JPH058593B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH058593B2
JPH058593B2 JP59207413A JP20741384A JPH058593B2 JP H058593 B2 JPH058593 B2 JP H058593B2 JP 59207413 A JP59207413 A JP 59207413A JP 20741384 A JP20741384 A JP 20741384A JP H058593 B2 JPH058593 B2 JP H058593B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vacuum
photoconductive element
manufacturing
cds
heat treatment
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP59207413A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6184876A (ja
Inventor
Hiroko Wada
Kosuke Ikeda
Mikihiko Nishitani
Noboru Yoshigami
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP59207413A priority Critical patent/JPS6184876A/ja
Publication of JPS6184876A publication Critical patent/JPS6184876A/ja
Publication of JPH058593B2 publication Critical patent/JPH058593B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F71/00Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
    • H10F71/125The active layers comprising only Group II-VI materials, e.g. CdS, ZnS or CdTe

Landscapes

  • Light Receiving Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野 本発明はフアクシミリや各種OA機器用読取り
ラインセンサ用の可視域の光センサとして使用さ
れる光導電素子の製造方法に関するものである。 従来例の構成とその問題点 従来、CdSやCdSeを主体とする光センサは光
電流が大きく、特にこの種の化合物の固溶体CdS
−CdSeを主体とする光センサでは可視光全域を
カバーする感度を有するため、フアクシミリの密
着型ラインセンサ用などとして注目され開発され
てきた。 このCdS−CdSe光センサの代表的製法は以下
の通りである。すなわち、適当な基板上にCdS−
CdSe固溶体の薄膜を蒸着形成し、CdCl2の蒸発源
としての例えばCdS:CdCl2(混合、焼結、粉砕し
た)粉末を該薄膜と共にアルミナ等の半密閉容器
に入れて500℃程度の高温度に加熱して蒸発した
CdCl2の蒸気中で結晶成長させ、同時に増感中心
を形成させ大きな光電流を得るに至るのである
(この工程を活性化と称する)。上記の製法のまゝ
では暗電流がかなり大きいのでCdS−CdSe薄膜
の蒸着時に同時に蒸発源にCuを例えばCdS1-x
Sex:CuCl2(0x1;CdS、CdSe、CuCl2
混合、焼結、粉砕したもの)の形で混入しておき
蒸着膜中にCuを添加しておけば暗電流を大巾に
小さくすることができる。 さて、CdCl2蒸気による活性化で増感中心を形
成し、光電子の寿命を長くし、結果として大きな
光電流を得ることができる反面、基本的には光電
子の寿命が光応答時間に対応するので光電流が大
きいと応答時間が長くなつてしまう。さらにこの
様な多結晶薄膜では捕獲中心が多いために低照度
の場合には上記の光電子の寿命よりはるかに光応
答時間が長くなるという大きな欠点を有してい
る。 発明の目的 本発明は光電流の大きさを損わずして、その光
応答時間が短かい光導電素子を製造する方法を提
供する。 発明の構成 本発明はCdS、CdSeあるいはこれら2種の化
合物の固溶体CdS−CdSeを主成分として成り、
これに微量のCuを含んだ薄膜を基板上に形成し、
CdCl2の蒸発源と共に半密閉容器に入れ、高温度
にて該薄膜をCdCl2の蒸気に暴露して結晶成長と
共に活性化し、電極を形成して後、さらに真空中
において、しかも暗中で加熱処理することを特徴
とする光導電素子の製造方法である。 実施例の説明 薄膜の厚さは2000〜10000Åであり、結晶成長
の温度は450〜600℃である。真空中処理時の温度
は120〜200℃が好ましい。120℃以下だと効果が
でるのに時間がかゝり過ぎ、200℃以上だと変化
が大きすぎコントロールが難しくなるからであ
る。真空中熱処理の時間は0.25〜4時間が好まし
い。0.25時間以下では効果が得られ難く、4時間
以上だと変化時に光電流の減少が著しい。真空中
熱処理時の真空度は広い範囲の真空度で有効であ
るが0.01気圧以下であることが好ましい。0.01気
圧以上だと効果が小さかつたり、変化が起るのに
時間がかゝりすぎたりする。また真空中熱処理時
は暗中であることが好ましく、明るいと変化が起
り難く、また変化量が小さい。特に10ルツクス以
下の方が効果が大きい。 以下、本発明の具体実施例について説明する。
図は本発明に用いるボートの断面を示し、1はボ
ート本体、2はボートふた、3はガラス基板、4
はCdS:CdCl2粉末である。 ガラス基板(コーニング社7059、230×50×1.2
mm)の上にCdS0.6Se0.4:CuCl2を蒸発源として約
4000Åの厚さに蒸着した。蒸着膜中には含まれる
Cuの量は、0.008モル%であつた。この基板3を
図に享る様にアルミナ製ボート1に上向きに置き
ボートの中央底部にCdS:CdCl2(2モル%)粉末
4を0.2g/cmの割合で長さ方向に置き、ふた2
をして500℃で1時間加熱した。この様にして得
た膜にNiCr/Auの電極を蒸着形成(巾2mm、ギ
ヤツプ1mm)して後、真空中(0.01気圧)、しか
も暗中(10ルツクス)で175℃にて0.25、0.5、
1、2および4時間加熱処理した。この様にして
得た光導電素子にDC10Vを印加して100ルツクス
の緑色光(波長555nm)を照射(1Hzで0.5secず
つ点滅)して光電流Jpとその立上り時間τr(0か
ら飽和値の90%に上がるまでの時間)、立下り時
間τd(飽和値からその10%に下がるまでの時間)
を測定した。結果をこの様な真空中加熱処理のな
い場合の結果と共に次表に載せる。
【表】 発明の効果 以上のように、この電極形成後の暗中における
真空中加熱処理によつて光電流が大きいまゝでそ
の立上り時間、立下り時を著しく短くすることが
できる。この光センサを用いれば大電流で信号処
理の容易な高速の密着型イメージセンサを作るこ
とができ、その工業的価値は大きい。
【図面の簡単な説明】
図はアルミナ製ボートの断面図である。 1……ボート本体、2……ボートふた、3……
ガラス基板、4……CdS:CdCl2粉末。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 CdS,CdSeあるいはこれら2種の化合物の
    固溶体CdS−CdSeを主体として成り、これに微
    量のCuを含んだ薄膜を基板上に形成し、前記薄
    膜をCdCl2の蒸気中にて加熱処理して結晶成長と
    共に活性化し、電極を形成して後、さらに真空中
    において、しかも暗中で加熱処理することを特徴
    とする光導電素子の製造方法。 2 真空中での加熱処理の温度が120〜200℃であ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    光導電素子の製造方法。 3 真空中での加熱処理の時間が0.25〜4時間で
    あることを特徴とする特許請求の範囲第1項また
    は第2項に記載の光導電素子の製造方法。 4 真空中での熱処理の際の真空度が0.01気圧を
    上限とすることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項〜第3項の何れかに記載の光導電素子の製造方
    法。 5 真空中において、しかも暗中において加熱処
    理する際の照度が10ルツクスを上限とすることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項〜第4項の何れ
    かに記載の光導電素子の製造方法。
JP59207413A 1984-10-03 1984-10-03 光導電素子の製造方法 Granted JPS6184876A (ja)

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JPS6184876A JPS6184876A (ja) 1986-04-30
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