JPH0548087Y2 - - Google Patents
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- JPH0548087Y2 JPH0548087Y2 JP1985007546U JP754685U JPH0548087Y2 JP H0548087 Y2 JPH0548087 Y2 JP H0548087Y2 JP 1985007546 U JP1985007546 U JP 1985007546U JP 754685 U JP754685 U JP 754685U JP H0548087 Y2 JPH0548087 Y2 JP H0548087Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mounting plate
- legs
- measured
- axis direction
- measuring machine
- Prior art date
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本考案は被測定物の形状等を計測する二次元或
いは三次元の多次元測定機に係り、特に被測定物
を載置する載置盤に対する測定子支持体の相対移
動案内を改良した多次元測定機に関し、載置盤の
被測定物載置用上面の有効面積を拡大する等に利
用できるものである。
いは三次元の多次元測定機に係り、特に被測定物
を載置する載置盤に対する測定子支持体の相対移
動案内を改良した多次元測定機に関し、載置盤の
被測定物載置用上面の有効面積を拡大する等に利
用できるものである。
[背景技術とその問題点]
被測定物の表面に当接される測定子を有し、移
動機構に保持されたこの測定子と載置盤に載置さ
れた被測定物とを相対移動させることにより、こ
の相対移動変位量から被測定物の形状等を計測す
るようにした多次元測定機が知られており、測定
精度の高精度化、測定作業効率の向上等の利点を
有するため各種産業分野において広く使用されて
いる。
動機構に保持されたこの測定子と載置盤に載置さ
れた被測定物とを相対移動させることにより、こ
の相対移動変位量から被測定物の形状等を計測す
るようにした多次元測定機が知られており、測定
精度の高精度化、測定作業効率の向上等の利点を
有するため各種産業分野において広く使用されて
いる。
第7図はエアーベアリングを使用した従来の多
次元測定機を示し、この多次元測定機は載置盤を
固定状態とし測定子を移動させるタイプの三次元
測定機である。基台51に載置盤52が置かれ、
この載置盤52に測定子支持体53が載せられて
いる。測定子支持体53は測定子54をX軸方
向、Y軸方向、Z軸方向に移動させる移動機構を
構成するものであり、載置盤52の上面にY軸方
向に配置固定された案内レール部材55に沿つて
測定子支持体53は移動自在になつている。測定
子支持体53を構成する左右の支柱56,57の
上部にはX軸方向に横行部材58が横断架設さ
れ、この横行部材58にスライダ59が摺動自在
に設けられ、スライダ59にZ軸方向即ち垂直方
向に移動自在に取付けられたスピンドル60の下
端に測定子54が設けられている。
次元測定機を示し、この多次元測定機は載置盤を
固定状態とし測定子を移動させるタイプの三次元
測定機である。基台51に載置盤52が置かれ、
この載置盤52に測定子支持体53が載せられて
いる。測定子支持体53は測定子54をX軸方
向、Y軸方向、Z軸方向に移動させる移動機構を
構成するものであり、載置盤52の上面にY軸方
向に配置固定された案内レール部材55に沿つて
測定子支持体53は移動自在になつている。測定
子支持体53を構成する左右の支柱56,57の
上部にはX軸方向に横行部材58が横断架設さ
れ、この横行部材58にスライダ59が摺動自在
に設けられ、スライダ59にZ軸方向即ち垂直方
向に移動自在に取付けられたスピンドル60の下
端に測定子54が設けられている。
測定子支持体53はエアーベアリングにより載
置盤52に対しY軸方向へ移動自在とされ、この
Y軸方向への移動は案内レール部材55に取付け
られた検出器61で検出され、スライダ59のX
軸方向への移動は横行部材58に取付けられた検
出器62で検出され、スピンドル60のZ軸方向
への移動はスライダ59に取付けられた検出器6
3で検出される。以上の三次元移動を載置盤52
の上面に載置された被測定物の表面に測定子54
を接触させて行うことにより、この被測定物の形
状等が三次元測定される。
置盤52に対しY軸方向へ移動自在とされ、この
Y軸方向への移動は案内レール部材55に取付け
られた検出器61で検出され、スライダ59のX
軸方向への移動は横行部材58に取付けられた検
出器62で検出され、スピンドル60のZ軸方向
への移動はスライダ59に取付けられた検出器6
3で検出される。以上の三次元移動を載置盤52
の上面に載置された被測定物の表面に測定子54
を接触させて行うことにより、この被測定物の形
状等が三次元測定される。
以上の従来技術においては、被測定物載置のた
めに高精度に仕上げ加工して基準面としている載
置盤52の上面にY軸方向の基準面としての案内
レール部材55を取付けているため、仕上げ加工
を高度に行わなければならない基準面を別個に設
けているという問題点があつた。また載置盤52
の上面に案内レール部材55を取付けるに際して
載置盤52に対する案内レール部材55の平行
度、垂直度等を確保しなければならないという問
題点もあり、三次元測定機の組立て、調整作業に
多くの手間と時間がかかり、経済的にも問題があ
つた。
めに高精度に仕上げ加工して基準面としている載
置盤52の上面にY軸方向の基準面としての案内
レール部材55を取付けているため、仕上げ加工
を高度に行わなければならない基準面を別個に設
けているという問題点があつた。また載置盤52
の上面に案内レール部材55を取付けるに際して
載置盤52に対する案内レール部材55の平行
度、垂直度等を確保しなければならないという問
題点もあり、三次元測定機の組立て、調整作業に
多くの手間と時間がかかり、経済的にも問題があ
つた。
更に、載置盤52の上面に上方へ突出する案内
レール部材55が取付けられるため、被測定物載
置のために利用できる載置盤52の上面の有効面
積はこの案内レール部材55及び案内レール部材
55にまたがる支柱57のために狭くなり、従つ
て測定作業を行える被測定物の大きさが制限さ
れ、また案内レール部材55のために三次元測定
機の高さ寸法が大きくなつてしまう問題があつ
た。また載置盤52の上面に被測定物を載置する
際、案内レール部材55がこの載置作業の障害と
なり、被測定物の向きを変更してから載置盤52
に載置しなければならない場合があつた。
レール部材55が取付けられるため、被測定物載
置のために利用できる載置盤52の上面の有効面
積はこの案内レール部材55及び案内レール部材
55にまたがる支柱57のために狭くなり、従つ
て測定作業を行える被測定物の大きさが制限さ
れ、また案内レール部材55のために三次元測定
機の高さ寸法が大きくなつてしまう問題があつ
た。また載置盤52の上面に被測定物を載置する
際、案内レール部材55がこの載置作業の障害と
なり、被測定物の向きを変更してから載置盤52
に載置しなければならない場合があつた。
以上に加えて、三次元測定機を案内レール部材
55の配置側から操作することが困難で、操作位
置に制限が生じることの問題もあり、更に案内レ
ール部材55にはY軸方向の変位量を検出する検
出器61のスケール部材が取付けられ、このスケ
ール部材が被測定物載置作業の際に破損したり汚
れたりする等の危険性があつた。また、門型の前
記測定子支持体53は載置盤52に単に載置され
ているにすぎないため、測定子支持体53に横方
向からの外力が加わると測定子支持体53が転倒
する虞れもあつた。
55の配置側から操作することが困難で、操作位
置に制限が生じることの問題もあり、更に案内レ
ール部材55にはY軸方向の変位量を検出する検
出器61のスケール部材が取付けられ、このスケ
ール部材が被測定物載置作業の際に破損したり汚
れたりする等の危険性があつた。また、門型の前
記測定子支持体53は載置盤52に単に載置され
ているにすぎないため、測定子支持体53に横方
向からの外力が加わると測定子支持体53が転倒
する虞れもあつた。
[考案の目的]
本考案は以上の如き従来の問題点に鑑みなされ
たもので、特に、2個の部材に精密加工により別
個の基準面を形成してこれらの部材を組合せても
高精度を確保することは困難であること、及びい
ずれにしても載置盤は被測定物載置のために高度
に仕上げ加工しなければならないことに鑑みなさ
れたものである。
たもので、特に、2個の部材に精密加工により別
個の基準面を形成してこれらの部材を組合せても
高精度を確保することは困難であること、及びい
ずれにしても載置盤は被測定物載置のために高度
に仕上げ加工しなければならないことに鑑みなさ
れたものである。
本考案の目的は、載置盤自体を測定子支持体の
移動案内基準とすることにより載置盤の上面に案
内レール部材を設けることを不要とし、これによ
り組立て、調整等の作業性の改善を図り、また載
置盤の上面の有効面積の拡大、被測定物載置作業
の容易化、測定機取扱操作性の向上等を実現する
ことができ、更に前記測定子支持体として測定子
を保持した移動機構の各脚部に載置盤の側面と対
向するエアーベアリングを設けること等により、
測定子支持体に横方向からの外力に対する抵抗が
生じて測定子支持体が転倒する虞れのない多次元
測定機を提供するところにある。
移動案内基準とすることにより載置盤の上面に案
内レール部材を設けることを不要とし、これによ
り組立て、調整等の作業性の改善を図り、また載
置盤の上面の有効面積の拡大、被測定物載置作業
の容易化、測定機取扱操作性の向上等を実現する
ことができ、更に前記測定子支持体として測定子
を保持した移動機構の各脚部に載置盤の側面と対
向するエアーベアリングを設けること等により、
測定子支持体に横方向からの外力に対する抵抗が
生じて測定子支持体が転倒する虞れのない多次元
測定機を提供するところにある。
[問題点を解決するための手段および作用]
このため本考案の構成は、載置盤に載置された
被測定物と移動機構に保持された測定子とを相対
移動させ、この相対移動変位量から被測定物の形
状等を計測する多次元測定機において、前記載置
盤を上面が水平となつた縦断面矩形とするととも
に、この載置盤を支持部材により基台に間隔を開
けて載せ、前記移動機構を、前記載置盤を左右か
ら挟む一対の脚部と、これらの脚部の上に垂直に
立つ支柱と、これらの支柱を前記載置盤の上方で
水平に連結し前記測定子の左右移動を案内する横
行部材とを含んで構成し、前記各脚部に前記載置
盤の前記上面及び鉛直側面と対向するエアーベア
リングを設けてこれらの脚部を載置盤に対し相対
移動自在とし、且つ前記各脚部を前記載置盤の下
面側を横断する連結部材により連結したことを特
徴とし、前記載置盤を移動案内基準部材として前
記移動機構の移動を行わせるようにしている。
被測定物と移動機構に保持された測定子とを相対
移動させ、この相対移動変位量から被測定物の形
状等を計測する多次元測定機において、前記載置
盤を上面が水平となつた縦断面矩形とするととも
に、この載置盤を支持部材により基台に間隔を開
けて載せ、前記移動機構を、前記載置盤を左右か
ら挟む一対の脚部と、これらの脚部の上に垂直に
立つ支柱と、これらの支柱を前記載置盤の上方で
水平に連結し前記測定子の左右移動を案内する横
行部材とを含んで構成し、前記各脚部に前記載置
盤の前記上面及び鉛直側面と対向するエアーベア
リングを設けてこれらの脚部を載置盤に対し相対
移動自在とし、且つ前記各脚部を前記載置盤の下
面側を横断する連結部材により連結したことを特
徴とし、前記載置盤を移動案内基準部材として前
記移動機構の移動を行わせるようにしている。
[実施例]
第1図は本実施例にかかわる多次元測定機の正
面図で、第2図はその側面図である。この多次元
測定機は三次元測定機である。測定子支持体1は
測定子2をX軸方向、Y軸方向、Z軸方向に移動
させる移動機構を構成するもので、その内側に載
置盤3が配置される。この載置盤3は石材から形
成された石定盤であり、第2図に示す通り長手方
向両側に支持部材4が取付けられている。この支
持部材4により載置盤3は基台5の上部に間隔を
開けて載せられている。
面図で、第2図はその側面図である。この多次元
測定機は三次元測定機である。測定子支持体1は
測定子2をX軸方向、Y軸方向、Z軸方向に移動
させる移動機構を構成するもので、その内側に載
置盤3が配置される。この載置盤3は石材から形
成された石定盤であり、第2図に示す通り長手方
向両側に支持部材4が取付けられている。この支
持部材4により載置盤3は基台5の上部に間隔を
開けて載せられている。
移動機構を構成する測定子支持体1は、第1図
の通り、載置盤3を左右から挟む一対の脚部8,
9と、これらの脚部8,9の上に垂直に立つ支柱
6,7と、これらの支柱6,7を載置盤3の上方
で水平のX軸方向(左右方向)に連結する横行部
材10とを含んで構成されており、脚部8,9は
載置盤3と基台5との間の空間を挿通する連結部
材11により連結されている。従つて測定子支持
体1は連結部材11を含めると載置盤3を囲む正
面形状略四角枠状となつている。本実施例では前
記横行部材10は石材により形成されており、こ
の横行部材10にスライダ12が摺動自在に取付
けられ、スライダ12と一体化されているケース
13の内部にスピンドル14がZ軸方向即ち上下
方向に移動自在に収納され、このスピンドル14
の下端に前記測定子2が取付けられる。
の通り、載置盤3を左右から挟む一対の脚部8,
9と、これらの脚部8,9の上に垂直に立つ支柱
6,7と、これらの支柱6,7を載置盤3の上方
で水平のX軸方向(左右方向)に連結する横行部
材10とを含んで構成されており、脚部8,9は
載置盤3と基台5との間の空間を挿通する連結部
材11により連結されている。従つて測定子支持
体1は連結部材11を含めると載置盤3を囲む正
面形状略四角枠状となつている。本実施例では前
記横行部材10は石材により形成されており、こ
の横行部材10にスライダ12が摺動自在に取付
けられ、スライダ12と一体化されているケース
13の内部にスピンドル14がZ軸方向即ち上下
方向に移動自在に収納され、このスピンドル14
の下端に前記測定子2が取付けられる。
載置盤3に対し脚部8,9が移動することによ
り測定子2はY軸方向へ移動し、スライダ12が
横行部材10に沿つて移動することにより測定子
2はX軸方向に移動し、スピンドル14が上下方
向に移動することにより測定子2はZ軸方向に移
動する。
り測定子2はY軸方向へ移動し、スライダ12が
横行部材10に沿つて移動することにより測定子
2はX軸方向に移動し、スピンドル14が上下方
向に移動することにより測定子2はZ軸方向に移
動する。
載置盤3の第1図中右側側面3Aには載置盤3
の長手方向に延びる突起部材15が設けられ、こ
の突起部材15に第2図の通りメインスケール1
6が取付けられている。メインスケール16は第
3図で示されている通り前記脚部9に取付けられ
たスケール体17と共に光学式検出器を構成する
ものであり、スケール体17の内部にはメインス
ケール16と対応するインデツクススケールや発
光素子、受光素子等が収納されており、脚部9が
第3図中左右方向に移動すると、発光素子から出
た光がメインスケール16、インデツクススケー
ルのために光学波形となつて受光素子で受光さ
れ、これが電気信号に変換されて脚部9のY軸方
向移動量、即ち前記測定子2のY軸方向変位量が
計測されるようになつている。
の長手方向に延びる突起部材15が設けられ、こ
の突起部材15に第2図の通りメインスケール1
6が取付けられている。メインスケール16は第
3図で示されている通り前記脚部9に取付けられ
たスケール体17と共に光学式検出器を構成する
ものであり、スケール体17の内部にはメインス
ケール16と対応するインデツクススケールや発
光素子、受光素子等が収納されており、脚部9が
第3図中左右方向に移動すると、発光素子から出
た光がメインスケール16、インデツクススケー
ルのために光学波形となつて受光素子で受光さ
れ、これが電気信号に変換されて脚部9のY軸方
向移動量、即ち前記測定子2のY軸方向変位量が
計測されるようになつている。
第5図の通り前記横行部材10には突起部材1
8が取付けられ、この突起部材18に取付けられ
たメインスケール19と前記スライダ12に設け
られたスケール体20とで前述と同様な構造のX
軸方向検出器が構成され、横行部材10に沿つた
スライダ12の移動による測定子2のX軸線方向
変位量はこの検出器によつて計測される。また第
6図の通り前記スピンドル14の側面にはメイン
スケール21が取付けられている。スライダ12
と一体化されているケース13の内部にはブロツ
ク22が収納固定され、このブロツク22にスケ
ール体23が設けられている。前記メインスケー
ル21はこのスケール体23と共に前述と同様な
構造のZ軸方向検出器を構成し、スピンドル14
の上下移動により測定子2のZ軸方向変位量がこ
の検出器によつて検出される。
8が取付けられ、この突起部材18に取付けられ
たメインスケール19と前記スライダ12に設け
られたスケール体20とで前述と同様な構造のX
軸方向検出器が構成され、横行部材10に沿つた
スライダ12の移動による測定子2のX軸線方向
変位量はこの検出器によつて計測される。また第
6図の通り前記スピンドル14の側面にはメイン
スケール21が取付けられている。スライダ12
と一体化されているケース13の内部にはブロツ
ク22が収納固定され、このブロツク22にスケ
ール体23が設けられている。前記メインスケー
ル21はこのスケール体23と共に前述と同様な
構造のZ軸方向検出器を構成し、スピンドル14
の上下移動により測定子2のZ軸方向変位量がこ
の検出器によつて検出される。
なおスピンドル14にはローラ24,25で案
内されて走行するワイヤー26の一端が連結さ
れ、ワイヤー26の他端にはバランスウエイト2
7が設けられ、スピンドル14の重量はこのバラ
ンスウエイト27で支持されている。また前記ブ
ロツク22の上下には2個のローラ群28,29
が設けられ、これらのローラ群28,29の回転
案内作用によりスピンドル14は上下に移動する
ようになつている。
内されて走行するワイヤー26の一端が連結さ
れ、ワイヤー26の他端にはバランスウエイト2
7が設けられ、スピンドル14の重量はこのバラ
ンスウエイト27で支持されている。また前記ブ
ロツク22の上下には2個のローラ群28,29
が設けられ、これらのローラ群28,29の回転
案内作用によりスピンドル14は上下に移動する
ようになつている。
また第3図で示されたスケール体17は測定誤
差を解消するためにメインスケール16に対する
傾き姿勢を調整できるようになつている。これを
具体的に説明する。前記脚部9にはブラケツト3
0が固定され、このブラケツト30にスケール体
17が図示しない締付けボルトで締付け固定され
ている。ブラケツト30には2本のねじ31,3
2が螺入せしめられ、これらのねじ31,32は
スケール体17の2個の側部17A,17Bの段
部に当接せしめられている。締付けボルトを緩
め、ねじ31,32を回転操作して進退せしめる
とスケール体17は第3図の紙面表裏方向を通る
軸線を中心に回動し、メインスケール16に対す
る姿勢角度が調整される。このような調整機構は
第5図、第6図でしめされたX軸方向検出用、Z
軸方向検出用の各スケール体20,23にも設け
られている。
差を解消するためにメインスケール16に対する
傾き姿勢を調整できるようになつている。これを
具体的に説明する。前記脚部9にはブラケツト3
0が固定され、このブラケツト30にスケール体
17が図示しない締付けボルトで締付け固定され
ている。ブラケツト30には2本のねじ31,3
2が螺入せしめられ、これらのねじ31,32は
スケール体17の2個の側部17A,17Bの段
部に当接せしめられている。締付けボルトを緩
め、ねじ31,32を回転操作して進退せしめる
とスケール体17は第3図の紙面表裏方向を通る
軸線を中心に回動し、メインスケール16に対す
る姿勢角度が調整される。このような調整機構は
第5図、第6図でしめされたX軸方向検出用、Z
軸方向検出用の各スケール体20,23にも設け
られている。
前記測定子2のX軸、Y軸、Z軸のそれぞれの
方向への移動は前記測定子支持体1等を押し操作
することにより行われるが、第3図の通り前記脚
部9にはY軸方向への微動を行わせるための微動
機構33が設けられている。この微動機構33は
第3図、第4図の通り、脚部9に定位置で回転可
能に取付けられた微動つまみ34と、微動つまみ
34のねじ杆34Aを中心に揺動自在になつてい
るクランパ部材35と、第4図の通り略コの字形
のクランパ部材35の一方の端部にねじ杆36
ATが螺入しているクランプつまみ36とから構
成されている。クランプつまみ36を回転せしめ
てねじ杆36Aの下端とクランパ部材35の他方
の端部とで前記突起部材15を挟着クランプする
ことにより、クランパ部材35は前記載置盤3と
一体化される。この状態で微動つまみ34を回転
操作すると、ねじ杆34Aとこのねじ杆34Aが
螺入しているクランパ部材35との間で送り作用
が生じ、この結果脚部9廷いては前記測定子支持
体1が載置盤3に対しY軸方向へ微動移動せしめ
られる。
方向への移動は前記測定子支持体1等を押し操作
することにより行われるが、第3図の通り前記脚
部9にはY軸方向への微動を行わせるための微動
機構33が設けられている。この微動機構33は
第3図、第4図の通り、脚部9に定位置で回転可
能に取付けられた微動つまみ34と、微動つまみ
34のねじ杆34Aを中心に揺動自在になつてい
るクランパ部材35と、第4図の通り略コの字形
のクランパ部材35の一方の端部にねじ杆36
ATが螺入しているクランプつまみ36とから構
成されている。クランプつまみ36を回転せしめ
てねじ杆36Aの下端とクランパ部材35の他方
の端部とで前記突起部材15を挟着クランプする
ことにより、クランパ部材35は前記載置盤3と
一体化される。この状態で微動つまみ34を回転
操作すると、ねじ杆34Aとこのねじ杆34Aが
螺入しているクランパ部材35との間で送り作用
が生じ、この結果脚部9廷いては前記測定子支持
体1が載置盤3に対しY軸方向へ微動移動せしめ
られる。
第5図、第6図に示されている通り、以上と同
様な微動つまみ37,40、クランプつまみ3
8,41等からなるX軸方向、Z軸方向の微動機
構39,42が前記スライダ12、ケース13に
設けられている。
様な微動つまみ37,40、クランプつまみ3
8,41等からなるX軸方向、Z軸方向の微動機
構39,42が前記スライダ12、ケース13に
設けられている。
前記石定盤としての載置盤3の第4図中左右の
側面3A,3Bおよび上面3Cは高精度に仕上げ
加工され、それぞれの平面精度が確保されている
とともに、上面3Cは水平とされ且つ側面3A,
3Bは鉛直面とされ、上面3Cに対する側面3
A,3Bの直角度は高度に確保されている。本実
施例では載置盤3の上面3Cには上面3Cに載置
される被測定物を固定するために利用するねじ穴
43が形成されている。また第1図の通り前記左
右の支柱6,7の間には連結部材44が架渡され
てこれらの支柱6,7を連結し、これにより前記
測定子支持体1の強度が向上せしめられ、測定子
支持体1の変形に基づく測定誤差の発生が防止さ
れている。
側面3A,3Bおよび上面3Cは高精度に仕上げ
加工され、それぞれの平面精度が確保されている
とともに、上面3Cは水平とされ且つ側面3A,
3Bは鉛直面とされ、上面3Cに対する側面3
A,3Bの直角度は高度に確保されている。本実
施例では載置盤3の上面3Cには上面3Cに載置
される被測定物を固定するために利用するねじ穴
43が形成されている。また第1図の通り前記左
右の支柱6,7の間には連結部材44が架渡され
てこれらの支柱6,7を連結し、これにより前記
測定子支持体1の強度が向上せしめられ、測定子
支持体1の変形に基づく測定誤差の発生が防止さ
れている。
第4図の通り前記左右の脚部8,9は正面形状
倒立L字型に形成され、これらの脚部8,9は載
置盤3の上面3C及び側面3A,3Bと対面する
上部8A,9A及び側部8B,9Bからなつてい
る。
倒立L字型に形成され、これらの脚部8,9は載
置盤3の上面3C及び側面3A,3Bと対面する
上部8A,9A及び側部8B,9Bからなつてい
る。
脚部8,9の上部8A,9Aの内部には上部エ
アーベアリング45が配置されている。これらの
上部エアーベアリング45は押えねじ46の先端
半球部で押さえられながら載置盤3の上面3Cに
対向している。また脚部8,9の側部8B,9B
の内部には側部エアーベアリング47が配置さ
れ、これらの側部エアーベアリング47も押えね
じ48の先端半球部で押さえられながら載置盤3
の側面3A,3Bに対向している。以上の上部エ
アーベアリング45、側部エアーベアリング47
はそれぞれの脚部8,9の載置盤3長手方向両側
に2個配置されている。
アーベアリング45が配置されている。これらの
上部エアーベアリング45は押えねじ46の先端
半球部で押さえられながら載置盤3の上面3Cに
対向している。また脚部8,9の側部8B,9B
の内部には側部エアーベアリング47が配置さ
れ、これらの側部エアーベアリング47も押えね
じ48の先端半球部で押さえられながら載置盤3
の側面3A,3Bに対向している。以上の上部エ
アーベアリング45、側部エアーベアリング47
はそれぞれの脚部8,9の載置盤3長手方向両側
に2個配置されている。
上部エアーベアリング45、側部エアーベアリ
ング47からエアーが噴出することにより測定子
支持体1は載置盤3に対し摺動自在となり、Y軸
方向への移動がなされる。このとき、この三次元
測定機においては測定子支持体1のY軸方向への
移動は載置盤3の側面3A,3Bを案内面として
行われる。即ち載置盤3自体を案内部材として測
定子支持体1の移動がなされるのである。載置盤
3の側面3A,3Bの鉛直度等を高度に維持して
平面加工することは上面3Cを被測定物載置用に
精密加工することから比較的容易である。従つて
第7図の従来技術のように載置盤の上面に案内レ
ール部材を平行度等を確保して取付ける等の面倒
な作業を省略できる。
ング47からエアーが噴出することにより測定子
支持体1は載置盤3に対し摺動自在となり、Y軸
方向への移動がなされる。このとき、この三次元
測定機においては測定子支持体1のY軸方向への
移動は載置盤3の側面3A,3Bを案内面として
行われる。即ち載置盤3自体を案内部材として測
定子支持体1の移動がなされるのである。載置盤
3の側面3A,3Bの鉛直度等を高度に維持して
平面加工することは上面3Cを被測定物載置用に
精密加工することから比較的容易である。従つて
第7図の従来技術のように載置盤の上面に案内レ
ール部材を平行度等を確保して取付ける等の面倒
な作業を省略できる。
なお、上部エアーベアリング45、側部エアー
ベアリング47からエアーが噴出した際、脚部
8,9は側部エアーベアリング47のエアー噴出
反力により第1図、第4図中左右外方へ広がろう
とするが、前述の通り脚部8,9は連結部材11
で連結されているためこの広がりは防止される。
ベアリング47からエアーが噴出した際、脚部
8,9は側部エアーベアリング47のエアー噴出
反力により第1図、第4図中左右外方へ広がろう
とするが、前述の通り脚部8,9は連結部材11
で連結されているためこの広がりは防止される。
前述の通りこの三次元測定機においては載置盤
3の上面3Cには案内レール部材は設けられてい
ないため、この上面3Cの全面を被測定物の載置
面として使用することができるようになる。即
ち、この三次元測定機においては載置盤3の上面
3Cの有効面積は拡大され、大きな被測定物をも
載置できるようになる。また、載置盤3の上面3
Cに被測定物を載置する際、この上面3Cには案
内レール部材等の被測定物搬入作業の障害になる
ものはないため、被測定物の向きを変える等は不
要で被測定物をそのまま載置盤3の上面3Cに載
置することができ、被測定物の搬入、搬出作業が
容易になる。更に載置盤3の上面3Cに上方へ突
出する案内レール部材が存在しないため、この分
だけ前記測定子支持体1の高さを低くでき、従つ
て三次元測定機の高さ寸法を低く抑えることがで
きるようになる。
3の上面3Cには案内レール部材は設けられてい
ないため、この上面3Cの全面を被測定物の載置
面として使用することができるようになる。即
ち、この三次元測定機においては載置盤3の上面
3Cの有効面積は拡大され、大きな被測定物をも
載置できるようになる。また、載置盤3の上面3
Cに被測定物を載置する際、この上面3Cには案
内レール部材等の被測定物搬入作業の障害になる
ものはないため、被測定物の向きを変える等は不
要で被測定物をそのまま載置盤3の上面3Cに載
置することができ、被測定物の搬入、搬出作業が
容易になる。更に載置盤3の上面3Cに上方へ突
出する案内レール部材が存在しないため、この分
だけ前記測定子支持体1の高さを低くでき、従つ
て三次元測定機の高さ寸法を低く抑えることがで
きるようになる。
また案内レール部材を廃止したことにより、第
1図、第4図中載置盤3の左右側方のいずれも開
放された状態となるため、三次元測定機の操作を
正面からは勿論のこと左右側方のいずれからもで
きるようになり、操作性が改善される。更に、本
実施例ではY軸方向検出器を構成する前記メイン
スケール16を載置盤3の側面3Aに設けたた
め、載置盤3の上面3Cに被測定物を搬入、搬出
する際にこのメインスケール16が汚れたり、破
損したりする危険性が減少し、検出器の安全性を
確保できる。
1図、第4図中載置盤3の左右側方のいずれも開
放された状態となるため、三次元測定機の操作を
正面からは勿論のこと左右側方のいずれからもで
きるようになり、操作性が改善される。更に、本
実施例ではY軸方向検出器を構成する前記メイン
スケール16を載置盤3の側面3Aに設けたた
め、載置盤3の上面3Cに被測定物を搬入、搬出
する際にこのメインスケール16が汚れたり、破
損したりする危険性が減少し、検出器の安全性を
確保できる。
以上に加えてこの三次元測定機においては、前
記測定子支持体1の脚部8,9には載置盤3の上
面3C及び側面3A,3Bと対向する上部エアー
ベアリング45、側部エアーベアリング47が設
けられ、脚部8,9は載置盤3を上部と側部から
抱え込む構造となつているため、測定子支持体1
に横方向外力が作用しても、この外力を脚部8,
9の側部8B,9Bが有効に支持し、測定子支持
体1の転倒を防止する。
記測定子支持体1の脚部8,9には載置盤3の上
面3C及び側面3A,3Bと対向する上部エアー
ベアリング45、側部エアーベアリング47が設
けられ、脚部8,9は載置盤3を上部と側部から
抱え込む構造となつているため、測定子支持体1
に横方向外力が作用しても、この外力を脚部8,
9の側部8B,9Bが有効に支持し、測定子支持
体1の転倒を防止する。
以上の本実施例にかかわる測定機に使用された
検出器は光学式エンコーダによるものであつた
が、この検出器は任意なタイプ、例えば磁気的な
ものであつてもよい。また本実施例の多次元測定
機は三次元測定機であつたが、本考案は載置盤の
上面と平行な面を測定子が二次元移動する二次元
測定機にも適用できる。更に本実施例にかかわる
測定機は載置盤を固定とし、測定子をこの載置盤
に対し移動させるタイプであつたが、本考案は測
定子に対し載置盤を移動させるタイプの測定機に
も適用でき、要すれば載置盤に載置された被測定
物と測定子とを相対移動させるものであればよ
い。
検出器は光学式エンコーダによるものであつた
が、この検出器は任意なタイプ、例えば磁気的な
ものであつてもよい。また本実施例の多次元測定
機は三次元測定機であつたが、本考案は載置盤の
上面と平行な面を測定子が二次元移動する二次元
測定機にも適用できる。更に本実施例にかかわる
測定機は載置盤を固定とし、測定子をこの載置盤
に対し移動させるタイプであつたが、本考案は測
定子に対し載置盤を移動させるタイプの測定機に
も適用でき、要すれば載置盤に載置された被測定
物と測定子とを相対移動させるものであればよ
い。
[考案の効果]
本考案によれば、載置盤の上面に測定子支持体
の移動案内基準としての案内レール部材を設け
ず、載置盤自体を測定子支持体の案内基準とした
ため、多次元測定機の組立て調整等の作業性が改
善され、また載置盤の上面の有効面積が拡大して
大きな被測定物を載置できるようになり、更に被
測定物の載置作業が容易になるとともに、測定機
取扱い操作性の向上を実現することができる。更
に本考案によれば、測定子支持体として測定子を
保持した移動機構の各脚部に載置盤の側面と対向
するエアーベアリングが設けられているため、測
定子支持体に横方向外力が作用しても測定子支持
体にこの外力に対する抵抗が生じて測定子支持体
の転倒を防止できるようになる。
の移動案内基準としての案内レール部材を設け
ず、載置盤自体を測定子支持体の案内基準とした
ため、多次元測定機の組立て調整等の作業性が改
善され、また載置盤の上面の有効面積が拡大して
大きな被測定物を載置できるようになり、更に被
測定物の載置作業が容易になるとともに、測定機
取扱い操作性の向上を実現することができる。更
に本考案によれば、測定子支持体として測定子を
保持した移動機構の各脚部に載置盤の側面と対向
するエアーベアリングが設けられているため、測
定子支持体に横方向外力が作用しても測定子支持
体にこの外力に対する抵抗が生じて測定子支持体
の転倒を防止できるようになる。
第1図は多次元測定機である三次元測定機の正
面図、第2図は第1図の側面図、第3図は第2図
の一部断面拡大図、第4図は第3図の一部断面正
面図、第5図は第1図の一部断面拡大図、第6図
は第5図の断面側面図、第7図は従来例を示す斜
視図である。 1……移動機構としての測定子支持体、2……
測定子、3……載置盤、4……支持部材、5……
基台、8,9……脚部、11……連結部材、45
……上部エアーベアリング、47……側部エアー
ベアリング。
面図、第2図は第1図の側面図、第3図は第2図
の一部断面拡大図、第4図は第3図の一部断面正
面図、第5図は第1図の一部断面拡大図、第6図
は第5図の断面側面図、第7図は従来例を示す斜
視図である。 1……移動機構としての測定子支持体、2……
測定子、3……載置盤、4……支持部材、5……
基台、8,9……脚部、11……連結部材、45
……上部エアーベアリング、47……側部エアー
ベアリング。
Claims (1)
- 載置盤に載置された被測定物と移動機構に保持
された測定子とを相対移動させ、この相対移動変
位量から被測定物の形状等を計測する多次元測定
機において、前記載置盤を上面が水平となつた縦
断面矩形とするとともに、この載置盤を支持部材
により基台に間隔を開けて載せ、前記移動機構
を、前記載置盤を左右から挟む一対の脚部と、こ
れらの脚部の上に垂直に立つ支柱と、これらの支
柱を前記載置盤の上方で水平に連結し前記測定子
の左右移動を案内する横行部材とを含んで構成
し、前記各脚部に前記載置盤の前記上面及び鉛直
側面と対向するエアーベアリングを設けてこれら
の脚部を載置盤に対し相対移動自在とし、且つ前
記各脚部を前記載置盤の下面側を横断する連結部
材により連結したことを特徴とする多次元測定
機。
Priority Applications (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985007546U JPH0548087Y2 (ja) | 1985-01-22 | 1985-01-22 | |
| GB8620370A GB2179452B (en) | 1985-01-22 | 1986-01-22 | Coordinate measuring instrument |
| BR8604536A BR8604536A (pt) | 1985-01-22 | 1986-01-22 | Instrumento para medicao de coordenadas |
| DE19863690033 DE3690033T1 (ja) | 1985-01-22 | 1986-01-22 | |
| US06/917,942 US4727653A (en) | 1985-01-22 | 1986-01-22 | Coordinate measuring instrument |
| DE19863690033 DE3690033C2 (de) | 1985-01-22 | 1986-01-22 | Koordinaten-Messinstrument |
| PCT/JP1986/000023 WO1986004407A1 (fr) | 1985-01-22 | 1986-01-22 | Instrument pour mesures multi-dimensionnelles |
| US07/094,440 US5191717A (en) | 1985-01-22 | 1987-09-08 | Coordinate measuring instrument |
| GB8815270A GB2205647B (en) | 1985-01-22 | 1988-06-27 | Coordinate measuring instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985007546U JPH0548087Y2 (ja) | 1985-01-22 | 1985-01-22 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61123913U JPS61123913U (ja) | 1986-08-04 |
| JPH0548087Y2 true JPH0548087Y2 (ja) | 1993-12-20 |
Family
ID=30485993
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985007546U Expired - Lifetime JPH0548087Y2 (ja) | 1985-01-22 | 1985-01-22 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0548087Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1995014209A1 (en) * | 1993-11-19 | 1995-05-26 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Coordinate measuring instrument |
| JP2006287098A (ja) * | 2005-04-04 | 2006-10-19 | Nsk Ltd | 位置決め装置 |
| DE102005034515B4 (de) * | 2005-07-20 | 2019-06-19 | Immobiliengesellschaft Helmut Fischer Gmbh & Co. Kg | Messstativ zur Aufnahme einer Messvorrichtung |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5777905A (en) * | 1980-10-31 | 1982-05-15 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | Measurement of three-dimensional measuring machine |
-
1985
- 1985-01-22 JP JP1985007546U patent/JPH0548087Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61123913U (ja) | 1986-08-04 |
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