JPH0628300B2 - 相補型mis集積回路の静電気保護装置 - Google Patents

相補型mis集積回路の静電気保護装置

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JPH0628300B2
JPH0628300B2 JP62200176A JP20017687A JPH0628300B2 JP H0628300 B2 JPH0628300 B2 JP H0628300B2 JP 62200176 A JP62200176 A JP 62200176A JP 20017687 A JP20017687 A JP 20017687A JP H0628300 B2 JPH0628300 B2 JP H0628300B2
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JP
Japan
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mis transistor
integrated circuit
static electricity
protection device
complementary
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JP62200176A
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JPS6442855A (en
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和樹 吉武
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NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は相補型MIS集積回路の静電気保護装置に関
し、特に保護素子として用いられる定常時非導通のMI
Sトランジスタオゲート絶縁膜を保護するように形成さ
れる相補型MIS集積回路の静電気保護装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、この主の相補型MIS集積回路の静電気保護装置
においては、保護素子として定常時非導通のMISトラ
ンジスタが用いられており、前記MISトランジスタの
ゲートは、直接電源端子に金属配線により接続される
か、または、第3図に一例の回路図が示されるように、
内部回路に対する保護素子として作用するPチャネルM
ISトランジスタ1−1およびNチャネルMISトラン
ジスタ1−2に対して、それぞれ抵抗4−1および4−
2が接続されているのが一般である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来のMIS集積回路の静電気保護装置におい
ては、例えば保護素子として用いられているMISトラ
ンジスタのゲートが直接電源端子等に接続されている場
合には、静電気印加時にゲート絶縁膜に高電界が加わ
り、絶縁膜が破壊される可能性がある。特に、MISト
ランジスタのゲート絶縁膜の薄膜化にともない、その危
険性が更に増大してゆくという欠点がある。また、第3
図に示れるように、抵抗を接続する方法においては、そ
の抵抗値の設定が容易でないという欠点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の相補型MIS集積回路の静電気保護装置は、相
補型MIS集積回路の端子の静電気に対する保護素子と
して、定常時非導通のMISトランジスタを用いる静電
気保護装置において、前記MISトランジスタを非導通
状態とするために、前記MISトランジスタのゲート電
極に所定の電位を供給する、同一電源系の相補型MIS
トランジスタから成るインバータを備えて構成される。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の回路図である。第1図
に示されるように、本実施例は、抵抗3を介して端子5
1に連結される内部回路に対応して、PチャンネルMI
Sトランジスタ1−1と、NチャネルMISトランジス
タ1−2と、インバータ2−1および2−2と、を備え
て構成される。
第1図において、PチャネルMISトランジスタ1−1
およびNチャネルMISトランジスタ1−2は、内部回
路に対する保護素子の役割を負っており、それぞれのM
ISトランジスタのゲート電位は、それぞれ相補型MI
Sトランジスタから成るインバータ2−1および2−2
を介して供給される。
今、端子51と接地電源との間に正の静電気が印加され
た場合を考える。NチャネルMISトランジスタ1−2
のドレンインとゲートとの間に一時的に高電界が加わる
が、ドレインとゲート間のカップリング容量を介して交
流的な電流が流れ、相補型のインバータ2−2を通して
接地電源に放出される。この時、NチャネルMISトラ
ンジスタ1−2と、インバータ2−2を形成する相補型
MISトランジスタのβの値をβ1-2 およびβ2-2 と
し、β2-2 ≦β1-2 /10程度の関係に設定しておくこ
とにより、上述の放電時のインバータ2−2のオン抵抗
を十分に高くし、NチャネルMISトランジスタ1−2
のゲートとドレイン間の電界を十分に低く抑えることが
可能となる。また、電源電圧VDDが供給される電源と端
子51との間に負の静電気が印加された場合において
も、同様にPチャネルMISトランジスタ1−1のゲー
トとドレインとの間の電界は十分に低い値に抑制され
る。従って、本発明により、内部回路に対する保護素子
として作用するPチャネルMISトランジスタ1−1お
よびNチャネルMISトランジスタ1−2のゲート絶縁
膜に対する保護能力が著しく高められる。
なお、PチャネルMISトランジスタ1−1およびNチ
ャネルMISトランジスタ1−2の大きさ(β∝W)に
比例して、インバータ2−1およびβの値を設計するこ
とができるため、第3図に示される従来例の抵抗値を設
定する場合に比較して設計が容易であるという利点があ
る。すなわち、本発明により、保護素子として作用する
MISトランジズタのゲート絶縁膜に対する保護能力が
高められ、且つ設計の容易な静電気保護回路が実現され
る。
第2図は本発明の第2の実施例の回路図である。
第2図に示されるように、本実施例は、抵抗3を介して
端子51に連結される内部回路に対応して、Pチャネル
MISトランジスタ1−1と、NチャネルMISトラン
ジスタ1−2と、インバータ2−1および2−2と、抵
抗4−1および4−2と、を備えて構成される。
第2図より明らかなように、第2の実施例の前記第1の
実施例と異なる点は、ゲート電位供給用のインバータ2
−1の入力側と接地電源との間に抵抗4−1が挿入さ
れ、インバータ2−2の入力側と電源との間に抵抗4−
2が挿入されていることである。この抵抗4−1および
4−2付加により、インバータ2−1および2−2のゲ
ート絶縁膜に対する保護能力が更に向上され、前記第1
の実施例に比較して更に高信頼度の集積回路が実現され
るという利点がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は静電気に対する保護素子
として作用する定常時非導通のMISトランジスタのゲ
ート電位を、同一電源系の相補型MISトランジスタか
ら成るインバーターを介して供給することにより、保護
素子としての前記MISトランジスタのゲート絶縁膜に
対する保護能力を高め、高信頼度の集積回路を提供する
ことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、それぞれ本発明の第1および第
2の実施例の回路図、第3図は、従来の相補型MIS集
積回路の静電気保護装置の回路図である。 図において、1−1……PチャネルMISトランジス
タ、1−2……NチャネルMISトランジスタ、2−
1、2−2……インバータ、3、4−1、4−2……抵
抗。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】相補型MIS集積回路の端子の静電気に対
    する保護素子として、定常時非導通のMISトランジス
    タを用いる静電気保護装置において、前記MISトラン
    ジスタを非導通状態とするために、前記MISトランジ
    スタのゲート電極に所定の電位を供給する、同一電源系
    の相補型MISトランジスタから成るインバータを備え
    ることを特徴とする相補型MIS集積回路の静電気保護
    装置。
JP62200176A 1987-08-10 1987-08-10 相補型mis集積回路の静電気保護装置 Expired - Lifetime JPH0628300B2 (ja)

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JPS6442855A JPS6442855A (en) 1989-02-15
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