JPH0573936A - トラツキングエラーの検出方法およびその検出回路 - Google Patents
トラツキングエラーの検出方法およびその検出回路Info
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- JPH0573936A JPH0573936A JP26285191A JP26285191A JPH0573936A JP H0573936 A JPH0573936 A JP H0573936A JP 26285191 A JP26285191 A JP 26285191A JP 26285191 A JP26285191 A JP 26285191A JP H0573936 A JPH0573936 A JP H0573936A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 減算器４４は、一対のウォブルピットの両再
生出力の差を求め、加算器４５は上記両再生出力の和を
求め、その１／２に相当する出力を送出する。減算器４
６は、クロックピットの再生出力と加算器４５の出力の
差を求める。除算器４７は減算器４４の出力を減算器４
６の出力で除して、その結果をトラッキングエラー信号
として出力する。 【効果】 情報記録媒体の半径や反射率の影響を受けな
いトラッキングエラー量を生成でき、もって正確なトラ
ッキングが行える。
生出力の差を求め、加算器４５は上記両再生出力の和を
求め、その１／２に相当する出力を送出する。減算器４
６は、クロックピットの再生出力と加算器４５の出力の
差を求める。除算器４７は減算器４４の出力を減算器４
６の出力で除して、その結果をトラッキングエラー信号
として出力する。 【効果】 情報記録媒体の半径や反射率の影響を受けな
いトラッキングエラー量を生成でき、もって正確なトラ
ッキングが行える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、サンプルサーボ方式の
情報記録媒体（光磁気ディスク）に対するトラッキング
時のトラッキングエラーを検出するトラッキングエラー
の検出方法およびその検出回路に関する。
情報記録媒体（光磁気ディスク）に対するトラッキング
時のトラッキングエラーを検出するトラッキングエラー
の検出方法およびその検出回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】データを書き換えることができる光磁気
ディスクには、トラッキング情報やクロック情報が光磁
気ディスクの円周方向に所定間隔で配列されているサン
プルサーボピットから得られるようにしたサンプルサー
ボ方式の光磁気ディスクがある。このサンプルサーボ方
式の光磁気ディスクには、図５に示すように同心円状ま
たはスパイラル状にトラック１が形成され、各トラック
１には、所定の回転角度毎にサンプルサーボピットＳＰ
が放射状に配列されている。そして、サンプルサーボピ
ットＳＰは、トラック１の中心線上に配置されたクロッ
クピットＰｂと、トラック１から外周および内周側に１
／４トラックピッチずらした位置に配置された一対のウ
ォブルピットＰａ、Ｐｃとから構成されている。
ディスクには、トラッキング情報やクロック情報が光磁
気ディスクの円周方向に所定間隔で配列されているサン
プルサーボピットから得られるようにしたサンプルサー
ボ方式の光磁気ディスクがある。このサンプルサーボ方
式の光磁気ディスクには、図５に示すように同心円状ま
たはスパイラル状にトラック１が形成され、各トラック
１には、所定の回転角度毎にサンプルサーボピットＳＰ
が放射状に配列されている。そして、サンプルサーボピ
ットＳＰは、トラック１の中心線上に配置されたクロッ
クピットＰｂと、トラック１から外周および内周側に１
／４トラックピッチずらした位置に配置された一対のウ
ォブルピットＰａ、Ｐｃとから構成されている。
【０００３】従来、上記のようなサンプルフォーマット
構成のサンプルサーボ方式の光磁気ディスクに対して、
トラッキングエラーの規格化は、一対のウォブルピット
Ｐａ、Ｐｃの再生出力値をａ、ｃとすると、（ａ−ｃ）
／（ａ＋ｃ）で行なっていた。
構成のサンプルサーボ方式の光磁気ディスクに対して、
トラッキングエラーの規格化は、一対のウォブルピット
Ｐａ、Ｐｃの再生出力値をａ、ｃとすると、（ａ−ｃ）
／（ａ＋ｃ）で行なっていた。
【０００４】従って、光磁気ディスク装置において、ト
ラッキングエラー検出回路は、トラッキング時、一対の
ウォブルピットＰａ、Ｐｃの再生出力値ａ、ｃを用いて
トラッキングエラー量（ａ−ｃ）／（ａ＋ｃ）を演算に
より求める。光磁気ディスク装置は、トラッキングエラ
ー回路にて求めたトラッキングエラー量にもとづいてト
ラッキングサーボをかけることによって、レーザスポッ
トが記録トラック上を走査するようにコントロールして
いる。
ラッキングエラー検出回路は、トラッキング時、一対の
ウォブルピットＰａ、Ｐｃの再生出力値ａ、ｃを用いて
トラッキングエラー量（ａ−ｃ）／（ａ＋ｃ）を演算に
より求める。光磁気ディスク装置は、トラッキングエラ
ー回路にて求めたトラッキングエラー量にもとづいてト
ラッキングサーボをかけることによって、レーザスポッ
トが記録トラック上を走査するようにコントロールして
いる。
【０００５】この場合、サンプルサーボピットＳＰを構
成する、一対のウォブルピットＰａ、Ｐｃおよびクロッ
クピットＰｂの各再生出力値ａ、ｃおよびｂは、図６に
示す如く波高値をα、平均値（オフセット）をβとし、
光磁気ディスクの半径をｒ、トラックピッチをＴとする
と、 ｂ＝α｛ｃｏｓ（２πｒ／Ｔ）＋β｝ ・・・・・・・・・・・（１） ａ＝α｛ｃｏｓ（２πｒ／Ｔ−π／４）＋β｝ ・・・・・・・（２） ｃ＝α｛ｃｏｓ（２πｒ／Ｔ＋π／４）＋β｝ ＝α｛−ｃｏｓ（２πｒ／Ｔ−π／４）＋β｝ ・・・・・・（３） となる。ここに、α、βは、半径ｒの関数である。
成する、一対のウォブルピットＰａ、Ｐｃおよびクロッ
クピットＰｂの各再生出力値ａ、ｃおよびｂは、図６に
示す如く波高値をα、平均値（オフセット）をβとし、
光磁気ディスクの半径をｒ、トラックピッチをＴとする
と、 ｂ＝α｛ｃｏｓ（２πｒ／Ｔ）＋β｝ ・・・・・・・・・・・（１） ａ＝α｛ｃｏｓ（２πｒ／Ｔ−π／４）＋β｝ ・・・・・・・（２） ｃ＝α｛ｃｏｓ（２πｒ／Ｔ＋π／４）＋β｝ ＝α｛−ｃｏｓ（２πｒ／Ｔ−π／４）＋β｝ ・・・・・・（３） となる。ここに、α、βは、半径ｒの関数である。
【０００６】また、光磁気ディスクの内側から半径方向
の外側に向かってｎ番目のトラック１では、 ｒ＝ｎＴ＋△ｒ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（４） である。ここに、△ｒは、極めて小さいものである。
の外側に向かってｎ番目のトラック１では、 ｒ＝ｎＴ＋△ｒ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（４） である。ここに、△ｒは、極めて小さいものである。
【０００７】以上より、トラッキングエラー量（ａ−
ｃ）／（ａ＋ｃ）は、 （ａ−ｃ）／（ａ＋ｃ）＝２αｃｏｓ（２πｒ／Ｔ−π／４）／２αβ ＝ｓｉｎ（２π△ｒ／Ｔ）／β ≒（１／β）・（２π△ｒ／Ｔ） ＝２π△ｒ／βＴ ・・・・・・・・・（５） となる。従って、トラッキングエラーは、上記（５）式
より、反射率の影響を受けないことが判かる。
ｃ）／（ａ＋ｃ）は、 （ａ−ｃ）／（ａ＋ｃ）＝２αｃｏｓ（２πｒ／Ｔ−π／４）／２αβ ＝ｓｉｎ（２π△ｒ／Ｔ）／β ≒（１／β）・（２π△ｒ／Ｔ） ＝２π△ｒ／βＴ ・・・・・・・・・（５） となる。従って、トラッキングエラーは、上記（５）式
より、反射率の影響を受けないことが判かる。
【０００８】
【発明が解決しょうとする課題】しかしながら、上述し
た従来のトラッキングエラーの規格化では、トラッキン
グエラーには、上記（５）式から判かるように光磁気デ
ィスクの半径ｒの関数であるβの影響が残ることにな
る。このため、従来の光磁気ディスク装置のトラッキン
グエラー検出回路では、正確なオフセット量（トラッキ
ングエラー量）を求める（検出する）ことができない。
従って、正確なトラッキングを行なうことができないと
いう問題があった。
た従来のトラッキングエラーの規格化では、トラッキン
グエラーには、上記（５）式から判かるように光磁気デ
ィスクの半径ｒの関数であるβの影響が残ることにな
る。このため、従来の光磁気ディスク装置のトラッキン
グエラー検出回路では、正確なオフセット量（トラッキ
ングエラー量）を求める（検出する）ことができない。
従って、正確なトラッキングを行なうことができないと
いう問題があった。
【０００９】本発明の目的は、光磁気ディスクの半径や
反射率の影響を受けずにトラッキングエラー量を検出す
ることができ、もって正確なトラッキングが行なえるよ
うにしたトラッキングエラーの検出方法およびその検出
回路を提供することにある。
反射率の影響を受けずにトラッキングエラー量を検出す
ることができ、もって正確なトラッキングが行なえるよ
うにしたトラッキングエラーの検出方法およびその検出
回路を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】請求項１記載のトラッキ
ングエラー検出方法は、トラックの方向に、一対のウォ
ブルピットとクロックピットからなるサンプルサーボピ
ットを配置してなるサンプルサーボ方式の情報記録媒体
に対するトラッキング時のトラッキングエラーを検出す
るトラッキングエラー検出方法において、一対のウォブ
ルピットの再生出力値ａ、ｃとクロックピットの再生出
力値ｂより、トラッキングエラーを、 （ａ−ｃ）／｛ｂ−（ａ＋ｃ）／２｝ として検出するようにしたことを特徴とする。
ングエラー検出方法は、トラックの方向に、一対のウォ
ブルピットとクロックピットからなるサンプルサーボピ
ットを配置してなるサンプルサーボ方式の情報記録媒体
に対するトラッキング時のトラッキングエラーを検出す
るトラッキングエラー検出方法において、一対のウォブ
ルピットの再生出力値ａ、ｃとクロックピットの再生出
力値ｂより、トラッキングエラーを、 （ａ−ｃ）／｛ｂ−（ａ＋ｃ）／２｝ として検出するようにしたことを特徴とする。
【００１１】請求項２記載のトラッキングエラー検出回
路は、トラックの方向に、一対のウォブルピットとクロ
ックピットからなるサンプルサーボピットを配置してな
るサンプルサーボ方式の情報記録媒体に対するトラッキ
ング時のトラッキングエラーを検出するトラッキングエ
ラー検出回路において、一対のウォブルピットの再生出
力値ａ、ｃの差（ａ−ｃ）を演算し出力する第１の演算
手段と、一対のウォブルピットの再生出力値ａ、ｃの和
（ａ＋ｃ）を演算しその１／２に相当する出力を送出す
る第２の演算手段と、クロックピットの再生出力値ｂと
第２の演算手段の出力値（ａ＋ｃ）／２の差｛ｂ−（ａ
＋ｃ）／２｝を演算し出力する第３の演算手段と、第１
の演算手段の出力を第３の演算手段の出力で除する演算
を行ないその演算結果をトラッキングエラーとして出力
する第４の演算手段とを備えたことを特徴とする。
路は、トラックの方向に、一対のウォブルピットとクロ
ックピットからなるサンプルサーボピットを配置してな
るサンプルサーボ方式の情報記録媒体に対するトラッキ
ング時のトラッキングエラーを検出するトラッキングエ
ラー検出回路において、一対のウォブルピットの再生出
力値ａ、ｃの差（ａ−ｃ）を演算し出力する第１の演算
手段と、一対のウォブルピットの再生出力値ａ、ｃの和
（ａ＋ｃ）を演算しその１／２に相当する出力を送出す
る第２の演算手段と、クロックピットの再生出力値ｂと
第２の演算手段の出力値（ａ＋ｃ）／２の差｛ｂ−（ａ
＋ｃ）／２｝を演算し出力する第３の演算手段と、第１
の演算手段の出力を第３の演算手段の出力で除する演算
を行ないその演算結果をトラッキングエラーとして出力
する第４の演算手段とを備えたことを特徴とする。
【００１２】
【作用】請求項１記載のトラッキングエラー検出方法に
おいては、一対のウォブルピットの再生出力値ａ、ｃと
クロックピットの再生出力値ｂより、トラッキングエラ
ーを、 （ａ−ｃ）／｛ｂ−（ａ＋ｃ）／２｝ として検出する。
おいては、一対のウォブルピットの再生出力値ａ、ｃと
クロックピットの再生出力値ｂより、トラッキングエラ
ーを、 （ａ−ｃ）／｛ｂ−（ａ＋ｃ）／２｝ として検出する。
【００１３】請求項２記載のトラッキングエラー検出回
路においては、第１の演算手段は、一対のウォブルピッ
トの再生出力値ａ、ｃの差（ａ−ｃ）を演算し第４の演
算手段に出力する。第２の演算手段は、一対のウォブル
ピットの再生出力値ａ、ｃの和（ａ＋ｃ）を演算しその
１／２に相当する出力を第３の演算手段に送出する。第
３の演算手段は、クロックピットの再生出力値ｂと第２
の演算手段の出力値（ａ＋ｃ）／２の差｛ｂ−（ａ＋
ｃ）／２｝を演算し第４の演算手段に出力する。第４の
演算手段は、第１の演算手段の出力を第３の演算手段の
出力で除する演算を行ないその演算結果をトラッキング
エラーとして出力する。
路においては、第１の演算手段は、一対のウォブルピッ
トの再生出力値ａ、ｃの差（ａ−ｃ）を演算し第４の演
算手段に出力する。第２の演算手段は、一対のウォブル
ピットの再生出力値ａ、ｃの和（ａ＋ｃ）を演算しその
１／２に相当する出力を第３の演算手段に送出する。第
３の演算手段は、クロックピットの再生出力値ｂと第２
の演算手段の出力値（ａ＋ｃ）／２の差｛ｂ−（ａ＋
ｃ）／２｝を演算し第４の演算手段に出力する。第４の
演算手段は、第１の演算手段の出力を第３の演算手段の
出力で除する演算を行ないその演算結果をトラッキング
エラーとして出力する。
【００１４】以上のようにすると、光磁気ディスクの半
径や反射率の影響を受けないトラッキングエラー量を生
成する（検出する）ことができ、もって正確なトラッキ
ングが行えるようになる。
径や反射率の影響を受けないトラッキングエラー量を生
成する（検出する）ことができ、もって正確なトラッキ
ングが行えるようになる。
【００１５】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を用いて説
明する。図２は、本発明を適用した光磁気ディスク装置
の一実施例の構成を示すブロック図である。情報記録媒
体としてのサンプルサーボ方式の光磁気ディスク１２
は、スピンドルモータ１１により回転されるようになさ
れている。磁気ヘッド１３は、光磁気ディスク１２に対
して記録信号に対応する極性の磁界を付与する。また、
光学（ＯＰ）ブロック１４は光磁気ディスク１２に対し
てレーザ光を照射する。スライドモータ１５は、磁気ヘ
ッド１３と光学ブロック１４を光磁気ディスク１２の半
径方向に移動させる。ＡＧＣ回路１６は、光学ブロック
１４より出力された信号の利得を制御し、再生信号をＡ
／Ｄ変換器２７に出力する。また、ＡＧＣ回路１６は再
生信号の一部をＡ／Ｄ変換器１８に出力する。ＡＰＣ回
路１７は、光学ブロック１４に内蔵されている、例えば
半導体レーザなどを制御し、そこより出力されるレーザ
光の強度を制御する。
明する。図２は、本発明を適用した光磁気ディスク装置
の一実施例の構成を示すブロック図である。情報記録媒
体としてのサンプルサーボ方式の光磁気ディスク１２
は、スピンドルモータ１１により回転されるようになさ
れている。磁気ヘッド１３は、光磁気ディスク１２に対
して記録信号に対応する極性の磁界を付与する。また、
光学（ＯＰ）ブロック１４は光磁気ディスク１２に対し
てレーザ光を照射する。スライドモータ１５は、磁気ヘ
ッド１３と光学ブロック１４を光磁気ディスク１２の半
径方向に移動させる。ＡＧＣ回路１６は、光学ブロック
１４より出力された信号の利得を制御し、再生信号をＡ
／Ｄ変換器２７に出力する。また、ＡＧＣ回路１６は再
生信号の一部をＡ／Ｄ変換器１８に出力する。ＡＰＣ回
路１７は、光学ブロック１４に内蔵されている、例えば
半導体レーザなどを制御し、そこより出力されるレーザ
光の強度を制御する。
【００１６】Ａ／Ｄ変換器１８は、ＡＧＣ回路１６より
供給された再生信号をＡ／Ｄ変換し、サーボパターン検
出回路１９、ＰＬＬエラー検出回路２０、トラッキング
エラー検出回路２１およびグレイコード検出回路２２に
それぞれ供給するようになっている。タイミングジェネ
レータ２３は、サーボパターン検出回路１９の出力に対
応して所定のタイミング信号を生成し、ＰＬＬエラー検
出回路２０、トラッキングエラー検出回路２１およびグ
レイコード検出回路２２に出力している。ＶＣＯ２４
は、ＰＬＬエラー検出回路２０の出力に対応して所定の
周波数と位相のマスタクロックを発生し、タイミングジ
ェネレータ２３、Ａ／Ｄ変換器１８およびディレイコン
トローラ２６に供給する。
供給された再生信号をＡ／Ｄ変換し、サーボパターン検
出回路１９、ＰＬＬエラー検出回路２０、トラッキング
エラー検出回路２１およびグレイコード検出回路２２に
それぞれ供給するようになっている。タイミングジェネ
レータ２３は、サーボパターン検出回路１９の出力に対
応して所定のタイミング信号を生成し、ＰＬＬエラー検
出回路２０、トラッキングエラー検出回路２１およびグ
レイコード検出回路２２に出力している。ＶＣＯ２４
は、ＰＬＬエラー検出回路２０の出力に対応して所定の
周波数と位相のマスタクロックを発生し、タイミングジ
ェネレータ２３、Ａ／Ｄ変換器１８およびディレイコン
トローラ２６に供給する。
【００１７】シークおよびトラッキングサーボコントロ
ーラ２５は、トラッキングエラー検出回路２１およびグ
レイコード検出回路２２の出力に対応して、光学ブロッ
ク１４とスライドモータ１５を制御するようになされて
いる。
ーラ２５は、トラッキングエラー検出回路２１およびグ
レイコード検出回路２２の出力に対応して、光学ブロッ
ク１４とスライドモータ１５を制御するようになされて
いる。
【００１８】ディレイコントローラ２６は、ＶＣＯ２４
より入力されたマスタクロックを、ドライブコントロー
ラ３２より供給される制御信号に対応する時間だけ遅延
し、データリードクロックおよびデータライトクロック
として、それぞれＡ／Ｄ変換器２７およびエンコーダ２
８に出力する。イコライザ２９は、Ａ／Ｄ変換器２７よ
り出力された再生データに所定のイコライズ処理を施し
た後、データ検出回路３０に出力している。データ検出
回路３０は、イコライザ２９の出力からデータを検出
し、デコーダ３１に出力するようになされている。デコ
ーダ３１は、データ検出回路３０からのデータをデコー
ドしリードデータとして出力する。
より入力されたマスタクロックを、ドライブコントロー
ラ３２より供給される制御信号に対応する時間だけ遅延
し、データリードクロックおよびデータライトクロック
として、それぞれＡ／Ｄ変換器２７およびエンコーダ２
８に出力する。イコライザ２９は、Ａ／Ｄ変換器２７よ
り出力された再生データに所定のイコライズ処理を施し
た後、データ検出回路３０に出力している。データ検出
回路３０は、イコライザ２９の出力からデータを検出
し、デコーダ３１に出力するようになされている。デコ
ーダ３１は、データ検出回路３０からのデータをデコー
ドしリードデータとして出力する。
【００１９】次に、その動作について説明する。ドライ
ブコントローラ３２は、図示せぬ手段から、例えば記録
のコマンドが指令されたとき、スピンドルモータ１１を
制御して光磁気ディスク１２を所定の速度で回転させ
る。エンコーダ２８は、図示せぬ回路から供給されたラ
イトデータをデータライトクロックのタイミングでエン
コードし、磁気ヘッド１３に供給する。磁気ヘッド１３
は、エンコーダ２８より供給されたライトデータに対応
して、光磁気ディスク１２に印加する磁極を変化させ
る。このとき、光学ブロック１４より光磁気ディスク１
２に対してレーザ光が照射されているため、光磁気ディ
スク１２には所定のデータが書き込まれることになる。
ブコントローラ３２は、図示せぬ手段から、例えば記録
のコマンドが指令されたとき、スピンドルモータ１１を
制御して光磁気ディスク１２を所定の速度で回転させ
る。エンコーダ２８は、図示せぬ回路から供給されたラ
イトデータをデータライトクロックのタイミングでエン
コードし、磁気ヘッド１３に供給する。磁気ヘッド１３
は、エンコーダ２８より供給されたライトデータに対応
して、光磁気ディスク１２に印加する磁極を変化させ
る。このとき、光学ブロック１４より光磁気ディスク１
２に対してレーザ光が照射されているため、光磁気ディ
スク１２には所定のデータが書き込まれることになる。
【００２０】一方、再生モードが指令されたとき、ドラ
イブコントローラ３２の制御のもとに、光学ブロック１
４は光磁気ディスク１２に対して照射するレーザ光の強
度を記録時における場合より弱くする。そして、光磁気
ディスク１２に記録されている情報を再生する。光学ブ
ロック１４より出力された再生信号はＡＧＣ回路１６に
供給され、そのゲインが調整された後、Ａ／Ｄ変換器２
７に供給される。Ａ／Ｄ変換器２７は、ディレイコント
ローラ２６より入力されるデータリードクロックに対応
して再生信号をＡ／Ｄ変換する。Ａ／Ｄ変換器２７より
出力された再生データは、イコライザ２９により所定の
特性にイコライズされた後、データ検出回路３０に供給
される。データ検出回路３０は、種々のデータの中から
所望のデータを検出する。データ検出回路３０により検
出されたデータはデコーダ３１に供給され、デコードさ
れた後、リードデータとして図示せぬ回路に出力され
る。
イブコントローラ３２の制御のもとに、光学ブロック１
４は光磁気ディスク１２に対して照射するレーザ光の強
度を記録時における場合より弱くする。そして、光磁気
ディスク１２に記録されている情報を再生する。光学ブ
ロック１４より出力された再生信号はＡＧＣ回路１６に
供給され、そのゲインが調整された後、Ａ／Ｄ変換器２
７に供給される。Ａ／Ｄ変換器２７は、ディレイコント
ローラ２６より入力されるデータリードクロックに対応
して再生信号をＡ／Ｄ変換する。Ａ／Ｄ変換器２７より
出力された再生データは、イコライザ２９により所定の
特性にイコライズされた後、データ検出回路３０に供給
される。データ検出回路３０は、種々のデータの中から
所望のデータを検出する。データ検出回路３０により検
出されたデータはデコーダ３１に供給され、デコードさ
れた後、リードデータとして図示せぬ回路に出力され
る。
【００２１】一方、ＡＧＣ回路１６が出力する再生信号
の一部は、Ａ／Ｄ変換器１８に入力されＡ／Ｄ変換され
る。Ａ／Ｄ変換器１８より出力されたデータは、サーボ
パターン検出回路１９、ＰＬＬエラー検出回路２０、ト
ラッキングエラー検出回路２１およびグレイコード検出
回路２２にそれぞれ供給される。サーボパターン検出回
路１９は、入力されたデータからサーボパターンを検出
し、その検出結果をタイミングジェネレータ２３に出力
する。タイミングジェネレータ２３は、このサーボパタ
ーン検出回路１９からの出力に対応して所定のタイミン
グでタイミング信号を生成し、ＰＬＬエラー検出回路２
０、トラッキングエラー検出回路２１およびグレイコー
ド検出回路２２にそれぞれ出力している。
の一部は、Ａ／Ｄ変換器１８に入力されＡ／Ｄ変換され
る。Ａ／Ｄ変換器１８より出力されたデータは、サーボ
パターン検出回路１９、ＰＬＬエラー検出回路２０、ト
ラッキングエラー検出回路２１およびグレイコード検出
回路２２にそれぞれ供給される。サーボパターン検出回
路１９は、入力されたデータからサーボパターンを検出
し、その検出結果をタイミングジェネレータ２３に出力
する。タイミングジェネレータ２３は、このサーボパタ
ーン検出回路１９からの出力に対応して所定のタイミン
グでタイミング信号を生成し、ＰＬＬエラー検出回路２
０、トラッキングエラー検出回路２１およびグレイコー
ド検出回路２２にそれぞれ出力している。
【００２２】ＰＬＬエラー検出回路２０は、Ａ／Ｄ変換
器１８の出力からＰＬＬエラーを検出する。ＶＣＯ２４
は、ＰＬＬエラー検出回路２０が出力するＰＬＬエラー
信号に対応して、出力するクロックの周波数と位相を制
御する。ＶＣＯ２４より出力されたマスタクロックは、
タイミングジェネラータ２３、Ａ／Ｄ変換器１８および
ディレイコントローラ２６に供給される。
器１８の出力からＰＬＬエラーを検出する。ＶＣＯ２４
は、ＰＬＬエラー検出回路２０が出力するＰＬＬエラー
信号に対応して、出力するクロックの周波数と位相を制
御する。ＶＣＯ２４より出力されたマスタクロックは、
タイミングジェネラータ２３、Ａ／Ｄ変換器１８および
ディレイコントローラ２６に供給される。
【００２３】また、トラッキングエラー検出回路２１
は、Ａ／Ｄ変換器１８の出力データをもとにトラッキン
グエラー信号を生成する（検出する）。このトラッキン
グエラー検出回路２１の詳細については図１を用いて後
述する。
は、Ａ／Ｄ変換器１８の出力データをもとにトラッキン
グエラー信号を生成する（検出する）。このトラッキン
グエラー検出回路２１の詳細については図１を用いて後
述する。
【００２４】トラッキングエラー検出回路２１からのト
ラッキングエラー信号は、シークおよびトラッキングサ
ーボコントローラ２５に供給され、シークおよびトラッ
キングサーボコントローラ２５は、入力されたトラッキ
ングエラー検出回路２１およびグレイコード検出回路２
２の出力に対応して、光学ブロック１４とスライドモー
タ１５を制御する。スライドモータ１５は、シークおよ
びトラッキングサーボコントローラ２５の制御のもと
に、磁気ヘッド１３と光学ブロック１４を光磁気ディス
ク１２の半径方向に移動させる。
ラッキングエラー信号は、シークおよびトラッキングサ
ーボコントローラ２５に供給され、シークおよびトラッ
キングサーボコントローラ２５は、入力されたトラッキ
ングエラー検出回路２１およびグレイコード検出回路２
２の出力に対応して、光学ブロック１４とスライドモー
タ１５を制御する。スライドモータ１５は、シークおよ
びトラッキングサーボコントローラ２５の制御のもと
に、磁気ヘッド１３と光学ブロック１４を光磁気ディス
ク１２の半径方向に移動させる。
【００２５】次に、サンプルサーボピットの再生信号に
ついて図３を用いて説明する。図３は、光磁気ディスク
（ＣＡＶディスク）１２上の半径方向のサンプルサーボ
ピットの再生信号の説明図であって、同図（Ａ）は光磁
気ディスク１２上の半径方向のサンプルサーボピットと
再生信号の関係を示し、同図（Ｂ）は同図（Ａ）に対応
する半径方向のクロックピットの再生信号と半径ｒとの
関係を示す。
ついて図３を用いて説明する。図３は、光磁気ディスク
（ＣＡＶディスク）１２上の半径方向のサンプルサーボ
ピットの再生信号の説明図であって、同図（Ａ）は光磁
気ディスク１２上の半径方向のサンプルサーボピットと
再生信号の関係を示し、同図（Ｂ）は同図（Ａ）に対応
する半径方向のクロックピットの再生信号と半径ｒとの
関係を示す。
【００２６】サンプルサーボ方式の光磁気ディスク１２
上の各トラック１には、前述したように内周から外周に
向かって放射状に一対のウォブルピットＰａ、Ｐｃとク
ロックピットＰｂが配列されている。光学ブロック１４
からのレーザ光スポット２が図示の如くサンプルサーボ
ピットに当たると、その反射光が光学ブロック１４にて
電気信号に変換されＡＧＣ回路１６を介してＡ／Ｄ変換
器１８に供給される。ＡＧＣ回路１６からのサンプルサ
ーボピット、即ち一対のウォブルピットＰａ、Ｐｃおよ
びクロックピットＰｂの再生信号は、内周側では図３
（Ａ）に実線で示すａ、ｃおよびｂの如くなり、外周側
では図３（Ａ）に鎖線で示すａ、ｃおよびｂの如くな
る。例えば、クロックピットＰｂの再生信号を半径方向
でみると、同図（Ｂ）に示す如くなり、これによりトラ
ッキングエラーゲインは、外周へ行くに従って大きくな
ることが判かる。これは、スポット２に対するピットの
相対的大きさが、外周にいく程大きくなるからである。
上の各トラック１には、前述したように内周から外周に
向かって放射状に一対のウォブルピットＰａ、Ｐｃとク
ロックピットＰｂが配列されている。光学ブロック１４
からのレーザ光スポット２が図示の如くサンプルサーボ
ピットに当たると、その反射光が光学ブロック１４にて
電気信号に変換されＡＧＣ回路１６を介してＡ／Ｄ変換
器１８に供給される。ＡＧＣ回路１６からのサンプルサ
ーボピット、即ち一対のウォブルピットＰａ、Ｐｃおよ
びクロックピットＰｂの再生信号は、内周側では図３
（Ａ）に実線で示すａ、ｃおよびｂの如くなり、外周側
では図３（Ａ）に鎖線で示すａ、ｃおよびｂの如くな
る。例えば、クロックピットＰｂの再生信号を半径方向
でみると、同図（Ｂ）に示す如くなり、これによりトラ
ッキングエラーゲインは、外周へ行くに従って大きくな
ることが判かる。これは、スポット２に対するピットの
相対的大きさが、外周にいく程大きくなるからである。
【００２７】次に、トラッキングエラー検出回路２１に
ついて図１、図４を用いて説明する。なお、図１は図２
のトラッキングエラー検出回路２１の一実施例を示すブ
ロック図、図４は図１の動作説明に用いるタイミングチ
ャートである。
ついて図１、図４を用いて説明する。なお、図１は図２
のトラッキングエラー検出回路２１の一実施例を示すブ
ロック図、図４は図１の動作説明に用いるタイミングチ
ャートである。
【００２８】図１において、トラッキングエラー検出回
路２１は、ラッチ回路４１〜４３、４８と減算器４４、
４６と加算器４５と除算器４７とから構成される。ラッ
チ回路４１〜４３には、それぞれ図２のタイミングジェ
ネレータ２３より図４（Ｃ）〜（Ｅ）に示すタイミング
信号Ｔａ、Ｔｂ、Ｔｃが供給され、Ａ／Ｄ変換器１８の
出力、即ち図４（Ａ）に示すサンプルサーボピットを構
成するウォブルピットＰａ、クロックピットＰｂ、ウォ
ブルピットＰｃの再生信号ａ、ｂ、ｃのピーク点の信号
レベル（以下、これらピーク点の信号レベルをａ、ｂ、
ｃとする）がラッチされる。
路２１は、ラッチ回路４１〜４３、４８と減算器４４、
４６と加算器４５と除算器４７とから構成される。ラッ
チ回路４１〜４３には、それぞれ図２のタイミングジェ
ネレータ２３より図４（Ｃ）〜（Ｅ）に示すタイミング
信号Ｔａ、Ｔｂ、Ｔｃが供給され、Ａ／Ｄ変換器１８の
出力、即ち図４（Ａ）に示すサンプルサーボピットを構
成するウォブルピットＰａ、クロックピットＰｂ、ウォ
ブルピットＰｃの再生信号ａ、ｂ、ｃのピーク点の信号
レベル（以下、これらピーク点の信号レベルをａ、ｂ、
ｃとする）がラッチされる。
【００２９】減算器４４は、ラッチ回路４１の出力ａと
ラッチ回路４３の出力ｃの差（ａ−ｃ）を演算し、その
演算結果を除算器４７に出力する。ここに、（ａ−ｃ）
は前記（２）、（３）式より、（ａ−ｃ）＝２αｃｏｓ
（２πｒ／Ｔ−π／４）となる。また、加算器４５はラ
ッチ回路４１の出力ａとラッチ回路４３の出力ｃとの和
を演算し、その演算結果の１／２に相当する出力（ａ＋
ｃ）／２を減算器４６に送出する。ここに、（ａ＋ｃ）
／２は前記（２）、（３）式より、（ａ＋ｃ）／２＝
（１／２）×２αβ＝αβとなる。
ラッチ回路４３の出力ｃの差（ａ−ｃ）を演算し、その
演算結果を除算器４７に出力する。ここに、（ａ−ｃ）
は前記（２）、（３）式より、（ａ−ｃ）＝２αｃｏｓ
（２πｒ／Ｔ−π／４）となる。また、加算器４５はラ
ッチ回路４１の出力ａとラッチ回路４３の出力ｃとの和
を演算し、その演算結果の１／２に相当する出力（ａ＋
ｃ）／２を減算器４６に送出する。ここに、（ａ＋ｃ）
／２は前記（２）、（３）式より、（ａ＋ｃ）／２＝
（１／２）×２αβ＝αβとなる。
【００３０】減算器４６は、ラッチ回路４２の出力ｂと
加算器４５の出力（ａ＋ｃ）／２の差｛ｂ−（ａ＋ｃ）
／２｝を演算し、その演算結果を除算器４７に出力す
る。この場合、ジャストトラックでのクロックピットＰ
ｂの再生信号のレベルをｂ0 とすると、前記（１）式よ
り、 ｂ0 ＝α（１＋β） ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（６） であり、オントラック近くではｂ＝ｂ0 となる。従っ
て、ここでは減算器４６は、ｂ＝ｂ0 として上記演算を
行ない、その演算結果｛ｂ0 −（ａ＋ｃ）／２｝を送出
する。ここに、｛ｂ0 −（ａ＋ｃ）／２｝は前記（６）
式より、 となる。
加算器４５の出力（ａ＋ｃ）／２の差｛ｂ−（ａ＋ｃ）
／２｝を演算し、その演算結果を除算器４７に出力す
る。この場合、ジャストトラックでのクロックピットＰ
ｂの再生信号のレベルをｂ0 とすると、前記（１）式よ
り、 ｂ0 ＝α（１＋β） ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（６） であり、オントラック近くではｂ＝ｂ0 となる。従っ
て、ここでは減算器４６は、ｂ＝ｂ0 として上記演算を
行ない、その演算結果｛ｂ0 −（ａ＋ｃ）／２｝を送出
する。ここに、｛ｂ0 −（ａ＋ｃ）／２｝は前記（６）
式より、 となる。
【００３１】除算器４７は、減算器４４からの入力Ｘを
減算器４６からの入力Ｙで除算し、その演算結果Ｘ／
Ｙ、即ち（ａ−ｃ）／｛ｂ0 −（ａ＋ｃ）／２｝をラッ
チ回路４８に出力する。ここに、演算結果（ａ−ｃ）／
｛ｂ0 −（ａ＋ｃ）／２｝は、 （ａ−ｃ）／｛ｂ0 −（ａ＋ｃ）／２｝＝２ｃｏｓ（２πｒ／Ｔ−π／４） ＝２ｃｏｓ（２π△ｒ／Ｔ−π／４） ＝２ｓｉｎ（２π△ｒ／Ｔ） ≒２×（２π△ｒ／Ｔ） ＝４π△ｒ／Ｔ ・・・・・（７） となる。
減算器４６からの入力Ｙで除算し、その演算結果Ｘ／
Ｙ、即ち（ａ−ｃ）／｛ｂ0 −（ａ＋ｃ）／２｝をラッ
チ回路４８に出力する。ここに、演算結果（ａ−ｃ）／
｛ｂ0 −（ａ＋ｃ）／２｝は、 （ａ−ｃ）／｛ｂ0 −（ａ＋ｃ）／２｝＝２ｃｏｓ（２πｒ／Ｔ−π／４） ＝２ｃｏｓ（２π△ｒ／Ｔ−π／４） ＝２ｓｉｎ（２π△ｒ／Ｔ） ≒２×（２π△ｒ／Ｔ） ＝４π△ｒ／Ｔ ・・・・・（７） となる。
【００３２】ラッチ回路４８は、タイミングジェネレー
タ２３からの図４（Ｆ）に示すタイミング信号Ｔｘで、
除算器４７からの出力である演算結果をラッチし、その
演算結果（上記（７）式で示される）をトラッキングエ
ラー信号として、シークおよびトラッキングサーボコン
トローラ２５に供給し、シークおよびトラッキングサー
ボコントローラ２５はこれにもとづいてトラッキングサ
ーボをかけることになる。
タ２３からの図４（Ｆ）に示すタイミング信号Ｔｘで、
除算器４７からの出力である演算結果をラッチし、その
演算結果（上記（７）式で示される）をトラッキングエ
ラー信号として、シークおよびトラッキングサーボコン
トローラ２５に供給し、シークおよびトラッキングサー
ボコントローラ２５はこれにもとづいてトラッキングサ
ーボをかけることになる。
【００３３】なお、減算器４４、４６、加算器４５、除
算器４７による演算は、図４（Ｅ）、（Ｆ）に示すタイ
ミング信号ＴｃとＴｘ間の時間Ｔｏで行なわれる。
算器４７による演算は、図４（Ｅ）、（Ｆ）に示すタイ
ミング信号ＴｃとＴｘ間の時間Ｔｏで行なわれる。
【００３４】以上の説明から判かるように、トラッキン
グエラー量は、オントラック近くでは前記（７）式のよ
うになり、光磁気ディスク１２の半径ｒや、ウォブルピ
ットＰａ、Ｐｃ、クロックピットＰｂのピット長や、光
磁気ディスク１２の反射率の影響を受けないようにする
ことができるので、正確なトラッキングが可能となる。
グエラー量は、オントラック近くでは前記（７）式のよ
うになり、光磁気ディスク１２の半径ｒや、ウォブルピ
ットＰａ、Ｐｃ、クロックピットＰｂのピット長や、光
磁気ディスク１２の反射率の影響を受けないようにする
ことができるので、正確なトラッキングが可能となる。
【００３５】また、従来のトラッキングエラーゲイン
は、図３（Ｂ）から判かるように内周側に近い程小さ
く、外周側に行くほど大きい。従って、従来は、前述し
たようにトラッキングエラーは、βの影響、即ち半径ｒ
の影響を受け、一定でなかった。これに対して、本発明
では前記（７）式から判かるようにトラッキングエラー
は、光磁気ディスク１２の半径ｒの影響を受けない。こ
のため、光磁気ディスク１２の内周側でも外周側でもト
ラッキングエラーゲインを一定にすることができ、正確
なトラッキングが可能となる。
は、図３（Ｂ）から判かるように内周側に近い程小さ
く、外周側に行くほど大きい。従って、従来は、前述し
たようにトラッキングエラーは、βの影響、即ち半径ｒ
の影響を受け、一定でなかった。これに対して、本発明
では前記（７）式から判かるようにトラッキングエラー
は、光磁気ディスク１２の半径ｒの影響を受けない。こ
のため、光磁気ディスク１２の内周側でも外周側でもト
ラッキングエラーゲインを一定にすることができ、正確
なトラッキングが可能となる。
【００３６】本発明は、本実施例に限定されることな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の応用および
変形が考えられる。
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の応用および
変形が考えられる。
【００３７】
【発明の効果】上述したように本発明によれば、トラッ
キングエラー量を情報記録媒体の半径や反射率やピット
長の影響を受けないようにできるので、正確なトラッキ
ングが可能となるなどの効果を奏する。
キングエラー量を情報記録媒体の半径や反射率やピット
長の影響を受けないようにできるので、正確なトラッキ
ングが可能となるなどの効果を奏する。
【図１】図２のトラッキングエラー検出回路２１の一実
施例を示すブロック図である。
施例を示すブロック図である。
【図２】本発明を適用した光磁気ディスク装置の一実施
例の構成を示すブロック図である。
例の構成を示すブロック図である。
【図３】光磁気ディスク１２上の半径方向のサンプルサ
ーボピットの再生信号の説明図である。
ーボピットの再生信号の説明図である。
【図４】図１の動作説明に用いるタイミングチャートで
ある。
ある。
【図５】サンプルサーボピットの説明図である。
【図６】サンプルサーボピットの再生出力の求め方の説
明図である。
明図である。
１２ 光磁気ディスク １８ Ａ／Ｄ変換器 ２１ トラッキングエラー検出回路 ２３ タイミングジェネレータ ４１〜４３ ラッチ回路 ４４ 減算器 ４５ 加算器 ４６ 減算器 ４７ 除算器 ４８ ラッチ回路
Claims (2)
- 【請求項１】 トラックの方向に、一対のウォブルピッ
トとクロックピットからなるサンプルサーボピットを配
置してなるサンプルサーボ方式の情報記録媒体に対する
トラッキング時のトラッキングエラーを検出するトラッ
キングエラー検出方法において、 前記一対のウォブルピットの再生出力値ａ、ｃと前記ク
ロックピットの再生出力値ｂより、トラッキングエラー
を、 （ａ−ｃ）／｛ｂ−（ａ＋ｃ）／２｝ として検出するようにしたことを特徴とするトラッキン
グエラー検出方法。 - 【請求項２】 トラックの方向に、一対のウォブルピッ
トとクロックピットからなるサンプルサーボピットを配
置してなるサンプルサーボ方式の情報記録媒体に対する
トラッキング時のトラッキングエラーを検出するトラッ
キングエラー検出回路において、 前記一対のウォブルピットの再生出力値ａ、ｃの差（ａ
−ｃ）を演算し出力する第１の演算手段と、 前記一対のウォブルピットの再生出力値ａ、ｃの和（ａ
＋ｃ）を演算しその１／２に相当する出力を送出する第
２の演算手段と、 前記クロックピットの再生出力値ｂと前記第２の演算手
段の出力値（ａ＋ｃ）／２の差｛ｂ−（ａ＋ｃ）／２｝
を演算し出力する第３の演算手段と、 前記第１の演算手段の出力を前記第３の演算手段の出力
で除する演算を行ないその演算結果をトラッキングエラ
ーとして出力する第４の演算手段とを備えたことを特徴
とするトラッキングエラー検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26285191A JPH0573936A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | トラツキングエラーの検出方法およびその検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26285191A JPH0573936A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | トラツキングエラーの検出方法およびその検出回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0573936A true JPH0573936A (ja) | 1993-03-26 |
Family
ID=17381508
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26285191A Withdrawn JPH0573936A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | トラツキングエラーの検出方法およびその検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0573936A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6306183B1 (en) | 1996-07-31 | 2001-10-23 | Sony Corporation | Method of forming manufacturing semiconductor device |
-
1991
- 1991-09-13 JP JP26285191A patent/JPH0573936A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6306183B1 (en) | 1996-07-31 | 2001-10-23 | Sony Corporation | Method of forming manufacturing semiconductor device |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981203 |