JPH02154094A - 厚さや絶乾坪量のプロフィール制御方法 - Google Patents
厚さや絶乾坪量のプロフィール制御方法Info
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- JPH02154094A JPH02154094A JP30814588A JP30814588A JPH02154094A JP H02154094 A JPH02154094 A JP H02154094A JP 30814588 A JP30814588 A JP 30814588A JP 30814588 A JP30814588 A JP 30814588A JP H02154094 A JPH02154094 A JP H02154094A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、厚さのプロフィールを制御する方法に間し
、特に紙の厚さのプロフィールを制御するのに用いて好
適な厚さのプロフィール制御方法に関するものである。
、特に紙の厚さのプロフィールを制御するのに用いて好
適な厚さのプロフィール制御方法に関するものである。
〈従来技術〉
抄紙機においては、製品である紙の絶乾坪量の幅方向の
プロフィールをＢ／Ｍ計などを用いて測定し、この測定
値と目標値との偏差から操作量を演算して、パルプの吐
出口であるスライスリップの開度のプロフィールを制御
している。すなわち、絶乾坪量のベクトルをｙ、スライ
スリップの開度の操作量ベクトルをｌｕ 、干渉行列を
Ａとすると、ν＝Ａ・１ｕ ・・・・・・・・・（１
）が成立する。ここにおいて、スライスリップのある部
分の開度を変化させると、その周辺の絶乾坪量の値まで
変化する干渉性がある。従って、干渉行列Ａは通常下記
に示すようなバンド対角行列にこの関係から、スライス
リップの開度の操作量の変動分をΔｕ１、絶乾坪量の目
標値と測定値の偏差をΔソとすると、 Δｕ＋＝ＧＣ（ｓ） ・Ｍ・Δｙｙ −＝ （２）Ｇ
ｃ （ｓ ） ： Ｐ Ｉコントローラの伝達関数
Ｍ：非干渉化の為の分配係数行列 が求められ、この式から操作量を演算する０Ｍは通常干
渉行列Ａの逆行列を用いる。
プロフィールをＢ／Ｍ計などを用いて測定し、この測定
値と目標値との偏差から操作量を演算して、パルプの吐
出口であるスライスリップの開度のプロフィールを制御
している。すなわち、絶乾坪量のベクトルをｙ、スライ
スリップの開度の操作量ベクトルをｌｕ 、干渉行列を
Ａとすると、ν＝Ａ・１ｕ ・・・・・・・・・（１
）が成立する。ここにおいて、スライスリップのある部
分の開度を変化させると、その周辺の絶乾坪量の値まで
変化する干渉性がある。従って、干渉行列Ａは通常下記
に示すようなバンド対角行列にこの関係から、スライス
リップの開度の操作量の変動分をΔｕ１、絶乾坪量の目
標値と測定値の偏差をΔソとすると、 Δｕ＋＝ＧＣ（ｓ） ・Ｍ・Δｙｙ −＝ （２）Ｇ
ｃ （ｓ ） ： Ｐ Ｉコントローラの伝達関数
Ｍ：非干渉化の為の分配係数行列 が求められ、この式から操作量を演算する０Ｍは通常干
渉行列Ａの逆行列を用いる。
第６図に、この様な絶乾坪量のプロフィール制御に用い
る制御装置の構成を示す、第６図において、偏差演算ブ
ロック２はプロセス１の出力、すなわち絶乾坪量の測定
値の入力を受け、各操作点に対応する測定点付近の坪量
を平均し、全測定点の坪量の平均値との差を演算し、こ
の値を偏差としてＰＩコントローラ３に出力する。ＰＩ
コントローラ３はこの偏差から操作量を演算し、非干渉
化ブロック４に出力する。非干渉化ブロック４は前記（
２）式の分配係数行列Ｍの演算を行い、最終的な操作量
をプロセス１に出力する。
る制御装置の構成を示す、第６図において、偏差演算ブ
ロック２はプロセス１の出力、すなわち絶乾坪量の測定
値の入力を受け、各操作点に対応する測定点付近の坪量
を平均し、全測定点の坪量の平均値との差を演算し、こ
の値を偏差としてＰＩコントローラ３に出力する。ＰＩ
コントローラ３はこの偏差から操作量を演算し、非干渉
化ブロック４に出力する。非干渉化ブロック４は前記（
２）式の分配係数行列Ｍの演算を行い、最終的な操作量
をプロセス１に出力する。
〈発明が解決すべき課題〉
しかしながら、この様な厚さのプロフィール制御方法で
は干渉行列Ａは確定的なものとして扱っているが、実際
はプロセスが変動してスライスリップの操作点と坪量の
測定点との位置対応関係がずれることがある。この様な
ずれが発生すると、制御が不安定になるという課題があ
った。
は干渉行列Ａは確定的なものとして扱っているが、実際
はプロセスが変動してスライスリップの操作点と坪量の
測定点との位置対応関係がずれることがある。この様な
ずれが発生すると、制御が不安定になるという課題があ
った。
〈発明の目的〉
この発明の目的は、ファジィ制御を応用することにより
、安定な制御を実現出来る厚さのプロフィール制御方法
を提供することにある。
、安定な制御を実現出来る厚さのプロフィール制御方法
を提供することにある。
く課題を解決する為の手段〉
前記課題を解決する為に本発明では、スライスリップの
開度を操作する操作量の変化分及び厚さの測定値の変化
分にファジィルールを適用して位置対応関係のずれを検
出し、この検出値に基づいて前記スライスリップの開度
の操作点と厚さの測定点との位置対応関係を修正するよ
うにしたものである。
開度を操作する操作量の変化分及び厚さの測定値の変化
分にファジィルールを適用して位置対応関係のずれを検
出し、この検出値に基づいて前記スライスリップの開度
の操作点と厚さの測定点との位置対応関係を修正するよ
うにしたものである。
〈実施例〉
第１図に、この発明にかかる厚さのプロフィール制御方
法の一実施例を実施する装置の構成を示す、第１図にお
いて、１０は位置対応修正ブロックであり、プロセス１
の入力である操作量及び出力である絶乾坪量の測定値が
入力され、ファジィルールにより絶乾坪量の測定点とス
ライスリップの開度の操作点の位置対応関係の修正値を
推論して面差演算ブロック１２に出力する。１１はファ
ジィコントローラであり、偏差演算ブロック１２で演算
された偏差が入力され、適当なファジィルールを用いて
操作量を演算してプロセス１に出力する。偏差演算ブロ
ック１２にはまたプセス１からの絶乾坪量の測定値が入
力される。
法の一実施例を実施する装置の構成を示す、第１図にお
いて、１０は位置対応修正ブロックであり、プロセス１
の入力である操作量及び出力である絶乾坪量の測定値が
入力され、ファジィルールにより絶乾坪量の測定点とス
ライスリップの開度の操作点の位置対応関係の修正値を
推論して面差演算ブロック１２に出力する。１１はファ
ジィコントローラであり、偏差演算ブロック１２で演算
された偏差が入力され、適当なファジィルールを用いて
操作量を演算してプロセス１に出力する。偏差演算ブロ
ック１２にはまたプセス１からの絶乾坪量の測定値が入
力される。
次に、位置対応修正ブロック１０の動作を説明する。な
お、添字ｉはスライスリップの開度が操作される位置、
ｋは時点を表わす、まず、入力された絶乾坪量の測定値
から偏差の変化分Δｅｉ、ｋを下記（３）、（４）式か
ら、操作量の差分Δｕｉｋを（５）式から求める。
お、添字ｉはスライスリップの開度が操作される位置、
ｋは時点を表わす、まず、入力された絶乾坪量の測定値
から偏差の変化分Δｅｉ、ｋを下記（３）、（４）式か
ら、操作量の差分Δｕｉｋを（５）式から求める。
Δｅｉ、に＝ｅｉ、ｋ ”ｉ、に−１”””””３）
ｅ・ ＝ａｖ（ｅ）−ｘ・ ・・・・・・（４）
＋、ｋ ｋ ＋、ｋａｖ（ｅ
ｌ＜）：時点ｋにおける絶乾坪量の測定値の平均値 Ｊ ｋ ： ｋ時点における位置ｉの絶乾坪量の測定値 ” ｕｉ、ｋ ” ｕｉ、ｋ ＋、に−１””””
” （５）＋、ｋ 二に時点における位２ｉのスライス
リップの開度の操作量 これらの値を用いて、次の６つのルール及び第２図に示
したメンバーシップ関数によりファジィ推論を実行して
位置対応の出力値を求める６第２図（Ａ）はΔｅ−１Δ
ｅ−、Δｅ、 、（Ｂ）は＋ ＋−１＋
＋１ Δｕ−１（Ｃ）はｑａｐ、（Ｄ ）はΔｑａｐ に対
するメンバーシップ関数を表わす。なお、ΔｅΔｅ
、Δｅ１４１は前記（３）式で求めた位置１及びその両
隣における操作量の差分を表わす。
ｅ・ ＝ａｖ（ｅ）−ｘ・ ・・・・・・（４）
＋、ｋ ｋ ＋、ｋａｖ（ｅ
ｌ＜）：時点ｋにおける絶乾坪量の測定値の平均値 Ｊ ｋ ： ｋ時点における位置ｉの絶乾坪量の測定値 ” ｕｉ、ｋ ” ｕｉ、ｋ ＋、に−１””””
” （５）＋、ｋ 二に時点における位２ｉのスライス
リップの開度の操作量 これらの値を用いて、次の６つのルール及び第２図に示
したメンバーシップ関数によりファジィ推論を実行して
位置対応の出力値を求める６第２図（Ａ）はΔｅ−１Δ
ｅ−、Δｅ、 、（Ｂ）は＋ ＋−１＋
＋１ Δｕ−１（Ｃ）はｑａｐ、（Ｄ ）はΔｑａｐ に対
するメンバーシップ関数を表わす。なお、ΔｅΔｅ
、Δｅ１４１は前記（３）式で求めた位置１及びその両
隣における操作量の差分を表わす。
推論は各時点で行うので、添字のｋは省略しである。ま
た、ｇａｌ） ｉは現在の位置ずれ、Δｇａｔ） ｉは
位置対応修正値である。さらに、Ｐ、Ｎ、２０はそれぞ
れ第２図（Ａ）〜（Ｄ）のメンバーシップ関数のうち、
正、負、ゼロの関数を選択する事を表わす。
た、ｇａｌ） ｉは現在の位置ずれ、Δｇａｔ） ｉは
位置対応修正値である。さらに、Ｐ、Ｎ、２０はそれぞ
れ第２図（Ａ）〜（Ｄ）のメンバーシップ関数のうち、
正、負、ゼロの関数を選択する事を表わす。
■１ｆ Δｅ゛ｉｓ Ｐ ａｎｄΔｕ１ｓ Ｐ ａ
ｎｄ ｇａｐｉｓ７０ ｔｈｅｎ Δ ａａｏ−ｉ
ｓ ７０■１ｆ Ａｅ 、 ｉｓ Ｐ ａｎｄ
Δｕ Ｈｉｓ Ｐ ａｎｄ ｇａｐ１＋１ ｓ ２０ ｔｈｅｎ Δ ａａｐ−ｉｓ ｐ■
ｉｆ Ａｅ−１ｓＰａｎｄ Δｕ 、 ｉｓ Ｐ
ａｎｄ ｇａｐ。
ｎｄ ｇａｐｉｓ７０ ｔｈｅｎ Δ ａａｏ−ｉ
ｓ ７０■１ｆ Ａｅ 、 ｉｓ Ｐ ａｎｄ
Δｕ Ｈｉｓ Ｐ ａｎｄ ｇａｐ１＋１ ｓ ２０ ｔｈｅｎ Δ ａａｐ−ｉｓ ｐ■
ｉｆ Ａｅ−１ｓＰａｎｄ Δｕ 、 ｉｓ Ｐ
ａｎｄ ｇａｐ。
＋−１＋ ＋
ｓ ｚｏ ｔｈｅｎ Δ ｇａｐ、ｉｓ Ｎ■
１ｆ Δｅ−ｉｓ Ｎ ａｎｄ Δｕ 、 ｉ
ｓ Ｎ ａｎｄ （ｌａｐ、ｉｓｌ
１ １２
０ ｔｈｅｎ Δ ｇａｐ、ｉｓ ２０■ｉｆ
Ａｅ 、 ｉｓ Ｎ ａｎｄ Δｕ 、 ｉ
ｓ Ｎ ａｎｄ ｇａｐ１÷１１ ｓＺＯｔｈｅｎ Δ ｇａｐ、ｉｓ Ｐ■１ｆ Ａ
ｅ 、ｉｓ Ｎ ａｎｄ Δｕ −ｉｓ Ｎ ａｎ
ｄ ｇａｐｌ−１１ ｓＺＯｔｈｅｎ Δ ｇａｐ、ｉｓ Ｎ次に、第３
図に基づいてこのルールを説明する。
１ｆ Δｅ−ｉｓ Ｎ ａｎｄ Δｕ 、 ｉ
ｓ Ｎ ａｎｄ （ｌａｐ、ｉｓｌ
１ １２
０ ｔｈｅｎ Δ ｇａｐ、ｉｓ ２０■ｉｆ
Ａｅ 、 ｉｓ Ｎ ａｎｄ Δｕ 、 ｉ
ｓ Ｎ ａｎｄ ｇａｐ１÷１１ ｓＺＯｔｈｅｎ Δ ｇａｐ、ｉｓ Ｐ■１ｆ Ａ
ｅ 、ｉｓ Ｎ ａｎｄ Δｕ −ｉｓ Ｎ ａｎ
ｄ ｇａｐｌ−１１ ｓＺＯｔｈｅｎ Δ ｇａｐ、ｉｓ Ｎ次に、第３
図に基づいてこのルールを説明する。
第３図において、Ｓ はスライスリップの開度の操作点
、Ｕ はこの操作点Ｓ、に対する基準測定点、Ｍｌは操
作点Ｓ１に対応する：現実の測定点、Ｍ・ 、Ｍｉ＋１
はその両隣の測定点である０Ｍ１とｕ ＋の距離はｇａ
ｐに相当する。前記ルール■は、ΔＵ が正（操作点Ｓ
、の開度を開く）のときにＡｅ、 が正（Ｍｊ＋１にお
ける測定値が増加する）１＋１ であると、Ｓｌに対応する測定点がＭ１＋１ 側に寄っ
ていることを表わしたものである。ルール■は同様にΔ
ｅｉ−１が増加すると、対応する測定点がＭＩ−１側に
寄っていることを表わす。ルール■、■は操作量が減少
したときの、対応する測定点のずれをルール化したもの
である。また、ｒ ｇａｐ・ｉｓ ７０Ｊは第２図（Ｃ
）から判るように、絶対値が大きすぎるｇａｐ・に対し
てリミッタの役割を果【 なしている。
、Ｕ はこの操作点Ｓ、に対する基準測定点、Ｍｌは操
作点Ｓ１に対応する：現実の測定点、Ｍ・ 、Ｍｉ＋１
はその両隣の測定点である０Ｍ１とｕ ＋の距離はｇａ
ｐに相当する。前記ルール■は、ΔＵ が正（操作点Ｓ
、の開度を開く）のときにＡｅ、 が正（Ｍｊ＋１にお
ける測定値が増加する）１＋１ であると、Ｓｌに対応する測定点がＭ１＋１ 側に寄っ
ていることを表わしたものである。ルール■は同様にΔ
ｅｉ−１が増加すると、対応する測定点がＭＩ−１側に
寄っていることを表わす。ルール■、■は操作量が減少
したときの、対応する測定点のずれをルール化したもの
である。また、ｒ ｇａｐ・ｉｓ ７０Ｊは第２図（Ｃ
）から判るように、絶対値が大きすぎるｇａｐ・に対し
てリミッタの役割を果【 なしている。
次に、ファジィ推論の手順を示す、０式は、Ａｅ８、Δ
Ｕ ＋は正のメンバーシップ関数、ｇａｐｌ はゼロのメンバーシップ関数を選択して各々のメンバー
シップ値を算出し、それらの最小値である真理値に第２
図（Ｄ）のゼロのメンバーシップ関数を適用することを
表わす、すなわち、第４図（Ａ）のようにＡｅ、の値ｅ
１に対してメンバーシップ値ａ１が求められ、同様に（
Ｂ）、（Ｃ）のようにΔＵ・、ｇａｐ・の値ｕ 、
ｇ １に対してメンバーシップ値ａ２．ａ３が得られる
０次に、（Ｄ）のように最小のメンバーシップ値ａ１
（真理値）をΔｏａｐ Ｈのゼロのメンバーシップ関数
に適用して斜線部の面積Ｓ１を得る。０式は、Δｅ１＋
１、ΔＵ、は正のメンバーシップ関数、ｇａＤ■ はゼロのメンバーシップ関数を選択して算出したメンバ
ーシップ値の真理値に正のメンバーシップ関数を適用し
、０式は、Δｅ−、ΔＵ、は正のメンバーシップ関数、
ｇａｐ・はゼロのメンパージツブ関数を選択して算出し
たメンバーシップ値の真理値に負のメンバーシップ関数
を適用することを表わす、また、■式は、Ａｅ 、ΔＵ
は負のメンバーシップ関数、Ｑａｐ・はゼロのメンパ
ージツー関数を選択して算出したメンバーシップ値の真
理値にゼロのメンバーシップ関数を適用し、０式は、Ａ
ｅ・ 、ΔＵ ＋は負のメンバーシップ関１÷１ 数、ｇａｐ・はぜ口のメンバーシップ関数を選択して算
出したメンバーシップ値の真理値に正のメンバーシップ
関数を適用することを表わす、さらに、■式は、Ａｅ・
、ΔＵ・は負のメンバーシップ関数、ｇａｐ はゼ
ロのメンバーシップ関数を選択して算出したメンバーシ
ップ値の真理値に負のメンバーシップ関数を適用するこ
とを表わす、演算方法は第３図で説明したものと同じな
ので、説明を省略する０次に、非ファジィ化する為に、
この様にして求めた６つの台形を合成してファジィ集合
の和を取り、その重心を求めてこれをΔｇａＤ ｉ 。
Ｕ ＋は正のメンバーシップ関数、ｇａｐｌ はゼロのメンバーシップ関数を選択して各々のメンバー
シップ値を算出し、それらの最小値である真理値に第２
図（Ｄ）のゼロのメンバーシップ関数を適用することを
表わす、すなわち、第４図（Ａ）のようにＡｅ、の値ｅ
１に対してメンバーシップ値ａ１が求められ、同様に（
Ｂ）、（Ｃ）のようにΔＵ・、ｇａｐ・の値ｕ 、
ｇ １に対してメンバーシップ値ａ２．ａ３が得られる
０次に、（Ｄ）のように最小のメンバーシップ値ａ１
（真理値）をΔｏａｐ Ｈのゼロのメンバーシップ関数
に適用して斜線部の面積Ｓ１を得る。０式は、Δｅ１＋
１、ΔＵ、は正のメンバーシップ関数、ｇａＤ■ はゼロのメンバーシップ関数を選択して算出したメンバ
ーシップ値の真理値に正のメンバーシップ関数を適用し
、０式は、Δｅ−、ΔＵ、は正のメンバーシップ関数、
ｇａｐ・はゼロのメンパージツブ関数を選択して算出し
たメンバーシップ値の真理値に負のメンバーシップ関数
を適用することを表わす、また、■式は、Ａｅ 、ΔＵ
は負のメンバーシップ関数、Ｑａｐ・はゼロのメンパ
ージツー関数を選択して算出したメンバーシップ値の真
理値にゼロのメンバーシップ関数を適用し、０式は、Ａ
ｅ・ 、ΔＵ ＋は負のメンバーシップ関１÷１ 数、ｇａｐ・はぜ口のメンバーシップ関数を選択して算
出したメンバーシップ値の真理値に正のメンバーシップ
関数を適用することを表わす、さらに、■式は、Ａｅ・
、ΔＵ・は負のメンバーシップ関数、ｇａｐ はゼ
ロのメンバーシップ関数を選択して算出したメンバーシ
ップ値の真理値に負のメンバーシップ関数を適用するこ
とを表わす、演算方法は第３図で説明したものと同じな
ので、説明を省略する０次に、非ファジィ化する為に、
この様にして求めた６つの台形を合成してファジィ集合
の和を取り、その重心を求めてこれをΔｇａＤ ｉ 。
ｋとする。このΔ（］ａｐｉｋから、次式（６）により
位置修正信号（ｌａＤ Ｈ、Ｈを求めて偏差演算ブロッ
ク１２に出力する。
位置修正信号（ｌａＤ Ｈ、Ｈを求めて偏差演算ブロッ
ク１２に出力する。
Ｑａｐ−（１−ａ＞ （ｇａｐ−十ΔｇａＤｉ ｋ）
＋ ｋ ＋ ｋ−１＋α・ ｇａ
ｐｉ ｋ−１・・・・・・・・・（６）α：パラメータ
（０くαく１） 偏差演算ブロック１２は、基準測定点Ｕ、にｇａｐｌ １、ｋを加算した位置を中心とする周辺の測定点の測定
値の平均を位置ｉにおける測定値とし、全測定点の平均
からの偏差を演算してファジィコントローラー１に出力
する。ファジィコントローラー１は適当なファジィルー
ルを用いて操作量を演算し、プロセス１に出力する。な
お、ファジィ推論の方法には前述した方法の外に幾つか
の方法が提案されている６本発明は前述した推論方法に
限定されるものではない。
＋ ｋ ＋ ｋ−１＋α・ ｇａ
ｐｉ ｋ−１・・・・・・・・・（６）α：パラメータ
（０くαく１） 偏差演算ブロック１２は、基準測定点Ｕ、にｇａｐｌ １、ｋを加算した位置を中心とする周辺の測定点の測定
値の平均を位置ｉにおける測定値とし、全測定点の平均
からの偏差を演算してファジィコントローラー１に出力
する。ファジィコントローラー１は適当なファジィルー
ルを用いて操作量を演算し、プロセス１に出力する。な
お、ファジィ推論の方法には前述した方法の外に幾つか
の方法が提案されている６本発明は前述した推論方法に
限定されるものではない。
第５図に位置対応修正ブロツク１２の動作をまとめたフ
ローチャートを示す、最初に前記（３）、（５）式によ
りΔｅｉ−１ｋ 、Δｅｉｋ、Δ” ｉ＋１３、Δｕｉ
ｋが演算され、ｇａｌｌ ｉと共に位置対応修正ブロッ
ク１２に入力される。次に、前記０〜０式のルール及び
第２図のメンバーシップ関数からメンバーシップ値を算
出する９次に、各ルールの前件部のメンバーシップ値の
最小値を真理値とし、前述した方法でファジィ集合の和
をとる１次に、このファジィ集合を非ファジィ化してΔ
ｇａｐ、を求め、前記（６）式から位置修正信号９ａｐ
、ｋを算出する０次に、この位置修正信号に基準測定点
を加算した点を中心とする周辺の測定点の測定値の平均
値の偏差を出力する。この動作は全ての操作点に対応す
る操作量について行う。
ローチャートを示す、最初に前記（３）、（５）式によ
りΔｅｉ−１ｋ 、Δｅｉｋ、Δ” ｉ＋１３、Δｕｉ
ｋが演算され、ｇａｌｌ ｉと共に位置対応修正ブロッ
ク１２に入力される。次に、前記０〜０式のルール及び
第２図のメンバーシップ関数からメンバーシップ値を算
出する９次に、各ルールの前件部のメンバーシップ値の
最小値を真理値とし、前述した方法でファジィ集合の和
をとる１次に、このファジィ集合を非ファジィ化してΔ
ｇａｐ、を求め、前記（６）式から位置修正信号９ａｐ
、ｋを算出する０次に、この位置修正信号に基準測定点
を加算した点を中心とする周辺の測定点の測定値の平均
値の偏差を出力する。この動作は全ての操作点に対応す
る操作量について行う。
なお、第１図ではファジィコントローラ１１を用いて操
作量を演算するようにしたが、他のコントローラ、例え
ばＰＩコントローラであってもよい また、メンバーシップ関数は第２図に示したものに限ら
ず、条件に応じて適宜選択出来る。非線形なものであっ
てもよい さらに、このの実施例では紙の絶乾坪量のプロフィール
制御について説明したが、フィルムや鉄の厚さ制御など
に応用することも出来る。
作量を演算するようにしたが、他のコントローラ、例え
ばＰＩコントローラであってもよい また、メンバーシップ関数は第２図に示したものに限ら
ず、条件に応じて適宜選択出来る。非線形なものであっ
てもよい さらに、このの実施例では紙の絶乾坪量のプロフィール
制御について説明したが、フィルムや鉄の厚さ制御など
に応用することも出来る。
〈発明の効果〉
以上、実施例に基づいて具体的に説明したように、この
発明では操作量及び厚さの測定値の変化分にファジィル
ールを適用して、操作点と測定点の位置対応関係を修正
するようにした。その為、位置対応関係が時間的に変化
する１０セスであっても、長時間安定な制御を実現する
ことが出来るという効果がある。
発明では操作量及び厚さの測定値の変化分にファジィル
ールを適用して、操作点と測定点の位置対応関係を修正
するようにした。その為、位置対応関係が時間的に変化
する１０セスであっても、長時間安定な制御を実現する
ことが出来るという効果がある。
第１図は本発明に係る厚さのプロフィール制御方法を実
現する装置のブロック図、第２図はメンバーシップ関数
の一例を示す特性曲線図、第３図及び第４図はファジィ
ルールを説明する為の図、第５図は位置対応修正ブロッ
クの動作を示すフローチャート、第６図は従来の厚さの
プロフィール制御装置のブロック図である。 １０・・・位置対応修正ブロック、１１・・・ファジィ
コントローラ、１２・・・偏差演算ブロック。 ・石 １ ′図 第３ 図 ！
現する装置のブロック図、第２図はメンバーシップ関数
の一例を示す特性曲線図、第３図及び第４図はファジィ
ルールを説明する為の図、第５図は位置対応修正ブロッ
クの動作を示すフローチャート、第６図は従来の厚さの
プロフィール制御装置のブロック図である。 １０・・・位置対応修正ブロック、１１・・・ファジィ
コントローラ、１２・・・偏差演算ブロック。 ・石 １ ′図 第３ 図 ！
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 シートの幅方向の厚さのプロフィールを測定し、この測
定したプロフィールに基づいてスライスリップの開度の
プロフィールを制御する厚さのプロフィール制御方法に
おいて、 前記スライスリップの開度を操作する操作量の変化分及
び厚さの測定値の変化分にファジィルールを適用して、
前記スライスリップの開度の操作点と厚さの測定点との
位置対応関係を修正するようにした事を特徴する厚さの
プロフィール制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63308145A JPH0637759B2 (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 厚さや絶乾坪量のプロフィール制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63308145A JPH0637759B2 (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 厚さや絶乾坪量のプロフィール制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02154094A true JPH02154094A (ja) | 1990-06-13 |
| JPH0637759B2 JPH0637759B2 (ja) | 1994-05-18 |
Family
ID=17977432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63308145A Expired - Fee Related JPH0637759B2 (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 厚さや絶乾坪量のプロフィール制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0637759B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0590430A3 (ja) * | 1992-10-01 | 1994-04-27 | Siemens Ag | |
| JP2004503693A (ja) * | 2000-06-13 | 2004-02-05 | エイビービー インコーポレイテッド | シート製造における機械横断プロファイルの制御 |
| CN114153139A (zh) * | 2021-11-25 | 2022-03-08 | 天津市英贝特航天科技有限公司 | 一种压印设备中薄膜平行度控制方法及装置 |
| CN118700239A (zh) * | 2024-06-26 | 2024-09-27 | 上海联豪食品有限公司 | 一种高效切片的切片机控制方法及系统 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS6392793A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-23 | 横河電機株式会社 | 絶乾坪量プロフイル測定点決定方法 |
| JPS63276604A (ja) * | 1987-05-08 | 1988-11-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | プロセス制御装置 |
-
1988
- 1988-12-06 JP JP63308145A patent/JPH0637759B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0637759B2 (ja) | 1994-05-18 |
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