JPH06174774A - Ｔａｂフィルムキャリアテープの電気検査方法 - Google Patents
Ｔａｂフィルムキャリアテープの電気検査方法Info
- Publication number
- JPH06174774A JPH06174774A JP4352229A JP35222992A JPH06174774A JP H06174774 A JPH06174774 A JP H06174774A JP 4352229 A JP4352229 A JP 4352229A JP 35222992 A JP35222992 A JP 35222992A JP H06174774 A JPH06174774 A JP H06174774A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier tape
- film carrier
- inspection
- inner lead
- tab film
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- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電気部品としての信頼性が向上し、また生産
性に優れると共に省人化に寄与し、かつ自動的に不良マ
ーキングが可能で、特にアウターリードからインナーリ
ード間のパターンの断線、短絡を電気的に検査し得るＴ
ＡＢフィルムキャリアテープの電気検査方法を提供す
る。 【構成】 ＴＡＢフィルムキャリアテープのインナーリ
ードを有するデバイスホールの回路面に、オープン検査
ユニットの治具部の先端に設けられた検出端を当接する
と共に、凸部を有する検査ステージの凸部をインナーリ
ードの下面に当接することにより該インナーリードを保
持し、該検出端と別個に設けられたプローブとによって
パターン間に導通を行なうことを特徴とするＴＡＢフィ
ルムキャリアテープの電気検査方法。
性に優れると共に省人化に寄与し、かつ自動的に不良マ
ーキングが可能で、特にアウターリードからインナーリ
ード間のパターンの断線、短絡を電気的に検査し得るＴ
ＡＢフィルムキャリアテープの電気検査方法を提供す
る。 【構成】 ＴＡＢフィルムキャリアテープのインナーリ
ードを有するデバイスホールの回路面に、オープン検査
ユニットの治具部の先端に設けられた検出端を当接する
と共に、凸部を有する検査ステージの凸部をインナーリ
ードの下面に当接することにより該インナーリードを保
持し、該検出端と別個に設けられたプローブとによって
パターン間に導通を行なうことを特徴とするＴＡＢフィ
ルムキャリアテープの電気検査方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＴＡＢフィルムキャリ
アテープの電気検査方法に関し、詳しくはアウターリー
ドからインナーリード間のパターンの断線、短絡を同時
に電気的に検査でき、また複数のピースを電気的に同時
に検査でき、さらに不良品については自動的に不良マー
キングができるＴＡＢフィルムキャリアテープの電気検
査方法に関する。
アテープの電気検査方法に関し、詳しくはアウターリー
ドからインナーリード間のパターンの断線、短絡を同時
に電気的に検査でき、また複数のピースを電気的に同時
に検査でき、さらに不良品については自動的に不良マー
キングができるＴＡＢフィルムキャリアテープの電気検
査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＴＡＢ（Ｔａｐｅ Ａｕｔｏｍａ
ｔｅｄ Ｂｏｎｄｉｎｇ））フィルムキャリアテープに
おけるパターンの断線、短絡を電気的に検査するために
は、次の方法が採られている。
ｔｅｄ Ｂｏｎｄｉｎｇ））フィルムキャリアテープに
おけるパターンの断線、短絡を電気的に検査するために
は、次の方法が採られている。
【０００３】すなわち、ＴＡＢフィルムキャリアテープ
のアウターリードにプローブピンを接触させ、パターン
間の絶縁抵抗、短絡または、ショートパターンの断線を
電気的に検査し、不良品はマーキングする方法で行なわ
れている。しかしながら、アウターリードからインナー
リードのパターンの断線、短絡検査は、人間の目視検査
（透過光検査）に頼っており、電気的に検査をする方法
が見つからなかった。この理由は、インナーリードが強
度的に弱いことから、インナーリードにプローブピンを
接触させた場合に、インナーリードに曲がりや垂れ等の
変形が生じるためである。このように人間の目視検査に
頼っている結果、電気部品としての信頼性に欠けるもの
であった。また、この目視検査には、多大な労働力が必
要となり、省人化という観点からも好ましいものではな
い。
のアウターリードにプローブピンを接触させ、パターン
間の絶縁抵抗、短絡または、ショートパターンの断線を
電気的に検査し、不良品はマーキングする方法で行なわ
れている。しかしながら、アウターリードからインナー
リードのパターンの断線、短絡検査は、人間の目視検査
（透過光検査）に頼っており、電気的に検査をする方法
が見つからなかった。この理由は、インナーリードが強
度的に弱いことから、インナーリードにプローブピンを
接触させた場合に、インナーリードに曲がりや垂れ等の
変形が生じるためである。このように人間の目視検査に
頼っている結果、電気部品としての信頼性に欠けるもの
であった。また、この目視検査には、多大な労働力が必
要となり、省人化という観点からも好ましいものではな
い。
【０００４】また、ＴＡＢフィルムキャリアテープのス
リム化が進み、導体パターンのピッチもファンピッチ化
へと急速に進んでいる。このため従来の検査方式では単
位時間内に検査できるパターン数が限定され、検査効率
が低下しているのが現状である。
リム化が進み、導体パターンのピッチもファンピッチ化
へと急速に進んでいる。このため従来の検査方式では単
位時間内に検査できるパターン数が限定され、検査効率
が低下しているのが現状である。
【０００５】さらには、ＴＡＢフィルムキャリアテープ
の複数ピースの同時検査については、同時検査された複
数のピースの不良品の選別方法と不良マーキングを行な
う方法が確立されておらず、検査から不良マーキングま
で自動的にできる装置とはなっていなかった。
の複数ピースの同時検査については、同時検査された複
数のピースの不良品の選別方法と不良マーキングを行な
う方法が確立されておらず、検査から不良マーキングま
で自動的にできる装置とはなっていなかった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、これ
ら従来技術の課題を解決するもので、電気部品としての
信頼性が向上し、また生産性に優れると共に省人化に寄
与し、かつ自動的に不良マーキングが可能で、特にアウ
ターリードからインナーリード間のパターンの断線、短
絡を電気的に検査し得るＴＡＢフィルムキャリアテープ
の電気検査方法を提供することを目的とする。
ら従来技術の課題を解決するもので、電気部品としての
信頼性が向上し、また生産性に優れると共に省人化に寄
与し、かつ自動的に不良マーキングが可能で、特にアウ
ターリードからインナーリード間のパターンの断線、短
絡を電気的に検査し得るＴＡＢフィルムキャリアテープ
の電気検査方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、次
に示す検査方法によって達成される。すなわち、本発明
は、ＴＡＢフィルムキャリアテープのインナーリードを
有するデバイスホールの回路面に、オープン検査ユニッ
トの治具部の先端に設けられた検出端を当接すると共
に、凸部を有する検査ステージの凸部をインナーリード
の下面に当接することにより該インナーリードを保持
し、該検出端と別個に設けられたプローブとによってパ
ターン間に導通を行なうことを特徴とするＴＡＢフィル
ムキャリアテープの電気検査方法にある。
に示す検査方法によって達成される。すなわち、本発明
は、ＴＡＢフィルムキャリアテープのインナーリードを
有するデバイスホールの回路面に、オープン検査ユニッ
トの治具部の先端に設けられた検出端を当接すると共
に、凸部を有する検査ステージの凸部をインナーリード
の下面に当接することにより該インナーリードを保持
し、該検出端と別個に設けられたプローブとによってパ
ターン間に導通を行なうことを特徴とするＴＡＢフィル
ムキャリアテープの電気検査方法にある。
【０００８】以下、本発明の電気検査方法を図面に基づ
いて具体的に説明する。図１は、本発明の電気検査方法
を説明するための概略断面図であり、図２は、ＴＡＢフ
ィルムキャリアテープの平面図である。図１〜２におい
て、１はＴＡＢフィルムキャリアテープ、２は導電性パ
ターン、３はフィルム、４はオープン検査ユニット、５
は治具部、６は検出端（治具ヘッド部）、７は検査ステ
ージ、８はプローブカード、９はプローブピン、１０は
アウターリード、１１はインナーリード、１２はデバイ
スホール、１３はテストパットをそれぞれ示す。
いて具体的に説明する。図１は、本発明の電気検査方法
を説明するための概略断面図であり、図２は、ＴＡＢフ
ィルムキャリアテープの平面図である。図１〜２におい
て、１はＴＡＢフィルムキャリアテープ、２は導電性パ
ターン、３はフィルム、４はオープン検査ユニット、５
は治具部、６は検出端（治具ヘッド部）、７は検査ステ
ージ、８はプローブカード、９はプローブピン、１０は
アウターリード、１１はインナーリード、１２はデバイ
スホール、１３はテストパットをそれぞれ示す。
【０００９】本発明では、導電性パターン２とフィルム
３とからなるＴＡＢフィルムキャリアテープ１をターン
テーブル等を用い、所定の測定位置に搬送する。次に、
オープン検査ユニット４の治具部５をＴＡＢフィルムキ
ャリアテープ１の真上に移動させた後、下降させ、治具
部５の先端の検出端６が、デバイスホール１２に位置す
るインナーリード１１と当接するようにする。この検出
端６は、導電性ゴム等の導電性材料からなる。
３とからなるＴＡＢフィルムキャリアテープ１をターン
テーブル等を用い、所定の測定位置に搬送する。次に、
オープン検査ユニット４の治具部５をＴＡＢフィルムキ
ャリアテープ１の真上に移動させた後、下降させ、治具
部５の先端の検出端６が、デバイスホール１２に位置す
るインナーリード１１と当接するようにする。この検出
端６は、導電性ゴム等の導電性材料からなる。
【００１０】オープン検査ユニット４は、治具部５、検
出端６のほか、アーム、上下エアーシリンダー部、ＸＹ
ステージ部、Ｚ軸調整部、オープンユニット開閉機構部
等を具備する（図示せず）。この中で、上下エアーシリ
ンダー部は、検査時、冶具部５の上下動作をさせる部分
であり、ＸＹステージ部は、Ｘ軸調整用マイクロメータ
とＹ軸調整用マイクロメータを有し、冶具部５のＸ方
向、Ｙ方向に移動させインナーリード１１部分に合うよ
うに調整する部分である。また、Ｚ軸調整部は検査時の
検出端（冶具ヘッド部）６とインナーリード１１の接着
圧力の調整をする部分である。
出端６のほか、アーム、上下エアーシリンダー部、ＸＹ
ステージ部、Ｚ軸調整部、オープンユニット開閉機構部
等を具備する（図示せず）。この中で、上下エアーシリ
ンダー部は、検査時、冶具部５の上下動作をさせる部分
であり、ＸＹステージ部は、Ｘ軸調整用マイクロメータ
とＹ軸調整用マイクロメータを有し、冶具部５のＸ方
向、Ｙ方向に移動させインナーリード１１部分に合うよ
うに調整する部分である。また、Ｚ軸調整部は検査時の
検出端（冶具ヘッド部）６とインナーリード１１の接着
圧力の調整をする部分である。
【００１１】
【００１２】次に、検査ステージ７を上昇させ、インナ
ーリードの下面に検査ステージ７の凸部を当接させ、イ
ンナーリード１１を保持し、インナーリードの曲がりや
垂れ等の変形を防止する。
ーリードの下面に検査ステージ７の凸部を当接させ、イ
ンナーリード１１を保持し、インナーリードの曲がりや
垂れ等の変形を防止する。
【００１３】次いで、プローブカード８に保持されたプ
ローブピン９をテストパット１３に当接させ、検出端６
とプローブピン９とによって同一パターン間に導通を行
ない、断線検査を実施する。
ローブピン９をテストパット１３に当接させ、検出端６
とプローブピン９とによって同一パターン間に導通を行
ない、断線検査を実施する。
【００１４】断線検査を実施した後、オープン検査ユニ
ット４を上昇させ、回路を一旦遮断させた後、オープン
検査ユニットを再度下降させ、隣接するパターン間に導
通を行ない、短絡検査を実施する。
ット４を上昇させ、回路を一旦遮断させた後、オープン
検査ユニットを再度下降させ、隣接するパターン間に導
通を行ない、短絡検査を実施する。
【００１５】このような断線検査と短絡検査は、ＴＡＢ
フィルムキャリアテープ１個当り２秒程度で行なうこと
ができる。
フィルムキャリアテープ１個当り２秒程度で行なうこと
ができる。
【００１６】このように断線検査と短絡検査を終了した
後、オープン検査ユニット４を上昇させると同時に検査
ステージ７を下降させ、またＴＡＢフィルムキャリアテ
ープ１を搬送する。
後、オープン検査ユニット４を上昇させると同時に検査
ステージ７を下降させ、またＴＡＢフィルムキャリアテ
ープ１を搬送する。
【００１７】このような動作を順次繰り返すことによっ
て、ＴＡＢフィルムキャリアテープの電気検査が自動的
に、省人化して大量に行なうことができる。
て、ＴＡＢフィルムキャリアテープの電気検査が自動的
に、省人化して大量に行なうことができる。
【００１８】
【実施例】次に、本発明を実施例に基づき具体的に説明
する。
する。
【００１９】実施例１ 液晶ドライバー用パターンでインナーリードピッチ８２
μｍ、アウターリード出力ピッチ１７０μｍ、リード数
３２０ピンのＴＡＢフィルムキャリアテープを製造し
た。
μｍ、アウターリード出力ピッチ１７０μｍ、リード数
３２０ピンのＴＡＢフィルムキャリアテープを製造し
た。
【００２０】金属箔として３５μｍ厚の電解銅箔を用
い、ラミネートからメッキ工程まで通常の処理を行な
い、インナリード幅３５μｍ、厚み２５μｍ、ピッチ８
２μｍ、アウターリード出力線幅８５μｍ、ピッチ１７
０μｍのテスト用模擬サンプルを作成した。このサンプ
ル１０００ピース中、パターンの一部断線を２０ピー
ス、パターン間の短絡２０ピース、正常パターンを９６
０ピースとして作成した。
い、ラミネートからメッキ工程まで通常の処理を行な
い、インナリード幅３５μｍ、厚み２５μｍ、ピッチ８
２μｍ、アウターリード出力線幅８５μｍ、ピッチ１７
０μｍのテスト用模擬サンプルを作成した。このサンプ
ル１０００ピース中、パターンの一部断線を２０ピー
ス、パターン間の短絡２０ピース、正常パターンを９６
０ピースとして作成した。
【００２１】このサンプルを用い、本発明の電気検査方
法を実施した結果、判定に誤りはなかつた。
法を実施した結果、判定に誤りはなかつた。
【００２２】実施例２ 実施例１と同じ方法で、インナリード幅３５μｍ、厚み
２７μｍ、ピッチ８０μｍ、アウターリード出力線幅１
００μｍ、ピッチ２００μｍ、リード数２９０ピンのテ
スト用模擬サンプルを作成した。
２７μｍ、ピッチ８０μｍ、アウターリード出力線幅１
００μｍ、ピッチ２００μｍ、リード数２９０ピンのテ
スト用模擬サンプルを作成した。
【００２３】このサンプルを用い、実施例１と同様に本
発明の電気検査方法を実施した結果、判定に誤りはなか
つた。
発明の電気検査方法を実施した結果、判定に誤りはなか
つた。
【００２４】実施例３ 実施例１と同じ方法で、インナリード幅４５μｍ、厚み
２５μｍ、ピッチ１０１μｍ、アウターリード出力線幅
１０５μｍ、ピッチ２１０μｍ、リード数５１２ピンの
テスト用模擬サンプルを作成した。
２５μｍ、ピッチ１０１μｍ、アウターリード出力線幅
１０５μｍ、ピッチ２１０μｍ、リード数５１２ピンの
テスト用模擬サンプルを作成した。
【００２５】このサンプルを用い、実施例１と同様に本
発明の電気検査方法を実施した結果、判定に誤りはなか
つた。
発明の電気検査方法を実施した結果、判定に誤りはなか
つた。
【００２６】実施例４ 実施例１と同じ方法で、インナリード幅８０μｍ、厚み
２３μｍ、ピッチ１４０μｍ、アウターリード出力線幅
１１０μｍ、ピッチ２２０μｍ、リード数４９２ピンの
テスト用模擬サンプルを作成した。
２３μｍ、ピッチ１４０μｍ、アウターリード出力線幅
１１０μｍ、ピッチ２２０μｍ、リード数４９２ピンの
テスト用模擬サンプルを作成した。
【００２７】このサンプルを用い、実施例１と同様に本
発明の電気検査方法を実施した結果、判定に誤りはなか
つた。
発明の電気検査方法を実施した結果、判定に誤りはなか
つた。
【００２８】
【発明の効果】以上のような本発明においては、次に示
す効果を奏する。 ＴＡＢフィルムキャリアテープのアウターリードか
らインナーリードの間のパターンの断線、短絡を電気的
に同時に検査ができる。
す効果を奏する。 ＴＡＢフィルムキャリアテープのアウターリードか
らインナーリードの間のパターンの断線、短絡を電気的
に同時に検査ができる。
【００２９】 複数の検査装置を用いることによって
ＴＡＢフィルムキャリアテープの複数ピースを電気的に
同時検査ができる。
ＴＡＢフィルムキャリアテープの複数ピースを電気的に
同時検査ができる。
【００３０】 上記検査で発見された不良品を自動的
に選別・マーキングすることができる。
に選別・マーキングすることができる。
【００３１】 上記検査を自動的にできるので、省人
化が図れるのみならず、大量に処理が可能であり、かつ
経済性に優れる。
化が図れるのみならず、大量に処理が可能であり、かつ
経済性に優れる。
【図１】 本発明の電気検査方法を説明するための概略
断面図。
断面図。
【図２】 ＴＡＢフィルムキャリアテープの平面図。
１：ＴＡＢフィルムキャリアテープ、２：導電性パター
ン、３：フィルム、４：オープン検査ユニット、５：治
具部、６：検出端（治具ヘッド部）、７：検査ステー
ジ、８：プローブカード、９：プローブピン、１０：ア
ウターリード、１１：インナーリード、１２：デバイス
ホール、１３：テストパット。
ン、３：フィルム、４：オープン検査ユニット、５：治
具部、６：検出端（治具ヘッド部）、７：検査ステー
ジ、８：プローブカード、９：プローブピン、１０：ア
ウターリード、１１：インナーリード、１２：デバイス
ホール、１３：テストパット。
Claims (2)
- 【請求項１】 ＴＡＢフィルムキャリアテープのインナ
ーリードを有するデバイスホールの回路面に、オープン
検査ユニットの治具部の先端に設けられた検出端を当接
すると共に、凸部を有する検査ステージの凸部をインナ
ーリードの下面に当接することにより該インナーリード
を保持し、該検出端と別個に設けられたプローブとによ
ってパターン間に導通を行なうことを特徴とするＴＡＢ
フィルムキャリアテープの電気検査方法。 - 【請求項２】 前記検出端が導電性ゴムである請求項１
に記載のＴＡＢフィルムキャリアテープの電気検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4352229A JPH06174774A (ja) | 1992-12-10 | 1992-12-10 | Ｔａｂフィルムキャリアテープの電気検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4352229A JPH06174774A (ja) | 1992-12-10 | 1992-12-10 | Ｔａｂフィルムキャリアテープの電気検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06174774A true JPH06174774A (ja) | 1994-06-24 |
Family
ID=18422643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4352229A Pending JPH06174774A (ja) | 1992-12-10 | 1992-12-10 | Ｔａｂフィルムキャリアテープの電気検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06174774A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10253688A (ja) * | 1997-03-10 | 1998-09-25 | Sony Corp | フレキシブル回路基板の導通検査装置及び導通検査方法 |
| JP2005257568A (ja) * | 2004-03-12 | 2005-09-22 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 電子部品実装用プリント配線板の電気検査方法および電気検査装置ならびにコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| US6953989B2 (en) | 2003-01-28 | 2005-10-11 | Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. | Film carrier tape for mounting electronic devices thereon and final defect marking method using the same |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0477680A (ja) * | 1990-07-19 | 1992-03-11 | Nec Corp | Ｔａｂテープの検査方法 |
-
1992
- 1992-12-10 JP JP4352229A patent/JPH06174774A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0477680A (ja) * | 1990-07-19 | 1992-03-11 | Nec Corp | Ｔａｂテープの検査方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10253688A (ja) * | 1997-03-10 | 1998-09-25 | Sony Corp | フレキシブル回路基板の導通検査装置及び導通検査方法 |
| US6953989B2 (en) | 2003-01-28 | 2005-10-11 | Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. | Film carrier tape for mounting electronic devices thereon and final defect marking method using the same |
| JP2005257568A (ja) * | 2004-03-12 | 2005-09-22 | Mitsui Mining & Smelting Co Ltd | 電子部品実装用プリント配線板の電気検査方法および電気検査装置ならびにコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
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