JPH06338023A - 磁気ヘッド - Google Patents
磁気ヘッドInfo
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- JPH06338023A JPH06338023A JP12751793A JP12751793A JPH06338023A JP H06338023 A JPH06338023 A JP H06338023A JP 12751793 A JP12751793 A JP 12751793A JP 12751793 A JP12751793 A JP 12751793A JP H06338023 A JPH06338023 A JP H06338023A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 磁性金属薄膜が絶縁膜を介して積層された積
層磁性膜1,2がその膜厚方向より少なくとも磁性フェ
ライトよりなる第1の基板3,4と第2の基板5,6に
よって挟み込まれてなる磁気コア半体7,8を上記積層
磁性膜1,2を突き合わせるようにして接合一体化した
磁気ヘッドにおいて、少なくとも積層磁性膜1,2の突
き合わせ側の端面に磁性金属膜101,102を設け、
その磁気ギャップのトラック幅Twを13μm以下とす
る。 【効果】 高密度記録が達成され、積層磁性膜1,2の
突き合わせ側の端面にて形成されるギャップ部の実質的
なトラック幅の減少が抑えられ、再生出力が向上する。
層磁性膜1,2がその膜厚方向より少なくとも磁性フェ
ライトよりなる第1の基板3,4と第2の基板5,6に
よって挟み込まれてなる磁気コア半体7,8を上記積層
磁性膜1,2を突き合わせるようにして接合一体化した
磁気ヘッドにおいて、少なくとも積層磁性膜1,2の突
き合わせ側の端面に磁性金属膜101,102を設け、
その磁気ギャップのトラック幅Twを13μm以下とす
る。 【効果】 高密度記録が達成され、積層磁性膜1,2の
突き合わせ側の端面にて形成されるギャップ部の実質的
なトラック幅の減少が抑えられ、再生出力が向上する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばビデオテープレ
コーダ等に搭載される磁気ヘッドに関し、特に高密度磁
気記録用ヘッドとして好適な磁気ヘッドに関する。
コーダ等に搭載される磁気ヘッドに関し、特に高密度磁
気記録用ヘッドとして好適な磁気ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、磁気記録の分野においては、高
周波特性に優れる高密度記録用の磁気ヘッドとして膜厚
の薄い磁性金属薄膜を絶縁膜を介して何層にも積層して
なる、いわゆる積層型の金属磁性膜(以下、積層磁性膜
と称する。)を用いた磁気ヘッドの開発が行われてい
る。かかる磁気ヘッドの一例として、上記積層磁性膜を
非磁性材料よりなる基板によって膜厚方向より挟み込ん
でなる磁気コア半体同士を、積層磁性膜を突き合わせる
ようにして接合一体化した、いわゆるラミネートタイプ
の磁気ヘッドが挙げられる。
周波特性に優れる高密度記録用の磁気ヘッドとして膜厚
の薄い磁性金属薄膜を絶縁膜を介して何層にも積層して
なる、いわゆる積層型の金属磁性膜(以下、積層磁性膜
と称する。)を用いた磁気ヘッドの開発が行われてい
る。かかる磁気ヘッドの一例として、上記積層磁性膜を
非磁性材料よりなる基板によって膜厚方向より挟み込ん
でなる磁気コア半体同士を、積層磁性膜を突き合わせる
ようにして接合一体化した、いわゆるラミネートタイプ
の磁気ヘッドが挙げられる。
【0003】上記ラミネートタイプの磁気ヘッドにおい
ては、積層磁性膜の突き合わせ面間に磁気ギャップが形
成され、該積層磁性膜の幅が磁気ギャップのトラック幅
となることから、挟トラック化が可能であり、高密度記
録が達成される。
ては、積層磁性膜の突き合わせ面間に磁気ギャップが形
成され、該積層磁性膜の幅が磁気ギャップのトラック幅
となることから、挟トラック化が可能であり、高密度記
録が達成される。
【0004】しかしながら、かかる磁気ヘッドにおい
て、さらなる高密度記録を達成するためにトラック幅を
さらに狭くする、すなわち積層磁性膜の幅をさらに狭め
て行くと、磁路を構成するコア断面積の減少によってヘ
ッド効率が劣化する。上記のような傾向は、トラック幅
を13μm以下とした場合に特に顕著である。
て、さらなる高密度記録を達成するためにトラック幅を
さらに狭くする、すなわち積層磁性膜の幅をさらに狭め
て行くと、磁路を構成するコア断面積の減少によってヘ
ッド効率が劣化する。上記のような傾向は、トラック幅
を13μm以下とした場合に特に顕著である。
【0005】このため、従来においては、コア断面積の
確保によってヘッド効率の劣化を防止すべく、基板に磁
性フェライトを使用する方法が提案されている。この方
法によれば、狭トラック化した場合でも、磁性フェライ
ト基板が補助コアとして機能し、コア断面積が充分に確
保されることから、非磁性基板を用いた磁気ヘッドに比
べてヘッド効率の劣化を抑制することができる。
確保によってヘッド効率の劣化を防止すべく、基板に磁
性フェライトを使用する方法が提案されている。この方
法によれば、狭トラック化した場合でも、磁性フェライ
ト基板が補助コアとして機能し、コア断面積が充分に確
保されることから、非磁性基板を用いた磁気ヘッドに比
べてヘッド効率の劣化を抑制することができる。
【0006】ところで、上記のような磁気ヘッドは次の
ようにして形成される。先ず、一方の磁性フェライト基
板上に、膜厚の薄い磁性金属薄膜を絶縁膜を介して何層
にも積層した積層メタル膜である積層磁性膜を形成し、
これに他方の磁性フェライト基板を接合して磁気コア半
体を形成する。次に、上記磁気コア半体とこれと同様に
形成される磁気コア半体同士を、互いの突き合わせ面に
呈する積層磁性膜の端面同士を突き合わせ、ギャップ膜
を介してガラスによりギャップ融着し、接合一体化して
磁気ヘッドを完成する。ただし、上記磁気ヘッドにおい
ては基板が磁性フェライトで構成されていることから、
積層磁性膜の突き合わせ側の端面の幅(トラック幅)を
規制する必要がある。
ようにして形成される。先ず、一方の磁性フェライト基
板上に、膜厚の薄い磁性金属薄膜を絶縁膜を介して何層
にも積層した積層メタル膜である積層磁性膜を形成し、
これに他方の磁性フェライト基板を接合して磁気コア半
体を形成する。次に、上記磁気コア半体とこれと同様に
形成される磁気コア半体同士を、互いの突き合わせ面に
呈する積層磁性膜の端面同士を突き合わせ、ギャップ膜
を介してガラスによりギャップ融着し、接合一体化して
磁気ヘッドを完成する。ただし、上記磁気ヘッドにおい
ては基板が磁性フェライトで構成されていることから、
積層磁性膜の突き合わせ側の端面の幅(トラック幅)を
規制する必要がある。
【0007】そこで、上記のような磁気ヘッドの積層磁
性膜の突き合わせ側の端面の幅を規制する方法として次
のような方法が挙げられる。先ず、一対の磁性フェライ
ト基板の磁気ギャップ近傍となる部分を機械加工等によ
り予め除去し、そこに非磁性材を充填する。そして、こ
のうち一方の磁性フェライト基板上に積層磁性膜を形成
し、他方の磁性フェライト基板と接合した後、積層磁性
膜のトラック幅方向に平行な面で切断を行う。その結
果、切断面(突き合わせ面)には非磁性材と積層磁性膜
が露出し、該積層磁性膜の突き合わせ側の端面の幅が規
制されることとなる。ところが、この方法では磁気ヘッ
ドの製造工程が煩雑となるばかりでなく、積層磁性膜を
スパッタリングするためにフェライト基板とこれに充填
されている非磁性材に平面研削を行うと、これらの間に
段差が生じ、形成される積層磁性膜の膜特性に影響を及
ぼしてしまう。
性膜の突き合わせ側の端面の幅を規制する方法として次
のような方法が挙げられる。先ず、一対の磁性フェライ
ト基板の磁気ギャップ近傍となる部分を機械加工等によ
り予め除去し、そこに非磁性材を充填する。そして、こ
のうち一方の磁性フェライト基板上に積層磁性膜を形成
し、他方の磁性フェライト基板と接合した後、積層磁性
膜のトラック幅方向に平行な面で切断を行う。その結
果、切断面(突き合わせ面)には非磁性材と積層磁性膜
が露出し、該積層磁性膜の突き合わせ側の端面の幅が規
制されることとなる。ところが、この方法では磁気ヘッ
ドの製造工程が煩雑となるばかりでなく、積層磁性膜を
スパッタリングするためにフェライト基板とこれに充填
されている非磁性材に平面研削を行うと、これらの間に
段差が生じ、形成される積層磁性膜の膜特性に影響を及
ぼしてしまう。
【0008】上記問題を解決する方法として、一方のフ
ェライト基板にスパッタリング等によって積層磁性膜を
形成し、これと他方のフェライト基板を接合した後に、
積層磁性膜の突き合わせ側の端面を所定トラック幅に規
制できるようなトラック幅規制溝を磁気ギャップ近傍と
なる部分に形成する方法が提案されている。
ェライト基板にスパッタリング等によって積層磁性膜を
形成し、これと他方のフェライト基板を接合した後に、
積層磁性膜の突き合わせ側の端面を所定トラック幅に規
制できるようなトラック幅規制溝を磁気ギャップ近傍と
なる部分に形成する方法が提案されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な積層磁性膜を用いた磁気ヘッドにおいては、当然のこ
とながら、積層磁性膜の突き合わせ側の端面であるギャ
ップ部に磁性金属薄膜と絶縁膜が露呈することとなる。
この時、上記ギャップ部中の非磁性の絶縁膜で構成され
る部分は磁路として機能しないことから、ギャップ部の
実質的なトラック幅は、積層磁性膜の突き合わせ側の端
面の幅によって決定される見かけ上のトラック幅よりも
小さいものとなってしまい、再生出力が低下するという
不都合が生じている。このような傾向は、前述のように
トラック幅を13μm以下とした場合に特に顕著であ
る。
な積層磁性膜を用いた磁気ヘッドにおいては、当然のこ
とながら、積層磁性膜の突き合わせ側の端面であるギャ
ップ部に磁性金属薄膜と絶縁膜が露呈することとなる。
この時、上記ギャップ部中の非磁性の絶縁膜で構成され
る部分は磁路として機能しないことから、ギャップ部の
実質的なトラック幅は、積層磁性膜の突き合わせ側の端
面の幅によって決定される見かけ上のトラック幅よりも
小さいものとなってしまい、再生出力が低下するという
不都合が生じている。このような傾向は、前述のように
トラック幅を13μm以下とした場合に特に顕著であ
る。
【0010】そこで本発明は、従来の実情に鑑みて提案
されたものであり、高密度記録化に対応可能であり、実
質的なトラック幅の減少が抑えられ、再生出力の向上し
た磁気ヘッドを提供することを目的とする。
されたものであり、高密度記録化に対応可能であり、実
質的なトラック幅の減少が抑えられ、再生出力の向上し
た磁気ヘッドを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに本発明は、磁性金属薄膜が絶縁膜を介して積層され
てなる積層磁性膜を少なくとも磁性フェライト材よりな
る一対の基板により膜厚方向より挟み込んでなる一対の
磁気コア半体が、上記積層磁性膜を突き合わせるように
接合一体化されて閉磁路を構成する磁気ヘッドにおい
て、少なくとも、積層磁性膜の突き合わせ側の端面に磁
性金属膜が形成されており、磁気ギャップのトラック幅
をTwとしたときに、Tw≦13μmであることを特徴
とするものである。
めに本発明は、磁性金属薄膜が絶縁膜を介して積層され
てなる積層磁性膜を少なくとも磁性フェライト材よりな
る一対の基板により膜厚方向より挟み込んでなる一対の
磁気コア半体が、上記積層磁性膜を突き合わせるように
接合一体化されて閉磁路を構成する磁気ヘッドにおい
て、少なくとも、積層磁性膜の突き合わせ側の端面に磁
性金属膜が形成されており、磁気ギャップのトラック幅
をTwとしたときに、Tw≦13μmであることを特徴
とするものである。
【0012】
【作用】本発明においては、磁性金属薄膜が絶縁膜を介
して積層されてなる積層磁性膜の突き合わせ側の端面に
磁性金属膜が形成されているため、ギャップ部が磁性金
属膜のみによって構成される。従って、上記ギャップ部
全体が磁路として機能し、ギャップ部の実質的なトラッ
ク幅の減少が抑制される。
して積層されてなる積層磁性膜の突き合わせ側の端面に
磁性金属膜が形成されているため、ギャップ部が磁性金
属膜のみによって構成される。従って、上記ギャップ部
全体が磁路として機能し、ギャップ部の実質的なトラッ
ク幅の減少が抑制される。
【0013】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例の磁
気ヘッドは、図1に示すように、積層磁性膜1,2がそ
の膜厚方向より磁性フェライト材よりなる第1の基板
3,4と第2の基板5,6によって挟み込まれてなる一
対の磁気コア半体7,8からなり、これら磁気コア半体
7,8の突き合わせ面にはそれぞれ磁性金属膜101,
102が形成されており、上記磁性金属膜101,10
2を突合わせるようにして融着ガラス9により接合一体
化されて構成されている。なお、上記磁気コア半体7,
8の突き合わせ面間には磁気ギャップgが形成されてい
る。
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例の磁
気ヘッドは、図1に示すように、積層磁性膜1,2がそ
の膜厚方向より磁性フェライト材よりなる第1の基板
3,4と第2の基板5,6によって挟み込まれてなる一
対の磁気コア半体7,8からなり、これら磁気コア半体
7,8の突き合わせ面にはそれぞれ磁性金属膜101,
102が形成されており、上記磁性金属膜101,10
2を突合わせるようにして融着ガラス9により接合一体
化されて構成されている。なお、上記磁気コア半体7,
8の突き合わせ面間には磁気ギャップgが形成されてい
る。
【0014】上記のように磁気コア半体7,8は、主コ
アとなる積層磁性膜1,2とこれを膜厚方向より挾み込
む補助コアとなる第1の基板3,4と第2の基板5,6
とから構成され、該第2の基板5,6の一主面に被着形
成される積層磁性膜1,2を挾み込むようにして第1の
基板3,4が積層されることにより接合一体化されてい
る。
アとなる積層磁性膜1,2とこれを膜厚方向より挾み込
む補助コアとなる第1の基板3,4と第2の基板5,6
とから構成され、該第2の基板5,6の一主面に被着形
成される積層磁性膜1,2を挾み込むようにして第1の
基板3,4が積層されることにより接合一体化されてい
る。
【0015】上記積層磁性膜1,2は、図2に示すよう
に、高周波特性を向上させる目的で膜厚の薄い磁性金属
薄膜1a,1b,1c及び2a,2b,2cが絶縁膜1
0b 1,10b2,11b1,11b2を介して積層されて
なる積層メタル膜とされている。そして、上記第2の基
板5,6と磁性金属薄膜1a,2aとの界面には、これ
らの付着力の向上並びに反応防止として機能する下地膜
10a,11aが成膜されている。
に、高周波特性を向上させる目的で膜厚の薄い磁性金属
薄膜1a,1b,1c及び2a,2b,2cが絶縁膜1
0b 1,10b2,11b1,11b2を介して積層されて
なる積層メタル膜とされている。そして、上記第2の基
板5,6と磁性金属薄膜1a,2aとの界面には、これ
らの付着力の向上並びに反応防止として機能する下地膜
10a,11aが成膜されている。
【0016】なお、上記磁性金属薄膜1a,1b,1c
及び2a,2b,2cを構成する材料としては、センダ
スト(Fe−Al−Si)やFe−Ru−Ga−Si、
又はこれらにO,N等を添加した結晶質磁性金属材料或
いはFe系又はCo系の微結晶磁性金属材料等が挙げら
れる。また、上記磁性金属薄膜の膜厚は、高周波特性の
向上のために1層当たり2〜5μmとすることが望まし
い。
及び2a,2b,2cを構成する材料としては、センダ
スト(Fe−Al−Si)やFe−Ru−Ga−Si、
又はこれらにO,N等を添加した結晶質磁性金属材料或
いはFe系又はCo系の微結晶磁性金属材料等が挙げら
れる。また、上記磁性金属薄膜の膜厚は、高周波特性の
向上のために1層当たり2〜5μmとすることが望まし
い。
【0017】また、一方の絶縁膜10b1,10b2,1
1b1,11b2としては、例えばSiO2 ,Ta2 O5
等の酸化物膜やSi3 N4 等の窒化物膜等が使用され
る。上記絶縁膜の膜厚としては、例えば0.1〜0.3
μm程度が好ましい。
1b1,11b2としては、例えばSiO2 ,Ta2 O5
等の酸化物膜やSi3 N4 等の窒化物膜等が使用され
る。上記絶縁膜の膜厚としては、例えば0.1〜0.3
μm程度が好ましい。
【0018】さらに、下地膜10a,11aには、第2
の基板5,6と磁性金属薄膜1a,2aの付着力を高め
る必要性から、SiO2 ,Ta2 O5 等の酸化物膜、S
i3N4 等の窒化物膜、Cr,Al,Si,Pt等の金
属膜及びそれらの合金膜、或いはそれらを組合わせた積
層膜等が使用される。
の基板5,6と磁性金属薄膜1a,2aの付着力を高め
る必要性から、SiO2 ,Ta2 O5 等の酸化物膜、S
i3N4 等の窒化物膜、Cr,Al,Si,Pt等の金
属膜及びそれらの合金膜、或いはそれらを組合わせた積
層膜等が使用される。
【0019】なお、本実施例においては、磁性金属薄膜
1a,1b,1c及び2a,2b,2cとしてセンダス
ト膜、絶縁膜10b1,10b2,11b1,11b2とし
てSiO2 膜を使用した。そのときの膜厚は、図2中T
wで示す磁気ギャップgのトラック幅を5μmとするた
めに、一層あたりの磁性金属薄膜1a,1b,1c及び
2a,2b,2cを3μmとし、絶縁膜10b1,10
b2,11b1,11b2を0.2μmとした。また、下
地膜10a,11aとして、膜厚50nmのSiO2 膜
を用いた。
1a,1b,1c及び2a,2b,2cとしてセンダス
ト膜、絶縁膜10b1,10b2,11b1,11b2とし
てSiO2 膜を使用した。そのときの膜厚は、図2中T
wで示す磁気ギャップgのトラック幅を5μmとするた
めに、一層あたりの磁性金属薄膜1a,1b,1c及び
2a,2b,2cを3μmとし、絶縁膜10b1,10
b2,11b1,11b2を0.2μmとした。また、下
地膜10a,11aとして、膜厚50nmのSiO2 膜
を用いた。
【0020】また、第1の基板3,4及び第2の基板
5,6は、前述のように磁性フェライト材よりなる。上
記磁性フェライト材としては、単結晶フェライト、多結
晶フェライト、単結晶フェライトと多結晶フェライトの
接合材、面指数の異なる単結晶フェライト,これらの接
合材の何れを用いても良い。
5,6は、前述のように磁性フェライト材よりなる。上
記磁性フェライト材としては、単結晶フェライト、多結
晶フェライト、単結晶フェライトと多結晶フェライトの
接合材、面指数の異なる単結晶フェライト,これらの接
合材の何れを用いても良い。
【0021】なお、本実施例においては、上記第1の基
板3,4及び第2の基板5,6を単結晶フェライトによ
って構成し、その面指数を、媒体対向面が(110)、
積層磁性膜接合面が(110)、突き合わせ面が(10
0)となるようにした。
板3,4及び第2の基板5,6を単結晶フェライトによ
って構成し、その面指数を、媒体対向面が(110)、
積層磁性膜接合面が(110)、突き合わせ面が(10
0)となるようにした。
【0022】さらに、上記のような第1の基板3,4と
第2の基板5,6は、図2に示すようにガラス膜18,
19によって接合一体化されており、第1の基板3,4
及び第2の基板5,6とガラス膜18,19間にはこれ
らの反応防止等のために下地膜16a,16b及び17
a,17bが設けられている。
第2の基板5,6は、図2に示すようにガラス膜18,
19によって接合一体化されており、第1の基板3,4
及び第2の基板5,6とガラス膜18,19間にはこれ
らの反応防止等のために下地膜16a,16b及び17
a,17bが設けられている。
【0023】上記ガラス膜18,19には、低融点ガラ
スをスパッタリングして形成したもの、或いはフリット
ガラスをスピンコーティング等によって塗布して形成し
たものが使用でき、その膜厚としては、0.1μm〜
0.5μmが好ましい。上記下地膜16a,16b及び
17a,17bには、磁性金属薄膜1c,2cまたは第
1の基板3,4とガラス膜18,19の反応防止等を目
的として、SiO2 ,Ta2 O5 等の酸化物膜、Si3
N4 等の窒化物膜、Cr,Al,Si,Pt等の金属膜
及びこれらの合金膜、或いはそれらを組合わせた積層膜
等が使用できる。
スをスパッタリングして形成したもの、或いはフリット
ガラスをスピンコーティング等によって塗布して形成し
たものが使用でき、その膜厚としては、0.1μm〜
0.5μmが好ましい。上記下地膜16a,16b及び
17a,17bには、磁性金属薄膜1c,2cまたは第
1の基板3,4とガラス膜18,19の反応防止等を目
的として、SiO2 ,Ta2 O5 等の酸化物膜、Si3
N4 等の窒化物膜、Cr,Al,Si,Pt等の金属膜
及びこれらの合金膜、或いはそれらを組合わせた積層膜
等が使用できる。
【0024】なお、本実施例においては、下地膜16
a,16b及び17a,17bとして膜厚0.1μmの
Cr膜を用い、ガラス膜18,19として膜厚0.2μ
mのスパッタリングによって形成したPb系ガラス膜を
使用した。
a,16b及び17a,17bとして膜厚0.1μmの
Cr膜を用い、ガラス膜18,19として膜厚0.2μ
mのスパッタリングによって形成したPb系ガラス膜を
使用した。
【0025】また、特に本実施例の磁気ヘッドにおいて
は、前述したように磁気コア半体7,8のそれぞれの突
き合わせ面に磁性金属膜101,102が形成されてお
り、これらを突き合わせるようにして上記磁気コア半体
7,8は融着ガラス9により接合一体化されている。
は、前述したように磁気コア半体7,8のそれぞれの突
き合わせ面に磁性金属膜101,102が形成されてお
り、これらを突き合わせるようにして上記磁気コア半体
7,8は融着ガラス9により接合一体化されている。
【0026】なお、磁気コア半体7,8においては、第
1の基板3,4と第2の基板5,6が磁性フェライト材
によって構成されていることから積層磁性膜1,2の突
き合わせ側の端面の幅が規制される。すなわち、図2に
拡大して示すように、磁気コア半体7,8の突き合わせ
側の端面の幅は、トラック幅規制溝14a,14b,1
5a,15bによって規制されており、上記磁気コア半
体7,8の突き合わせ面の形状に沿った形で形成される
磁性金属膜101,102の突き合わせ側の端面の幅も
自ずと規制され、上記突き合わせ側の端面間に形成さ
れ、記録再生ギャップとして動作する磁気ギャップgの
トラック幅Twも決定される。また、積層磁性膜1,2
の突き合わせ側の端面であるギャップ部が磁性金属膜の
みによって構成されていることから、ギャップ部の実質
的なトラック幅が減少することもない。なお、上記磁気
ギャップgは所定のアジマス角を有する磁気ギャップと
して形成されている。
1の基板3,4と第2の基板5,6が磁性フェライト材
によって構成されていることから積層磁性膜1,2の突
き合わせ側の端面の幅が規制される。すなわち、図2に
拡大して示すように、磁気コア半体7,8の突き合わせ
側の端面の幅は、トラック幅規制溝14a,14b,1
5a,15bによって規制されており、上記磁気コア半
体7,8の突き合わせ面の形状に沿った形で形成される
磁性金属膜101,102の突き合わせ側の端面の幅も
自ずと規制され、上記突き合わせ側の端面間に形成さ
れ、記録再生ギャップとして動作する磁気ギャップgの
トラック幅Twも決定される。また、積層磁性膜1,2
の突き合わせ側の端面であるギャップ部が磁性金属膜の
みによって構成されていることから、ギャップ部の実質
的なトラック幅が減少することもない。なお、上記磁気
ギャップgは所定のアジマス角を有する磁気ギャップと
して形成されている。
【0027】そして、磁気コア半体7,8と磁性金属膜
101,102の界面にはこれらの付着力向上のために
下地膜103,104が設けられている。
101,102の界面にはこれらの付着力向上のために
下地膜103,104が設けられている。
【0028】上記磁性金属膜101,102は、上記磁
性金属薄膜1a,1b,1c及び2a,2b,2cを構
成するものと同様の材料にて構成すれば良く、0.5〜
10μmの膜厚で形成することが好ましい。一方、上記
下地膜103,104としては、SiO2 ,Ta2 O5
等の酸化物膜、Si3 N4 等の窒化物膜、Cr,Al,
Si,Pt等の金属膜及びそれらの合金膜、或いはそれ
らを組合わせた積層膜等が使用される。
性金属薄膜1a,1b,1c及び2a,2b,2cを構
成するものと同様の材料にて構成すれば良く、0.5〜
10μmの膜厚で形成することが好ましい。一方、上記
下地膜103,104としては、SiO2 ,Ta2 O5
等の酸化物膜、Si3 N4 等の窒化物膜、Cr,Al,
Si,Pt等の金属膜及びそれらの合金膜、或いはそれ
らを組合わせた積層膜等が使用される。
【0029】なお、本実施例においては、磁性金属膜1
01,102として膜厚4μmのセンダストを用い、下
地膜103,104としては膜厚50nmのCr膜を用
いた。
01,102として膜厚4μmのセンダストを用い、下
地膜103,104としては膜厚50nmのCr膜を用
いた。
【0030】さらに、積層磁性膜101,102と融着
ガラス9の反応を防止するために、これらの間には図示
しない反応防止膜が設けられている。上記反応防止膜と
しては、SiO2 ,Ta2 O5 等の酸化物膜、Si3 N
4 等の窒化物膜、Cr,Al,Si,Pt等の金属膜及
びこれらの合金膜、或いはそれらを組合わせた積層膜等
が使用できる。上記反応防止膜の膜厚は0.05μm以
上とすることが好ましい。なお、本実施例においては、
反応防止膜として0.2μmのCr膜を用いた。
ガラス9の反応を防止するために、これらの間には図示
しない反応防止膜が設けられている。上記反応防止膜と
しては、SiO2 ,Ta2 O5 等の酸化物膜、Si3 N
4 等の窒化物膜、Cr,Al,Si,Pt等の金属膜及
びこれらの合金膜、或いはそれらを組合わせた積層膜等
が使用できる。上記反応防止膜の膜厚は0.05μm以
上とすることが好ましい。なお、本実施例においては、
反応防止膜として0.2μmのCr膜を用いた。
【0031】さらに、磁気コア半体7,8の突き合わせ
面側にはコイル巻装用の巻き線溝12,13、ガラス溝
22,23が設けられており、磁気コア半体7,8の接
合強度を確保するため、これらにも融着ガラス9が溶融
充填されている。さらに、この磁気ヘッドにおいては、
磁気記録媒体に対する当たりを確保するために磁気記録
媒体と摺接する磁気記録媒体摺動面に段差が設けられる
とともに、巻線溝12,13に形成されたコイルの巻装
状態を良好なものとなすためにこの巻線溝12,13と
相対向する位置に巻線補助溝20,21が形成されてい
る。
面側にはコイル巻装用の巻き線溝12,13、ガラス溝
22,23が設けられており、磁気コア半体7,8の接
合強度を確保するため、これらにも融着ガラス9が溶融
充填されている。さらに、この磁気ヘッドにおいては、
磁気記録媒体に対する当たりを確保するために磁気記録
媒体と摺接する磁気記録媒体摺動面に段差が設けられる
とともに、巻線溝12,13に形成されたコイルの巻装
状態を良好なものとなすためにこの巻線溝12,13と
相対向する位置に巻線補助溝20,21が形成されてい
る。
【0032】このように構成された本実施例の磁気ヘッ
ドにおいては、磁気ギャップgのトラック幅TwがTw
≦13μmであることから、挟ギャップ化がなされ、高
密度記録化を達成することが可能である。また、一対の
磁気コア半体の積層磁性膜の突き合わせ側の端面に磁性
金属膜が形成されていることから、上記端面に形成され
るギャップ部全体が磁路として機能し、ギャップ部の実
質的なトラック幅の減少が抑えられ、再生出力を向上さ
せることが可能である。
ドにおいては、磁気ギャップgのトラック幅TwがTw
≦13μmであることから、挟ギャップ化がなされ、高
密度記録化を達成することが可能である。また、一対の
磁気コア半体の積層磁性膜の突き合わせ側の端面に磁性
金属膜が形成されていることから、上記端面に形成され
るギャップ部全体が磁路として機能し、ギャップ部の実
質的なトラック幅の減少が抑えられ、再生出力を向上さ
せることが可能である。
【0033】そこで、本実施例の磁気ヘッドと磁気コア
半体の突き合わせ面に磁性金属膜を有しない従来の磁気
ヘッドの再生出力を比較した。上記従来の磁気ヘッド
は、本実施例の磁気ヘッドと同様の構成を有し、突き合
わせ面に形成される磁性金属膜のみ有しないものとし
た。再生出力は、以下のようにして測定した。すなわ
ち、磁気記録媒体としてHi8用蒸着テープを用い、回
転ドラム固定ヘッド方式の電磁変換特性測定装置を用い
て周速を7.5m/sとし、周波数15MHzのときの
再生出力を測定した。その結果、本実施例の磁気ヘッド
は従来の磁気ヘッドと比較して、約0.7dB高い再生
出力を得ることができた。これは、本実施例及び従来の
磁気ヘッドの磁気ギャップのトラック幅を5μmとした
ことを考慮すると、トラック幅5μmの時の絶縁膜によ
るギャップ部の実質的なトラック幅の減少に伴う再生出
力の低下分と略一致する。
半体の突き合わせ面に磁性金属膜を有しない従来の磁気
ヘッドの再生出力を比較した。上記従来の磁気ヘッド
は、本実施例の磁気ヘッドと同様の構成を有し、突き合
わせ面に形成される磁性金属膜のみ有しないものとし
た。再生出力は、以下のようにして測定した。すなわ
ち、磁気記録媒体としてHi8用蒸着テープを用い、回
転ドラム固定ヘッド方式の電磁変換特性測定装置を用い
て周速を7.5m/sとし、周波数15MHzのときの
再生出力を測定した。その結果、本実施例の磁気ヘッド
は従来の磁気ヘッドと比較して、約0.7dB高い再生
出力を得ることができた。これは、本実施例及び従来の
磁気ヘッドの磁気ギャップのトラック幅を5μmとした
ことを考慮すると、トラック幅5μmの時の絶縁膜によ
るギャップ部の実質的なトラック幅の減少に伴う再生出
力の低下分と略一致する。
【0034】次いで、前述した図1の磁気ヘッドを製造
する方法について工程順に従って説明する。先ず、図3
(a)に示すように、フェライト基板24を用意し、こ
のフェライト基板24の一主面24aをポリッシング加
工等によって鏡面加工する。
する方法について工程順に従って説明する。先ず、図3
(a)に示すように、フェライト基板24を用意し、こ
のフェライト基板24の一主面24aをポリッシング加
工等によって鏡面加工する。
【0035】次に、上記フェライト基板24の一主面2
4aに、マスクスパッタにより必要最小限の面積に積層
磁性膜25,26を帯状に所定間隔を持って平行となる
ように被着形成する。
4aに、マスクスパッタにより必要最小限の面積に積層
磁性膜25,26を帯状に所定間隔を持って平行となる
ように被着形成する。
【0036】積層磁性膜25,26を形成するに際して
は、前述のようにフェライト基板24との付着力向上等
のために、図3(b)中に示されるように膜厚50nm
のSiO2 よりなる下地膜27を予め形成する。そし
て、高周波特性を向上させるために、積層磁性膜25,
26はSiO2 よりなる絶縁膜28を介して膜厚の薄い
センダストよりなる金属磁性薄膜25a,25b,25
c(一方の積層磁性膜26は図示を省略する。)を何層
にも積層することにより形成する。なお、積層磁性膜2
5,26の厚さは、後行程においてトラック幅規制溝を
形成する必要があることから目的とする記録トラック幅
の1.2〜3倍とすることが好ましい。本実施例の磁気
ヘッドを形成するに際しては、トラック幅5μmの磁気
ギャップを形成するために膜厚0.2μmの絶縁膜28
を介して一層あたりの膜厚3μmの磁性金属薄膜25
a,25b,25cを3層重ねた。
は、前述のようにフェライト基板24との付着力向上等
のために、図3(b)中に示されるように膜厚50nm
のSiO2 よりなる下地膜27を予め形成する。そし
て、高周波特性を向上させるために、積層磁性膜25,
26はSiO2 よりなる絶縁膜28を介して膜厚の薄い
センダストよりなる金属磁性薄膜25a,25b,25
c(一方の積層磁性膜26は図示を省略する。)を何層
にも積層することにより形成する。なお、積層磁性膜2
5,26の厚さは、後行程においてトラック幅規制溝を
形成する必要があることから目的とする記録トラック幅
の1.2〜3倍とすることが好ましい。本実施例の磁気
ヘッドを形成するに際しては、トラック幅5μmの磁気
ギャップを形成するために膜厚0.2μmの絶縁膜28
を介して一層あたりの膜厚3μmの磁性金属薄膜25
a,25b,25cを3層重ねた。
【0037】さらに、上記フェライト基板24上の積層
磁性膜25,26の上に、図4に示すように(図中に
は、積層磁性膜25のみを示す。)、下地膜36を成膜
した後、ガラス膜37を成膜する。本実施例において
は、下地膜36として膜厚0.1μmのCr膜を形成
し、ガラス膜37として膜厚0.2μmのPb系の低融
点ガラスをスパッタリングによって形成した。
磁性膜25,26の上に、図4に示すように(図中に
は、積層磁性膜25のみを示す。)、下地膜36を成膜
した後、ガラス膜37を成膜する。本実施例において
は、下地膜36として膜厚0.1μmのCr膜を形成
し、ガラス膜37として膜厚0.2μmのPb系の低融
点ガラスをスパッタリングによって形成した。
【0038】また、図5に示すように、他方のフェライ
ト基板35上にも上記フェライト基板24と同様に下地
膜38,ガラス膜39を形成する。
ト基板35上にも上記フェライト基板24と同様に下地
膜38,ガラス膜39を形成する。
【0039】そして、積層メタル膜が形成されたフェラ
イト基板24と上記フェライト基板35を、図6(a)
に示すように、互いの突合わせ面に形成されたガラス膜
37,39同士を突合わせ、圧着しながら、500℃〜
700℃に加熱する。この結果、互いの突合わせ面に形
成されたガラス膜37,39同士は図6(b)に示すよ
うに融合する。
イト基板24と上記フェライト基板35を、図6(a)
に示すように、互いの突合わせ面に形成されたガラス膜
37,39同士を突合わせ、圧着しながら、500℃〜
700℃に加熱する。この結果、互いの突合わせ面に形
成されたガラス膜37,39同士は図6(b)に示すよ
うに融合する。
【0040】なお、本実施例においては、一対のフェラ
イト基板24,35の両者にガラス膜37,39を形成
してこれらを融着させたが、フェライト基板24,35
の少なくとも一方のみにガラス膜を形成して融着させて
も良い。
イト基板24,35の両者にガラス膜37,39を形成
してこれらを融着させたが、フェライト基板24,35
の少なくとも一方のみにガラス膜を形成して融着させて
も良い。
【0041】次に、この接合一体化された積層基板を、
作製する磁気ヘッドに付与するアジマス角と同じ角度を
持って図7中線A−A´,線B−B´,線C−C´で示
す位置で切断する。
作製する磁気ヘッドに付与するアジマス角と同じ角度を
持って図7中線A−A´,線B−B´,線C−C´で示
す位置で切断する。
【0042】次いで、フェライトの不要部分を平面研削
盤等を用いて除去した後、各磁気コア半体ブロック4
0,41に、図8及び図9に示すようにコイルを巻装す
るための巻線溝42,43とガラス融着する際のガラス
溝44,45をそれぞれの突合わせ面に形成する。
盤等を用いて除去した後、各磁気コア半体ブロック4
0,41に、図8及び図9に示すようにコイルを巻装す
るための巻線溝42,43とガラス融着する際のガラス
溝44,45をそれぞれの突合わせ面に形成する。
【0043】上記巻線溝42,43とガラス溝44,4
5は、いずれも断面略コ字状をなす溝として形成する
が、巻線溝42,43の一方の側面42a,43aは磁
気ギャップgのデプスを規制するために傾斜面とする。
なお、巻線溝42,43の他方の側面42b,43b
は、傾斜面又は垂直面のいずれでもよい。
5は、いずれも断面略コ字状をなす溝として形成する
が、巻線溝42,43の一方の側面42a,43aは磁
気ギャップgのデプスを規制するために傾斜面とする。
なお、巻線溝42,43の他方の側面42b,43b
は、傾斜面又は垂直面のいずれでもよい。
【0044】次に、図10,11に示すように上記各磁
気コア半体ブロック40,41に、ブロックの接合強度
を確保し、且つ磁気ヘッドのトラック幅を規制するため
のトラック幅規制溝46a,46b及び47a,47b
を形成する。
気コア半体ブロック40,41に、ブロックの接合強度
を確保し、且つ磁気ヘッドのトラック幅を規制するため
のトラック幅規制溝46a,46b及び47a,47b
を形成する。
【0045】かかるトラック幅規制溝46a,46b及
び47a,47bは、積層磁性膜25,26の両側であ
ってこの積層磁性膜25,26に近接した位置に積層磁
性膜25,26の一部を切り欠くようにして、それぞれ
断面略台形状をなす溝としてブロック全体に亘って形成
される。なお、トラック幅規制溝46a,46b及び4
7a,47bの積層磁性膜25,26側の一側面46a
1,46b1及び47a 1,47b1は傾斜面となされてお
り、積層磁性膜25,26の突き合わせ側の端面の幅を
規制し、磁気ギャップのトラック幅を規制するようにな
されている。
び47a,47bは、積層磁性膜25,26の両側であ
ってこの積層磁性膜25,26に近接した位置に積層磁
性膜25,26の一部を切り欠くようにして、それぞれ
断面略台形状をなす溝としてブロック全体に亘って形成
される。なお、トラック幅規制溝46a,46b及び4
7a,47bの積層磁性膜25,26側の一側面46a
1,46b1及び47a 1,47b1は傾斜面となされてお
り、積層磁性膜25,26の突き合わせ側の端面の幅を
規制し、磁気ギャップのトラック幅を規制するようにな
されている。
【0046】そして、図12,図13に示すように各磁
気コア半体ブロック40,41の突き合わせ面の全面に
わたって、スパッタリングにより磁性金属膜105,1
06を形成する。
気コア半体ブロック40,41の突き合わせ面の全面に
わたって、スパッタリングにより磁性金属膜105,1
06を形成する。
【0047】磁性金属膜105,106を形成するに際
しては、前述のように磁気コア半体ブロック40,41
との付着力向上等のために、図14中に示されるように
(図14中には磁気コア半体ブロック40のみを示
す。)、膜厚50nmのCr膜よりなる下地膜107を
予め形成し、、磁性金属膜105として膜厚4μmのセ
ンダスト膜を形成する。
しては、前述のように磁気コア半体ブロック40,41
との付着力向上等のために、図14中に示されるように
(図14中には磁気コア半体ブロック40のみを示
す。)、膜厚50nmのCr膜よりなる下地膜107を
予め形成し、、磁性金属膜105として膜厚4μmのセ
ンダスト膜を形成する。
【0048】次いで、各磁気コア半体ブロック40,4
1の突き合わせ面に図示しない膜厚0.2μmのCr膜
を反応防止膜として形成し、各磁気コア半体ブロック4
0,41の突合わせ面であるギャップ形成面40a,4
1aをポリッシング等によって磁性金属膜105,10
6の突き合わせ側の端面の幅が所定のトラック幅となる
ように鏡面加工する。
1の突き合わせ面に図示しない膜厚0.2μmのCr膜
を反応防止膜として形成し、各磁気コア半体ブロック4
0,41の突合わせ面であるギャップ形成面40a,4
1aをポリッシング等によって磁性金属膜105,10
6の突き合わせ側の端面の幅が所定のトラック幅となる
ように鏡面加工する。
【0049】そして、一方の磁気コア半体ブロック40
のギャップ形成面40a又は双方の磁気コア半体ブロッ
ク40,41のギャップ形成面40a及び41aにギャ
ップ膜(図示は省略する。)を形成した後、図15に示
すように、これら磁気コア半体ブロック40,41を、
磁性金属膜105,106の突き合わせ側の端面の位置
合わせを行い、融着ガラス48を流し込みながら接合を
行う。
のギャップ形成面40a又は双方の磁気コア半体ブロッ
ク40,41のギャップ形成面40a及び41aにギャ
ップ膜(図示は省略する。)を形成した後、図15に示
すように、これら磁気コア半体ブロック40,41を、
磁性金属膜105,106の突き合わせ側の端面の位置
合わせを行い、融着ガラス48を流し込みながら接合を
行う。
【0050】この結果、これら磁気コア半体ブロック4
0,41は、融着ガラス48によって接合一体化され、
積層磁性膜25,26の突合わせ面間に記録再生ギャッ
プとして動作する磁気ギャップgが構成される。
0,41は、融着ガラス48によって接合一体化され、
積層磁性膜25,26の突合わせ面間に記録再生ギャッ
プとして動作する磁気ギャップgが構成される。
【0051】そして、融着ガラス48によって接合一体
化された磁気コア半体ブロックに、巻線補助溝を形成し
た後、磁気記録媒体摺動面に円筒研磨を行い当たり幅加
工を施し、所定チップ形状となるように切断する。
化された磁気コア半体ブロックに、巻線補助溝を形成し
た後、磁気記録媒体摺動面に円筒研磨を行い当たり幅加
工を施し、所定チップ形状となるように切断する。
【0052】この結果、図1に示すような高密度記録が
達成でき、良好な再生特性を有する磁気ヘッドが完成す
る。
達成でき、良好な再生特性を有する磁気ヘッドが完成す
る。
【0053】なお、本発明を適用した磁気ヘッドの実施
例としては、上述のようなものの他、図16に示される
ような磁気ヘッドが挙げられる。すなわち、磁気コア
7,8の突き合わせ側の端面のみに磁性金属膜107,
108が設けられるものであり、このような磁気ヘッド
は上述の磁気ヘッドと略同様の製造工程を経て製造され
る。すなわち、第2の基板5,6上に積層磁性膜1,2
を被着形成した後、第1の基板を接合して一対の磁気コ
ア半体7,8を形成する。そして、磁気コア半体7,8
の突き合わせ面に磁性金属膜107,108を形成した
後に、上記突き合わせ面に磁性金属膜107,108の
突き合わせ側の端面を規制するようなトラック幅規制溝
55a,55b,56a,56bを設け、上記端面間に
形成される磁気ギャップgのトラック幅Twも規制す
る。その後、一対の磁気コア半体の接合を行い、磁気ヘ
ッドを形成する。上記磁気ヘッドにおいても、前述の磁
気ヘッドと同様に下地膜等を設けても良い。
例としては、上述のようなものの他、図16に示される
ような磁気ヘッドが挙げられる。すなわち、磁気コア
7,8の突き合わせ側の端面のみに磁性金属膜107,
108が設けられるものであり、このような磁気ヘッド
は上述の磁気ヘッドと略同様の製造工程を経て製造され
る。すなわち、第2の基板5,6上に積層磁性膜1,2
を被着形成した後、第1の基板を接合して一対の磁気コ
ア半体7,8を形成する。そして、磁気コア半体7,8
の突き合わせ面に磁性金属膜107,108を形成した
後に、上記突き合わせ面に磁性金属膜107,108の
突き合わせ側の端面を規制するようなトラック幅規制溝
55a,55b,56a,56bを設け、上記端面間に
形成される磁気ギャップgのトラック幅Twも規制す
る。その後、一対の磁気コア半体の接合を行い、磁気ヘ
ッドを形成する。上記磁気ヘッドにおいても、前述の磁
気ヘッドと同様に下地膜等を設けても良い。
【0054】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、磁性
金属薄膜が絶縁膜を介して積層されてなる積層磁性膜を
少なくとも磁性フェライト材よりなる一対の基板により
膜厚方向より挟み込んでなる一対の磁気コア半体が、上
記積層磁性膜を突き合わせるように接合一体化されて閉
磁路を構成する磁気ヘッドにおいて、少なくとも、積層
磁性膜の突き合わせ側の端面に磁性金属膜が形成されて
おり、磁気ギャップのトラック幅をTwとしたときに、
Tw≦13μmであるため、高密度記録が達成され、上
記積層磁性膜の突き合わせ側の端面に磁性金属膜が形成
されていることから、突き合わせ側の端面であるギャッ
プ部が磁性金属膜のみによって構成され、上記ギャップ
部全体が磁路として機能する。従って、ギャップ部の実
質的なトラック幅の減少が抑制され、再生出力が低下す
ることもない。
金属薄膜が絶縁膜を介して積層されてなる積層磁性膜を
少なくとも磁性フェライト材よりなる一対の基板により
膜厚方向より挟み込んでなる一対の磁気コア半体が、上
記積層磁性膜を突き合わせるように接合一体化されて閉
磁路を構成する磁気ヘッドにおいて、少なくとも、積層
磁性膜の突き合わせ側の端面に磁性金属膜が形成されて
おり、磁気ギャップのトラック幅をTwとしたときに、
Tw≦13μmであるため、高密度記録が達成され、上
記積層磁性膜の突き合わせ側の端面に磁性金属膜が形成
されていることから、突き合わせ側の端面であるギャッ
プ部が磁性金属膜のみによって構成され、上記ギャップ
部全体が磁路として機能する。従って、ギャップ部の実
質的なトラック幅の減少が抑制され、再生出力が低下す
ることもない。
【図1】本発明を適用した磁気ヘッドの一実施例を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図2】図1の磁気ヘッドにおける磁気記録媒体摺動面
部分を示す要部拡大断面図である。
部分を示す要部拡大断面図である。
【図3】本発明を適用した磁気ヘッドの製造方法を工程
順に示すもので、(a)はフェライト基板に積層磁性膜
を形成する工程を示す斜視図であり、(b)は積層磁性
膜部分を示す要部拡大正面図である。
順に示すもので、(a)はフェライト基板に積層磁性膜
を形成する工程を示す斜視図であり、(b)は積層磁性
膜部分を示す要部拡大正面図である。
【図4】フェライト基板上に成膜された積層磁性膜上に
ガラス膜を成膜する工程を示す要部拡大正面図である。
ガラス膜を成膜する工程を示す要部拡大正面図である。
【図5】フェライト基板上にガラス膜を成膜する工程を
示す要部拡大正面図である。
示す要部拡大正面図である。
【図6】(a)は積層磁性膜が形成されたフェライト基
板と他方のフェライト基板を接合する工程を示す斜視図
であり、(b)はその接合部分を拡大して示す要部拡大
正面図である。
板と他方のフェライト基板を接合する工程を示す斜視図
であり、(b)はその接合部分を拡大して示す要部拡大
正面図である。
【図7】接合一体化された積層基板を切断する工程を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図8】一方の磁気コア半体ブロックに巻線溝及びガラ
ス溝を形成する工程を示す斜視図である。
ス溝を形成する工程を示す斜視図である。
【図9】他方の磁気コア半体ブロックに巻線溝及びガラ
ス溝を形成する工程を示す斜視図である。
ス溝を形成する工程を示す斜視図である。
【図10】一方の磁気コア半体ブロックにトラック幅規
制溝を形成する工程を示す斜視図である。
制溝を形成する工程を示す斜視図である。
【図11】他方の磁気コア半体ブロックにトラック幅規
制溝を形成する工程を示す斜視図である。
制溝を形成する工程を示す斜視図である。
【図12】一方の磁気コア半体ブロックに磁性金属膜を
形成する工程を示す斜視図である。
形成する工程を示す斜視図である。
【図13】他方の磁気コア半体ブロックに磁性金属膜を
形成する工程を示す斜視図である。
形成する工程を示す斜視図である。
【図14】磁性金属膜部分を示す要部拡大正面図であ
る。
る。
【図15】磁気コア半体ブロック同士の加圧融着工程を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図16】本発明を適用した磁気ヘッドの他の実施例の
磁気記録媒体摺動面部分を示す要部拡大面図である。
磁気記録媒体摺動面部分を示す要部拡大面図である。
1,2・・・積層磁性膜 1a,1b,1c,2a,2b,2c・・・磁性金属薄
膜 3,4・・・第1の基板 5,6・・・第2の基板 7,8・・・磁気コア半体 9・・・融着ガラス 101,102・・・磁性金属膜 g・・・磁気ギャップ Tw・・・トラック幅
膜 3,4・・・第1の基板 5,6・・・第2の基板 7,8・・・磁気コア半体 9・・・融着ガラス 101,102・・・磁性金属膜 g・・・磁気ギャップ Tw・・・トラック幅
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渡辺 利信 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 磁性金属薄膜が絶縁膜を介して積層され
てなる積層磁性膜を少なくとも磁性フェライト材よりな
る一対の基板により膜厚方向より挟み込んでなる一対の
磁気コア半体が、上記積層磁性膜を突き合わせるように
接合一体化されて閉磁路を構成する磁気ヘッドにおい
て、 少なくとも、積層磁性膜の突き合わせ側の端面に磁性金
属膜が形成されており、 磁気ギャップのトラック幅を
Twとしたときに、Tw≦13μmであることを特徴と
する磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12751793A JPH06338023A (ja) | 1993-05-28 | 1993-05-28 | 磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12751793A JPH06338023A (ja) | 1993-05-28 | 1993-05-28 | 磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06338023A true JPH06338023A (ja) | 1994-12-06 |
Family
ID=14961975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12751793A Withdrawn JPH06338023A (ja) | 1993-05-28 | 1993-05-28 | 磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06338023A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4865796A (en) * | 1988-01-29 | 1989-09-12 | Hashimoto Forming Industry Co., Ltd. | Method of producing molding members |
-
1993
- 1993-05-28 JP JP12751793A patent/JPH06338023A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4865796A (en) * | 1988-01-29 | 1989-09-12 | Hashimoto Forming Industry Co., Ltd. | Method of producing molding members |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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