JPH0619399B2 - デイスク試験システム - Google Patents
デイスク試験システムInfo
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- JPH0619399B2 JPH0619399B2 JP61188912A JP18891286A JPH0619399B2 JP H0619399 B2 JPH0619399 B2 JP H0619399B2 JP 61188912 A JP61188912 A JP 61188912A JP 18891286 A JP18891286 A JP 18891286A JP H0619399 B2 JPH0619399 B2 JP H0619399B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 128
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 2
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はディスク試験機、特にコンピュータ等の外部記
憶装置に用いられる信号記憶ディスク装置のディスク試
験システムに関する。
憶装置に用いられる信号記憶ディスク装置のディスク試
験システムに関する。
近年のディスク試験システムは、ディスク装置の高密度
化・大容量化に伴なって測定データが大容量化する傾向
にあり、信号記憶媒体の種類の多様化とディスクサイズ
の多様化とディスク装置の高信頼性化とに伴なって、試
験条件,試験シーケンスの多様化、試験の種類の増加の
傾向にある。
化・大容量化に伴なって測定データが大容量化する傾向
にあり、信号記憶媒体の種類の多様化とディスクサイズ
の多様化とディスク装置の高信頼性化とに伴なって、試
験条件,試験シーケンスの多様化、試験の種類の増加の
傾向にある。
一般に、ディスク試験システムの測定は、ディスク上の
任意の位置において、以下に示す三種類の測定に大別で
きる。
任意の位置において、以下に示す三種類の測定に大別で
きる。
a)再生信号の振幅に影響を与えるディスク表面の物理
定数の変動を測定する物理特性測定。例えば、ディスク
の面振れ測定,磁気ディスクのディスク表面精度の測
定、光ディスクのプリグループトラックの偏心の測定、
光ディスクの反射率の測定等がある。
定数の変動を測定する物理特性測定。例えば、ディスク
の面振れ測定,磁気ディスクのディスク表面精度の測
定、光ディスクのプリグループトラックの偏心の測定、
光ディスクの反射率の測定等がある。
b)信号記憶媒体に無記録、記録、消去の少なくとも1
つを行った後の再生信号測定。
つを行った後の再生信号測定。
例えば、記録強度(例えば、光ディスクでは媒体への入
射光パワー、磁気ディスクでは磁性媒体に加わる磁束密
度等)を変化させて記録した後の再生信号振幅を測定す
る媒体記録感度測定、あるいは、消去強度(例えば、光
磁気ディスクでは媒体入射光パワーと入力磁束密度、磁
気ディスクでは磁性媒体に加わる磁束密度等)の変化さ
せて消去した後の再生信号振幅を測定する媒体消去感度
測定、また、キャリア周波数で記録した後の再生信号の
キャリア周波数成分とある周波数におけるノイズ成分の
比であるC/Nの測定等々がある。
射光パワー、磁気ディスクでは磁性媒体に加わる磁束密
度等)を変化させて記録した後の再生信号振幅を測定す
る媒体記録感度測定、あるいは、消去強度(例えば、光
磁気ディスクでは媒体入射光パワーと入力磁束密度、磁
気ディスクでは磁性媒体に加わる磁束密度等)の変化さ
せて消去した後の再生信号振幅を測定する媒体消去感度
測定、また、キャリア周波数で記録した後の再生信号の
キャリア周波数成分とある周波数におけるノイズ成分の
比であるC/Nの測定等々がある。
c)無記録,記録,消去の少なくとも1つを行った後の
信号記憶媒体欠陥に起因する再生信号の振幅変化を検出
する欠陥測定、例えば、媒体の欠陥に起因する無記録時
の再生信号に含まれる擬似記録信号を測定するエクスト
ラー測定、あるいは記録時の再生信号に含まれる媒体欠
陥に起因する再生信号振幅の落ち込みを測定するドロッ
プアウトエラー測定等々がある。
信号記憶媒体欠陥に起因する再生信号の振幅変化を検出
する欠陥測定、例えば、媒体の欠陥に起因する無記録時
の再生信号に含まれる擬似記録信号を測定するエクスト
ラー測定、あるいは記録時の再生信号に含まれる媒体欠
陥に起因する再生信号振幅の落ち込みを測定するドロッ
プアウトエラー測定等々がある。
したがって、信号記憶ディスクの試験は、ディスク上の
任意の位置、信号記憶媒体と記録再生を行なうヘッドと
の間の相対速度、記憶周波数、記録強度、消去強度、欠
陥測定時の検出条件の少なくとも1つをそれぞれパラメ
ータ、主変数にして、前記物理特性測定、前記再生信号
測定、前記欠陥測定を組み合せて行なうことができる。
任意の位置、信号記憶媒体と記録再生を行なうヘッドと
の間の相対速度、記憶周波数、記録強度、消去強度、欠
陥測定時の検出条件の少なくとも1つをそれぞれパラメ
ータ、主変数にして、前記物理特性測定、前記再生信号
測定、前記欠陥測定を組み合せて行なうことができる。
従来のディスク試験システムは、試験条件作成手段と、
試験シーケンス作成手段と、試験制御手段と、試験結果
出力手段とを含んで構成される。
試験シーケンス作成手段と、試験制御手段と、試験結果
出力手段とを含んで構成される。
次に従来のディスク試験システムについて図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第5図は従来のディスク試験システムの一例を示すブロ
ック図である。
ック図である。
試験条件作成手段11は、ディスク上の位置と前記パラ
メータの前記主変数とからなる試験条件Kを試験制御手
段13に設定し、試験シーケンス作成手段12は試験条
件Kに対応した前記三種の測定の少なくとも1つ以上で
構成される測定のシーケンスを試験シーケンスlとして
試験制御手段13に測定し、試験制御手段13は試験条
件Kと試験シーケンスlとに応じた測定を行ない試験を
制御し試験データmを試験結果出力手段14に出力し、
試験結果出力手段14は前記試験データmの図・表化し
試験結果nとして出力する。
メータの前記主変数とからなる試験条件Kを試験制御手
段13に設定し、試験シーケンス作成手段12は試験条
件Kに対応した前記三種の測定の少なくとも1つ以上で
構成される測定のシーケンスを試験シーケンスlとして
試験制御手段13に測定し、試験制御手段13は試験条
件Kと試験シーケンスlとに応じた測定を行ない試験を
制御し試験データmを試験結果出力手段14に出力し、
試験結果出力手段14は前記試験データmの図・表化し
試験結果nとして出力する。
上述した従来のディスク試験システムは、試験条件、試
験シーケンス、試験データを試験制御手段内のメモリ上
で管理しているため以下の欠点があった。
験シーケンス、試験データを試験制御手段内のメモリ上
で管理しているため以下の欠点があった。
(1) 測定条件や測定シーケンスを変えた場合、試験制
御手段内のメモリ構成により制約を受ける。
御手段内のメモリ構成により制約を受ける。
(2) 試験を構成する測定内容が変り、試験条件、試験
シーケンス、試験データの内容に変更がある場合、試験
条件作成手段、試験シーケンス作成手段、試験結果出力
手段のそれぞれの変更する必要があり、多種多様な試験
に対応できない。
シーケンス、試験データの内容に変更がある場合、試験
条件作成手段、試験シーケンス作成手段、試験結果出力
手段のそれぞれの変更する必要があり、多種多様な試験
に対応できない。
本発明のディスク試験システムは、信号記憶ディスク上
の位置と、記録条件、再生条件、消去条件の少なくとも
2つとからなる測定条件を作成し、記憶手段に登録する
測定条件作成手段と、再生信号の振幅に影響を与えるデ
ィスク表面の物理定数の変動に測定する物理特性測定と
信号記憶媒体に無記録,記録,消去の少なくとも1つを
行った後の再生信号測定と無記録,記録,消去の少なく
とも1つの行った後の信号記憶媒体の欠陥に起因する再
生信号の振幅変化を検出する欠陥測定との少なくとも1
つで構成される測定の順序を作成し記憶手段に登録する
測定シーケンス作成手段と、 前記記憶手段から読み出した前記測定条件を設定し前記
記憶手段から読み出した前記測定シーケンスに従う測定
を行ない測定結果を前記記憶手段に登録する測定制御手
段と、 前記測定条件と前記測定シーケンスと前記測定結果とを
それぞれファイル群として補助記憶を行なう記憶手段
と、 前記記憶手段から読み出した前記測定シーケンスと前記
測定条件とを参照して前記記憶手段から読み出した前記
測定結果の取捨選択,集計,演算を行ない試験に必要な
編集データを作成する測定結果編集手段と、 前記編集データの作表,作図を行ない、試験結果として
出力する試験結果出力手段とを含んで構成される。
の位置と、記録条件、再生条件、消去条件の少なくとも
2つとからなる測定条件を作成し、記憶手段に登録する
測定条件作成手段と、再生信号の振幅に影響を与えるデ
ィスク表面の物理定数の変動に測定する物理特性測定と
信号記憶媒体に無記録,記録,消去の少なくとも1つを
行った後の再生信号測定と無記録,記録,消去の少なく
とも1つの行った後の信号記憶媒体の欠陥に起因する再
生信号の振幅変化を検出する欠陥測定との少なくとも1
つで構成される測定の順序を作成し記憶手段に登録する
測定シーケンス作成手段と、 前記記憶手段から読み出した前記測定条件を設定し前記
記憶手段から読み出した前記測定シーケンスに従う測定
を行ない測定結果を前記記憶手段に登録する測定制御手
段と、 前記測定条件と前記測定シーケンスと前記測定結果とを
それぞれファイル群として補助記憶を行なう記憶手段
と、 前記記憶手段から読み出した前記測定シーケンスと前記
測定条件とを参照して前記記憶手段から読み出した前記
測定結果の取捨選択,集計,演算を行ない試験に必要な
編集データを作成する測定結果編集手段と、 前記編集データの作表,作図を行ない、試験結果として
出力する試験結果出力手段とを含んで構成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第1図に示すディスク試験装置に含まれる測定条件作成
手段1の出力である測定条件aは、記憶手段4に加えら
れ、測定制御手段3に記憶手段4から入力される。測定
シーケンス作成手段2の測定結果cとは記憶手段4に加
えられる。測定制御手段3は、記憶手段4から測定条件
a,測定シーケンスbを入力する。測定結果編集手段5
は記憶手段4から測定結果cを入力し、編集データdを
試験結果出力手段6に出力する。試験結果eは、試験結
果出力手段6から出力される。
手段1の出力である測定条件aは、記憶手段4に加えら
れ、測定制御手段3に記憶手段4から入力される。測定
シーケンス作成手段2の測定結果cとは記憶手段4に加
えられる。測定制御手段3は、記憶手段4から測定条件
a,測定シーケンスbを入力する。測定結果編集手段5
は記憶手段4から測定結果cを入力し、編集データdを
試験結果出力手段6に出力する。試験結果eは、試験結
果出力手段6から出力される。
第2図(a)〜(e)は、本発明の動作シーケンスを説明する
フローチャートである。
フローチャートである。
第2図(a)は、メインフローを表わすフローチャートで
あり、測定条件や測定シーケンスを設定もしくは登録し
た後、試験を開始し、測定条件を読み出し設定し測定シ
ーケンスを読み出し測定を実行し測定データを記憶手段
に書き込み測定結果を編集するという一連のシーケンス
を測定シーケンスに登録された分だけ繰り返し、試験結
果を出力するフローを示す。
あり、測定条件や測定シーケンスを設定もしくは登録し
た後、試験を開始し、測定条件を読み出し設定し測定シ
ーケンスを読み出し測定を実行し測定データを記憶手段
に書き込み測定結果を編集するという一連のシーケンス
を測定シーケンスに登録された分だけ繰り返し、試験結
果を出力するフローを示す。
第2図(b)は、測定条件作成フローの詳細フローチャー
トであり、測定位置,相対速度,記録周波数,記録強
度,消去強度,欠陥測定検出の測定条件の作成フローを
示す。
トであり、測定位置,相対速度,記録周波数,記録強
度,消去強度,欠陥測定検出の測定条件の作成フローを
示す。
第2図(c)は、測定シーケンス作成フローの詳細フロー
チャートであり、物理的測定,再生信号測定、欠陥測定
の測定シーケンスの作成フローを示す。
チャートであり、物理的測定,再生信号測定、欠陥測定
の測定シーケンスの作成フローを示す。
第2図(d)は測定条件読み出し及び設定フローの詳細フ
ローチャートであり、測定条件を記憶手段より読み込
み、読み込まれたデータに従って測定位置へ移動し、相
対強度・記録強度・消去強度・記録周波数・欠陥測定検
出条件を設定するフローを示す。
ローチャートであり、測定条件を記憶手段より読み込
み、読み込まれたデータに従って測定位置へ移動し、相
対強度・記録強度・消去強度・記録周波数・欠陥測定検
出条件を設定するフローを示す。
第2図(e)は測定シーケンス読み出し及び実行フローの
詳細フローチャートであり、測定シーケンスを記憶手段
より読み込み、読み込まれたシーケンスに従って、物理
測定、再生信号測定、欠陥測定を行なうフローを示す。
詳細フローチャートであり、測定シーケンスを記憶手段
より読み込み、読み込まれたシーケンスに従って、物理
測定、再生信号測定、欠陥測定を行なうフローを示す。
第3図は、本発明の一実施例を示す構成図であり、ディ
スク記録・再生部22とCRT/KB24とディスク記録
再生部22と接続されるマイコンシステム21と、CR
T/KB24とハードディスク23とプリンタ26と接
続されるパソコンシステム25と、を含んで構成され
る。第2図(a)〜(e)のディスク試験システムにおいて、
測定条件作成手段1と測定シーケンス作成手段2とは、
それぞれマイコンシステム21とCRT/KB24とか
ら構成され、測定制御手段3はマイコンシステム21と
ディスク記録・再生部22とから構成され、記憶手段4
はハードディスク23で構成され、測定結果編集手段5
はパソコンシステム25と、CRT/KB24とから構
成され、試験結果出力手段6はパソコンシステム25と
プリンタ26とから構成される。
スク記録・再生部22とCRT/KB24とディスク記録
再生部22と接続されるマイコンシステム21と、CR
T/KB24とハードディスク23とプリンタ26と接
続されるパソコンシステム25と、を含んで構成され
る。第2図(a)〜(e)のディスク試験システムにおいて、
測定条件作成手段1と測定シーケンス作成手段2とは、
それぞれマイコンシステム21とCRT/KB24とか
ら構成され、測定制御手段3はマイコンシステム21と
ディスク記録・再生部22とから構成され、記憶手段4
はハードディスク23で構成され、測定結果編集手段5
はパソコンシステム25と、CRT/KB24とから構
成され、試験結果出力手段6はパソコンシステム25と
プリンタ26とから構成される。
次に、第4図(a)〜(d)を用いて動作を説明する。第4図
(a)は、測定条件、測定シーケンスを示す図である。第
4図(a)において、測定条件は、面振れ測定に対して測
定位置が内周と外周で、媒体感度測定に対して測定位置
が内周と外周で記録条件がそれぞれの位置で記録強度
A,記録強度B,記録強度Cで示される。また、測定シ
ーケンスは、内周外周それぞれに対して、面振れ測定→
媒体感度測定(記録強度A時)→媒体感度測定(記録強
度B時)→媒体感度測定(記録感度C時)というシーケ
ンスを繰り返すことを示す。
(a)は、測定条件、測定シーケンスを示す図である。第
4図(a)において、測定条件は、面振れ測定に対して測
定位置が内周と外周で、媒体感度測定に対して測定位置
が内周と外周で記録条件がそれぞれの位置で記録強度
A,記録強度B,記録強度Cで示される。また、測定シ
ーケンスは、内周外周それぞれに対して、面振れ測定→
媒体感度測定(記録強度A時)→媒体感度測定(記録強
度B時)→媒体感度測定(記録感度C時)というシーケ
ンスを繰り返すことを示す。
第4図(b),(c)は面振れ測定、媒体感度測定の測定結果
の例を示す図であり、横軸はディスクの回転角度(ra
d)であり、各測定条件に対してそれぞれ同様な測定結
果が存在する。
の例を示す図であり、横軸はディスクの回転角度(ra
d)であり、各測定条件に対してそれぞれ同様な測定結
果が存在する。
第4図(d)は試験結果の一例を示す図であり、面振れ測
定で得られた測定結果を編集して最大値を面振れ試験結
果として表出力し、媒体感度測定で得られた測定結果を
編集して平均値を試験結果として表出力している。
定で得られた測定結果を編集して最大値を面振れ試験結
果として表出力し、媒体感度測定で得られた測定結果を
編集して平均値を試験結果として表出力している。
本発明のディスク試験システムは、記憶手段上に測定条
件、測定シーケンス、測定結果を登録して、測定結果を
編集することにより試験結果を得ているため、 (1) 測定条件や測定シーケンスが多種多様化しても前
記各手段内のメモリ構成による制約を受けない (2) 試験が多種多様化しても、測定結果編集手段と試
験結果出力手段とを変更するだけで対処でき、多種多様
な試験への対応が容易であるという効果がある。
件、測定シーケンス、測定結果を登録して、測定結果を
編集することにより試験結果を得ているため、 (1) 測定条件や測定シーケンスが多種多様化しても前
記各手段内のメモリ構成による制約を受けない (2) 試験が多種多様化しても、測定結果編集手段と試
験結果出力手段とを変更するだけで対処でき、多種多様
な試験への対応が容易であるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図
(a)〜(e)は第1図に示すディスク試験システムの動作を
説明するフローチャート、第3図は本発明の一実施例を
示す構成図、第4図(a)〜(d)は測定条件・測定シーケン
ス・測定結果・試験結果の一例を示す説明図、第5図は
従来の一例を示すブロック図である。 1……測定条件作成手段、2……測定シーケンス作成手
段、3……測定制御手段、4……記憶手段、5……測定
結果遍集手段、6……試験結果出力手段、11……試験
条件作成手段、12……試験シーケンス作成手段、13
……試験制御手段、14……試験結果出力手段、21…
…マイコンシステム、22……ディスク記録再生部、2
3……ハードディスク、24……CRT/KB、25…
…パソコンシステム、26……プリンタ。
(a)〜(e)は第1図に示すディスク試験システムの動作を
説明するフローチャート、第3図は本発明の一実施例を
示す構成図、第4図(a)〜(d)は測定条件・測定シーケン
ス・測定結果・試験結果の一例を示す説明図、第5図は
従来の一例を示すブロック図である。 1……測定条件作成手段、2……測定シーケンス作成手
段、3……測定制御手段、4……記憶手段、5……測定
結果遍集手段、6……試験結果出力手段、11……試験
条件作成手段、12……試験シーケンス作成手段、13
……試験制御手段、14……試験結果出力手段、21…
…マイコンシステム、22……ディスク記録再生部、2
3……ハードディスク、24……CRT/KB、25…
…パソコンシステム、26……プリンタ。
Claims (1)
- 【請求項1】信号記憶ディスク上の位置と、記録条件、
再生条件、消去条件の少なくとも2つとからなる測定条
件を作成し、記憶手段に登録する測定条件作成手段と、
再生信号の振幅に影響を与えるディスク表面の物理定数
の変動を測定する物理特性測定と信号記憶媒体に無記
録,記録,消去の少なくとも1つを行った後の再生信号
測定と無記録,記録,消去の少なくとも1つを行った後
の信号記憶媒体の欠陥に起因する再生信号の振幅変化を
検出する欠陥測定との少なくとも1つで構成される測定
の順序を作成し記憶手段に登録する測定シーケンス作成
手段と、 前記記憶手段から読み出した前記測定条件を設定し前記
記憶手段から読み出した前記測定シーケンスに従う測定
を行ない測定結果を前記記憶手段に登録する測定制御手
段と、 前記測定条件と前記測定シーケンスと前記測定結果とを
それぞれファイル群として補助記憶を行なう記憶手段
と、 前記記憶手段から読み出した前記測定シーケンスと前記
測定条件とを参照して前記記憶手段から読み出した前記
測定結果の取捨選択,集計,演算を行ない試験に必要な
編集データを作成する測定結果編集手段と、 前記編集データの作表,作図を行ない試験結果として出
力する試験結果出力手段とを含むことを特徴とするディ
スク試験システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61188912A JPH0619399B2 (ja) | 1986-08-11 | 1986-08-11 | デイスク試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61188912A JPH0619399B2 (ja) | 1986-08-11 | 1986-08-11 | デイスク試験システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6344182A JPS6344182A (ja) | 1988-02-25 |
| JPH0619399B2 true JPH0619399B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=16232064
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61188912A Expired - Lifetime JPH0619399B2 (ja) | 1986-08-11 | 1986-08-11 | デイスク試験システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619399B2 (ja) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57154073A (en) * | 1981-03-19 | 1982-09-22 | Fujitsu Ltd | Testing method for magnetic recording medium |
| JPS589077A (ja) * | 1981-07-09 | 1983-01-19 | Toshiba Corp | 電車性能測定器 |
| JPS589076A (ja) * | 1981-07-10 | 1983-01-19 | Hitachi Ltd | 車両用自動試験装置 |
| JPS58211227A (ja) * | 1982-06-02 | 1983-12-08 | Fujitsu Ltd | 周辺装置のテスト方式 |
| JPS61104372A (ja) * | 1984-10-22 | 1986-05-22 | Nec Corp | デイスク装置の試験装置 |
-
1986
- 1986-08-11 JP JP61188912A patent/JPH0619399B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6344182A (ja) | 1988-02-25 |
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