JPH0634657A - 電気供給装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被測定電子部品に電圧又は電流を供給すると
きに被測定電子部品の端子に発生する発振及びノイズを
防止する。 【構成】 電気供給装置１０は、開口を有するフェライ
ト部材２０を電気供給装置本体１４に通して接触端子１
２付近に装着している。このフェライト部材２０の装着
には、弾性部材２２でフェライト部材２０覆うことによ
って固定しても良い。これによって電子部品の端子と電
気供給装置１０の接触端子１２が接触したときのインピ
ーダンスが変化するので、発振及びノイズを防止でき
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】電子部品の電気特性を測定する際
に、被測定電子部品に電流又は電圧を供給することによ
って生じる電子部品の発振及びノイズを防止することが
できる電気供給装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】電子部品の電気特性を測定するために
は、カーブトレーサやパラメータ・アナライザなどの測
定機器が使用される。これら測定機器は、測定したい被
測定電子部品の所望のいくつかの端子に電圧又は電流を
供給し、そのときの電圧値及び電流値を被測定電子部品
の電気特性として表示することができる。被測定電子部
品に電圧又は電流を供給するために、図２に示すよう
に、測定機器３０と電気的に接続された電気供給装置１
０を使用することがあり、この場合、その接触端子（ク
リップ）１２を被測定電子部品の所望の端子に接触させ
る。これは、被測定電子部品の端子間隔が狭いときに用
いられる方法である。図１及び２に示した電気供給装置
１０は、グラバー・チップとも呼ばれ、通常は電気試験
プローブとして用いられているもので、押圧部１８を電
気供給装置本体１４に対して押し込むと、クリップ１２
が本体１４の先端からをでてくると共に左右に開き、押
圧部１８を押すのを止めるとクリップ１２は閉じる。こ
れを利用すれば、被測定電子部品の端子を挟むことがで
き、こうして被測定電子部品の端子と測定機器３０は電
気的に接続される。例えば、トランジスタならば、その
ベース、エミッタ及びコレクタの３端子を電気供給装置
１０のクリップ１２で挟んで接触させ、それぞれに電圧
又は電流を供給すれば、３端子間の電圧値及び電流値等
の関係を調べることができる。

【０００３】電子部品等の特性試験では、被測定電子部
品に電圧を印加して電流値を測定したり、その逆に、電
流を供給して電圧値を測定する。このとき、被測定電子
部品の端子に電圧又は電流を供給すると、被測定電子部
品に発振及びノイズが発生することがある。この現象
は、供給する電圧又は電流の変化がゆっくりとした、ほ
ぼ直流であっても、つまり、高周波でなくとも起きる。
この１つの原因は、被測定電子部品の隣接する端子間に
容量等があるためである。また１つの原因は、被測定部
品に電圧又は電流を供給する測定機器３０とが離れてお
り、両者を電気的に接続している導線が、その長さのた
めに浮遊容量やインダクタンス等を有するためである。
よって、電子部品に電流を供給すると発振及びノイズが
発生し、このままでは正確な電気特性の測定ができな
い。

【０００４】従来、このような場合の１つの対策とし
て、非結晶性の酸化鉄であるフェライトに開口を設けた
フェライト部材を次のように用いていた。即ち、被測定
電子部品の端子にフェライト部材を通したり、フェライ
ト部材を通した導線を端子に接触させたりして発振及び
ノイズを止めていた。あるいは、板状のフェライトに複
数の穴をあけ、これら穴に電子部品の端子を通すことに
より発振を止めていた。これらは、フェライトがコイル
と同じようにインダクタンスを有するため、被測定電子
部品の端子、測定機器及び導線等を含めたインピーダン
スが変化することを利用している。このように発振及び
ノイズを防止した上で、電気特性を測定していた。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】被測定電子部品に電圧
又は電流を供給することにより、被測定電子部品の端子
間に発振及びノイズが発生することがある。これを防止
するために、被測定電子部品の端子にフェライト部材を
挿入したり、フェライト部材を通した導線を被測定電子
部品の端子に接触させたりすることは、非常に煩雑であ
る。また、フェライト部材は、わずかに導電性を有す
る。よって、端子間隔が短い場合にフェライト部材を端
子に挿入すると、フェライト部材を介して端子と端子が
短絡しまうことがあった。

【０００６】そこで本発明の目的は、煩雑な手続きを必
要とせず、端子と端子を短絡させる恐れがなく、被測定
電子部品に電圧又は電流を供給するときに被測定電子部
品の端子に発生する発振及びノイズを効果的に防止し
て、電気特性の測定に使用できる電気供給装置を提供す
ることである。また、本発明の他の目的は、安価且つ簡
易な構成で、被測定電子部品に電圧又は電流を供給する
ときに被測定電子部品の端子に発生する発振及びノイズ
を効果的に防止して、電気特性の測定に使用できる電気
供給装置を提供することである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の電気供給装置
は、被測定電子部品の電気特性を測定する測定機器３０
が供給する電圧又は電流を被測定電子部品の端子に供給
するもので、この端子に接触させる接触端子１２を有し
ている。このとき、開口を有するフェライト部材２０を
電気供給装置本体１４に通して接触端子１２付近に装着
している。フェライトを筒状にしたフェライト部材２０
はインダクタンスを有するので、被測定電子部品に電圧
又は電流を供給するときに被測定電子部品の端子に発生
する発振及びノイズを防止することができる。

【０００８】

【実施例】図１は、本発明の電気供給装置１０の一実施
例を示す図である。従来と同じく、接触端子（クリッ
プ）１２で被測定電子部品の端子を挟み、これによって
被測定電子部品の所望の端子に電圧又は電流を供給す
る。フェライト部材２０は、電気供給装置１０の本体１
４のクリップ１２の近くに装着される。図１に用いたフ
ェライト部材２０は、電気供給装置本体１４を挿入でき
るように筒状になっている。フェライト部材２０には長
さの短いものを用い、必要なインダクタンスを得るため
に複数個用いるようにするのが好ましい。こうすれば、
フェライト部材２０の使用個数によって得るインダクタ
ンスを可変できる。電気供給装置本体１４にフェライト
部材２０を装着するために、弾性部材２２でフェライト
部材２０を覆う。また、フェライト部材２０の装着方法
は、単に接着剤で接着するだけでも良い。通常の使用で
は問題ないが、フェライト部材２０による短絡が起きな
いようにするため、弾性部材２２は絶縁性部材であるこ
とが好ましい。本発明の効果を得るためには、電気供給
装置１０に容易に取り付けることができ、インピーダン
スを変えることができれば良いので、フェライト部材に
限る必要はない。例えば、コイルをプローブ本体１４に
巻き付けても良い。

【０００９】

【発明の効果】従来ある電気供給装置に簡単で、安価な
改良を加えるだけで、被測定電子部品に電圧又は電流を
供給するときに被測定電子部品の端子に発生する発振及
びノイズを防止することができる。また、どのような電
気供給装置にも容易に応用できる。さらに、発振及びノ
イズ防止のために、被測定電子部品の端子にフェライト
部材を通したり、フェライト部材を通した導線を端子に
接触させたりといった煩雑な手続きが不要となり、通常
の電気供給装置の測定操作のままで、発振及びノイズ防
止し、被測定電子部品の電気特性を測定できる。さら
に、電気供給装置本体にフェライト部材を装着したの
で、隣接する端子間隔の狭い電子部品の端子にフェライ
ト部材を通す場合に起こった短絡の心配がない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の電気供給装置の一実施例を示す図であ
る。

【図２】従来の電気供給装置の一実施例を示す図であ
る。

【符号の説明】

１０ 電気供給装置 １２ 接触端子 １４ 電気供給装置本体 ２０ フェライト部材

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定電子部品の電気特性を測定する測
   定機器が供給する電圧又は電流を上記被測定電子部品の
   端子に供給するために、該端子に接触させる接触端子を
   有する電気供給装置において、 開口を有するフェライト部材を上記電気供給装置の本体
   に上記開口を介して通し、上記フェライト部材を上記本
   体の上記接触端子付近に装着することにより、上記被測
   定電子部品に電圧又は電流を供給するときに上記被測定
   電子部品の端子に発生する発振及びノイズを防止するこ
   とを特徴とする電気供給装置。