜の上にスパッタリングにより金膜
を厚さ1000オングストロ−ムに成膜した。さらに、
この上に紫外線硬化樹脂により保護層を5ミクロンの膜
厚で設けて光ディスクを作成した。このようにして作成
した光ディスクの反射率および波長785nmの半導体
レ−ザ−を使用して線速度1.4m/secで、EFM
−CDフォ−マット信号を記録したときの最適記録レ−
ザ−パワ−を表3に示す。この信号をCDプレ−ヤ−に
よりレ−ザ−パワ−0.5mWで再生を行ったところ、
いずれのディスクについても得られた信号は良好であ
り、市販のCDプレ−ヤ−に十分かかるレベルであっ
た。次に、このようにして作成した光ディスクを紫外線
照射装置を用い基板面より100時間紫外線照射した。
照射後のディスクについてCDプレ−ヤ−によりレ−ザ
−パワ−0.5mWで再生を行ったところ、いずれのデ
ィスクについても得られた信号は良好であり、市販のC
Dプレ−ヤ−に十分かかるレベルであったが、フタロシ
アニン化合物(b)のみを記録膜に用いたディスクは反
射率が若干低下し、またビットエラ−レ−トが若干高く
なる傾向が観測された。これに対して紫外線吸収剤を記
録膜に添加したディスクでは、反射率の低下は観測され
ず、ビットエラ−レ−トも変化は見られなかった(紫外
線照射後の反射率も表3に示した)。以上の結果から、
紫外線吸収剤を記録膜に添加することにより、極めて高
い紫外光安定性を有する光ディスクを作成することがで
きる。
【0038】実施例6 深さ1000オングストロ−ム、幅0.40ミクロン、
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(a)60mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してジアセトン
アルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフ
ィルタ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ
−により膜厚1500オングストロ−ムに記録膜を成膜
した。同様の方法により、フタロシアニン化合物(a)
60mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(a)6
0mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフ
ェノン12mgの混合物およびフタロシアニン化合物
(a)60mgのみに対してジアセトンアルコ−ル1m
lの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフィルタ−を通し
て調整した塗液を用いて記録膜を成膜した。次に、この
ようにして得た記録膜の上にスパッタリングにより金膜
を厚さ1000オングストロ−ムに成膜した。さらに、
この上に紫外線硬化樹脂により保護層を5ミクロンの膜
厚で設けて光ディスクを作成した。このようにして作成
した光ディスクを用い、波長785nmの半導体レ−ザ
−を使用して線速度1.4m/secで、EFM−CD
フォ−マット信号を記録した。この信号をCDプレ−ヤ
−によりレ−ザ−パワ−0.5mWで再生を行ったとこ
ろ、いずれのディスクについても得られた信号は良好で
あり、市販のCDプレ−ヤ−に十分かかるレベルであっ
た。次に、このようにして作成した光ディスクを高温高
湿環境試験装置を用い、70℃、90%の条件下で10
00時間耐候試験を行った。耐候試験後のディスクにつ
いてCDプレ−ヤ−によりレ−ザ−パワ−0.5mWで
再生を行ったところ、いずれのディスクについても得ら
れた信号は良好であり、市販のCDプレ−ヤ−に十分か
かるレベルであった。またいずれのディスクについても
反射率の低下は観測されず、ビットエラ−レ−トも変化
は見られなかった。以上の結果から、紫外線吸収剤を記
録膜に添加したことによる、耐候安定性の低下は全く観
測されなかった。
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカ−ボネ−ト
基板上に、フタロシアニン化合物(a)60mgとフェ
ニルサリシレ−ト12mgの混合物に対してジアセトン
アルコ−ル1mlの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフ
ィルタ−を通して調整した塗液を用いて、スピンコ−タ
−により膜厚1500オングストロ−ムに記録膜を成膜
した。同様の方法により、フタロシアニン化合物(a)
60mgと2−ヒドロキシ−4−メトキシ−ベンゾフェ
ノン12mgの混合物、フタロシアニン化合物(a)6
0mgと2−ヒドロキシ−4−オクチルオキシベンゾフ
ェノン12mgの混合物およびフタロシアニン化合物
(a)60mgのみに対してジアセトンアルコ−ル1m
lの濃度で溶解し、0.2ミクロンのフィルタ−を通し
て調整した塗液を用いて記録膜を成膜した。次に、この
ようにして得た記録膜の上にスパッタリングにより金膜
を厚さ1000オングストロ−ムに成膜した。さらに、
この上に紫外線硬化樹脂により保護層を5ミクロンの膜
厚で設けて光ディスクを作成した。このようにして作成
した光ディスクを用い、波長785nmの半導体レ−ザ
−を使用して線速度1.4m/secで、EFM−CD
フォ−マット信号を記録した。この信号をCDプレ−ヤ
−によりレ−ザ−パワ−0.5mWで再生を行ったとこ
ろ、いずれのディスクについても得られた信号は良好で
あり、市販のCDプレ−ヤ−に十分かかるレベルであっ
た。次に、このようにして作成した光ディスクを高温高
湿環境試験装置を用い、70℃、90%の条件下で10
00時間耐候試験を行った。耐候試験後のディスクにつ
いてCDプレ−ヤ−によりレ−ザ−パワ−0.5mWで
再生を行ったところ、いずれのディスクについても得ら
れた信号は良好であり、市販のCDプレ−ヤ−に十分か
かるレベルであった。またいずれのディスクについても
反射率の低下は観測されず、ビットエラ−レ−トも変化
は見られなかった。以上の結果から、紫外線吸収剤を記
録膜に添加したことによる、耐候安定性の低下は全く観
測されなかった。
【0039】
【発明の効果】本発明の構成により光ディスクを作成す
ることにより、770nmから800nmの半導体レ−
ザ−に対して良好な記録特性を有し、極めて優れた安定
性を持つCDあるいはCD−ROM対応の追記型光ディ
スクを提供することができる。また優れた安定性を有す
ることにより、さらに高密度な記録が可能なCDあるい
はCD−ROM対応の追記型光ディスク、LD対応の追
記型光ディスク、フォトCD対応の追記型光ディスク等
次世代の追記型光ディスクへの応用が可能である。
ることにより、770nmから800nmの半導体レ−
ザ−に対して良好な記録特性を有し、極めて優れた安定
性を持つCDあるいはCD−ROM対応の追記型光ディ
スクを提供することができる。また優れた安定性を有す
ることにより、さらに高密度な記録が可能なCDあるい
はCD−ROM対応の追記型光ディスク、LD対応の追
記型光ディスク、フォトCD対応の追記型光ディスク等
次世代の追記型光ディスクへの応用が可能である。
Claims (1)
- 【請求項1】透明基板/記録膜/反射膜/保護膜からな
り、CD−フォ−マット信号の記録を行う追記型光ディ
スクにおいて、その記録膜が下記一般式[1]で示され
る化合物から選ばれる少なくとも1種以上のフタロシア
ニン化合物と、紫外線吸収剤および/または紫外線安定
剤を少なくとも1種以上含有することを特徴とするCD
またはCD−ROM対応の追記型光ディスク。一般式
[1] 【化1】 [式中、置換基X1 〜X4 は、それぞれ独立に置換基を
有してもよいアルキル基、置換基を有してもよいアルコ
キシ基を表す。k1 〜k4 は置換基X1 〜X4 の置換数
で1〜4の整数を表す。置換基Y1 〜Y4 は、それぞれ
独立にニトロ基、ハロゲン原子を表す。m1 〜m4 は置
換基Y1 〜Y4 の置換数で0〜4の整数を表す。中心金
属Mは、Si、Alを表す。置換基Zは、 を表す。ここでR1 、R2 は置換基を有してもよいアル
キル基、置換基を有してもよいアリ−ル基、置換基を有
してもよいアルコキシ基を表す。nは置換基Zの置換数
で1〜2の整数を表す。]
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4151184A JPH05318930A (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | Cdまたはcd−rom対応の追記型光ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4151184A JPH05318930A (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | Cdまたはcd−rom対応の追記型光ディスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05318930A true JPH05318930A (ja) | 1993-12-03 |
Family
ID=15513124
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4151184A Pending JPH05318930A (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | Cdまたはcd−rom対応の追記型光ディスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05318930A (ja) |
-
1992
- 1992-05-20 JP JP4151184A patent/JPH05318930A/ja active Pending
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