JPH0628300B2 - 相補型mis集積回路の静電気保護装置 - Google Patents
相補型mis集積回路の静電気保護装置Info
- Publication number
- JPH0628300B2 JPH0628300B2 JP62200176A JP20017687A JPH0628300B2 JP H0628300 B2 JPH0628300 B2 JP H0628300B2 JP 62200176 A JP62200176 A JP 62200176A JP 20017687 A JP20017687 A JP 20017687A JP H0628300 B2 JPH0628300 B2 JP H0628300B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mis transistor
- integrated circuit
- static electricity
- protection device
- complementary
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は相補型MIS集積回路の静電気保護装置に関
し、特に保護素子として用いられる定常時非導通のMI
Sトランジスタオゲート絶縁膜を保護するように形成さ
れる相補型MIS集積回路の静電気保護装置に関する。
し、特に保護素子として用いられる定常時非導通のMI
Sトランジスタオゲート絶縁膜を保護するように形成さ
れる相補型MIS集積回路の静電気保護装置に関する。
従来、この主の相補型MIS集積回路の静電気保護装置
においては、保護素子として定常時非導通のMISトラ
ンジスタが用いられており、前記MISトランジスタの
ゲートは、直接電源端子に金属配線により接続される
か、または、第3図に一例の回路図が示されるように、
内部回路に対する保護素子として作用するPチャネルM
ISトランジスタ1−1およびNチャネルMISトラン
ジスタ1−2に対して、それぞれ抵抗4−1および4−
2が接続されているのが一般である。
においては、保護素子として定常時非導通のMISトラ
ンジスタが用いられており、前記MISトランジスタの
ゲートは、直接電源端子に金属配線により接続される
か、または、第3図に一例の回路図が示されるように、
内部回路に対する保護素子として作用するPチャネルM
ISトランジスタ1−1およびNチャネルMISトラン
ジスタ1−2に対して、それぞれ抵抗4−1および4−
2が接続されているのが一般である。
上述した従来のMIS集積回路の静電気保護装置におい
ては、例えば保護素子として用いられているMISトラ
ンジスタのゲートが直接電源端子等に接続されている場
合には、静電気印加時にゲート絶縁膜に高電界が加わ
り、絶縁膜が破壊される可能性がある。特に、MISト
ランジスタのゲート絶縁膜の薄膜化にともない、その危
険性が更に増大してゆくという欠点がある。また、第3
図に示れるように、抵抗を接続する方法においては、そ
の抵抗値の設定が容易でないという欠点がある。
ては、例えば保護素子として用いられているMISトラ
ンジスタのゲートが直接電源端子等に接続されている場
合には、静電気印加時にゲート絶縁膜に高電界が加わ
り、絶縁膜が破壊される可能性がある。特に、MISト
ランジスタのゲート絶縁膜の薄膜化にともない、その危
険性が更に増大してゆくという欠点がある。また、第3
図に示れるように、抵抗を接続する方法においては、そ
の抵抗値の設定が容易でないという欠点がある。
本発明の相補型MIS集積回路の静電気保護装置は、相
補型MIS集積回路の端子の静電気に対する保護素子と
して、定常時非導通のMISトランジスタを用いる静電
気保護装置において、前記MISトランジスタを非導通
状態とするために、前記MISトランジスタのゲート電
極に所定の電位を供給する、同一電源系の相補型MIS
トランジスタから成るインバータを備えて構成される。
補型MIS集積回路の端子の静電気に対する保護素子と
して、定常時非導通のMISトランジスタを用いる静電
気保護装置において、前記MISトランジスタを非導通
状態とするために、前記MISトランジスタのゲート電
極に所定の電位を供給する、同一電源系の相補型MIS
トランジスタから成るインバータを備えて構成される。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の回路図である。第1図
に示されるように、本実施例は、抵抗3を介して端子5
1に連結される内部回路に対応して、PチャンネルMI
Sトランジスタ1−1と、NチャネルMISトランジス
タ1−2と、インバータ2−1および2−2と、を備え
て構成される。
に示されるように、本実施例は、抵抗3を介して端子5
1に連結される内部回路に対応して、PチャンネルMI
Sトランジスタ1−1と、NチャネルMISトランジス
タ1−2と、インバータ2−1および2−2と、を備え
て構成される。
第1図において、PチャネルMISトランジスタ1−1
およびNチャネルMISトランジスタ1−2は、内部回
路に対する保護素子の役割を負っており、それぞれのM
ISトランジスタのゲート電位は、それぞれ相補型MI
Sトランジスタから成るインバータ2−1および2−2
を介して供給される。
およびNチャネルMISトランジスタ1−2は、内部回
路に対する保護素子の役割を負っており、それぞれのM
ISトランジスタのゲート電位は、それぞれ相補型MI
Sトランジスタから成るインバータ2−1および2−2
を介して供給される。
今、端子51と接地電源との間に正の静電気が印加され
た場合を考える。NチャネルMISトランジスタ1−2
のドレンインとゲートとの間に一時的に高電界が加わる
が、ドレインとゲート間のカップリング容量を介して交
流的な電流が流れ、相補型のインバータ2−2を通して
接地電源に放出される。この時、NチャネルMISトラ
ンジスタ1−2と、インバータ2−2を形成する相補型
MISトランジスタのβの値をβ1-2 およびβ2-2 と
し、β2-2 ≦β1-2 /10程度の関係に設定しておくこ
とにより、上述の放電時のインバータ2−2のオン抵抗
を十分に高くし、NチャネルMISトランジスタ1−2
のゲートとドレイン間の電界を十分に低く抑えることが
可能となる。また、電源電圧VDDが供給される電源と端
子51との間に負の静電気が印加された場合において
も、同様にPチャネルMISトランジスタ1−1のゲー
トとドレインとの間の電界は十分に低い値に抑制され
る。従って、本発明により、内部回路に対する保護素子
として作用するPチャネルMISトランジスタ1−1お
よびNチャネルMISトランジスタ1−2のゲート絶縁
膜に対する保護能力が著しく高められる。
た場合を考える。NチャネルMISトランジスタ1−2
のドレンインとゲートとの間に一時的に高電界が加わる
が、ドレインとゲート間のカップリング容量を介して交
流的な電流が流れ、相補型のインバータ2−2を通して
接地電源に放出される。この時、NチャネルMISトラ
ンジスタ1−2と、インバータ2−2を形成する相補型
MISトランジスタのβの値をβ1-2 およびβ2-2 と
し、β2-2 ≦β1-2 /10程度の関係に設定しておくこ
とにより、上述の放電時のインバータ2−2のオン抵抗
を十分に高くし、NチャネルMISトランジスタ1−2
のゲートとドレイン間の電界を十分に低く抑えることが
可能となる。また、電源電圧VDDが供給される電源と端
子51との間に負の静電気が印加された場合において
も、同様にPチャネルMISトランジスタ1−1のゲー
トとドレインとの間の電界は十分に低い値に抑制され
る。従って、本発明により、内部回路に対する保護素子
として作用するPチャネルMISトランジスタ1−1お
よびNチャネルMISトランジスタ1−2のゲート絶縁
膜に対する保護能力が著しく高められる。
なお、PチャネルMISトランジスタ1−1およびNチ
ャネルMISトランジスタ1−2の大きさ(β∝W)に
比例して、インバータ2−1およびβの値を設計するこ
とができるため、第3図に示される従来例の抵抗値を設
定する場合に比較して設計が容易であるという利点があ
る。すなわち、本発明により、保護素子として作用する
MISトランジズタのゲート絶縁膜に対する保護能力が
高められ、且つ設計の容易な静電気保護回路が実現され
る。
ャネルMISトランジスタ1−2の大きさ(β∝W)に
比例して、インバータ2−1およびβの値を設計するこ
とができるため、第3図に示される従来例の抵抗値を設
定する場合に比較して設計が容易であるという利点があ
る。すなわち、本発明により、保護素子として作用する
MISトランジズタのゲート絶縁膜に対する保護能力が
高められ、且つ設計の容易な静電気保護回路が実現され
る。
第2図は本発明の第2の実施例の回路図である。
第2図に示されるように、本実施例は、抵抗3を介して
端子51に連結される内部回路に対応して、Pチャネル
MISトランジスタ1−1と、NチャネルMISトラン
ジスタ1−2と、インバータ2−1および2−2と、抵
抗4−1および4−2と、を備えて構成される。
端子51に連結される内部回路に対応して、Pチャネル
MISトランジスタ1−1と、NチャネルMISトラン
ジスタ1−2と、インバータ2−1および2−2と、抵
抗4−1および4−2と、を備えて構成される。
第2図より明らかなように、第2の実施例の前記第1の
実施例と異なる点は、ゲート電位供給用のインバータ2
−1の入力側と接地電源との間に抵抗4−1が挿入さ
れ、インバータ2−2の入力側と電源との間に抵抗4−
2が挿入されていることである。この抵抗4−1および
4−2付加により、インバータ2−1および2−2のゲ
ート絶縁膜に対する保護能力が更に向上され、前記第1
の実施例に比較して更に高信頼度の集積回路が実現され
るという利点がある。
実施例と異なる点は、ゲート電位供給用のインバータ2
−1の入力側と接地電源との間に抵抗4−1が挿入さ
れ、インバータ2−2の入力側と電源との間に抵抗4−
2が挿入されていることである。この抵抗4−1および
4−2付加により、インバータ2−1および2−2のゲ
ート絶縁膜に対する保護能力が更に向上され、前記第1
の実施例に比較して更に高信頼度の集積回路が実現され
るという利点がある。
以上説明したように、本発明は静電気に対する保護素子
として作用する定常時非導通のMISトランジスタのゲ
ート電位を、同一電源系の相補型MISトランジスタか
ら成るインバーターを介して供給することにより、保護
素子としての前記MISトランジスタのゲート絶縁膜に
対する保護能力を高め、高信頼度の集積回路を提供する
ことができるという効果がある。
として作用する定常時非導通のMISトランジスタのゲ
ート電位を、同一電源系の相補型MISトランジスタか
ら成るインバーターを介して供給することにより、保護
素子としての前記MISトランジスタのゲート絶縁膜に
対する保護能力を高め、高信頼度の集積回路を提供する
ことができるという効果がある。
第1図および第2図は、それぞれ本発明の第1および第
2の実施例の回路図、第3図は、従来の相補型MIS集
積回路の静電気保護装置の回路図である。 図において、1−1……PチャネルMISトランジス
タ、1−2……NチャネルMISトランジスタ、2−
1、2−2……インバータ、3、4−1、4−2……抵
抗。
2の実施例の回路図、第3図は、従来の相補型MIS集
積回路の静電気保護装置の回路図である。 図において、1−1……PチャネルMISトランジス
タ、1−2……NチャネルMISトランジスタ、2−
1、2−2……インバータ、3、4−1、4−2……抵
抗。
Claims (1)
- 【請求項1】相補型MIS集積回路の端子の静電気に対
する保護素子として、定常時非導通のMISトランジス
タを用いる静電気保護装置において、前記MISトラン
ジスタを非導通状態とするために、前記MISトランジ
スタのゲート電極に所定の電位を供給する、同一電源系
の相補型MISトランジスタから成るインバータを備え
ることを特徴とする相補型MIS集積回路の静電気保護
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62200176A JPH0628300B2 (ja) | 1987-08-10 | 1987-08-10 | 相補型mis集積回路の静電気保護装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62200176A JPH0628300B2 (ja) | 1987-08-10 | 1987-08-10 | 相補型mis集積回路の静電気保護装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6442855A JPS6442855A (en) | 1989-02-15 |
| JPH0628300B2 true JPH0628300B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=16420058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62200176A Expired - Lifetime JPH0628300B2 (ja) | 1987-08-10 | 1987-08-10 | 相補型mis集積回路の静電気保護装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0628300B2 (ja) |
-
1987
- 1987-08-10 JP JP62200176A patent/JPH0628300B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6442855A (en) | 1989-02-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS62120121A (ja) | Cmos出力ドライブ回路 | |
| TW399315B (en) | The semiconductor integrated circuit with a static-discharging protection circuit | |
| JPS5815321A (ja) | 相補型mos装置の駆動回路 | |
| JPH07101710B2 (ja) | Mis集積回路の静電気保護装置 | |
| JP2806532B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| US6653884B2 (en) | Input interface circuit for semiconductor integrated circuit device | |
| JPH0379120A (ja) | 入力保護回路 | |
| JP2598147B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
| JP2904962B2 (ja) | 昇圧装置 | |
| JPS61263255A (ja) | 半導体装置のサ−ジ保護回路 | |
| JP3250249B2 (ja) | 定電流充電回路 | |
| JP2752680B2 (ja) | 半導体集積回路装置の過電圧吸収回路 | |
| JP3064573B2 (ja) | 昇圧回路 | |
| JPH0316648B2 (ja) | ||
| JPS5713819A (en) | Output interface circuit | |
| JPH02298069A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPS63236362A (ja) | 半導体装置 | |
| JPH03139121A (ja) | 半導体装置 | |
| JPH01253951A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPS6395667A (ja) | 入力保護装置 | |
| JPS63157472A (ja) | 入力端子保護回路 | |
| JPH0227567Y2 (ja) | ||
| JPS6164151A (ja) | 入力保護回路 | |
| JPS62152155A (ja) | C−mos lsiの保護回路 | |
| JPS63119251A (ja) | C−mos型電界効果トランジスタ |