JPH0637759B2 - 厚さや絶乾坪量のプロフィール制御方法 - Google Patents

厚さや絶乾坪量のプロフィール制御方法

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JPH0637759B2
JPH0637759B2 JP63308145A JP30814588A JPH0637759B2 JP H0637759 B2 JPH0637759 B2 JP H0637759B2 JP 63308145 A JP63308145 A JP 63308145A JP 30814588 A JP30814588 A JP 30814588A JP H0637759 B2 JPH0637759 B2 JP H0637759B2
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【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> この発明は、厚さのプロフィールを制御する方法に関
し、特に紙の厚さのプロフィールを制御するのに用いて
好適な厚さのプロフィール制御方法に関するものであ
る。
<従来技術> 抄紙機においては、製品である紙の絶乾坪量の幅方向の
プロフィールをB/M計などを用いて測定し、この測定
値と目標値との偏差から操作量を演算して、パルプの吐
出口であるスライスリップの開度のプロフィールを制御
している。すなわち、絶乾坪量のベクトルを 、スライスリップの開度の操作量ベクトルを 、干渉行列をAとすると、 が成立する。ここにおいて、スライスリップのある部分
と開度を変化させると、その周辺の絶乾坪量の値まで変
化する干渉性がある。従って、干渉行列Aは通常下記の
示すようなバンド対角行列になる。
この関係から、スライスリップの開度の操作量の変動分
、絶乾坪量の目標値と測定値の偏差を とすると、 (S):PIコントローラの伝達関数 M:非干渉化の為の分配係数行列 が求められ、この式から操作量を演算する。Mは通常干
渉行列Aの逆行列を用いる。
第6図に、この様な絶乾坪量のプロフィール制御に用い
る制御装置の構成を示す。第6図において、偏差演算ブ
ロック2はプロセス1の出力、すなわち絶乾坪量の測定
値の入力を受け、各操作点に対応する測定点付近の坪量
を平均し、全測定点の坪量の平均値との差を演算し、こ
の値を偏差としてPIコントローラ3に出力する。PI
コントローラ3はこの偏差から操作量を演算し、非干渉
化ブロック4に出力する。非干渉化ブロック4は前記
(2)式の分配係数行列Mの演算を行い、最終的な操作
量をプロセス1に出力する。
<発明が解決すべき課題> しかしながら、この様な厚さのプロフィール制御方法で
は干渉行列Aは確定的なものとして扱っているが、実際
はプロセスが変動してスライスリップの操作点と坪量の
測定点との位置対応関係がずれることがある。この様な
ずれが発生すると、制御が不安定になるという課題があ
った。
<発明の目的> この発明の目的は、ファジイ制御を応用することによ
り、安定な制御を実現出来る厚さのプロフィール制御方
法を提供することにある。
<課題を解決する為の手段> このような目的を達成する本発明は、シートの幅方向の
厚さや絶乾坪量のプロフィールを測定し、この測定した
プロフィールに基づいてスライスリップの開度のプロフ
ィールを制御すると共に、第i番目のスライスリップを
操作したとき、この第i番目のスライスリップに対応し
て定められた幅方向第i番目の現実の測定点(Mi
と、この第i番目のスライスリップの操作の影響が測定
値に対して最大に表れる基準の測定点(ui)との距離
(gapi)に基づいて、位置対応修正値(Δgapi)を演算
して位置対応修正信号を求め、この位置対応修正信号に
より操作点と測定点との位置対応関係を修正して制御を
行う厚さや絶乾坪量のプロフィール制御方法において、
次の工程を設けたものである。
第1の工程では、第i番目のスライスリップの開度の操
作量差分(Δui,k)に対応して、当該操作の前後にお
ける前記厚さや絶乾坪量のプロフィール測定値の偏差の
変化分(Δei,k)を求めている。
第2の工程はいわゆるファジィ演算を行うもので、第i
番目の測定値の偏差の変化分の符号、この第i番目又は
これに隣接する第i+1番目若しくは第i−1番目のス
ライスリップの開度の操作量差分の符号、前記現実の測
定点と基準の測定点との距離、並びに位置対応修正値に
応じて定められたメンバーシップ関数を複数個予め定義
し、第1の工程で求めた操作量差分とプロフィール測定
値の偏差の変化分並びに前記現実の測定点と基準の測定
点との距離に応じるメンバーシップ値を演算して当該メ
ンバーシップ値の真理値を求め、このメンバーシップ値
の真理値に各メンバーシップ関数を適用してファジィ集
合の和をとって重心を求めることにより前記位置修正信
号を演算している。
<実施例> 第1図に、この発明にかかる厚さのプロフィール制御方
法の一実施例を実施する装置の構成を示す。第1図にお
いて、10は位置対応修正ブロックであり、プロセス1
の入力である操作量及び出力である絶乾坪量の測定値が
入力され、ファジィルールにより絶乾坪量の測定点とス
ライスリップの開度の操作点の位置対応関係の修正値を
推論して偏差演算ブロック12に出力する。11はファ
ジィコントローラであり、偏差演算ブロック12で演算
された偏差が入力され、適当なファジィルールを用いて
操作量を演算してプロセス1に出力する。偏差演算ブロ
ック12にはまたプセス1からの絶乾坪量の測定値が入
力される。
次に、位置対応修正ブロック10の動作を説明する。な
お、添字iはスライスリップの開度が操作される位置、
kは時点を表わす。まず、入力された絶乾坪量の測定値
から偏差の変化分Δei,k を下記(3)、(4)式か
ら、操作量の差分Δui,k を(5)式から求まる。
Δei,k =ei,k −ei,k-1 ……(3) ei,k =av(e)−xi,k ……(4) av(e):時点kにおける絶乾坪量の測定値の平均
値 xi,k :k時点における位置iの絶乾坪量の測定値 Δui,k =ui,k −ui,k-1 ………(5) ui,k :k時点における位置iのスライスリップの開度
の操作量 これらの値を用いて、次の6つのルール及び第2図に示
したメンバーシップ関数によりファジイ推論を実行して
位置対応の出力値を求める。第2図(A)はΔe、Δ
i-1 、Δei+1 、(B)はΔu、(C)は gap
(D)はΔ gapに対するメンバーシップ関数を表わ
す。なお、Δe、Δei-1 、Δei+1 は前記(3)式
で求めた位置i及びその両隣における操作量の差分を表
わす。推論は各時点で行うので、添字のkは省略してあ
る。また、 gapは現在の位置ずれ、Δ gapは位置対
応修正値である。さらに、P,N,Z0はそれぞれ第2図
(A)〜(D)のメンバーシップ関数のうち、正、負、
ゼロの関数を選択する事を表わす。
if Δeis P and Δuis P and gapis Z0 th
enΔ gapis Z0 if Δei+1 is P and Δuis P and gapis Z0
thenΔ gapis P if Δei-1 is P and Δuis P and gapis Z0
thenΔ gapis N if Δeis N and Δuis N and gapis Z0 th
enΔ gapis Z0 if Δei+1 is N and Δuis N and gapis Z0
then Δ gapis P if Δei+1 is N and Δuis N and gapis Z0
then Δ gapis N 次に、第3図に基づいてこのルールを説明する。第3図
において、Sはスライスリップの開度の操作点、u
はこの操作点Sに対する基準測定点、Mは操作点S
に対応する:現実の測定点、Mi-1 、Mi+1 はその両
隣の測定点である。Mとuの距離はgap に相当す
る。前記ルールは、Δuが正(操作点Sの開度を
開く)のときにΔei+1 が正(Mj+1 における測定値が
増加する)であると、Sに対応する測定点がMi+1
に寄っていることを表わしたものである。ルールは同
様にΔei-1 が増加すると、対応する測定点がMi-1
に寄っていることを表わす。ルール、は操作量が減
少したときの、対応する測定点のずれをルール化したも
のである。また、「 gap is Z0」は第2図(C)から
判るように、絶対値が大きすぎる gapに対してリミッ
タの役割を果たしている。
次に、ファジィ推論の手順を示す。式は、Δe、Δ
は正のメンバーシップ関数、 gapはゼロのメンバ
ーシップ関数を選択して各々のメンバーシップ値を算
出、それらの最小値である真理値に第2図(D)のゼロ
のメンバーシップ関数を適用することを表わす。すなわ
ち、第4図(A)のようにΔeの値eに対してメン
バーシップ値aが求められ、同様に(B)、(C)の
ようにΔu、 gapの値u、gに対してメンバー
シップ値a、aが得られる。次に、(D)のように
最小のメンバーシップ値a(真理値)をΔ gapのゼ
ロのメンバーシップ関数に適用して斜線部の面積S
得る。式は、Δei+1 、Δuは正のメンバーシップ
関数、 gapはゼロのメンバーシップ関数を選択して算
出したメンバーシップ値の真理値に正のメンバーシップ
関数を適用し、式は、Δei-1 、Δuは正のメンバ
ーシップ関数、 gapはゼロのメンバーシップ関数を選
択して算出したメンバーシップ値の真理値に負のメンバ
ーシップ関数を適用することを表わす。また、式は、
Δe、Δuは負のメンバーシップ関数、 gapはゼ
ロのメンバーシップ関数を選択して算出したメンバーシ
ップ値の真理値にゼロのメンバーシップ関数を適用し、
式は、Δei+1 、Δuは負のメンバーシップ関数、
gapはゼロのメンバーシップ関数を選択して算出した
メンバーシップ値の真理値に正のメンバーシップ関数を
適用することを表わす。さらに、式は、Δei-1 、Δ
は負のメンバーシップ関数、 gapはゼロのメンバ
ーシップ関数を選択して算出したメンバーシップ値の真
理値に負のメンバーシップ関数を適用することを表わ
す。演算は第3図で説明したものと同じなので、説明を
省略する。次に、非ファジィ化する為に、この様にして
求めた6つの台形を合成してファジィ集合の和を取り、
その重心を求めてこれをΔ gapi,k とする。このΔ gap
i,k から、次式(6)により位置修正信号 gapi,k を求
めて偏差演算ブロック12に出力する。
gapi,k =(1−α)( gapi,k-1 +Δ gapi,k )+α・ gapi,k-1 ……
(6) α:パラメータ(0<α<1) 偏差演算ブロック12は、基準測定点uに gapi,k
加算した位置を中心とする周辺の測定点の測定値の平均
を位置iにおける測定値とし、全測定点の平均からの偏
差を演算してファジィコントローラ11に出力する。フ
ァジィコントローラ11は適当なファジィルールを用い
て操作量を演算し、プロセス1に出力する。なお、ファ
ジイ推論の方法には前述した方法の外に幾つかの方法が
提案されている。本発明は前述した推論方法に限定され
るものではない。
第5図に位置対応修正ブロック12の動作をまとめたフ
ローチャートを示す。最初に前記(3)、(5)式によ
りΔei-1,k 、Δei,k 、Δei+1,k 、Δui,k が演
算され、 gapと共に位置対応修正ブロック12に入力
される。次に、前記〜式のルール及び第2図のメン
バーシップ関数からメンバーシップ値を算出する。次
に、各ルールの前件部のメンバーシップの値の最小値を
真理値とし、前述した方法でファジィ集合の和をとる。
次に、このファジィ集合を非ファジィ化してΔ gapi,k
を求め、前記(6)式から位置修正信号 gapi,k を算出
する。次に、この位置修正信号に基準測定点を加算した
点を中心とする周辺の測定点の測定値の平均値の偏差を
出力する。この動作は全ての操作点に対応する操作量に
ついて行う。
なお、第1図ではファジィコントローラ11を用いて操
作量を演算するようにしたが、他のコントローラ、例え
ばPIコントローラであってもよい。
また、メンバーシップ関数は第2図に示したものに限ら
ず、条件に応じて適宜選択出来る。非線形なものであっ
てもよい。
さらに、このの実施例では紙の絶乾坪量のプロフィール
制御について説明したが、フィルムや鉄の厚さ制御など
に応用することも出来る。
<発明の効果> 以上説明したように、本発明によれば操作量Δu及び厚
さの測定値の偏差の変化分Δeを用いてファジィ演算を
施して、操作点と測定点の位置対応関係を修正している
ので、位置対応関係が時間的に変化するプロセスであっ
ても長時間安定な制御を実現できるという効果がある。
またこのファジィ演算は、オペレータが行っている適応
則をファジィルールという形式で明文化し、位置対応の
ズレgapに対する適応制御を実現したものである。実務
では適応制御を行うに当たり、どのような変数に着目
し、どのような適応則により制御を行うかが問題とな
る。ここでは、ファジィルールという形式でオペレータ
にとって認識しやすい適応則で表現しているので、ヒュ
ーマンフレンドリーな制御方法となっているという効果
もある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る厚さのプロフィール制御方法を実
現する装置のブロック図、第2図はメンバーシップ関数
の一例を示す特性曲線図、第3図及び第4図はファジィ
ルールを説明する為の図、第5図は位置対応修正ブロッ
クの動作を示すフローチャート、第6図は従来の厚さの
プロフィール制御装置のブロック図である。 10……位置対応修正ブロック、11……ファジィコン
トローラ、12……偏差演算ブロック。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】シートの幅方向の厚さや絶乾坪量のプロフ
    ィールを測定し、この測定したプロフィールに基づいて
    スライスリップの開度のプロフィールを制御すると共
    に、 第i番目のスライスリップを操作したとき、この第i番
    目のスライスリップに対応して定められた幅方向第i番
    目の現実の測定点(Mi)と、この第i番目のスライス
    リップの操作の影響が測定値に対して最大に表れる基準
    の測定点(ui)との距離(gapi)に基づいて、位置対
    応修正値(Δgapi)を演算して位置対応修正信号を求
    め、この位置対応修正信号により操作点と測定点との位
    置対応関係を修正して制御を行う厚さや絶乾坪量のプロ
    フィール制御方法において、 第i番目のスライスリップの開度の操作量差分(Δu
    i,k)に対応して、当該操作の前後における前記厚さや
    絶乾坪量のプロフィール測定値の偏差の変化分(Δe
    i,k)を求める第1の工程と、 第i番目の測定値の偏差の変化分の符号、この第i番目
    又はこれに隣接する第i+1番目若しくは第i−1番目
    のスライスリップの開度の操作量差分の符号、前記現実
    の測定点と基準の測定点との距離、並びに位置対応修正
    値に応じて定められたメンバーシップ関数を複数個予め
    定義し、第1の工程で求めた操作量差分とプロフィール
    測定値の偏差の変化分並びに前記現実の測定点と基準の
    測定点との距離に応じるメンバーシップ値を演算して当
    該メンバーシップ値の真理値を求め、このメンバーシッ
    プ値の真理値に各メンバーシップ関数を適用してファジ
    ィ集合の和をとって重心を求めることにより前記位置修
    正信号を演算する第2の工程と、 を設けたことを特徴とする厚さや絶乾坪量のプロフィー
    ル制御方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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ATE162895T1 (de) * 1992-10-01 1998-02-15 Siemens Ag Vorrichtung zur automatischen führung einer verfahrenstechnischen anlage durch fuzzy- steuerung des prozessführungsraumes, mit bevorzugten verwendungen
US6564117B1 (en) * 2000-06-13 2003-05-13 Abb Automation Inc. Automated optimization of cross machine direction profile control performance for sheet making processes
CN114153139A (zh) * 2021-11-25 2022-03-08 天津市英贝特航天科技有限公司 一种压印设备中薄膜平行度控制方法及装置
CN118700239B (zh) * 2024-06-26 2025-05-27 上海联豪食品有限公司 一种高效切片的切片机控制方法及系统

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6392793A (ja) * 1986-09-30 1988-04-23 横河電機株式会社 絶乾坪量プロフイル測定点決定方法
JPS63276604A (ja) * 1987-05-08 1988-11-14 Mitsubishi Heavy Ind Ltd プロセス制御装置

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