JPH0545140B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH0545140B2
JPH0545140B2 JP6624285A JP6624285A JPH0545140B2 JP H0545140 B2 JPH0545140 B2 JP H0545140B2 JP 6624285 A JP6624285 A JP 6624285A JP 6624285 A JP6624285 A JP 6624285A JP H0545140 B2 JPH0545140 B2 JP H0545140B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
port
sample liquid
liquid
cleaning
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP6624285A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS61225637A (ja
Inventor
Haruo Mizukami
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP6624285A priority Critical patent/JPS61225637A/ja
Publication of JPS61225637A publication Critical patent/JPS61225637A/ja
Publication of JPH0545140B2 publication Critical patent/JPH0545140B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/73Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using plasma burners or torches

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、チエンバの内壁の洗滌が十分に行な
える高周波プラズマ発光分析装置に関する。
従来の技術 本出願人が出願した実願昭59−98750号(実開
昭61−14356号)明細書第2図に示された高周波
プラズマ発光分析装置等に用いられる試料霧化器
においては、分析対象が変る毎に、球形チエンバ
に設けられた洗滌注入ポートから洗滌液を注入
し、洗滌液注入ポートから噴出される洗滌液をチ
エンバの内壁面に沿つて流下させ、これにより洗
滌を行ない、チエンバの底部に流下した洗滌液を
吸出管により吸出し、外部に排出している。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、前記装置のチエンバは球形状に
形成されているため、その内壁面の傾斜面がゆる
やかとなつており、従つて洗滌注入ポートから注
入された洗滌液がその内壁面に沿つて流下する速
度が遅く、洗滌効果が不十分となる。このため、
洗滌を十分に行なうためには多量の洗滌液を流す
必要があり、洗滌液を吸出管により吸出し、外部
に排出する時間を含めて洗滌時間がかなり長くな
る。
そこで、本発明は、前記した従来技術の問題点
にかんがみ、少量の洗滌液で、短かい洗滌時間に
てチエンバの内壁面の洗滌を十分に行なうことが
できる高周波プラズマ発光分析装置を提供するこ
とを目的とする。
問題点を解決するための手段 本発明は、前記目的を達成するため、なす形チ
エンバと、前記チエンバの側面に配設されたトー
チポートと、前記チエンバの側面であつて、かつ
トーチポート配設位置下方に設けられたネブライ
ザと、前記チエンバの底部に設けられた試料液体
排出ポートと、前記チエンバの頭部に装着されて
おり、かつ試料液体導入管が固設されそして洗滌
液液圧により押下される可動ポートと該可動ポー
トに洗滌液を供給するための洗滌液ポートとを有
する試料液体洗滌液導入部とを備える高周波プラ
ズマ発光分析装置にある。
作 用 洗滌液導入ポートより洗滌液を供給し、その液
圧により可動ポートを押下し、これから噴出され
る洗滌液をなす形チエンバの内壁に沿つて流速を
増しながら流下させて洗滌を行なう。
実施例 以下に、本発明の実施例を、その側断面を示す
第1図に基づいて説明する。
同図において、1はパイレツクスガラス製のな
す形チエンバ、1aはその側面に設けられた係止
片であり、2は支持架台、2aはその側方に設け
られた係止片であり、係止片1aと2aとにコイ
ルばね3が装架され、なす形チエンバ1を支持架
台2に係止している。4はなす形チエンバ1の側
面上方に設けられたトーチポートであり、5は石
英製のトーチで、冷却ガス導入管5aとプラズマ
ガス導入管5bが設けられている。6はなす形チ
エンバ1の底部に設けられた試料液体排出ポー
ト、7は試料液体である。8は試料液体導入孔8
aとキヤリアガス導入孔8bとを有するパイレツ
クスガラス製のネブライザで、トーチポート4の
配設位置の下方であつて、なす形チエンバ1の同
一側面に設けられ、パツキング9を介して装着さ
れている。10は三方弁であり、これを介して可
撓性の管状体11がネブライザ8の試料液体導入
孔8aと試料液体排出ポート6との間に連接され
ている。
12はなす形チエンバ1の頭部に設けられた試
料液体洗滌液導入部で、試料液体導入管13が固
設されており、かつ洗滌液の液圧により押下さ
れ、弁として機能するガラス製の可動ポート14
と、この可動ポート14を囲繞するガラス製の洗
滌液導入ポート15との二重管構造により構成さ
れている。そして、可動ポート14の側面上部と
洗滌液導入ポート15の外周側面とにコイルばね
16の両端が固設されており、コイルばね16の
付勢力により可動ポート15を上方に押上げ、こ
れを閉止している。17はクリツプで、試料液体
洗滌液導入部12をなす形チエンバ1に係止して
いる。
次に本実施例装置の作用を説明する。まず、試
料液体の霧化について説明すると、試料液体導入
管13からなす形チエンバ1に導入された試料液
体7はその内壁に付着することなく底部に落下す
る。キヤリアガス導入孔8bからキヤリアガスを
導入すると、その負圧吸引作用により試料液体7
は試料液体排出ポート6から三方弁10と、管状
体11とを介し試料液体導入孔8aに供給され、
ネブライザ8により霧化され、なす形チエンバ1
に導入される。霧化された試料粒子のうち所定値
以下の粒径を持つものはトーチポート4を介して
トーチ5に導入され、トーチ5に発生されるプラ
ズマ炎により加熱、励起され、その発光光を不図
示の光度計によりスペクトル波長とその強度を測
定し、試料の定性、定量を行なう。所定値以上の
粒径を持ち、思い試料粒子は落下し、試料液体排
出ポート6を介してネブライザ8に送られ、ここ
で霧化されてなす形チエンバ1に再び噴出され
る。
次に、なす形チエンバ1の内壁の洗滌作用につ
いて説明すると、試料液体導入管13からの試料
液体の導入を停止し、三方弁10を切換え、ネブ
ライザ8への流路を断ち、点線で示す流路を形成
させる。洗滌液導入ポート15から洗滌液を導入
すると、その水圧により可動ポート14がコイル
ばね16の付勢力に抗して点線で示すように試料
液体導入管13と共に押下げられ、弁が開放され
る。これにより、洗滌液は可動ポート14の周囲
から勢よく噴出され、実線で示すようになす形チ
エンバ1の内壁に沿つて流下して行く。なす形チ
エンバ1の内壁の傾斜角は大であるから、可動ポ
ート14から噴出される洗滌液は流速を増しつつ
流下して行き、これによりなす形チエンバ1の内
壁は十分に洗滌される。洗滌を終了した洗滌液は
試料液体排出ポート6と、管状体11と、三方弁
10を介して外部に排出される。
なお、ネプライザ8と管状体11も合わせて洗
滌したい場合には、三方弁10の流路を実線で示
すように切換え、キヤリアガス導入孔8aからキ
ヤリアガスを導入する。キヤリアガスの導入によ
るその負圧吸引作用により、なす形チエンバ1の
底部にある洗滌液は試料液体排出ポート6から三
方弁10と、管状体11とを介して試料液体導入
孔8aに導入され、霧状となつてなす形チエンバ
1内に導入され、ネブライザ8と管状体11が洗
滌される。なお、この場合は、循環する洗滌液を
外部に排出し、新たな洗滌液を導入すると、一層
洗滌効果が上がる。
発明の効果 以上説明したように本発明によると、なす形チ
エンバの頭部に設けられた試料液体洗滌液導入部
の洗滌液導入ポートを介して洗滌液を導入し、そ
の液圧により可動ポートを押下げ、可動ポートか
ら噴出する洗滌液をなす形チエンバの内壁に沿つ
て流下させる構成となし、さらにチエンバがなす
形形状をなしているためその内壁の傾斜角が従来
装置の球形チエンバのそれよりも大であるから、
可動ポートから噴出され、なす形チエンバの内壁
に沿つて流れる洗滌液の流速が従来装置による場
合よりも一層大となり、これにより洗滌効果を増
大させることができる。従つて、従来装置のもの
に比し、少量の洗滌液で、かつ短かい洗滌時間で
なす形チエンバの内壁を十分に洗滌することがで
きる。また、なす形チエンバの頭部に設けられた
試料液体洗滌液導入部の試料液体導入管から流下
させる構成であるから、なす形チエンバの内壁に
試料液体を付着させることなく、導入することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例装置の側断面図であ
る。 1はなす形チエンバ、4はトーチポート、6は
試料液体排出ポート、8はネブライザ、8aと8
bはネブライザ8の試料液体導入孔とキヤリアガ
ス導入孔、11は管状体、12は試料液体洗滌液
導入部、14は可動ポート、15は洗滌液導入ポ
ートを示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 なす形チエンバと、 前記チエンバの側面に配設されたトーチポート
    と、 前記チエンバの側面であつて、かつトーチポー
    ト配置位置下方に設けられたネブライザと、 前記チエンバの底部に設けられた試料液体排出
    ポートと、 前記チエンバの頭部に装着されており、かつ試
    料液体導入管が個設されそして洗滌液液圧により
    押下される可動ポートと該可動ポートに洗滌液を
    供給するための洗滌液ポートとを有する試料液体
    洗滌液導入部と を備える高周波プラズマ発光分析装置。 2 前記試料液体排出ポートとネブライザとを連
    接する管状体を備える前記特許請求の範囲1記載
    の高周波プラズマ発光分析装置。
JP6624285A 1985-03-29 1985-03-29 高周波プラズマ発光分析装置 Granted JPS61225637A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6624285A JPS61225637A (ja) 1985-03-29 1985-03-29 高周波プラズマ発光分析装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6624285A JPS61225637A (ja) 1985-03-29 1985-03-29 高周波プラズマ発光分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61225637A JPS61225637A (ja) 1986-10-07
JPH0545140B2 true JPH0545140B2 (ja) 1993-07-08

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ID=13310196

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JP6624285A Granted JPS61225637A (ja) 1985-03-29 1985-03-29 高周波プラズマ発光分析装置

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JPS61225637A (ja) 1986-10-07

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