JPH06209072A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
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- JPH06209072A JPH06209072A JP6031931A JP3193194A JPH06209072A JP H06209072 A JPH06209072 A JP H06209072A JP 6031931 A JP6031931 A JP 6031931A JP 3193194 A JP3193194 A JP 3193194A JP H06209072 A JPH06209072 A JP H06209072A
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- Japan
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- silicon chip
- integrated circuit
- semiconductor integrated
- insulator
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5445—Dispositions of bond wires being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. parallel arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、半導体集積回路の構造の改良に関
する発明である。 【構成】 本発明は、上シリコンチップと下シリコンチ
ップの間に絶縁体を設け、前記上シリコンチップと下シ
リコンチップをリ−ド線により接続したことを特徴とす
る半導体集積回路の構成とした。
する発明である。 【構成】 本発明は、上シリコンチップと下シリコンチ
ップの間に絶縁体を設け、前記上シリコンチップと下シ
リコンチップをリ−ド線により接続したことを特徴とす
る半導体集積回路の構成とした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路の構造
の改良に関する発明である。
の改良に関する発明である。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体集積回路は、1個の半導体
にシリコンチップが1枚のみであり、現代の半導体技術
では、電子ビ−ム、X線等でシリコンチップ上にパタ−
ンを描いたとしても、限界があるために超LSI以上の
半導体を作ることが無理であった。また、現在開発中で
あるLSIの立体化(3次元)は大量生産に対応でき
ず、この半導体集積回路は、一気にハンダ付けできるの
で、今までのハンダ付機でも対応可能となり、大量生産
に対応可能となる。
にシリコンチップが1枚のみであり、現代の半導体技術
では、電子ビ−ム、X線等でシリコンチップ上にパタ−
ンを描いたとしても、限界があるために超LSI以上の
半導体を作ることが無理であった。また、現在開発中で
あるLSIの立体化(3次元)は大量生産に対応でき
ず、この半導体集積回路は、一気にハンダ付けできるの
で、今までのハンダ付機でも対応可能となり、大量生産
に対応可能となる。
【0003】しかしながら、従来のような1枚のシリコ
ンチップの構造の半導体集積回路では、容量が少ないと
の欠点があった。
ンチップの構造の半導体集積回路では、容量が少ないと
の欠点があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の半導
体集積回路に比し容量が大きく、しかも超LSI以上に
容量が大きい半導体集積回路を提供することを目的とす
る。
体集積回路に比し容量が大きく、しかも超LSI以上に
容量が大きい半導体集積回路を提供することを目的とす
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上シリコンチ
ップと下シリコンチップの間に絶縁体を設け、前記上シ
リコンチップと下シリコンチップをリ−ド線により接続
したことを特徴とする半導体集積回路の構成とした。
ップと下シリコンチップの間に絶縁体を設け、前記上シ
リコンチップと下シリコンチップをリ−ド線により接続
したことを特徴とする半導体集積回路の構成とした。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明である半導体集積回路のキャップを取
り外した状態の平面図、図2は本発明である半導体集積
回路のキャップの一部を切り欠いた斜視図であり、符号
1は半導体集積回路を示し、この半導体集積回路1はの
構造は、前記図1及び図3に示すように載置板5上に下
シリコンチップ4を固定し、前記下シリコンチップ4上
に絶縁体3を固定し、前記絶縁体3上に上シリコンチッ
プ2を固定し、上シリコンチップ2と下シリコンチップ
4とをリ−ド線6・6・6・6・・により接続させると
共に、上シリコンチップ2とリ−ド脚7・7・7・7・
・・とをリ−ド線6・6・6・6・・・により接続す
る。上シリコンチップ2は絶縁体3の長さよりやや短く
形成し、絶縁体3の長さは下シリコンチップ4よりやや
短く形成する。このように上シリコンチップ2と下シリ
コンチップ3がリ−ド線6・6・6・6・・・により接
続されると共に、上シリコンチップ2とリ−ド脚が接続
された後にキャップ8を取り付ける。上シリコンチップ
2と下シリコンチップ4間に設けられた絶縁体3の素材
としては合成樹脂を使用したものが良いが、必ずしも合
成樹脂に限定されるものではなく、その他の素材を用い
たものを絶縁体としてもよい。
る。図1は本発明である半導体集積回路のキャップを取
り外した状態の平面図、図2は本発明である半導体集積
回路のキャップの一部を切り欠いた斜視図であり、符号
1は半導体集積回路を示し、この半導体集積回路1はの
構造は、前記図1及び図3に示すように載置板5上に下
シリコンチップ4を固定し、前記下シリコンチップ4上
に絶縁体3を固定し、前記絶縁体3上に上シリコンチッ
プ2を固定し、上シリコンチップ2と下シリコンチップ
4とをリ−ド線6・6・6・6・・により接続させると
共に、上シリコンチップ2とリ−ド脚7・7・7・7・
・・とをリ−ド線6・6・6・6・・・により接続す
る。上シリコンチップ2は絶縁体3の長さよりやや短く
形成し、絶縁体3の長さは下シリコンチップ4よりやや
短く形成する。このように上シリコンチップ2と下シリ
コンチップ3がリ−ド線6・6・6・6・・・により接
続されると共に、上シリコンチップ2とリ−ド脚が接続
された後にキャップ8を取り付ける。上シリコンチップ
2と下シリコンチップ4間に設けられた絶縁体3の素材
としては合成樹脂を使用したものが良いが、必ずしも合
成樹脂に限定されるものではなく、その他の素材を用い
たものを絶縁体としてもよい。
【0007】図3は本発明である半導体集積回路の一部
を切り欠いた一部縦断面図、図4は本発明である半導体
集積回路の一部拡大縦断面図であり、図に示すように上
シリコンチップ2の下面には突出部2aが形成され、絶
縁体3の表面には前記突出部2が嵌合可能な嵌合溝3b
が形成されており、突出部2aが嵌合溝3bに嵌合させ
れことにより絶縁体3上の上シリコンチップ2がズレる
ことがなくなる。同様に、絶縁体3の裏面には嵌合溝3
aが形成され、下シリコンチップ4の表面には、前記嵌
合溝3aに嵌合可能な突出部4aが形成されていて、突
出部4aが嵌合溝3aに嵌合することにより下シリコン
チップ4と絶縁体3がズレることがないので、振動して
も上シリコンチップ2と絶縁体3と下シリコンチップ4
がズレることがなくなる。
を切り欠いた一部縦断面図、図4は本発明である半導体
集積回路の一部拡大縦断面図であり、図に示すように上
シリコンチップ2の下面には突出部2aが形成され、絶
縁体3の表面には前記突出部2が嵌合可能な嵌合溝3b
が形成されており、突出部2aが嵌合溝3bに嵌合させ
れことにより絶縁体3上の上シリコンチップ2がズレる
ことがなくなる。同様に、絶縁体3の裏面には嵌合溝3
aが形成され、下シリコンチップ4の表面には、前記嵌
合溝3aに嵌合可能な突出部4aが形成されていて、突
出部4aが嵌合溝3aに嵌合することにより下シリコン
チップ4と絶縁体3がズレることがないので、振動して
も上シリコンチップ2と絶縁体3と下シリコンチップ4
がズレることがなくなる。
【0008】
【発明の効果】以上説明したように、上シリコンチップ
と下シリコンチップの間に絶縁体を設け、前記上シリコ
ンチップと下シリコンチップをリ−ド線により接続した
構成であるので、従来の半導体回路に比較し、容量を大
幅に増加させることができるとの効果がある。また、上
シリコンチップと絶縁体と下シリコンチップにズレが生
じることがないので、故障することがなく長時間使用す
ることができるとの効果がある。
と下シリコンチップの間に絶縁体を設け、前記上シリコ
ンチップと下シリコンチップをリ−ド線により接続した
構成であるので、従来の半導体回路に比較し、容量を大
幅に増加させることができるとの効果がある。また、上
シリコンチップと絶縁体と下シリコンチップにズレが生
じることがないので、故障することがなく長時間使用す
ることができるとの効果がある。
【図1】本発明である半導体集積回路のキャップを取り
外した状態の平面図。
外した状態の平面図。
【図2】本発明である半導体集積回路のキャップの一部
を切り欠いた斜視図。
を切り欠いた斜視図。
【図3】本発明である半導体集積回路の一部を切り欠い
た一部縦断面図。
た一部縦断面図。
【図4】本発明である半導体集積回路の一部拡大縦断面
図。
図。
1 半導体集積回路 2 上シリコンチップ 2a 突出部 3 絶縁体 3a 嵌合溝 3b 嵌合溝 4 下シリコンチップ 4a 突出部 5 載置板 6 リ−ド線 7 リ−ド脚 8 キャップ
Claims (1)
- 【請求項1】 上シリコンチップと下シリコンチップの
間に絶縁体を設け、前記上シリコンチップと下シリコン
チップをリ−ド線により接続したことを特徴とする半導
体集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6031931A JP2686909B2 (ja) | 1994-02-03 | 1994-02-03 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6031931A JP2686909B2 (ja) | 1994-02-03 | 1994-02-03 | 半導体集積回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06209072A true JPH06209072A (ja) | 1994-07-26 |
| JP2686909B2 JP2686909B2 (ja) | 1997-12-08 |
Family
ID=12344724
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6031931A Expired - Fee Related JP2686909B2 (ja) | 1994-02-03 | 1994-02-03 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2686909B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61123544U (ja) * | 1985-01-23 | 1986-08-04 | ||
| JPH03116860A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-17 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
-
1994
- 1994-02-03 JP JP6031931A patent/JP2686909B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61123544U (ja) * | 1985-01-23 | 1986-08-04 | ||
| JPH03116860A (ja) * | 1989-09-29 | 1991-05-17 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2686909B2 (ja) | 1997-12-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |