JPH0574147A - ダイナミツク・メモリ - Google Patents

ダイナミツク・メモリ

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Publication number
JPH0574147A
JPH0574147A JP3232730A JP23273091A JPH0574147A JP H0574147 A JPH0574147 A JP H0574147A JP 3232730 A JP3232730 A JP 3232730A JP 23273091 A JP23273091 A JP 23273091A JP H0574147 A JPH0574147 A JP H0574147A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
cycle
refresh operation
dynamic memory
output signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP3232730A
Other languages
English (en)
Inventor
Sadahisa Isobe
禎久 磯部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority to JP3232730A priority Critical patent/JPH0574147A/ja
Publication of JPH0574147A publication Critical patent/JPH0574147A/ja
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 自動的にリフレッシュが行われるダイナミッ
ク・メモリにおいて、リフレッシュ動作の周期とメモリ
セルのホールド特性とのマージンの測定を可能とする。 【構成】 発振信号101を出力する発信器1と、発振
信号101の周波数を分周し、制御信号102を介し
て、リフレッシュを行う周期として、少くとも二つの周
期を設定する分周出力信号103を出力する分周期2
と、分周出力信号103に同期する制御信号105を出
力するとともに、ロウアドレス信号104−1〜104
−nを入力してデコードし、ダイナミックメモリセル・
アレイ5に対するリフレッシュ・コントローラ4と、制
御信号105を受けて、分周出力信号103に同期する
カウントを行い、カウント出力として、前述ロウアドレ
ス信号104−1〜104−nを出力するバイナリカウ
ンタ3とを備える構成とする。試験時のリフレッシュに
おける第2の周期を長くした分がマージンとなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はダイナミック・メモリに
関し、特に、自動的にリフレッシュ動作を行うダイナミ
ック・メモリに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の、この種のダイナミック・メモリ
は、図2に示されるように、発振器6と、分周器7と、
バイナリカウンタ8と、リフレッシュ・コントローラ9
と、ダイナミック・メモリセル・アレイ10とを備えて
構成される。
【0003】図2において、発振器6の発振出力信号1
08は分周器7に入力されて分周され、その分周出力信
号109はリフレッシュ・コントローラ9に入力され
る。リフレッシュ・コントローラ9においては、分周出
力信号109に同期した制御信号111が生成されて、
バイナリカウンタ8に送られる。バイナリカウンタ8に
おいては、この制御信号111を受けて、この制御信号
111に同期したカウンタ出力信号110−1、110
−2、……、110−n(nは正整数)が出力され、リ
フレッシュ・コントローラ9に入力される。リフレッシ
ュ・コントローラ9においては、これらのカウンタ出力
信号110−1、110−2、……、110−nがデコ
ードされ、これをロウ・アドレスとして、分周出力信号
109に同期する形でダイナミック・メモリセル・アレ
イ10に対するリフレッシュ動作が行われる。即ち、こ
のリフレッシュ動作により、ダイナミック・メモリセル
・アレイ10との間に連結されているワード線群112
の中から、リフレッシュ対象のワード線が選択されると
ともに、リフレッシュ動作を行うに当って必要となる信
号群113が活性化されて、ダイナミック・メモリセル
・アレイ10に対するリフレッシュが行われる。
【0004】なお、このダイナミック・メモリセル・ア
レイ10に対するリフレッシュ動作は、ダイナミック・
メモリセル・アレイ10におけるメモリセルが揮発性で
あるがために行われる動作であり、従って、リフレッシ
ュ動作を行う周期、即ち、分周器7の分周出力信号10
9の周期は、上記メモリセルのホールド特性を考慮して
設定される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の自動的
にリフレッシュ動作を行うダイナミック・メモリにおい
ては、リフレッシュ動作を行う周期が固定されているた
めに、当該リフレッシュ動作を行う周期が、メモリセル
のホールド特性に対して適切に設定されているか否かを
試験するに当り、リフレッシュ動作を行う周期とメモリ
セルのホールド特性との間に存在するマージンが、どの
くらいなのか分り難いという欠点がある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のダイナミック・
メモリは、リフレッシュ動作を行うための周期と、前記
周期に同期したリフレッシュ動作を行うためのロウアド
レス信号とを生成して、ダイナミック・メモリセル・ア
レイに対するリフレッシュ動作を自動的に行うダイナミ
ック・メモリにおいて、任意の周期の発振信号を出力す
る発振器と、前記発振信号の周波数を分周し、第1の制
御信号による制御作用を介して、リフレッシュ動作を行
うための周期として、少なくとも二つの周期を設定する
ための分周出力信号を出力する分周器と、前記分周出力
信号を受けて、当該分周出力信号に同期する第2の制御
信号を出力するとともに、前記ロウアドレス信号を入力
してデコードし、前記ダイナミック・メモリセル・アレ
イに対するリフレッシュ動作を制御するリフレッシュ・
コントローラと、前記第2の制御信号を受けて、前記分
周出力信号に同期するカウント動作を行い、当該カウン
ト出力として、前記ロウアドレス信号を出力するバイナ
リカウンタと、を備えて構成される。
【0007】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
【0008】図1は本発明の一実施例を示すブロック図
である。図1に示されるように、本実施例は、発振器1
と、分周器2と、バイナリカウンタ3と、リフレッシュ
・コントローラ4と、ダイナミック・メモリセル・アレ
イ5とを備えて構成される。
【0009】本発明の従来例との相違点は、分周器2の
分周周期が、制御信号102により制御調整されること
である。それ以外の基本的な動作については、従来例の
場合と全く同様である。
【0010】図1において、先ず、制御信号102を介
して、分周器2の分周周期は、ダイナミック・メモリセ
ル・アレイ5のメモリセルのホールド特性を考慮して第
1の周期に設定される。なお、この分周器2の分周周期
は、制御信号102を介して、前記第1の周期よりも長
い第2の周期に変更することも可能である。発振器1の
発振出力信号101は分周器2に入力されて分周され、
上述のように、制御信号102を介して設定される周期
の分周出力信号103が出力されて、リフレッシュ・コ
ントローラ4に入力される。リフレッシュ・コントロー
ラ4においては、分周出力信号103に同期した制御信
号105が生成されて、バイナリカウンタ3に送られ
る。バイナリカウンタ3においては、この制御信号10
5を受けて、これに同期したカウンタ出力信号104−
1、104−2、……、104−nが出力され、リフレ
ッシュ・コントローラ4に入力される。リフレッシュ・
コントローラ4においては、これらのカウンタ出力信号
104−1、104−2、……、104−nがデコード
され、これをロウ・アドレスとして、分周出力信号10
3に同期する形でダイナミック・メモリセル・アレイ5
に対するリフレッシュ動作が行われる。即ち、このリフ
レッシュ動作により、ダイナミック・メモリセル・アレ
イ5との間に連結されているワード線群106の中か
ら、リフレッシュ対象のワード線が選択されるととも
に、リフレッシュ動作を行うに当って必要となる信号群
107が活性化されて、ダイナミック・メモリセル・ア
レイ5に対するリフレッシュ動作が行われる。しかも、
本実施例においては、リフレッシュ動作が適切な周期に
おいて行われる。
【0011】なお、通常は、前記第1の周期でダイナミ
ック・メモリセル・アレイ5に対するリフレッシュ動作
が行われるが、このリフレッシュ動作を行う周期、即
ち、前記第1の周期がメモリセルのホールド特性に対し
て適切に設定されているか否かを試験するに当っては、
制御信号102を介して、前記第1の周期よりも長い第
2の周期によりリフレッシュ動作が行われる。この場
合、通常のリフレッシュ動作を行う周期よりも長い周期
により上記の試験が行われるため、メモリセルのホール
ド特性に対しては厳しい試験を行うことになり、通常の
リフレッシュ動作時における第1の周期より、上記の試
験時のリフレッシュ動作時における第2の周期を長くし
た分がマージンとなる。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、リフレ
ッシュ動作を行う周期を可変とすることにより、リフレ
ッシュ動作を行う周期が、メモリセルのホールド特性に
対して適切に設定されているか否かを試験するに際に、
リフレッシュ動作を行う周期とメモリセルのホールド特
性との間に任意のマージンを設定することが可能とな
り、どれだけのマージンがあるかを測定することができ
るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図2】従来例を示すブロック図である。
【符号の説明】
1、6 発振器 2、7 分周器 3、8 バイナリカウンタ 4、9 リフレッシュ・コントローラ 5、10 ダイナミック・メモリセル・アレイ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リフレッシュ動作を行うための周期と、
    前記周期に同期したリフレッシュ動作を行うためのロウ
    アドレス信号とを生成して、ダイナミック・メモリセル
    ・アレイに対するリフレッシュ動作を自動的に行うダイ
    ナミック・メモリにおいて、 任意の周期の発振信号を出力する発振器と、 前記発振信号の周波数を分周し、第1の制御信号による
    制御作用を介して、リフレッシュ動作を行うための周期
    として、少なくとも二つの周期を設定するための分周出
    力信号を出力する分周器と、 前記分周出力信号を受けて、当該分周出力信号に同期す
    る第2の制御信号を出力するとともに、前記ロウアドレ
    ス信号を入力してデコードし、前記ダイナミック・メモ
    リセル・アレイに対するリフレッシュ動作を制御するリ
    フレッシュ・コントローラと、 前記第2の制御信号を受けて、前記分周出力信号に同期
    するカウント動作を行い、当該カウント出力として、前
    記ロウアドレス信号を出力するバイナリカウンタと、 を備えることを特徴とするダイナミック・メモリ。
JP3232730A 1991-09-12 1991-09-12 ダイナミツク・メモリ Pending JPH0574147A (ja)

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JP3232730A JPH0574147A (ja) 1991-09-12 1991-09-12 ダイナミツク・メモリ

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JP3232730A Pending JPH0574147A (ja) 1991-09-12 1991-09-12 ダイナミツク・メモリ

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7327818B2 (en) 2002-12-25 2008-02-05 Kabushiki Kaisha Toshiba Sync pattern detection method and apparatus
CN109661330A (zh) * 2016-08-31 2019-04-19 松下知识产权经营株式会社 车辆用蓄电装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0346190A (ja) * 1989-07-14 1991-02-27 Nec Corp セルフリフレッシュ制御回路

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19980714