JPH06187252A - メモリ診断方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 簡単な回路構成で高速に診断するメモリ診断
方式を提供すること。 【構成】 メモリの小領域ＡにＣＰＵで診断用データを
書き込む（イ）。次に、記入した小領域Ａのデータを常
にコピー元として、診断用データ未記入領域にＤＭＡ転
送して行うコピーを２^N −１回行うことにより、診断対
象領域全体にコピーする（ロ〜ニ）。対象領域全体を２
分割し、各分割領域の対応する位置のデータのＥＸ−Ｏ
Ｒをとり、その出力を予め定めたいずれか一方の領域内
のメモリ位置であって、その値がＥＸ−ＯＲの入力とさ
れなかったメモリ位置にＤＭＡ転送する（ホ）。ＥＸ−
ＯＲの出力を書き込まれた方の領域を２分割し、各分割
領域の対応する位置のデータのＯＲをとり、その出力を
いずれか一方の分割領域内のメモリ位置に転送すること
を、分割領域の大きさが小領域Ｂの大きさになるまで繰
り返す（へ〜ト）。小領域Ｂの値をＣＰＵで読み出し、
全て０となっている場合のみ正常と診断する（チ）。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、メモリ内のメモリ素子
が故障していないかどうかを診断するメモリ診断方式に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】メモリ内のメモリ素子が故障していて、
書き込んだデータが正しく記憶されないというようなこ
とがあれば、そのメモリを搭載している装置は、正常な
動作をしない。そこで、メモリを搭載している装置で
は、メモリ素子が故障していないかどうかを診断するこ
とが行われている。

【０００３】図９は、従来のメモリ診断方式の１例を説
明する図である。図９において、１はＣＰＵ（中央演算
処理装置）、２はメモリである。このメモリ診断方式で
は、メモリ２の１つ１つのメモリ素子に対して、ＣＰＵ
１が或るデータ（例えば「０」）をライトし、次にその
データをリードする。そして、リードして来たデータ
が、ライトしたデータと同じかどうか検査する。同じで
あれば、そのメモリ素子は正常であると診断し、もし違
っていれば、そのメモリ素子は故障していると診断す
る。

【０００４】しかし、このメモリ診断方式では、ＣＰＵ
１が、個々のメモリ素子に対して、メモリ診断用のプロ
グラムを動作させて診断（つまり、ソフトウエア的に診
断）しているので、大容量のメモリの診断をする場合に
は、診断完了までに長時間を要する。ディジタル複写機
等の画像処理装置では、いわゆるページメモリといわれ
る大容量のメモリを搭載しているものが多いが、メモリ
診断に長時間を要すると、その装置が、実際に動作を開
始できるようになるまでの待ち時間が、長くなる。

【０００５】そこで、メモリ診断をもっと高速で行うた
めに、メモリ診断用の種々の回路構成（ハードウェア）
を設け、それらの回路によって診断するようにしたもの
がある。例えば、特開平２−193237号公報には、診断す
るメモリへのデータの書き込みはＣＰＵが行うが、それ
を読み出してデータが正しく書き込まれているかどうか
を診断することは、診断用データを記憶させておくＲＡ
Ｍ（ランダムアクセスメモリ），アドレス発生用のカウ
ンタ，タイミング発生回路，データ比較用のコンパレー
タ等のハードウェアを用いて行う技術が開示されてい
る。即ち、メモリからリードしたデータを、コンパレー
タにて診断用データと比較して診断する。

【０００６】また、特開昭63− 66798号公報には、自己
診断制御回路，アドレスカウンタ，書込みデータ発生回
路，故障診断／故障信号発生回路等のハードウェアが設
けられ、これらにより、メモリへのテストデータの書き
込みおよび読み出しを、ＣＰＵの手を借りることなく自
動的に行う技術が開示されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
たハードウェアを使った従来のメモリ診断技術では、多
くの種類の回路を設けなければならず、回路構成が複雑
になると共に、コスト高になるという問題点があった。
また、チェックパターンとしては、ＲＡＭ等に予め書き
込まれたものしか使用できないという問題点があった。
本発明は、簡単な構成のハードウェアにより、高速でメ
モリ診断を行うことが出来るようにすると共に、任意の
チェックパターンを使用できるようにすることを課題と
するものである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明のメモリ診断方式は、メモリの小領域におい
て、ＣＰＵで診断用データを書き込み，次いでＣＰＵで
読み出して、メモリ診断を行う第１ステップと、診断用
データが記入済みとなった前記小領域のデータを常にコ
ピー元として、診断用データ未記入領域に２^N −１回
（但し、Ｎ＝正の整数）ＤＭＡ転送することにより、診
断対象領域全体にコピーする第２ステップと、診断対象
領域全体を２分割し、各分割領域の対応する位置のデー
タのＥＸ−ＯＲをとり、その出力を該分割領域の内の予
め定めたいずれか一方の領域内のメモリ位置であって、
その値がＥＸ−ＯＲの入力とされなかったメモリ位置に
ＤＭＡ転送する第３ステップと、ＥＸ−ＯＲの出力の書
き込みがなされた方の領域を２分割し、各分割領域の対
応する位置のデータのＯＲをとり、その出力を予め定め
たいずれか一方の分割領域内のメモリ位置にＤＭＡ転送
する第４ステップと、ＯＲの出力の書き込みがなされた
方の領域を２分割し、各分割領域の対応する位置のデー
タのＯＲをとり、その出力を予め定めたいずれか一方の
分割領域内のメモリ位置にＤＭＡ転送することを、分割
領域の大きさがＣＰＵによるデータ読み出しに長時間を
要しない小領域となるまで繰り返す第５ステップと、第
５ステップで得られた小領域のデータをＣＰＵで読み出
し、全て０となっていれば正常と診断し、そうでなけれ
ばメモリのどこかに故障ありと診断する第６ステップと
から成るものとした。

【０００９】また、メモリ診断の精度をより一層高めた
い場合には、メモリ診断方式を、前記の第１ステップか
ら第５ステップと同じ第１ステップ〜第５ステップと、
前記の第１ステップと同じ第６ステップと、前記の第２
ステップと同じ第７ステップと、診断対象領域全体を２
分割し、各分割領域の対応する位置のデータのＥＸ−Ｎ
ＯＲをとり、その出力を該分割領域の内の予め定めたい
ずれか一方の領域内のメモリ位置にＤＭＡ転送する第８
ステップと、ＥＸ−ＮＯＲの出力の書き込みがなされた
方の領域を２分割し、各分割領域の対応する位置のデー
タのＡＮＤをとり、その出力を予め定めたいずれか一方
の分割領域内のメモリ位置にＤＭＡ転送する第９ステッ
プと、ＡＮＤの出力の書き込みがなされた方の領域を２
分割し、各分割領域の対応する位置のデータのＡＮＤを
とり、その出力を予め定めたいずれか一方の分割領域内
のメモリ位置にＤＭＡ転送することを、分割領域の大き
さがＣＰＵによるデータ読み出しに長時間を要しない小
領域となるまで繰り返す第１０ステップと、第１０ステ
ップで得られた小領域のデータをＣＰＵで読み出し、全
て１となっていれば正常と診断し、そうでなければメモ
リのどこかに故障ありと診断する第１１ステップとから
成るものとする。

【００１０】

【作 用】診断対象のメモリ内に定めた小領域に、診
断用データを書き込みついで読み出す最初のステップ
と、最後に別の小領域からデータを読み出して全て０か
どうかをチェックするステップとは、ＣＰＵを用いての
ソフトウエア的動作により行われるから、その処理速度
は速くはない。しかし、これらのステップで処理するメ
モリの領域は、診断するメモリ全体の領域に比し極めて
小領域であるので、これらのステップで費やされる時間
は短い。

【００１１】その他のステップでの、大部分の領域への
診断用データの書き込みは、ＣＰＵに作業負担をかける
ことのないＤＭＡ転送により高速で行う。従って、全体
としては高速でメモリ診断を行うことが可能となる。そ
して、そのために必要とされるハードウェアは、ＤＭＡ
転送を行うためのＤＭＡコントローラと、ＥＸ−ＯＲや
ＯＲ等の論理演算を行うデータ合成部だけで済む。

【００１２】使用するチェックパターンは、最初のステ
ップで小領域に書き込むデータによって決まるが、これ
はＣＰＵによって任意に書き込めるので、任意のチェッ
クパターンとすることが出来る。

【００１３】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図２は、本発明のメモリ診断方式を実行す
るために必要とされるブロック構成を示す図である。図
２において、１はＣＰＵ（中央演算処理装置）、２はメ
モリ、３はＤＭＡＣ（ＤＭＡコントローラ。ダイレクト
・メモリ・アクセス・コントローラ）、４はデータバ
ス、５はデータ合成部である。

【００１４】メモリ２は、診断対象のメモリであり、例
えばページメモリのような大容量のメモリである。デー
タ合成部５は、メモリ診断の過程において、メモリ２か
らＤＭＡ転送されて来た２つのデータを論理演算し（例
えば、ＥＸ−ＯＲ（イクスクルーシブ・オア）を取った
り、或いはＯＲ（オア）を取ったりする演算）、データ
を合成する部分である。メモリ２とデータ合成部５との
間でのデータのやり取りは、ＤＭＡＣ３の制御により、
ＤＭＡ転送（ダイレクト・メモリ・アクセス転送）で行
われる。

【００１５】（第１の実施例）第１の実施例では、デー
タ合成部５でＥＸ−ＯＲとＯＲの論理演算を行って、メ
モリの診断を行うものである。図３は、データ合成部５
の構成の１例を示す図である。符号は図２のものに対応
し、６，７はラッチ、８はＥＸ−ＯＲ回路、９はＯＲ回
路、１０はデータセレクタである。データバス４を経て
ＤＭＡ転送されて来るデータは、幾つかのビット（例え
ば、８ビット）から成る単位で転送されて来るが、ラッ
チ６，７は、そのビット数と同じ数の入力端子を有する
構造とされている。最初に転送されて来る第１のデータ
は、ラッチ６にラッチされ、次にＤＭＡ転送されて来る
第２のデータは、ラッチ７にラッチされる。

【００１６】ラッチ６，７にラッチされているデータの
対応するビット同士が、ＥＸ−ＯＲ回路８でＥＸ−ＯＲ
を取られると共に、ＯＲ回路９でＯＲが取られる。デー
タセレクタ１０は、セレクト端子Ｓに入力される選択信
号により、ＥＸ−ＯＲを取ったデータ（ＥＸ−ＯＲ回路
８の出力）を採用するか、ＯＲを取ったデータ（ＯＲ回
路９の出力）を採用するかを決める。採用されたデータ
は、データバス４を経て、メモリ２へＤＭＡ転送され
る。

【００１７】図１は、本発明の第１の実施例のメモリ診
断方式の動作過程を説明する図である。本発明のメモリ
診断方式は、大別して次の５つのステップから成る。最
初に、各ステップの要約を掲げ、後で詳細に説明する。

【００１８】（ステップの要約） 第１ステップ…図１（イ）。メモリの小領域Ａ（例、６
４ＫＢ：キロバイト）において、ＣＰＵで診断用データ
を書き込み，次いで読み出して、メモリ診断を行う。 第２ステップ…図１（ロ）〜（ニ）。図１（イ）で診断
用データを記入した領域のデータを常にコピー元として
使い、診断用データ未記入領域に２^N −１回（但し、Ｎ
＝正の整数）ＤＭＡ転送することにより、診断対象領域
全体に診断用データをコピーする。

【００１９】第３ステップ…図１（ホ）。診断対象領域
全体を２分割し、各分割領域の対応する位置のデータの
ＥＸ−ＯＲをとり、その出力を、それら２つの領域内の
予め定めたいずれか一方の領域内のメモリ位置であっ
て、その値がＥＸ−ＯＲの入力とされなかったメモリ位
置にＤＭＡ転送する。

【００２０】第４ステップ…図１（ヘ）。ＥＸ−ＯＲの
出力が書き込まれた領域を更に２分割し、各分割領域の
対応する位置の値のＯＲをとり、その出力を予め定めた
いずれか一方の分割領域にＤＭＡ転送する。

【００２１】第５ステップ…図１（ト）。ＯＲの出力が
書き込まれた領域を更に２分割し、各分割領域の対応す
る位置の値のＯＲをとり、その出力を予め定めたいずれ
か一方の分割領域にＤＭＡ転送することを、分割領域の
大きさが、その領域の値をＣＰＵ１でリードするのに長
時間を要しない大きさ（Ｂ）に減少するまで行う。この
大きさは、第１ステップの小領域と等しい大きさでなく
ともよい（例、２５６バイト）。

【００２２】第６ステップ…図１（チ）。その小領域Ｂ
のデータが、全て０となっているかどうかを、ＣＰＵ１
で読み出してチェックする。０でないデータがあれば、
メモリのどこかに故障ありと診断する。

【００２３】以下、図１の（イ）〜（チ）を参照しなが
ら、各ステップについて詳細に説明する。 （第１ステップ…図１（イ）参照）図２のメモリ２の中
に或る小領域Ａを定め（例えば、６４ＫＢ））、これに
対して、まず、ＣＰＵ１からメモリ診断用のデータ（チ
ェックパターン）を書き込む。小領域Ａの大きさは、Ｃ
ＰＵ１によりチェックパターンを書き込んだり読み出し
たりする時間が、このメモリ全体を使って行う作業の準
備処理として、受忍できる程度の時間を目安として定め
る。

【００２４】比較基準となるチェックパターンを予めＲ
ＡＭに固定的に用意しておいて、診断する際、それと比
較して診断するわけではないので、任意のチェックパタ
ーンを書き込むことが出来る。従って、きめ細かなチェ
ックパターンを用いたり、粗いチェックパターンを用い
たりすることが出来る。これは、本発明の特徴の１つで
ある。

【００２５】なお、チェックパターンとして、従来から
用いられているデータ列、例えば５５Ｈ（Ｈは１６進法
であることを表す。以下同じ），ＡＡＨ，ＦＦＨ，００
Ｈとか、００Ｈ，０１Ｈ，０２Ｈ，…，ＦＥＨ，ＦＦＨ
とか、０１Ｈ，０２Ｈ，０４Ｈ，０８Ｈ，１０Ｈ，２０
Ｈ，４０Ｈ，８０Ｈ等のデータ列を使用することも、勿
論できる。

【００２６】次に、この小領域Ａへ書き込んだデータを
ＣＰＵ１へ読み出し、チェックパターンが正しく書き込
まれているかどうかを検査する。第１ステップでの、こ
の小領域への書き込みおよび読み出しは、従来と同様に
ＣＰＵ１でソフトウエア的に行う。この段階でメモリに
故障があることが発見されれば、もはや以後のステップ
を実行する必要はない。メモリ２は、使いものにならな
いことが、この段階で確認されたからである。

【００２７】（第２ステップ…図１（ロ）〜（ニ）参
照）前記の小領域Ａについては診断が済み、故障がない
ことがわかった場合には、その小領域Ａのデータを、同
じ大きさの診断用データ未記入の領域にＤＭＡ転送す
る。即ち、コピーをする。これを、２^N −１回（但し、
Ｎは正の整数）繰り返して、診断対象領域全体にデータ
をコピーする。２^N −１回とする理由は、次に述べる。

【００２８】（第３ステップ以降の概要説明）第３ステ
ップ以降は、コピーが忠実になされたか否かを調べるス
テップである。故障メモリがあると、忠実には行われな
い。まず、診断対象領域全体を２分割し、両者の対応す
るメモリ位置の値のＥＸ−ＯＲを取り、その出力をいず
れか一方の分割領域に書き込んで行く（図１（ホ））。

【００２９】コピー回数を２^N −１回とした理由は、診
断領域全体を２分割した際、各分割領域の対応する位置
に、コピーされた値が位置するようにするためである。
対応する位置の値が一致していれば出力は０、一致して
いなければ出力は１となる筈である。診断対象領域全体
に小領域Ａのデータをぴったりコピーするには、小領域
Ａの大きさを、診断対象領域全体の２^N −１分の１の大
きさに選定しておく。

【００３０】以上のようにすると、故障メモリがあれば
どこかに１が書き込まれている筈であり、故障メモリが
なければ、全ての領域は０で埋め尽くされている筈であ
る。しかし、この段階でメモリ全体の値をいちいちＣＰ
Ｕ１で読み出して、０となっているかどうかを調べたの
では、時間がかかり過ぎる。そこで、もし１の値（この
１が、故障検出情報である）が存在していれば、それは
保存して伝えられ、しかもＣＰＵ１で読み出す領域は小
さくて済むようにするため、領域を２分割してＯＲをと
ることを何回か繰り返す。そして、読み出すのに長時間
かからない領域になったところで、ＣＰＵ１で読み出
し、全てが０となっているかどうか調べる。

【００３１】（第３ステップ…図１（ホ），図４（イ）
参照）図１（ホ）に示すように、このステップでは、小
領域Ａとそれをコピーした領域を合わせた全体を２分割
し、分割領域の対応する位置の値を入力としてＥＸ−Ｏ
Ｒを取る。両者がちゃんと一致していれば、ＥＸ−ＯＲ
の出力は０となる。図４（イ）は、図３からこのＥＸ−
ＯＲを取る動作過程に関与する部分を抜き出し、データ
の流れおよび真理値表を示した図である。

【００３２】２分割した一方の領域ホー１と他方の領域
ホー２との対応する位置（例、Ａ₁，Ｂ₁ ）のデータ
を、ＤＭＡ転送によりデータ合成部５に送る。そして、
両者のＥＸ−ＯＲをとり、その出力を、前記２つの領域
の内の予め定めた一方の領域（図４では、ホ−２の領
域）の前記対応する位置ではない位置（例、Ａ₁ ，Ｂ₁
が領域の先頭位置なら、領域の末尾位置Ｂ_N ）にＤＭＡ
転送する。

【００３３】対応する位置ではない位置にＤＭＡ転送す
る理由は、故障により値が常に０となってしまうメモリ
ビット（以下、「常０メモリ」と言う）があっても、そ
れによってメモリ診断の精度が悪くされるのを防ぐため
である。今、仮にＡ₁ は正常であるが、Ｂ₁ は常０メモ
リであったとする。Ａ₁ の値が１であると、その値がコ
ピーされるＢ₁ も１になっていなければならない。とこ
ろが、Ｂ₁ は常０メモリであるため１とはコピーされ
ず、０である。

【００３４】Ａ₁ ，Ｂ₁ の値（１，０）をＥＸ−ＯＲに
入力すると、その出力は１となる。これを、入力を取っ
た位置であるＢ₁ に書き込むと、ここは常０メモリであ
るから、１を書き込もうとしても０となってしまう。１
が書き込まれ、後のステップでこの１を発見することに
より故障ありとの診断が出来るのに、１が書き込めない
のでは、メモリの故障は発見出来ない。

【００３５】そこで、入力を取った位置ではない別の位
置に書き込む。ＥＸ−ＯＲの一方の入力位置であるＢ₁
と、出力を書き込む別の位置Ｂ_N が、共に常０メモリで
あることは、全くないとは言えないが、その確率は極め
て小である。従って、正常に１と書き込まれることが殆
どであり、メモリ診断の精度は、Ｂ₁ に書き込んだ場合
に比べて良くなる。なお、入力位置と出力位置との関係
は、例えば、入力を取り出す位置を、Ａ₁ ，Ｂ₁ から矢
印Ｃの方向に進める時、出力を書き込む位置を、Ｂ_N か
ら矢印Ｃの方向に進めて行くようにする。

【００３６】（第４ステップ…図１（ヘ）参照）図１
（ホ）の過程でＥＸ−ＯＲの出力が書き込まれた領域を
更に２分割し、各領域の対応する位置の値のＯＲを取
り、その出力を分割領域のいずれか一方に書き込む。

【００３７】（第５ステップ…図１（ト）参照）次に、
そのＯＲの出力が書き込まれた領域を２分割して、同様
の処理を繰り返す。ＯＲの出力が書き込まれた領域の方
を２分割する点が重要である。故障メモリがあった場合
に書き込まれていた１は、ＯＲの出力を書き込む側の領
域で保存されて行くからである。

【００３８】この繰り返しは、分割領域の大きさが、後
にその領域の値をＣＰＵ１で読み出すのに長時間を要し
ない大きさ（Ｂ）に減少するまで行う。この大きさは、
第１ステップの小領域と等しい大きさでなくともよい。

【００３９】図４（ロ）は、図３からこのＯＲを取る動
作過程に関与する部分を抜き出し、データの流れを示し
た図である。Ａ₁ ，Ｂ₁ の位置のデータのＯＲを取り、
その出力を、入力位置Ａ₁ ，Ｂ₁ のいずれかに書き込
む。この場合は、図４（イ）で行ったように、入力をと
ったところの対応位置ではない位置に書き込む必要はな
い。

【００４０】なぜなら、図１（ホ）の過程で、ＥＸ−Ｏ
Ｒの出力を書き込む位置は、入力を取り出した位置とは
異なる位置にされているから、仮にＡ₁ の値がメモリ故
障を示す１であっても、その原因となっている故障メモ
リはＡ₁ ではないからである。ＥＸ−ＯＲの入力をとっ
た位置も故障し、出力を書き込む位置Ａ₁ も故障してい
る確率は極めて少ない。それゆえ、書き込みが正常に行
われる確率は、極めて高い。

【００４１】（第６ステップ…図１（チ）参照）ＯＲ出
力を書き込んだ分割領域の大きさが、その領域の値をＣ
ＰＵ１で読み出すのに長時間を要しない程度に小さくな
った（例、第１ステップの小領域Ａと同程度の大きさに
なった）段階で、その小領域Ｂのデータを、ＣＰＵ１で
１つ１つ読み出し、０であるかどうかチェックする。そ
して、全てが０であれば、診断の対象としたメモリ全体
（例、３２Ｍバイト）は正常であると診断し、１つでも
１があれば、メモリ全体のどこかに故障ありと診断す
る。

【００４２】（診断の理由）そのような基準で診断して
よい理由は、次の通りである。もしメモリが全て正常で
あれば、図１（ロ）から（ニ）までの２^N −１回のコピ
ーを終えて、メモリ全体を均等に２分割した状態（図１
（ホ））では、各分割領域の対応する位置のデータは、
同じになっている筈である。もし、メモリのどこかに故
障があれば、小領域Ａのデータをコピーする際、その故
障部分では正しくコピーされない。その結果、分割領域
の対応する位置で、データが異なる箇所が出て来る。

【００４３】従って、図１（ホ）の各分割領域の対応す
る位置の値のＥＸ−ＯＲを取っていくと、その出力が書
き込まれた領域は、メモリが正常なら全て０になり、故
障メモリがあると１が混じる。その１の値を、図１
（ヘ）〜（ト）で領域を２分割してＯＲを取ることによ
って小領域Ｂ内に保存して伝え、ＣＰＵ１で読み取って
診断する。

【００４４】以上のことから、全て０となっているか否
かにより、故障メモリがあるか否かの診断をすることが
出来る。しかし、本発明では、メモリのどこかに故障箇
所があるということは分かるが、それがどの位置かとい
うことまでは分からない。なぜなら、コピーは何回も繰
り返し行われるが、このメモリ診断方式では、何回目の
コピーのどの部分が正常にコピーされなかったかなどと
いうことまでは、いちいち検出していないからである。

【００４５】図８は、データ合成部５の構成の他の例を
示す図である。符号は図３のものに対応し、１１はルッ
クアップテーブルとして用いるＲＡＭ（ランダムアクセ
スメモリ）である。従って、例えばＥＸ−ＯＲ用のルッ
クアップテーブルとして使用したい場合には、ラッチ６
とラッチ７とにラッチされたデータをアドレスと見立て
てＲＡＭ１１にアクセスすると、その番地には、２つの
データのＥＸ−ＯＲを取った値が存在するよう、予めＣ
ＰＵにより書き込んでおく。その後、ＯＲ用のルックア
ップテーブルとして使用したいということになると、今
度は、ＯＲの値が存在するようＣＰＵにより書き換え
る。

【００４６】なお、ＲＡＭを２つ用意して、一方にはＥ
Ｘ−ＯＲ用の値を書き込み、他方にはＯＲ用の値を書き
込んでおき、ＲＡＭを切り換えて使用するようにしても
よい。

【００４７】複数のチェックパターンについて診断した
い場合には、１つのチェックパターン毎に前記ステップ
１〜５を行えばよい。また、小領域Ａの大きさ等から考
慮した場合、図１の動作過程１回で、メモリ２全体の診
断を済ますことが出来ない場合には、メモリ２を適宜分
割して（例えば、メモリ２全体の容量が４８Ｍバイトで
ある場合、３２Ｍバイトと１６Ｍバイトの領域に分割し
て）、それぞれの領域に対して本発明を適用すればよ
い。

【００４８】図２から分かるように、本発明のメモリ診
断方式を実行するため必要とされるハードウェアは、Ｃ
ＰＵの他、ＣＰＵに代わってアドレスを発生する機能を
持つと共にＤＭＡ転送を制御するＤＭＡＣと、２つのデ
ータのＥＸ−ＯＲおよびＯＲをとるデータ合成部だけで
ある。

【００４９】ＤＭＡＣに要求されるチャンネル数は、最
大でもＥＸ−ＯＲをとったりＯＲをとったりする場合の
３チャンネルである（例えば図４で、領域ホ−１からデ
ータ合成部５のＥＸ−ＯＲへ転送するためのチャンネ
ル，領域ホ−２からデータ合成部５のＥＸ−ＯＲへ転送
するためのチャンネル，データ合成部５のＥＸ−ＯＲの
出力を領域ホ−１へ転送するためのチャンネルの合計３
つ）。従って、安価で市販されている４チャンネルのＤ
ＭＡＣで間に合う。

【００５０】それゆえ、構成は簡単であり、コストも安
くて済む。なお、ページメモリを搭載した機器（例え
ば、ディジタル複写機等）では、ページメモリへアドレ
ッシングする手段として、ＤＭＡＣは必ず具えているか
ら、データ合成部を追加するだけで、本発明のメモリ診
断方式を実行することが可能となる。

【００５１】もし、ページメモリを搭載したディジタル
複写機が、２つの画像を重ね合わせたりするといったよ
うな、メモリ間合成を実現するための合成回路を具えて
いるものであれば、それは前記のデータ合成部として利
用することが出来るから、新規な構成は何ら追加するこ
となく、本発明のメモリ診断方式を実行することが出来
る。

【００５２】（第２の実施例）診断の対象としているメ
モリ内に、故障により値が常に１となってしまうメモリ
ビット（以下、「常１メモリ」という）があった場合、
それは、第１の実施例で確実に故障検出ができる。なぜ
なら、図１（ヘ）〜（ト）の過程で１は保存され、図１
（チ）の過程で１の値が存在していないかを調べる際に
発見されるからである。

【００５３】しかし、診断の対象としているメモリ内に
常０メモリが存在していた場合、第１の実施例では、確
率的には少ないけれども発見出来ない場合があった。即
ち、図４（イ）のようにＥＸ−ＯＲを取る時、ＥＸ−Ｏ
Ｒの出力を書き込む位置（Ｂ_N ）のメモリが常０メモリ
であった場合、ＥＸ−ＯＲの入力位置（Ａ₁ ，Ｂ₁ ）が
正常であるか否かを確かめることが出来ない。それらが
故障していて、ＥＸ−ＯＲの出力が１であったとして
も、その１を書き込む位置（Ｂ_N ）が常０メモリであ
り、０となってしまうからである。

【００５４】常０メモリも確実に発見できるようにした
のが、第２の実施例である。第２の実施例のブロック構
成も、図２に示される第１の実施例と同様である。ただ
し、データ合成部５の構成が異なる。第２の実施例にお
けるデータ合成部５の構成の１例を、図７に示す。

【００５５】図７において、符号は図３のものに対応
し、１２はＥＸ−ＮＯＲ回路（イクスクルーシブ・ノ
ア）、１３はＡＮＤ回路（アンド）である。そして、選
択信号が２本（２ビット）とされている。図３と異なる
点は、ＥＸ−ＮＯＲ回路１２とＡＮＤ回路１３とが追加
された点である。即ち、出力がデータセレクタ１０へ入
力される論理演算回路の数が４つに増加した。４つの内
から１つを選択しなければならないため、図３のデータ
合成部５では１ビットで間に合っていた選択信号が、図
７のデータ合成部５では間に合わず、２ビットとされて
いる。

【００５６】第２の実施例は、第１の実施例の過程を前
半の過程とし、後半の過程として図６に示した過程を行
うものである。従って、第２の実施例の前半の過程の説
明は省略する。追加されたＥＸ−ＮＯＲ回路１２の出力
やＡＮＤ回路１３の出力が使用される過程が、どういう
過程であるかは、図６の説明の中で説明する。

【００５７】図６は、本発明の第２の実施例の動作過程
後半を説明する図である。図６（イ）〜（ニ）までの過
程は、図１（イ）〜（ニ）までの過程と同じである。図
６（ホ）の過程は、図１（ホ）の過程に類似している。
異なっている点は、ＥＸ−ＯＲでなくＥＸ−ＮＯＲを取
る点と、出力を書き込む位置が入力をとった位置であっ
てもよいという点である。ここの過程で、図７のＥＸ−
ＮＯＲ回路１２の出力が選択されて使われる。

【００５８】図５（イ）は、第２の実施例でＥＸ−ＮＯ
Ｒを取る動作過程でのデータの流れを示す図である。Ｅ
Ｘ−ＮＯＲの出力を書き込む位置は、入力を取って来た
メモリ位置（Ａ₁ ，Ｂ₁ ）であってもよいし、他の位置
でもよい。図５（イ）では、入力を取って来た位置に書
き込む場合を示している。ＥＸ−ＮＯＲの真理値表も示
しているが、それによると２つの入力が一致していると
出力は１となるから、メモリが正常であれば、１が次々
と書き込まれる。もし、出力を書き込む位置が常０メモ
リであったとすると、１を書き込もうとしても０のまま
である。

【００５９】次の図６（ヘ）〜（ト）までの過程は、図
１（ヘ）〜（ト）の過程に類似している。異なっている
点は、ＯＲでなくＡＮＤを取る点である。ＡＮＤ演算
は、０の値を保存するという作用がある。ここの過程
で、図７のＡＮＤ回路１３の出力が選択されて使われ
る。図５（ロ）に、ＡＮＤを取る動作過程でのデータの
流れを示す。入力を取って来るメモリ位置および出力を
書き込む位置は、図４（ロ）と同様である。

【００６０】図６（チ）の過程は、図１（チ）の過程と
同じである。ＣＰＵ１によってメモリの値を読み出す。
値が全て１であれば、メモリは正常であると判断し、１
つでも０があれば故障ありと判断する。

【００６１】もし、診断対象としているメモリ内に常０
メモリがあり、動作過程前半（第１の実施例と同じ過
程）を終えた段階で発見されなかったとしても、動作過
程後半（図６）で１を書き込もうとしても書き込めず、
０のままとなって残る。この０は、ＡＮＤ演算によって
最後の図６（チ）の過程まで保存されて行くから、故障
の存在は発見される。

【００６２】第２の実施例においても、第１の実施例と
同様、データ合成部５を図８に示すようなルックアップ
テーブルとしてもよいし、複数のチェックパターンにつ
いて診断することも出来る。

【００６３】

【発明の効果】以上述べた如く、本発明のメモリ診断方
式によれば、特に必要とされるハードウェアは、ＤＭＡ
転送を行うためのＤＭＡコントローラと、ＥＸ−ＯＲお
よびＯＲを取るデータ合成回路、またはＥＸ−ＯＲ，Ｏ
Ｒ，ＥＸ−ＮＯＲおよびＡＮＤを取るデータ合成回路だ
けで済む。そのため、複雑な回路構成のハードウェアを
用いてメモリ診断を行っていた前記従来技術に比し、回
路構成が極めて簡単となる。

【００６４】チェックパターンの書き込みの大部分は、
ＤＭＡ転送で行うので、ＣＰＵに負担をかけることな
く、高速で行える。また、任意のチェックパターンを用
いることが出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１の実施例の動作過程を説明する
図

【図２】 本発明のメモリ診断方式を実行するために必
要とされるブロック構成を示す図

【図３】 第１の実施例におけるデータ合成部の構成の
１例を示す図

【図４】 ＥＸ−ＯＲを取る動作過程およびＯＲを取る
動作過程でのデータの流れを示す図

【図５】 第２の実施例でＥＸ−ＮＯＲを取る動作過程
およびＡＮＤを取る動作過程でのデータの流れを示す図

【図６】 本発明の第２の実施例の動作過程後半を説明
する図

【図７】 第２の実施例におけるデータ合成部の構成の
１例を示す図

【図８】 データ合成部の構成の他の例を示す図

【図９】 従来のメモリ診断方式の１例を説明する図

【符号の説明】

１…ＣＰＵ、２…メモリ、３…ＤＭＡＣ、４…データバ
ス、５…データ合成部、６，７…ラッチ、８…ＥＸ−Ｏ
Ｒ回路、９…ＯＲ回路、１０…データセレクタ、１１…
ＲＡＭ、１２…ＥＸ−ＮＯＲ回路、１３…ＡＮＤ回路

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 メモリの小領域において、ＣＰＵで診断
   用データを書き込み，次いでＣＰＵで読み出して、メモ
   リ診断を行う第１ステップと、診断用データが記入済み
   となった前記小領域のデータを常にコピー元として、診
   断用データ未記入領域に２^N −１回（但し、Ｎ＝正の整
   数）ＤＭＡ転送することにより、診断対象領域全体にコ
   ピーする第２ステップと、診断対象領域全体を２分割
   し、各分割領域の対応する位置のデータのＥＸ−ＯＲを
   とり、その出力を該分割領域の内の予め定めたいずれか
   一方の領域内のメモリ位置であって、その値がＥＸ−Ｏ
   Ｒの入力とされなかったメモリ位置にＤＭＡ転送する第
   ３ステップと、ＥＸ−ＯＲの出力の書き込みがなされた
   方の領域を２分割し、各分割領域の対応する位置のデー
   タのＯＲをとり、その出力を予め定めたいずれか一方の
   分割領域内のメモリ位置にＤＭＡ転送する第４ステップ
   と、ＯＲの出力の書き込みがなされた方の領域を２分割
   し、各分割領域の対応する位置のデータのＯＲをとり、
   その出力を予め定めたいずれか一方の分割領域内のメモ
   リ位置にＤＭＡ転送することを、分割領域の大きさがＣ
   ＰＵによるデータ読み出しに長時間を要しない小領域と
   なるまで繰り返す第５ステップと、第５ステップで得ら
   れた小領域のデータをＣＰＵで読み出し、全て０となっ
   ていれば正常と診断し、そうでなければメモリのどこか
   に故障ありと診断する第６ステップとから成ることを特
   徴とするメモリ診断方式。
2. 【請求項２】 請求項１記載の第１ステップから第５ス
   テップと同じ第１ステップ〜第５ステップと、請求項１
   記載の第１ステップと同じ第６ステップと、請求項１記
   載の第２ステップと同じ第７ステップと、診断対象領域
   全体を２分割し、各分割領域の対応する位置のデータの
   ＥＸ−ＮＯＲをとり、その出力を該分割領域の内の予め
   定めたいずれか一方の領域内のメモリ位置にＤＭＡ転送
   する第８ステップと、ＥＸ−ＮＯＲの出力の書き込みが
   なされた方の領域を２分割し、各分割領域の対応する位
   置のデータのＡＮＤをとり、その出力を予め定めたいず
   れか一方の分割領域内のメモリ位置にＤＭＡ転送する第
   ９ステップと、ＡＮＤの出力の書き込みがなされた方の
   領域を２分割し、各分割領域の対応する位置のデータの
   ＡＮＤをとり、その出力を予め定めたいずれか一方の分
   割領域内のメモリ位置にＤＭＡ転送することを、分割領
   域の大きさがＣＰＵによるデータ読み出しに長時間を要
   しない小領域となるまで繰り返す第１０ステップと、第
   １０ステップで得られた小領域のデータをＣＰＵで読み
   出し、全て１となっていれば正常と診断し、そうでなけ
   ればメモリのどこかに故障ありと診断する第１１ステッ
   プとから成ることを特徴とするメモリ診断方式。