JPH063413A - 論理信号検査方法及び検査装置 - Google Patents
論理信号検査方法及び検査装置Info
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- JPH063413A JPH063413A JP3057028A JP5702891A JPH063413A JP H063413 A JPH063413 A JP H063413A JP 3057028 A JP3057028 A JP 3057028A JP 5702891 A JP5702891 A JP 5702891A JP H063413 A JPH063413 A JP H063413A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/3193—Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 全ての論理信号を期待値と比較する場合と同
等な検査精度を維持しつつ、検査回路の小型化を図り、
論理集積回路装置に内蔵が可能な論理信号検査方法及び
検査回路を提供する。 【構成】 論理回路１１から出力された論理信号のう
ち、任意の少なくとも１ビットの論理信号と正常な論理
信号に相当する期待値とを比較し、さらに論理信号のレ
ベルが変化したときのビット位置と、正常な論理信号の
レベルが変化するときのビット位置を示す期待値とをデ
ータ変換・比較回路部１２〜１４及び判定回路部１５に
より比較することで、論理回路１１の検査を行う。
等な検査精度を維持しつつ、検査回路の小型化を図り、
論理集積回路装置に内蔵が可能な論理信号検査方法及び
検査回路を提供する。 【構成】 論理回路１１から出力された論理信号のう
ち、任意の少なくとも１ビットの論理信号と正常な論理
信号に相当する期待値とを比較し、さらに論理信号のレ
ベルが変化したときのビット位置と、正常な論理信号の
レベルが変化するときのビット位置を示す期待値とをデ
ータ変換・比較回路部１２〜１４及び判定回路部１５に
より比較することで、論理回路１１の検査を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、論理回路の機能試験を
行う方法及びその検査装置に関するものである。
行う方法及びその検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】論理回路から出力された論理信号を検査
する従来の検査装置の構成を、図５に示す。論理集積回
路装置１の内部に論理回路２が内蔵されており、この論
理回路２のｎ個の出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎから出力
されるｎ個の論理信号が検査対象となる。
する従来の検査装置の構成を、図５に示す。論理集積回
路装置１の内部に論理回路２が内蔵されており、この論
理回路２のｎ個の出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎから出力
されるｎ個の論理信号が検査対象となる。
【０００３】論理回路２の出力端子ＯＵＴ１〜ＯＵＴｎ
は、ｎ個の比較回路部４〜６の入力端子ＩＮ１〜ＩＮｎ
に接続されている。この比較回路部４〜６には、それぞ
れ３つの入力端子が備わっており、他の二つの端子には
期待値信号発生部７とタイミング信号発生部８の出力端
がそれぞれ接続されている。期待値信号発生部７の入力
端には、タイミング信号発生部８の出力端が接続されて
いる。
は、ｎ個の比較回路部４〜６の入力端子ＩＮ１〜ＩＮｎ
に接続されている。この比較回路部４〜６には、それぞ
れ３つの入力端子が備わっており、他の二つの端子には
期待値信号発生部７とタイミング信号発生部８の出力端
がそれぞれ接続されている。期待値信号発生部７の入力
端には、タイミング信号発生部８の出力端が接続されて
いる。
【０００４】比較回路部４〜６の出力端は判定回路部９
の入力端に接続されており、さらに判定回路部９のもう
一つの入力端にはタイミング信号発生部８の出力端が接
続されている。そして、判定回路部９の出力端は検査装
置３の出力端ＧＯ／ＮＧに接続されている。
の入力端に接続されており、さらに判定回路部９のもう
一つの入力端にはタイミング信号発生部８の出力端が接
続されている。そして、判定回路部９の出力端は検査装
置３の出力端ＧＯ／ＮＧに接続されている。
【０００５】論理回路２から出力されたｎ個の論理信号
が、比較回路部４〜６にそれぞれ与えられる。この論理
信号は、検査タイミングに合わせて検査用の入力信号が
論理回路２に供給されることによって、出力される。一
方で、タイミング信号発生部８から検査タイミングを規
定する信号が期待値信号発生部７に与えられ、ｎ個の期
待値信号が出力される。この期待値信号は、入力信号を
与えられた論理回路２が正常な場合に出力する論理信号
に相当する。この期待値信号が比較回路４〜６に入力さ
れ、論理信号と比較される。比較された結果は、それぞ
れ判定回路部９に出力される。判定回路部９では、ｎ個
の比較した結果が全て一致した場合には論理回路２は正
常であると判定され、一つでも不一致があった場合には
異常であると判定される。この判定結果は、検査装置３
の出力端ＧＯ／ＮＧより外部に出力される。
が、比較回路部４〜６にそれぞれ与えられる。この論理
信号は、検査タイミングに合わせて検査用の入力信号が
論理回路２に供給されることによって、出力される。一
方で、タイミング信号発生部８から検査タイミングを規
定する信号が期待値信号発生部７に与えられ、ｎ個の期
待値信号が出力される。この期待値信号は、入力信号を
与えられた論理回路２が正常な場合に出力する論理信号
に相当する。この期待値信号が比較回路４〜６に入力さ
れ、論理信号と比較される。比較された結果は、それぞ
れ判定回路部９に出力される。判定回路部９では、ｎ個
の比較した結果が全て一致した場合には論理回路２は正
常であると判定され、一つでも不一致があった場合には
異常であると判定される。この判定結果は、検査装置３
の出力端ＧＯ／ＮＧより外部に出力される。
【０００６】ここで、期待値信号発生部７は期待値信号
を発生させるために必要なデータを記憶しておく必要が
あり、一般にはメモリとしての機能を備えている。そし
て、最近では機能試験も複雑化しており、検査機能を内
蔵しようという要求がある。このためには、期待値信号
発生部７を含めた検査装置３も内蔵させる必要がある。
を発生させるために必要なデータを記憶しておく必要が
あり、一般にはメモリとしての機能を備えている。そし
て、最近では機能試験も複雑化しており、検査機能を内
蔵しようという要求がある。このためには、期待値信号
発生部７を含めた検査装置３も内蔵させる必要がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来は全ての
論理信号を期待値信号と比較して検査を行っていたた
め、期待値信号発生部７が記憶すべき容量は極めて大き
く、回路規模が大きくなって内蔵することができないと
いう問題があった。
論理信号を期待値信号と比較して検査を行っていたた
め、期待値信号発生部７が記憶すべき容量は極めて大き
く、回路規模が大きくなって内蔵することができないと
いう問題があった。
【０００８】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、従来と同等の検査精度を維持しつつ検査回路の小型
化を図り、論理回路と同一の集積回路装置に内蔵するこ
とを可能にする論理信号検査方法及び検査回路を提供す
ることを目的とする。
で、従来と同等の検査精度を維持しつつ検査回路の小型
化を図り、論理回路と同一の集積回路装置に内蔵するこ
とを可能にする論理信号検査方法及び検査回路を提供す
ることを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の論理信号検査方
法は、検査対象の論理回路から出力された論理信号のう
ち任意の少なくとも１ビットの論理信号と正常な論理信
号に相当する期待値とを比較し、さらに前記論理信号の
レベルが変化したときのビット位置と正常な論理信号の
レベルが変化するときのビット位置を示す期待変化点と
を比較することによって、前記論理回路の検査を行うこ
とを特徴としている。
法は、検査対象の論理回路から出力された論理信号のう
ち任意の少なくとも１ビットの論理信号と正常な論理信
号に相当する期待値とを比較し、さらに前記論理信号の
レベルが変化したときのビット位置と正常な論理信号の
レベルが変化するときのビット位置を示す期待変化点と
を比較することによって、前記論理回路の検査を行うこ
とを特徴としている。
【００１０】本発明の検査装置は、検査対象となる論理
回路から出力された論理信号を、任意の少なくとも１検
査単位時間だけ正常な論理信号に相当する期待値と比較
する第１の比較手段と、前記検査単位時間だけ遅延され
た前記論理信号と、遅延されていない前記論理信号とを
比較することによって、前記論理信号のレベルが変化し
た時点を検出し変化点情報信号を出力する変化点検出手
段と、正常な論理信号のレベルが変化するときのビット
位置を示す期待変化点信号を発生する期待変化点発生手
段と、前記変化点情報信号と前記期待変化点信号とを比
較する第２の比較手段とを備え、前記第１及び第２の比
較手段の比較結果に基づいて前記論理回路の検査を行う
ことを特徴としている。
回路から出力された論理信号を、任意の少なくとも１検
査単位時間だけ正常な論理信号に相当する期待値と比較
する第１の比較手段と、前記検査単位時間だけ遅延され
た前記論理信号と、遅延されていない前記論理信号とを
比較することによって、前記論理信号のレベルが変化し
た時点を検出し変化点情報信号を出力する変化点検出手
段と、正常な論理信号のレベルが変化するときのビット
位置を示す期待変化点信号を発生する期待変化点発生手
段と、前記変化点情報信号と前記期待変化点信号とを比
較する第２の比較手段とを備え、前記第１及び第２の比
較手段の比較結果に基づいて前記論理回路の検査を行う
ことを特徴としている。
【００１１】また本発明の検査装置として、複数の同一
の論理信号を出力することが期待される単数又は複数の
論理回路の検査を行う場合は、前記複数の論理信号のう
ち、任意の少なくとも１つの論理信号である第１の論理
信号について、任意の少なくとも１検査単位時間だけ正
常な論理信号に相当する期待値と比較する第１の比較手
段と、前記検査単位時間だけ遅延された前記第１の論理
信号と、遅延されていない前記第１の論理信号とを比較
することによって、前記第１の論理信号のレベルが変化
した時点を検出し変化点情報信号を出力する変化点検出
手段と、前記第１の論理信号が正常な場合にレベルが変
化するビット位置を示す期待変化点信号を発生する期待
変化点発生手段と、前記変化点情報信号と前記期待変化
点信号とを比較する第２の比較手段と、全ての前記論理
信号を相互比較する第３の比較手段とを備え、第１、第
２及び第３の比較手段の比較結果に基づいて検査を行う
ものであってもよい。
の論理信号を出力することが期待される単数又は複数の
論理回路の検査を行う場合は、前記複数の論理信号のう
ち、任意の少なくとも１つの論理信号である第１の論理
信号について、任意の少なくとも１検査単位時間だけ正
常な論理信号に相当する期待値と比較する第１の比較手
段と、前記検査単位時間だけ遅延された前記第１の論理
信号と、遅延されていない前記第１の論理信号とを比較
することによって、前記第１の論理信号のレベルが変化
した時点を検出し変化点情報信号を出力する変化点検出
手段と、前記第１の論理信号が正常な場合にレベルが変
化するビット位置を示す期待変化点信号を発生する期待
変化点発生手段と、前記変化点情報信号と前記期待変化
点信号とを比較する第２の比較手段と、全ての前記論理
信号を相互比較する第３の比較手段とを備え、第１、第
２及び第３の比較手段の比較結果に基づいて検査を行う
ものであってもよい。
【００１２】
【作用】論理回路から出力された論理信号のうち、任意
の少なくとも１ビットと期待値とを比較することで、あ
るビットの論理信号が正常であるか否かが検査される。
さらに、論理信号のレベルが変化したときのビット位置
を期待変化点と比較することで、全ての論理信号が正常
であるか否かが検査される。ここで、記憶しておく必要
のある情報は、１ビット分の論理信号と、論理信号が変
化すべきビット位置を示す期待変化点のみであるため、
全ての期待値を記憶して比較する場合と比べてはるかに
少ない容量で足りる。
の少なくとも１ビットと期待値とを比較することで、あ
るビットの論理信号が正常であるか否かが検査される。
さらに、論理信号のレベルが変化したときのビット位置
を期待変化点と比較することで、全ての論理信号が正常
であるか否かが検査される。ここで、記憶しておく必要
のある情報は、１ビット分の論理信号と、論理信号が変
化すべきビット位置を示す期待変化点のみであるため、
全ての期待値を記憶して比較する場合と比べてはるかに
少ない容量で足りる。
【００１３】このような検査方法は、本発明の検査装置
を用いることで実施することができる。第１の比較手段
で任意の少なくとも１検査単位時間だけ論理信号と期待
値とが比較される。また、変化点検出手段により検査単
位時間だけ遅延された論理信号と遅延されていない論理
信号とが比較され、一致したときはレベルは変化せず、
不一致のときはレベルが変化したことが検出されて変化
点情報信号が出力される。期待変化点発生手段からは、
正常な論理信号のレベルが変化するときのビット位置を
示す期待変化点信号が出力される。第２の比較手段によ
り、変化点情報信号と期待変化点信号とが比較される。
そして、第１及び第２の比較手段が比較した結果、どち
らも一致した場合にのみ論理信号は正常であると判定さ
れる。
を用いることで実施することができる。第１の比較手段
で任意の少なくとも１検査単位時間だけ論理信号と期待
値とが比較される。また、変化点検出手段により検査単
位時間だけ遅延された論理信号と遅延されていない論理
信号とが比較され、一致したときはレベルは変化せず、
不一致のときはレベルが変化したことが検出されて変化
点情報信号が出力される。期待変化点発生手段からは、
正常な論理信号のレベルが変化するときのビット位置を
示す期待変化点信号が出力される。第２の比較手段によ
り、変化点情報信号と期待変化点信号とが比較される。
そして、第１及び第２の比較手段が比較した結果、どち
らも一致した場合にのみ論理信号は正常であると判定さ
れる。
【００１４】論理回路から同一の論理信号が複数出力さ
れる場合には、任意の少なくとも一つの論理信号である
第１の論理信号に対して、第１の比較手段、変化点検出
手段、第２の比較手段により比較されて正常であるか否
かが判明する。そして第３の比較手段により、全ての論
理信号が比較されて一致したか否かが判明し、全ての論
理信号が正常であるか否かが検査されることになる。
れる場合には、任意の少なくとも一つの論理信号である
第１の論理信号に対して、第１の比較手段、変化点検出
手段、第２の比較手段により比較されて正常であるか否
かが判明する。そして第３の比較手段により、全ての論
理信号が比較されて一致したか否かが判明し、全ての論
理信号が正常であるか否かが検査されることになる。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。図１に、検査対象となる論理回路１１
と、第１の実施例による検査装置の構成を示す。この検
査装置は、ｎ個のデータ変換・比較回路部１２〜１４
と、判定回路部１５、デコーダ１６、カウンタ１７、及
び選択回路１８を備えている。
して説明する。図１に、検査対象となる論理回路１１
と、第１の実施例による検査装置の構成を示す。この検
査装置は、ｎ個のデータ変換・比較回路部１２〜１４
と、判定回路部１５、デコーダ１６、カウンタ１７、及
び選択回路１８を備えている。
【００１６】データ変換・比較回路部１２〜１４にはそ
れぞれ４つの入力端が設けられ、そのうちの一つには論
理回路１１の出力端Ｄ１〜Ｄｎがそれぞれ接続されてい
る。他の二つの入力端は、デコーダ１６の出力端ＥＤ１
〜ＥＤｎ（ｎは１以上の整数）と外部からのクロックパ
ルスＣＬＫが入力されるクロック端子ＣＬＫとにそれぞ
れ接続されている。データ変換・比較回路部１２〜１４
には、それぞれＤ型フリップフロップ２１、ＥＸ−ＯＲ
回路２２及び２３が備わっており、Ｄ型フリップフロッ
プ２１のデータ端子Ｄには論理回路１１の出力端Ｄ１が
接続され、クロック端子ＣＫにはクロック端子ＣＬＫが
接続され、リセット端子Ｒには外部から初期化信号が入
力される初期化端子INITが接続されている。ＥＸ−ＯＲ
回路２２の入力端には、出力端Ｄ１とＤ型フリップフロ
ップ２１の正出力端Ｑとが接続され、ＥＸ−ＯＲ回路２
３の入力端にはＥＸ−ＯＲ回路２２の出力端とデコーダ
１６の出力端ＥＤ１とが接続されている。そして、ＥＸ
−ＯＲ回路２３の出力端はデータ変換・比較回路部１２
の出力端に接続されている。
れぞれ４つの入力端が設けられ、そのうちの一つには論
理回路１１の出力端Ｄ１〜Ｄｎがそれぞれ接続されてい
る。他の二つの入力端は、デコーダ１６の出力端ＥＤ１
〜ＥＤｎ（ｎは１以上の整数）と外部からのクロックパ
ルスＣＬＫが入力されるクロック端子ＣＬＫとにそれぞ
れ接続されている。データ変換・比較回路部１２〜１４
には、それぞれＤ型フリップフロップ２１、ＥＸ−ＯＲ
回路２２及び２３が備わっており、Ｄ型フリップフロッ
プ２１のデータ端子Ｄには論理回路１１の出力端Ｄ１が
接続され、クロック端子ＣＫにはクロック端子ＣＬＫが
接続され、リセット端子Ｒには外部から初期化信号が入
力される初期化端子INITが接続されている。ＥＸ−ＯＲ
回路２２の入力端には、出力端Ｄ１とＤ型フリップフロ
ップ２１の正出力端Ｑとが接続され、ＥＸ−ＯＲ回路２
３の入力端にはＥＸ−ＯＲ回路２２の出力端とデコーダ
１６の出力端ＥＤ１とが接続されている。そして、ＥＸ
−ＯＲ回路２３の出力端はデータ変換・比較回路部１２
の出力端に接続されている。
【００１７】データ変換・比較回路部１２〜１４のそれ
ぞれの出力端は、判定回路部１５の入力端に接続されて
いる。また判定回路部１５の二つの入力端には、クロッ
ク端子ＣＬＫと、初期化端子INITが接続されている。判
定回路部１５は、ＯＲ回路２４及び２５とＤ型フリップ
フロップ２６を有している。ＯＲ回路２４の入力端に
は、データ変換・比較回路部１２〜１４のｎ個の出力端
が接続され、このＯＲ回路２４の出力端は、ＯＲ回路２
５の一方の入力端と選択回路１８の一つの入力端とに接
続されている。ＯＲ回路２５の出力端はＤ型フリップフ
ロップ２６のデータ端子Ｄに接続され、クロック端子Ｃ
Ｋにはクロック端子ＣＬＫが接続され、リセット端子Ｒ
には初期化端子INITが接続されている。Ｄ型フリップフ
ロップ２６の出力端Ｑは、ＯＲ回路２５の他方の入力端
と選択回路１８の他の一つの入力端とに接続されてい
る。
ぞれの出力端は、判定回路部１５の入力端に接続されて
いる。また判定回路部１５の二つの入力端には、クロッ
ク端子ＣＬＫと、初期化端子INITが接続されている。判
定回路部１５は、ＯＲ回路２４及び２５とＤ型フリップ
フロップ２６を有している。ＯＲ回路２４の入力端に
は、データ変換・比較回路部１２〜１４のｎ個の出力端
が接続され、このＯＲ回路２４の出力端は、ＯＲ回路２
５の一方の入力端と選択回路１８の一つの入力端とに接
続されている。ＯＲ回路２５の出力端はＤ型フリップフ
ロップ２６のデータ端子Ｄに接続され、クロック端子Ｃ
Ｋにはクロック端子ＣＬＫが接続され、リセット端子Ｒ
には初期化端子INITが接続されている。Ｄ型フリップフ
ロップ２６の出力端Ｑは、ＯＲ回路２５の他方の入力端
と選択回路１８の他の一つの入力端とに接続されてい
る。
【００１８】選択回路１８には、ＡＮＤ回路２７及び２
８、ＯＲ回路２９及びインバータ３０が備わっている。
選択回路１８の三つの入力端のうち、上述のように一つ
にはＯＲ回路２４の出力端に接続されており、この入力
端はＡＮＤ回路２７の一方の入力端に接続されている。
選択回路１８の他の一つの入力端には初期化端子INITが
接続され、この入力端はＡＮＤ回路２７の他の入力端に
接続されている。ＡＮＤ回路２８の一方の入力端にはイ
ンバータ３０を介して初期化端子INITが接続されてお
り、他方の入力端には判定回路部１５のＤ型フリップフ
ロップ２６の正出力端Ｑが接続されている。ＡＮＤ回路
２７及び２８の出力端は、それぞれＯＲ回路２９の入力
端に接続され、ＯＲ回路２９の出力端は選択回路１８の
出力端ＧＯ／ＮＧに接続されている。
８、ＯＲ回路２９及びインバータ３０が備わっている。
選択回路１８の三つの入力端のうち、上述のように一つ
にはＯＲ回路２４の出力端に接続されており、この入力
端はＡＮＤ回路２７の一方の入力端に接続されている。
選択回路１８の他の一つの入力端には初期化端子INITが
接続され、この入力端はＡＮＤ回路２７の他の入力端に
接続されている。ＡＮＤ回路２８の一方の入力端にはイ
ンバータ３０を介して初期化端子INITが接続されてお
り、他方の入力端には判定回路部１５のＤ型フリップフ
ロップ２６の正出力端Ｑが接続されている。ＡＮＤ回路
２７及び２８の出力端は、それぞれＯＲ回路２９の入力
端に接続され、ＯＲ回路２９の出力端は選択回路１８の
出力端ＧＯ／ＮＧに接続されている。
【００１９】またカウンタ１７のリセット端子Ｒには初
期化端子INITが接続され、クロック端子ＣＫにはクロッ
ク端子ＣＬＫが接続されている。カウンタ１７のｍ（ｍ
は１以上の整数）本の出力端には、デコーダ１６のｍ本
の入力端が並列に接続されている。
期化端子INITが接続され、クロック端子ＣＫにはクロッ
ク端子ＣＬＫが接続されている。カウンタ１７のｍ（ｍ
は１以上の整数）本の出力端には、デコーダ１６のｍ本
の入力端が並列に接続されている。
【００２０】このような構成を備えた第１の実施例の検
査装置を用いて、論理回路１１を次のようにして検査す
る。論理回路１１の出力端Ｄ１〜Ｄｎから、論理信号が
データ変換・比較回路部１２〜１４に出力される。デー
タ変換・比較回路部１２を例にとると、論理信号Ｄ１が
Ｄ型フリップフロップ２１のデータ端子Ｄに入力され
る。また、クロック端子ＣＫには外部よりクロックパル
スＣＬＫが入力される。このクロックパルスＣＬＫは、
検査タイミングに合わせて「１」レベルに変化するもの
で、Ｄ型フリップフロップ２１はクロックパルスＣＬＫ
が「１」になるタイミングで論理信号Ｄ１をラッチす
る。Ｄ型フリップフロップ２１からは、ラッチされた前
サイクルの論理信号Ｄ１が出力される。この前サイクル
の論理信号Ｄ１と現サイクルの論理信号Ｄ１とがＥＸ−
ＯＲ回路２２に入力され、両者が一致した場合は「０」
レベルの信号が出力され、不一致の場合には「１」レベ
ルの信号が出力される。即ち、論理信号Ｄ１のレベルが
変化すると、この変化した時点が検出されることにな
る。この変化点を検出した信号はＥＸ−ＯＲ回路２３に
入力される。
査装置を用いて、論理回路１１を次のようにして検査す
る。論理回路１１の出力端Ｄ１〜Ｄｎから、論理信号が
データ変換・比較回路部１２〜１４に出力される。デー
タ変換・比較回路部１２を例にとると、論理信号Ｄ１が
Ｄ型フリップフロップ２１のデータ端子Ｄに入力され
る。また、クロック端子ＣＫには外部よりクロックパル
スＣＬＫが入力される。このクロックパルスＣＬＫは、
検査タイミングに合わせて「１」レベルに変化するもの
で、Ｄ型フリップフロップ２１はクロックパルスＣＬＫ
が「１」になるタイミングで論理信号Ｄ１をラッチす
る。Ｄ型フリップフロップ２１からは、ラッチされた前
サイクルの論理信号Ｄ１が出力される。この前サイクル
の論理信号Ｄ１と現サイクルの論理信号Ｄ１とがＥＸ−
ＯＲ回路２２に入力され、両者が一致した場合は「０」
レベルの信号が出力され、不一致の場合には「１」レベ
ルの信号が出力される。即ち、論理信号Ｄ１のレベルが
変化すると、この変化した時点が検出されることにな
る。この変化点を検出した信号はＥＸ−ＯＲ回路２３に
入力される。
【００２１】このＥＸ−ＯＲ回路２３には、デコーダ１
６から出力された期待変化点信号ＥＤ１も入力される。
この期待変化点信号ＥＤ１〜ＥＤｎは、次のようにして
生成される。カウンタ１７は、論理信号Ｄ１〜Ｄｎが出
力される一定のタイミングで順次計数を行っていく。こ
の計数値はデコーダ１６に与えられる。デコーダ１６
は、通常は「０」レベルの期待変化点信号ＥＤ１〜ＥＤ
ｎを出力している。そして、それぞれの論理信号Ｄ１〜
Ｄｎのレベルが変化すべき計数値になると、「１」レベ
ルの期待変化点信号ＥＤ１〜ＥＤｎを出力する。
６から出力された期待変化点信号ＥＤ１も入力される。
この期待変化点信号ＥＤ１〜ＥＤｎは、次のようにして
生成される。カウンタ１７は、論理信号Ｄ１〜Ｄｎが出
力される一定のタイミングで順次計数を行っていく。こ
の計数値はデコーダ１６に与えられる。デコーダ１６
は、通常は「０」レベルの期待変化点信号ＥＤ１〜ＥＤ
ｎを出力している。そして、それぞれの論理信号Ｄ１〜
Ｄｎのレベルが変化すべき計数値になると、「１」レベ
ルの期待変化点信号ＥＤ１〜ＥＤｎを出力する。
【００２２】このような期待変化点信号ＥＤ１と変化点
検出信号とがＥＸ−ＯＲ回路２３に入力されて、両者が
一致するか否か、即ち論理信号が変化すべきときに変化
したかどうかが比較・判定される。両者が一致した場合
には、正常である旨を示す「０」レベルの信号が出力さ
れる。逆に、両者が不一致の場合には異常であることを
示す「１」レベルの信号が出力される。他のデータ変換
・比較回路部１３〜１４においても、同様に論理信号Ｅ
Ｄ２〜ＥＤｎと期待変化点信号ＥＤ２〜ＥＤｎとの比較
が行われ、比較した結果を示す信号が出力される。
検出信号とがＥＸ−ＯＲ回路２３に入力されて、両者が
一致するか否か、即ち論理信号が変化すべきときに変化
したかどうかが比較・判定される。両者が一致した場合
には、正常である旨を示す「０」レベルの信号が出力さ
れる。逆に、両者が不一致の場合には異常であることを
示す「１」レベルの信号が出力される。他のデータ変換
・比較回路部１３〜１４においても、同様に論理信号Ｅ
Ｄ２〜ＥＤｎと期待変化点信号ＥＤ２〜ＥＤｎとの比較
が行われ、比較した結果を示す信号が出力される。
【００２３】これらの比較結果を示す信号は、全て判定
回路部１５のＯＲ回路２４に入力される。全ての比較結
果が正常であった場合は「０」レベルで、一つでも異常
があった場合には「１」レベルの信号がＯＲ回路２４よ
り出力される。この出力は、ＯＲ回路２５と選択回路１
８とに与えられる。ＯＲ回路２５には、このＯＲ回路２
４からの出力とＤ型フリップフロップ２６からの正出力
Ｑとが入力される。Ｄ型フリップフロップ２６は、クロ
ックパルスＣＬＫで規定される検査タイミングに基づい
て、ＯＲ回路２５からの出力をラッチする。ラッチされ
た出力はＯＲ回路２５に入力される。これにより、ある
時点で一つでも異常が検出されて「１」レベルの信号が
ＯＲ回路２４より出力されると、Ｄ型フリップフロップ
２６からは「１」レベルの正出力Ｑが出力される。この
結果、二種類の比較判定結果が得られる。ＯＲ回路２４
からの出力は、各ビット位置における論理信号Ｄ１〜Ｄ
ｎが正常か否かを判定した結果を示し、Ｄ型フリップフ
ロップ２６からの正出力Ｑは、現時点までに一回でも異
常があったか否かを示している。
回路部１５のＯＲ回路２４に入力される。全ての比較結
果が正常であった場合は「０」レベルで、一つでも異常
があった場合には「１」レベルの信号がＯＲ回路２４よ
り出力される。この出力は、ＯＲ回路２５と選択回路１
８とに与えられる。ＯＲ回路２５には、このＯＲ回路２
４からの出力とＤ型フリップフロップ２６からの正出力
Ｑとが入力される。Ｄ型フリップフロップ２６は、クロ
ックパルスＣＬＫで規定される検査タイミングに基づい
て、ＯＲ回路２５からの出力をラッチする。ラッチされ
た出力はＯＲ回路２５に入力される。これにより、ある
時点で一つでも異常が検出されて「１」レベルの信号が
ＯＲ回路２４より出力されると、Ｄ型フリップフロップ
２６からは「１」レベルの正出力Ｑが出力される。この
結果、二種類の比較判定結果が得られる。ＯＲ回路２４
からの出力は、各ビット位置における論理信号Ｄ１〜Ｄ
ｎが正常か否かを判定した結果を示し、Ｄ型フリップフ
ロップ２６からの正出力Ｑは、現時点までに一回でも異
常があったか否かを示している。
【００２４】選択回路１８には、この判定回路部１５の
ＯＲ回路２４の出力とＤ型フリップフロップ２６からの
正出力Ｑとが与えられ、初期化信号INITによりいずれか
一方の選択が行われる。初期化信号INITが「１」レベル
のときは、ＯＲ回路２４からの出力が選択されて出力端
ＧＯ／ＮＧより出力される。初期化信号INITが「０」レ
ベルのときは、逆にＤ型フリップフロップ２６からの出
力が選択されて出力される。
ＯＲ回路２４の出力とＤ型フリップフロップ２６からの
正出力Ｑとが与えられ、初期化信号INITによりいずれか
一方の選択が行われる。初期化信号INITが「１」レベル
のときは、ＯＲ回路２４からの出力が選択されて出力端
ＧＯ／ＮＧより出力される。初期化信号INITが「０」レ
ベルのときは、逆にＤ型フリップフロップ２６からの出
力が選択されて出力される。
【００２５】図２に、この検査装置における各信号の動
作波形を示す。先ず、初期化信号INITは「１」レベルに
あり、カウンタ１７、データ変換・比較回路部１２〜１
４のＤ型フリップフロップ２１、判定回路部１５のＤ型
フリップフロップ２６の各リセット端子Ｒに入力され、
初期化が行われる。このときデコーダ１６から出力され
る期待変化点信号ＥＤ１〜ＥＤｎが、「０」レベルにな
るように設定される。これにより、各データ変換・比較
回路部１２のＤ型フリップフロップ２１の正出力端Ｑか
らは、論理信号Ｄ１〜Ｄｎがそのまま出力される。
作波形を示す。先ず、初期化信号INITは「１」レベルに
あり、カウンタ１７、データ変換・比較回路部１２〜１
４のＤ型フリップフロップ２１、判定回路部１５のＤ型
フリップフロップ２６の各リセット端子Ｒに入力され、
初期化が行われる。このときデコーダ１６から出力され
る期待変化点信号ＥＤ１〜ＥＤｎが、「０」レベルにな
るように設定される。これにより、各データ変換・比較
回路部１２のＤ型フリップフロップ２１の正出力端Ｑか
らは、論理信号Ｄ１〜Ｄｎがそのまま出力される。
【００２６】ここで、論理信号Ｄ１〜Ｄｎの検査を変化
すべき時点で変化したか否かのみで検査したのでは、全
てのレベルが逆であった場合にも正常であると判定され
ることになる。そこで、論理信号Ｄ１についていえば、
論理信号Ｄ１0 ，Ｄ１1 ，Ｄ１2 ，Ｄ１3 ，…のうち、
少なくともいずれか一つの信号のレベルが正常であるか
どうかを検査する必要がある。この検査は、次のように
して行うことができる。初期化信号INITは「１」レベル
にあるため、選択回路１８は判定回路部１５のＯＲ回路
２４からの出力を選択して出力端ＧＯ／ＮＧから出力す
る状態にある。そこで、論理回路１１から出力される論
理信号Ｄ１〜Ｄｎのうち、一つの信号Ｄ１のみが論理信
号に相当するレベルをとり、他の信号は全て「０」レベ
ルに保持されるようにしておく。次に論理信号Ｄ２のみ
を論理信号として出力するというようにして、順に論理
信号Ｄ１〜Ｄｎを出力させることで各々の論理信号の初
期値を区別して正常か否かを検査していく。
すべき時点で変化したか否かのみで検査したのでは、全
てのレベルが逆であった場合にも正常であると判定され
ることになる。そこで、論理信号Ｄ１についていえば、
論理信号Ｄ１0 ，Ｄ１1 ，Ｄ１2 ，Ｄ１3 ，…のうち、
少なくともいずれか一つの信号のレベルが正常であるか
どうかを検査する必要がある。この検査は、次のように
して行うことができる。初期化信号INITは「１」レベル
にあるため、選択回路１８は判定回路部１５のＯＲ回路
２４からの出力を選択して出力端ＧＯ／ＮＧから出力す
る状態にある。そこで、論理回路１１から出力される論
理信号Ｄ１〜Ｄｎのうち、一つの信号Ｄ１のみが論理信
号に相当するレベルをとり、他の信号は全て「０」レベ
ルに保持されるようにしておく。次に論理信号Ｄ２のみ
を論理信号として出力するというようにして、順に論理
信号Ｄ１〜Ｄｎを出力させることで各々の論理信号の初
期値を区別して正常か否かを検査していく。
【００２７】この初期値の検査が終了したら、３番目の
クロックパルスＣＬＫが立ち上がった時初期化信号INIT
を「０」レベルに変化させる。これにより、選択回路１
８はＤ型フリップフロップ２６からの正出力Ｑを選択し
て出力する状態になる。
クロックパルスＣＬＫが立ち上がった時初期化信号INIT
を「０」レベルに変化させる。これにより、選択回路１
８はＤ型フリップフロップ２６からの正出力Ｑを選択し
て出力する状態になる。
【００２８】４番目のクロックパルスＣＬＫが立ち上が
ると、論理信号の検査が開始される。Ｄ型フリップフロ
ップ２１からは、この時点では初期化されたときの論理
信号Ｄ１がラッチされて正出力端Ｑから出力される。５
番目のクロックパルスＣＬＫが立ち上がると、Ｄ型フリ
ップフロップ２１の正出力端Ｑからは、１番目の論理信
号Ｄ１0 がラッチされて出力される。ＥＸ−ＯＲ回路２
２には、この前サイクルの論理信号Ｄ１0 と現サイクル
の論理信号Ｄ１1 とが入力され、両者が一致したか否か
が比較される。このようにして、順次論理信号Ｄ１1 ，
Ｄ１2 ，Ｄ１3，Ｄ１4 ，…が変化したかどうかが検出
されていく。このタイミングチャートでは、期待変化点
信号ＥＤ１はクロックパルスＣＬＫが８番目のとき、及
び１２番目のときに論理信号Ｄ１4 及びＤ１8 が変化し
たことを示している。そして、各データ変換・比較回路
部１２〜１４での検査結果が判定回路部１５に入力され
る。この場合には、Ｄ型フリップフロップ２６からの正
出力Ｑが選択回路１８により選択され、最終的な判定結
果として出力端ＧＯ／ＮＧより出力される。
ると、論理信号の検査が開始される。Ｄ型フリップフロ
ップ２１からは、この時点では初期化されたときの論理
信号Ｄ１がラッチされて正出力端Ｑから出力される。５
番目のクロックパルスＣＬＫが立ち上がると、Ｄ型フリ
ップフロップ２１の正出力端Ｑからは、１番目の論理信
号Ｄ１0 がラッチされて出力される。ＥＸ−ＯＲ回路２
２には、この前サイクルの論理信号Ｄ１0 と現サイクル
の論理信号Ｄ１1 とが入力され、両者が一致したか否か
が比較される。このようにして、順次論理信号Ｄ１1 ，
Ｄ１2 ，Ｄ１3，Ｄ１4 ，…が変化したかどうかが検出
されていく。このタイミングチャートでは、期待変化点
信号ＥＤ１はクロックパルスＣＬＫが８番目のとき、及
び１２番目のときに論理信号Ｄ１4 及びＤ１8 が変化し
たことを示している。そして、各データ変換・比較回路
部１２〜１４での検査結果が判定回路部１５に入力され
る。この場合には、Ｄ型フリップフロップ２６からの正
出力Ｑが選択回路１８により選択され、最終的な判定結
果として出力端ＧＯ／ＮＧより出力される。
【００２９】この実施例では、各論理信号Ｄ１〜Ｄｎの
任意の一つの信号の検査を初期値に対して行っている。
しかし、この検査は初期値に対してでなくともよく、任
意のいずれかの信号に対して行えばよい。またこの実施
例では、論理信号と期待変化点信号との比較結果を、選
択回路１８を介して外部へリアルタイムで取り出すこと
ができるように構成されている。しかし、必ずしもこの
ような構成である必要はなく、例えば検査が全て終了し
た後に出力できるようにしてもよい。
任意の一つの信号の検査を初期値に対して行っている。
しかし、この検査は初期値に対してでなくともよく、任
意のいずれかの信号に対して行えばよい。またこの実施
例では、論理信号と期待変化点信号との比較結果を、選
択回路１８を介して外部へリアルタイムで取り出すこと
ができるように構成されている。しかし、必ずしもこの
ような構成である必要はなく、例えば検査が全て終了し
た後に出力できるようにしてもよい。
【００３０】また、任意の一つの論理信号を検査するた
めに、期待値と比較する回路を別に設けて検査結果を観
測してもよい。
めに、期待値と比較する回路を別に設けて検査結果を観
測してもよい。
【００３１】次に、本発明の第２の実施例による検査装
置の構成を図３に示す。この実施例では、複数の論理回
路３１〜３４から同一の論理信号が出力される場合に適
用されるものである。論理回路３１〜３４の出力端１Ｄ
１〜４Ｄ１は、全て４ビット同一データ検査回路部３５
の入力端に接続されている。この４ビット同一データ検
査回路部３５の他の入力端には、デコーダ３６の出力
端、初期化端子INIT、及びクロック端子ＣＬＫがそれぞ
れ接続されている。
置の構成を図３に示す。この実施例では、複数の論理回
路３１〜３４から同一の論理信号が出力される場合に適
用されるものである。論理回路３１〜３４の出力端１Ｄ
１〜４Ｄ１は、全て４ビット同一データ検査回路部３５
の入力端に接続されている。この４ビット同一データ検
査回路部３５の他の入力端には、デコーダ３６の出力
端、初期化端子INIT、及びクロック端子ＣＬＫがそれぞ
れ接続されている。
【００３２】４ビット同一データ検査回路部３５は、５
つのＥＸ−ＯＲ回路４１〜４３及び４５，４６と、ＯＲ
回路４４及び４７、Ｄ型フリップフロップ４８及び４９
が備わっている。ＥＸ−ＯＲ回路４１の一方の入力端に
は論理回路３１の出力端１Ｄ１が接続され、他方の入力
端及びＥＸ−ＯＲ回路４２の一方の入力端には論理回路
３２の出力端２Ｄ１が接続されている。ＥＸ−ＯＲ回路
４２の他方の入力端及びＥＸ−ＯＲ回路４３の一方の入
力端には論理回路３３の出力端３Ｄ１が接続されてい
る。さらに、ＥＸ−ＯＲ回路４３の他方の入力端には、
論理回路３４の出力端４Ｄ１が接続されている。また論
理回路３４の出力端４Ｄ１は、ＥＸ−ＯＲ回路４５の一
方の入力端とＤ型フリップフロップ４８のデータ端子Ｄ
にも接続されており、このＤ型フリップフロップ４８の
正出力端ＱはＥＸ−ＯＲ回路４５の他方の入力端に接続
されている。Ｄ型フリップフロップ４８及び４９のクロ
ック端子ＣＫには、クロック端子ＣＬＫが接続され、リ
セット端子Ｒには初期化端子INITが接続されている。
つのＥＸ−ＯＲ回路４１〜４３及び４５，４６と、ＯＲ
回路４４及び４７、Ｄ型フリップフロップ４８及び４９
が備わっている。ＥＸ−ＯＲ回路４１の一方の入力端に
は論理回路３１の出力端１Ｄ１が接続され、他方の入力
端及びＥＸ−ＯＲ回路４２の一方の入力端には論理回路
３２の出力端２Ｄ１が接続されている。ＥＸ−ＯＲ回路
４２の他方の入力端及びＥＸ−ＯＲ回路４３の一方の入
力端には論理回路３３の出力端３Ｄ１が接続されてい
る。さらに、ＥＸ−ＯＲ回路４３の他方の入力端には、
論理回路３４の出力端４Ｄ１が接続されている。また論
理回路３４の出力端４Ｄ１は、ＥＸ−ＯＲ回路４５の一
方の入力端とＤ型フリップフロップ４８のデータ端子Ｄ
にも接続されており、このＤ型フリップフロップ４８の
正出力端ＱはＥＸ−ＯＲ回路４５の他方の入力端に接続
されている。Ｄ型フリップフロップ４８及び４９のクロ
ック端子ＣＫには、クロック端子ＣＬＫが接続され、リ
セット端子Ｒには初期化端子INITが接続されている。
【００３３】ＥＸ−ＯＲ回路４１〜４３のそれぞれの出
力端は、ＯＲ回路４４の入力端に接続され、出力端はＯ
Ｒ回路４７の入力端に接続されている。ＥＸ−ＯＲ回路
４５の出力端はＥＸ−ＯＲ回路４６の一方の入力端に接
続され、他方の入力端にはデコーダ３６の出力端ＥＤ１
が接続されている。ＥＸ−ＯＲ回路４６の出力端はＯＲ
回路４７の入力端に接続されている。ＯＲ回路４７の出
力端はＤ型フリップフロップ４９のデータ端子Ｄに接続
され、その正出力端ＱはＯＲ回路４７の入力端に接続さ
れている。このＤ型フリップフロップ４９の正出力端Ｑ
は、４ビット同一データ検査回路部３５の出力端Ｑ３に
も接続されている。また、ＯＲ回路４４の出力端は出力
端Ｑ２に、ＥＸ−ＯＲ回路４６の出力端は出力端Ｑ１に
それぞれ接続されている。
力端は、ＯＲ回路４４の入力端に接続され、出力端はＯ
Ｒ回路４７の入力端に接続されている。ＥＸ−ＯＲ回路
４５の出力端はＥＸ−ＯＲ回路４６の一方の入力端に接
続され、他方の入力端にはデコーダ３６の出力端ＥＤ１
が接続されている。ＥＸ−ＯＲ回路４６の出力端はＯＲ
回路４７の入力端に接続されている。ＯＲ回路４７の出
力端はＤ型フリップフロップ４９のデータ端子Ｄに接続
され、その正出力端ＱはＯＲ回路４７の入力端に接続さ
れている。このＤ型フリップフロップ４９の正出力端Ｑ
は、４ビット同一データ検査回路部３５の出力端Ｑ３に
も接続されている。また、ＯＲ回路４４の出力端は出力
端Ｑ２に、ＥＸ−ＯＲ回路４６の出力端は出力端Ｑ１に
それぞれ接続されている。
【００３４】選択回路３８の入力端には、４ビット同一
データ検査回路部３５の出力端Ｑ１〜Ｑ３と、クロック
端子ＣＬＫ、初期化端子INITが接続されている。この選
択回路３８は、インバータ５４及び５５、ＡＮＤ回路５
０〜５２、ＯＲ回路５３が備わっている。出力端子Ｑ１
はＡＮＤ回路５０の入力端に接続され、出力端子Ｑ２は
ＡＮＤ回路５１の入力端に、出力端子Ｑ３はＡＮＤ回路
５２の入力端にそれぞれ接続されている。ＡＮＤ回路５
０の他の入力端には、クロック端子ＣＬＫがインバータ
５４を介して接続され、ＡＮＤ回路５１の他の入力端に
はクロック端子ＣＬＫが直接接続されている。また、Ａ
ＮＤ回路５０及び５１のさらに他の入力端には初期化端
子INITがそれぞれ直接接続され、ＡＮＤ回路５２の他の
入力端にはインバータ５５を介して初期化端子INITが接
続されている。ＡＮＤ回路５０〜５２の出力端は、ＯＲ
回路５３の入力端に接続されており、ＯＲ回路５３の出
力端は選択回路３８の出力端ＧＯ／ＮＧに接続されてい
る。
データ検査回路部３５の出力端Ｑ１〜Ｑ３と、クロック
端子ＣＬＫ、初期化端子INITが接続されている。この選
択回路３８は、インバータ５４及び５５、ＡＮＤ回路５
０〜５２、ＯＲ回路５３が備わっている。出力端子Ｑ１
はＡＮＤ回路５０の入力端に接続され、出力端子Ｑ２は
ＡＮＤ回路５１の入力端に、出力端子Ｑ３はＡＮＤ回路
５２の入力端にそれぞれ接続されている。ＡＮＤ回路５
０の他の入力端には、クロック端子ＣＬＫがインバータ
５４を介して接続され、ＡＮＤ回路５１の他の入力端に
はクロック端子ＣＬＫが直接接続されている。また、Ａ
ＮＤ回路５０及び５１のさらに他の入力端には初期化端
子INITがそれぞれ直接接続され、ＡＮＤ回路５２の他の
入力端にはインバータ５５を介して初期化端子INITが接
続されている。ＡＮＤ回路５０〜５２の出力端は、ＯＲ
回路５３の入力端に接続されており、ＯＲ回路５３の出
力端は選択回路３８の出力端ＧＯ／ＮＧに接続されてい
る。
【００３５】このような構成を備えた第２の実施例によ
る装置を用いて検査するときの動作について説明する。
論理回路３１〜３４から同一の論理信号１Ｄ１〜４Ｄ１
が出力され、４ビット同一データ検査回路部３５のＥＸ
−ＯＲ回路４１〜４３に与えられる。論理信号１Ｄ１と
２Ｄ１、２Ｄ１と３Ｄ１、３Ｄ１と４Ｄ１とがそれぞれ
比較され、それぞれ同一の場合には「０」レベルの信号
がＯＲ回路４４に出力される。一つでも不一致があった
場合には、ＯＲ回路４４から「１」レベルの信号が出力
されてＯＲ回路４７に与えられる。このようにして、Ｅ
Ｘ−ＯＲ回路４１〜４３とＯＲ回路４４により、４つの
論理信号１Ｄ１〜４Ｄ１が常に同一か否かが検査され
る。
る装置を用いて検査するときの動作について説明する。
論理回路３１〜３４から同一の論理信号１Ｄ１〜４Ｄ１
が出力され、４ビット同一データ検査回路部３５のＥＸ
−ＯＲ回路４１〜４３に与えられる。論理信号１Ｄ１と
２Ｄ１、２Ｄ１と３Ｄ１、３Ｄ１と４Ｄ１とがそれぞれ
比較され、それぞれ同一の場合には「０」レベルの信号
がＯＲ回路４４に出力される。一つでも不一致があった
場合には、ＯＲ回路４４から「１」レベルの信号が出力
されてＯＲ回路４７に与えられる。このようにして、Ｅ
Ｘ−ＯＲ回路４１〜４３とＯＲ回路４４により、４つの
論理信号１Ｄ１〜４Ｄ１が常に同一か否かが検査され
る。
【００３６】一方、４つの論理信号のうち一つの信号４
Ｄ１について、変化した時点を検出することが行われ
る。論理信号４Ｄ１が入力されるＤ型フリップフロップ
４８と、ＥＸ−ＯＲ回路４５及び４６からなる回路の構
成は、図１におけるデータ変換・比較回路部１２と同一
である。この結果、論理信号４Ｄ１の変化点を検出した
信号がＥＸ−ＯＲ回路４６に入力され、デコーダ３６か
ら出力された期待変化点信号ＥＤ１と一致した場合には
「０」、不一致であった場合には「１」レベルの信号が
出力されてＯＲ回路４７に与えられる。
Ｄ１について、変化した時点を検出することが行われ
る。論理信号４Ｄ１が入力されるＤ型フリップフロップ
４８と、ＥＸ−ＯＲ回路４５及び４６からなる回路の構
成は、図１におけるデータ変換・比較回路部１２と同一
である。この結果、論理信号４Ｄ１の変化点を検出した
信号がＥＸ−ＯＲ回路４６に入力され、デコーダ３６か
ら出力された期待変化点信号ＥＤ１と一致した場合には
「０」、不一致であった場合には「１」レベルの信号が
出力されてＯＲ回路４７に与えられる。
【００３７】これによりＯＲ回路４７からは、論理信号
１Ｄ１〜４Ｄ１が全て一致し、さらに期待変化点信号Ｅ
Ｄ１と論理信号４Ｄ１とが一致した場合には「０」レベ
ルの信号が出力され、他の場合には「１」レベルの信号
が出力される。この出力は、検査タイミングに応じてＤ
型フリップフロップ４９にラッチされ、一度でも不一致
が生ずると正出力端子Ｑからは「１」レベルの信号が出
力される。
１Ｄ１〜４Ｄ１が全て一致し、さらに期待変化点信号Ｅ
Ｄ１と論理信号４Ｄ１とが一致した場合には「０」レベ
ルの信号が出力され、他の場合には「１」レベルの信号
が出力される。この出力は、検査タイミングに応じてＤ
型フリップフロップ４９にラッチされ、一度でも不一致
が生ずると正出力端子Ｑからは「１」レベルの信号が出
力される。
【００３８】そして、ＥＸ−ＯＲ回路４６から出力され
た信号が、４ビット同一データ検査回路部３５の出力端
Ｑ１より出力され、ＯＲ回路４４から出力された信号が
出力端Ｑ２より出力され、さらにＤ型フリップフロップ
４９からの信号が出力端Ｑ３より出力される。選択回路
３８にこれらの信号が入力され、初期化信号INITとクロ
ックパルスＣＬＫの組み合わせによりいずれかの信号が
選択され、出力端ＧＯ／ＮＧから出力される。初期化信
号INITが「０」の場合は出力端Ｑ３からの信号が選択さ
れて、初期化信号INITとクロックパルスＣＬＫが共に
「１」の場合には出力端Ｑ２からの信号が選択される。
さらに、初期化信号INITが「１」でクロックパルスＣＬ
Ｋが「０」の場合には出力端Ｑ１からの信号が選択され
る。
た信号が、４ビット同一データ検査回路部３５の出力端
Ｑ１より出力され、ＯＲ回路４４から出力された信号が
出力端Ｑ２より出力され、さらにＤ型フリップフロップ
４９からの信号が出力端Ｑ３より出力される。選択回路
３８にこれらの信号が入力され、初期化信号INITとクロ
ックパルスＣＬＫの組み合わせによりいずれかの信号が
選択され、出力端ＧＯ／ＮＧから出力される。初期化信
号INITが「０」の場合は出力端Ｑ３からの信号が選択さ
れて、初期化信号INITとクロックパルスＣＬＫが共に
「１」の場合には出力端Ｑ２からの信号が選択される。
さらに、初期化信号INITが「１」でクロックパルスＣＬ
Ｋが「０」の場合には出力端Ｑ１からの信号が選択され
る。
【００３９】次に、この検査装置の動作波形を図４のタ
イミングチャートに示す。始めに初期化信号INITが
「１」レベルに設定され、カウンタ３７とＤ型フリップ
フロップ４８及び４９が初期化される。このときに、次
のようにして論理信号４Ｄ１の初期値を検査することが
できる。初期化信号INITは「１」に設定されており、選
択回路３８はクロック端子ＣＬＫのレベルを「０」にす
ることで、出力端子Ｑ１を選択して選択回路３８よりそ
の出力を取り出すことができる。そこでデコーダ３６か
らの出力を「０」レベルに設定し、ＥＸ−ＯＲ回路４６
から論理信号４Ｄ１が出力されるようにしておくこと
で、論理信号４Ｄ１の初期値を検査することができる。
イミングチャートに示す。始めに初期化信号INITが
「１」レベルに設定され、カウンタ３７とＤ型フリップ
フロップ４８及び４９が初期化される。このときに、次
のようにして論理信号４Ｄ１の初期値を検査することが
できる。初期化信号INITは「１」に設定されており、選
択回路３８はクロック端子ＣＬＫのレベルを「０」にす
ることで、出力端子Ｑ１を選択して選択回路３８よりそ
の出力を取り出すことができる。そこでデコーダ３６か
らの出力を「０」レベルに設定し、ＥＸ−ＯＲ回路４６
から論理信号４Ｄ１が出力されるようにしておくこと
で、論理信号４Ｄ１の初期値を検査することができる。
【００４０】初期値の検査が終了した後、４番目のクロ
ックパルスＣＬＫが立ち上がった時点から、上述したよ
うに論理信号１Ｄ１〜４Ｄ１の検査が行われる。このタ
イミングチャートでは、図２の場合と同様に８番目と１
２番目のクロックパルスのときに、論理信号１Ｄ14 及
び１Ｄ18が変化すべき場合に相当する。
ックパルスＣＬＫが立ち上がった時点から、上述したよ
うに論理信号１Ｄ１〜４Ｄ１の検査が行われる。このタ
イミングチャートでは、図２の場合と同様に８番目と１
２番目のクロックパルスのときに、論理信号１Ｄ14 及
び１Ｄ18が変化すべき場合に相当する。
【００４１】尚、第２の実施例においても第１の実施例
と同様に、出力端Ｑ１〜Ｑ３のいずれかを選択回路３８
で選択し、検査の最中に外部へ随時取り出せるようにし
ている。しかし、検査が全て終了した後に検査結果が取
り出せるようにしてもよい。
と同様に、出力端Ｑ１〜Ｑ３のいずれかを選択回路３８
で選択し、検査の最中に外部へ随時取り出せるようにし
ている。しかし、検査が全て終了した後に検査結果が取
り出せるようにしてもよい。
【００４２】第１及び第２の実施例によれば、論理信号
と比較するために記憶すべき情報は、論理信号の初期値
と、論理信号のレベルが変化した時点を示す情報のみで
足りる。従って、全ての論理信号に相当する期待値信号
を記憶しなければならない従来の場合と異なり、期待値
信号を発生させるために大容量のメモリを備える必要が
なく、検査回路全体の規模を大幅に縮小させることがで
きる。これにより、検査回路を論理回路とを一つの論理
集積回路装置に集積させることが可能となる。また、メ
モリ等に見られるような同一の複数の論理回路を集積し
た装置を検査する場合には、第２の実施例のように全て
の論理信号が一致するか否かを検査し、同時に任意の一
論理信号が正常であるか否かを検査することで、必要な
検査精度を確保しつつ回路規模の縮小を図ることができ
る。
と比較するために記憶すべき情報は、論理信号の初期値
と、論理信号のレベルが変化した時点を示す情報のみで
足りる。従って、全ての論理信号に相当する期待値信号
を記憶しなければならない従来の場合と異なり、期待値
信号を発生させるために大容量のメモリを備える必要が
なく、検査回路全体の規模を大幅に縮小させることがで
きる。これにより、検査回路を論理回路とを一つの論理
集積回路装置に集積させることが可能となる。また、メ
モリ等に見られるような同一の複数の論理回路を集積し
た装置を検査する場合には、第２の実施例のように全て
の論理信号が一致するか否かを検査し、同時に任意の一
論理信号が正常であるか否かを検査することで、必要な
検査精度を確保しつつ回路規模の縮小を図ることができ
る。
【００４３】
【発明の効果】以上説明したように本発明の論理信号検
査方法によれば、論理信号の任意の少なくとも１ビット
と期待値とが比較され、さらに論理信号のレベルが変化
したときのビット位置と、正常な場合に変化するときの
ビット位置を示す期待値とが比較されることにより、全
ての論理信号が正常であるか否かが検査されるため、記
憶すべき期待値は１ビット分のデータと論理信号が変化
すべきビット位置を示すデータに限られ、極めて少ない
記憶容量で足りる。これにより、全ての論理信号を正常
な期待値と比較する場合と同等な検査精度を確保しつ
つ、回路規模の縮小を図ることができる。このような検
査方法は、本発明の検査装置を用いることで実施するこ
とができ、論理回路と同一の集積回路装置に実装するこ
とが可能である。
査方法によれば、論理信号の任意の少なくとも１ビット
と期待値とが比較され、さらに論理信号のレベルが変化
したときのビット位置と、正常な場合に変化するときの
ビット位置を示す期待値とが比較されることにより、全
ての論理信号が正常であるか否かが検査されるため、記
憶すべき期待値は１ビット分のデータと論理信号が変化
すべきビット位置を示すデータに限られ、極めて少ない
記憶容量で足りる。これにより、全ての論理信号を正常
な期待値と比較する場合と同等な検査精度を確保しつ
つ、回路規模の縮小を図ることができる。このような検
査方法は、本発明の検査装置を用いることで実施するこ
とができ、論理回路と同一の集積回路装置に実装するこ
とが可能である。
【図１】本発明の第１の実施例による検査装置の構成を
示したブロック図。
示したブロック図。
【図２】同検査装置における各信号の動作波形を示した
タイミングチャート。
タイミングチャート。
【図３】本発明の第２の実施例による検査装置の構成を
示したブロック図。
示したブロック図。
【図４】同検査装置における各信号の動作波形を示した
タイミングチャート。
タイミングチャート。
【図５】従来の検査装置の構成を示したブロック図。
１１，３１，３２，３３，３４ 論理回路 １２，１３，１４ データ変換・比較回路部 １５ 判定回路部 １６，３６ デコーダ １７，３７ カウンタ １８，３８ 選択回路 ３５ ４ビット同一データ検査回路部
Claims (3)
- 【請求項１】検査対象の論理回路から出力された論理信
号のうち、任意の少なくとも１ビットの論理信号と、正
常な論理信号に相当する期待値とを比較し、 さらに前記論理信号のレベルが変化したときのビット位
置と、正常な論理信号のレベルが変化するときのビット
位置を示す期待変化点とを比較することによって、前記
論理回路の検査を行うことを特徴とする論理信号検査方
法。 - 【請求項２】検査対象の論理回路から出力された論理信
号を、任意の少なくとも１検査単位時間だけ正常な論理
信号に相当する期待値と比較する第１の比較手段と、 前記検査単位時間だけ遅延された前記論理信号と、遅延
されていない前記論理信号とを比較することによって、
前記論理信号のレベルが変化した時点を検出し変化点情
報信号を出力する変化点検出手段と、 正常な論理信号のレベルが変化するときのビット位置を
示す期待変化点信号を発生する期待変化点発生手段と、 前記変化点情報信号と前記期待変化点信号とを比較する
第２の比較手段とを備え、 前記第１及び第２の比較手段の比較結果に基づいて前記
論理回路の検査を行うことを特徴とする検査装置。 - 【請求項３】複数の同一の論理信号を出力することが期
待される単数又は複数の論理回路の検査を行う検査装置
において、 前記複数の論理信号のうち、任意の少なくとも１つの論
理信号（以下、第１の論理信号という）について、任意
の少なくとも１検査単位時間だけ正常な論理信号に相当
する期待値と比較する第１の比較手段と、 前記検査単位時間だけ遅延された前記第１の論理信号
と、遅延されていない前記第１の論理信号とを比較する
ことによって、前記第１の論理信号のレベルが変化した
時点を検出し変化点情報信号を出力する変化点検出手段
と、 前記第１の論理信号が正常な場合にレベルが変化すべき
時点を示す期待変化点信号を発生する期待変化点発生手
段と、 前記変化点情報信号と前記期待変化点信号とを比較する
第２の比較手段と、 全ての前記論理信号を相互比較する第３の比較手段とを
備え、 前記第１、第２及び第３の比較手段の比較結果に基づい
て前記論理回路の検査を行うことを特徴とする検査装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3057028A JPH0785101B2 (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 論理信号検査方法及び検査装置 |
| US07/854,897 US5471484A (en) | 1991-03-20 | 1992-03-20 | Method and apparatus for testing digital signals |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3057028A JPH0785101B2 (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 論理信号検査方法及び検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH063413A true JPH063413A (ja) | 1994-01-11 |
| JPH0785101B2 JPH0785101B2 (ja) | 1995-09-13 |
Family
ID=13043981
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3057028A Expired - Fee Related JPH0785101B2 (ja) | 1991-03-20 | 1991-03-20 | 論理信号検査方法及び検査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5471484A (ja) |
| JP (1) | JPH0785101B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008311767A (ja) * | 2007-06-12 | 2008-12-25 | Fujitsu Microelectronics Ltd | 半導体装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| TW343282B (en) * | 1996-06-14 | 1998-10-21 | Adoban Tesuto Kk | Testing device for a semiconductor device |
| JP2000352575A (ja) * | 1999-06-10 | 2000-12-19 | Mitsubishi Electric Corp | 組み込み型自己テスト回路およびテスト方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US3824558A (en) * | 1969-09-19 | 1974-07-16 | H Koshiba | Automatic apparatus for sequencing repair work in optimum order on malfunctions of grouped operating machines |
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| JPS60159665A (ja) * | 1984-01-30 | 1985-08-21 | Noritsu Co Ltd | １ｃにおけるパルススキヤン方法 |
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| US4718065A (en) * | 1986-03-31 | 1988-01-05 | Tandem Computers Incorporated | In-line scan control apparatus for data processor testing |
| JPH0691140B2 (ja) * | 1986-07-11 | 1994-11-14 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路 |
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| US5166937A (en) * | 1990-12-26 | 1992-11-24 | Ag Communication System Corporation | Arrangement for testing digital circuit devices having tri-state outputs |
| JP2765245B2 (ja) * | 1991-02-07 | 1998-06-11 | 日本電気株式会社 | シリアルクロック発生回路 |
-
1991
- 1991-03-20 JP JP3057028A patent/JPH0785101B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-03-20 US US07/854,897 patent/US5471484A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008311767A (ja) * | 2007-06-12 | 2008-12-25 | Fujitsu Microelectronics Ltd | 半導体装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5471484A (en) | 1995-11-28 |
| JPH0785101B2 (ja) | 1995-09-13 |
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