JPH0647880U - 電線の芯線切れ検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】電線端末の裸出芯線部における素線欠損の有無
を検査して、端子圧着部の芯線切れによる不良製品の発
生を未然に防止する。 【構成】電線端末２の移送経路上に、残留被覆部９およ
び裸出芯線部１０の通過時間に対応した長さの通過信号
をそれぞれ出力する光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂを
設けるとともに、残留被覆部９の通過信号の長さと裸出
芯線部１０の通過信号の長さとを比較して、その差が所
定値を超えるときは芯線切れと判定し、所定値以下のと
きは芯線切れなしと判定する判定手段を設ける。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、被覆剥取処理を施して芯線部を裸出させた電線端末のこの芯線部 の芯線切れの有無を検査する電線の芯線切れ検査装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

電線の端末加工に用いられる自動端子圧着装置は、電線端末の被覆を剥取する 処理工程と、この剥取部分に端子を圧着する処理工程とからなる端子圧着処理が 連続して自動的に行うようになされている。

【０００３】 この自動端子圧着装置の処理経路すなわち電線端末の移送経路上には被覆剥取 状態検査装置が配置されていて、電線の被覆剥取処理が良好に行われたかどうか を検査することで、被覆剥取不良による不良製品の発生を未然に防止していた。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

しかし、電線端末の被覆剥取処理が確実に行われていた場合であっても、被覆 剥取処理によって裸出した芯線部が被覆部に切り込むカッタの切り込み強さによ って芯線切れをおこすことがある。

【０００５】 このように芯線切れをおこした電線が次の端子圧着処理工程に移送されてその 電線端末に端子が圧着されると、芯線部が素線の一部を欠損した不良製品となる ので、すべて廃棄されていた。

【０００６】 この考案はこのような従来の事情から見て、裸出芯線部の芯線切れを電線の被 覆剥取処理工程の直後に検知して素線の欠損による不良製品の発生を未然に防止 し、製品の品質向上を図るようにした電線の芯線切れ検査装置を提供することを 目的としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

この考案の電線の芯線切れ検査装置は、被覆剥取処理により裸出された電線端 末の芯線部の芯線切れを端子圧着処理工程前に検査する芯線切れ検査装置であっ て、電線端末の移送経路上に配置され、電線端末の残留被覆部および裸出芯線部 の通過をそれぞれ非接触で検知してこの各通過時間に対応した長さの第一通過信 号および第二通過信号を出力する第一検知手段および第二検知手段と、前記第一 通過信号の長さと第二通過信号の長さとを比較して、その差が所定値を超えると きは芯線切れと判定し、所定値以下のときは芯線切れなしと判定する判定手段と を備えてなるものである。

【０００８】

【作用】

被覆剥取処理工程を終えた電線端末が芯線切れ検査装置の移送経路を通過する とき、電線端末の残留被覆部および芯線部がこの移送経路上に配置された第一検 知手段および第二検知手段によって検知され、この残留被覆部および芯線部の通 過時間に対応した長さの第一通過信号および第二通過信号が出力される。

【０００９】 ここで、芯線部に芯線切れが発生していないときは、第一通過信号の長さと第 二通過信号の長さとの差が所定値以下となり、芯線部に芯線切れが発生している ときは、第一通過信号の長さと第二通過信号の長さとの差が所定値を超えること になる。

【００１０】 判定手段は、第一通過信号の長さと第二通過信号の長さとを比較して、その差 が所定値以下のときは芯線切れなしと判定し、その差が大きくて所定値を超える ときは芯線切れと判定する。

【００１１】 したがって、芯線切れがあるかどうかを端子圧着処理工程に移行する手前で検 知することができるから、不良製品の発生が未然に防止される。

【００１２】

【実施例】 以下、この考案の一実施例につき図面を参照して説明する。

【００１３】 図１ないし図３においてセンサ支持ブロック１は、自動端子圧着装置（全体の 図示省略）の所定位置に配置されていて、電線端末２の移送経路に適応する電線 通過路３を備えて側面形状がコ字形に形成されている。

【００１４】 被覆剥取処理がなされた電線端末２は、一対の搬送爪５ａ，５ｂにより電線端 末２に近い残留被覆部９を把持して図１および図２に示すように、前記移送経路 上を矢印に沿って右側（上流側）から左側（下流側）へ移送されるもので、この 上流側には被覆剥取手段（図示省略）が配置される一方、下流側には端子圧着手 段（図示省略）が配置されている。

【００１５】 前記電線通過路３をはさんで上下に対向する各支持アーム７ａ，７ｂには、移 送経路に沿って移送される電線端末２の残留被覆部９および裸出芯線部１０の通 過位置に適合するように、それぞれ透過式となされた二組の光ファイバセンサ１ ２ａ，１２ｂが備えられていて、非接触で検知可能な第一検知手段および第二検 知手段を構成している。

【００１６】 各ファイバセンサ１２ａ，１２ｂは投光器および受光器からなる光電スイッチ １３ａ，１３ｂと、この光電スイッチ１３ａ，１３ｂの検出ヘッド部にそれぞれ 連結された光ファイバ１４ａ，１４ｂとからなり、各一対の光ファイバ１４ａ， １４ｂが電線通過路３をはさんで光軸が一致するように対向して配置されている 。

【００１７】 こうして光軸が一致していることから、各光電スイッチ１３ａ，１３ｂの投光 器から出た光１６ａ，１６ｂは、常時、一対の各光ファイバ１４ａ，１４ｂを通 じて受光器側に案内される。

【００１８】 いまもし、残留被覆部９および裸出芯線部１０が図３に示すように光１６ａ， １６ｂを遮光すると、各光電スイッチ１３ａ，１３ｂの受光器は検知信号を出力 する。

【００１９】 この検知信号は光１６ａ，１６ｂが遮光されているあいだ継続されるため、そ の長さは、それぞれ残留被覆部９および裸出芯線部１０の通過時間に対応したも のとなる。

【００２０】 このようにして、各光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂから出力された検知信号 は、それぞれ第一通過信号および第二通過信号として後述の処理回路に入力され 、被覆剥取良否および芯線切れ有無の判定のために利用される。

【００２１】 図５に概略を示した処理回路は、図６（Ａ）に示すようなクロックパルスを発 生するクロック発生器１８と、各光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂからの第一通 過信号および第二通過信号を前記クロックとそれぞれＡＮＤ処理をするＡＮＤゲ ート１９ａ，１９ｂと、このＡＮＤゲート１９ａ，１９ｂの出力をそれぞれカウ ントするための各一対のカウンタ２０ａ，２０ｂと、この各カウンタ２０ａ，２ ０ｂの出力カウント値を比較する比較演算回路２１とから構成されたもので、被 覆剥取の良否や芯線切れの有無を判定する判定手段の機能を備えている。

【００２２】 次に、上記実施例の動作および作用について説明する。

【００２３】 （１）被覆剥取が良好で、裸出芯線部が正常であるとき この場合、光ファイバセンサ１２ａから出力される第一通過信号は図６（Ｂ） に示すようになり、また、光ファイバセンサ１２ｂから出力される第二通過信号 は図６（Ｄ）に実線で示すようになる。この各通過信号の時間幅は図２に示す残 留被覆部９および裸出芯線部１０の矢印に沿った横幅に対応している。

【００２４】 ＡＮＤゲート１９ａにおいては、図６（Ａ）のクロック信号と図６（Ｂ）の第 一通過信号とを受けてＡＮＤ処理をなし、図６（Ｃ）に示す信号を出力する。ま た、ＡＮＤゲート１９ｂにおいては、図６（Ａ）のクロック信号と図６（Ｄ）の 実線で示す第二通過信号とを受けてＡＮＤ処理をなし、図６（Ｅ）に実線で示す 信号を出力する。これらＡＮＤゲート１９ａ，１９ｂの出力信号に含まれている パルス数は、それぞれの通過信号の時間幅に比例している。

【００２５】 この各パルス数はそれぞれカウンタ２０ａ，２０ｂにおいてカウントされ、そ のカウント値は比較演算回路２１に入力される。比較演算回路２１はこの両カウ ント値を比較して両者の差が所定値よりも大きいかどうかを判定する。この差が 所定値を超えるときは、残留被覆部９と裸出芯線部１０との間でその横幅に充分 な差があることから、被覆剥取が良好に行われたということが判る。したがって 、この場合は比較演算回路２１から剥取良および芯線切れなしを示す判定信号が 出力される。

【００２６】 一方、前記の差が所定値と比較して小さいときは、残留被覆部９と裸出芯線部 １０との間でその横幅にほとんど差がないことから、被覆剥取が良好に行われて いないということが判る。したがって、この場合は比較演算回路２１から剥取不 良を示す判定信号が出力される。この意味で、前記所定値をたとえば８とすれば 、両カウント値の差がこの所定値以下であるか否かを判定することになる。この ほかに、電線の形状に応じて適当な所定値を予め設定するようにしてもよい。

【００２７】 所定値を上記のように８と仮定すると、図６（Ｃ）および図６（Ｅ）に実線で 示すＡＮＤゲート１９ａ，１９ｂの出力パルス数はそれぞれ１６および８である から、比較演算回路２１は、各通過信号の長さの差（１６−８＝８）を所定値以 下と判定して剥取良および芯線切れなしの判定信号を出力する。

【００２８】 （２）被覆剥取が不良であるとき この場合、裸出を必要とする芯線部１０に被覆がついたままになっていて、光 ファイバセンサ１２ｂから出力される第二通過信号は、図６（Ｂ）の第一通過信 号と同様の時間幅のものとなる。したがって、図６（Ｅ）に二点鎖線で示すよう にＡＮＤゲート１６ｂの出力パルス数（＝１６）は、図６（Ｃ）に示すＡＮＤゲ ート１９ａの出力パルス数（＝１６）と等しくなるから、比較演算回路２１は、 カウント差なし（１６−１６＝０）と判定して剥取不良の判定信号を出力する。

【００２９】 （３）裸出芯線部の素線が欠損しているとき この場合、光ファイバセンサ１２ｂから出力される第二通過信号は図６（Ｈ） に実線で示すように素線が欠損した裸出芯線部１０を検知して時間幅の若干短い ものとなる。したがって、図６（Ｃ）に実線で示すＡＮＤゲート１９ａの出力パ ルス数（＝１６）と、図６（Ｉ）に示すＡＮＤゲート１９ｂの出力パルス数（＝ ６）との差（１６−６＝１０）が大きくなり、比較演算回路２１は所定値を超え る（１０＞８）と判断して芯線切れを示す判定信号を出力する。

【００３０】 以上のようにして得られた被覆剥取の良否を示す判定信号や、芯線切れの有無 を示す判定信号は、所定の制御を行うために利用される。たとえば、剥取不良も しくは芯線切れの判定信号に応答して自動端子圧着装置の作動の非常停止をして 不良電線の手動除去を可能とするとともに、警報器を作動させて作業員に剥取不 良や芯線切れを通報することもできる。また、各判定信号に応答して不良電線が 自動的に選別して除去されるように自動端子圧着装置を構成してもよい。

【００３１】 図７および図８に示す処理回路は他の実施例としても判定手段であって、図５ における処理回路が残留被覆部９、裸出芯線部１０の時間幅をデジタル値（パル ス数）に変換したのに対し、各時間幅を積分回路２３ａ，２３ｂを介してアナロ グ値（電圧値）に変換するものである。

【００３２】 図７に示す実施例では、積分回路２３ａ，２３ｂは光ファイバセンサ１２ａ， １２ｂから図６（Ｂ）の第一通過信号と図６（Ｄ），（Ｆ）の第二通過信号とを 受けて各通過信号を積分し、この各通過信号の時間幅に対応した電流値に変換し て、この各電圧値が電圧比較器２４に入力される。

【００３３】 電圧比較器２４はこの各電圧値を比較して、その差が所定値以下のときは剥取 良および芯線切れなしを示す判定信号を出力し、その差が所定値を超えるときは 芯線切れを示す判定信号を出力する。この比較動作は上述の比較演算回路２１の 場合と同様であってその説明を省略する。

【００３４】 図８に示す実施例は、積分回路２３ａ，２３ｂから出力する各電圧値をそれぞ れＡ／Ｄ変換器２５ａ，２５ｂを経てデジタル値に変換したのちに、これらを比 較するものであって、Ａ／Ｄ変換器２５ａ，２５ｂの出力デジタル値は、図６（ Ｂ）の第一通過信号と図６（Ｄ），（Ｆ）の第二通過信号との時間幅にそれぞれ 対応し、比較演算回路２６はこの各デジタル値に基づいて上述と同様の比較動作 を行って被覆剥取の良否および芯線切れの有無を示す判定信号を出力する。

【００３５】 上記の各実施例においては、二組の光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂを用いて 電線端末２の被覆剥取の良否および芯線切れの有無が同じ通過位置で検知可能な 構造となされていることから、自動端子圧着装置全体がコンパクトになる。

【００３６】 また、各通過信号を出力するための検知手段として透過式の光ファイバセンサ １２ａ，１２ｂを用いた構造を示しているが、これに代えてたとえば、反射形の 光電スイッチを適用してもよい。

【００３７】 なお、被覆剥取の良否を判定する検知装置と芯線切れの有無を判定する検知装 置とを別構造となし、電線端末２の移送経路に沿って順に配設したものであって もよい。

【００３８】

【考案の効果】

この考案の電線の芯線切れ検査装置は、電線端末の移送経路上に配置され、電 線端末の残留被覆部および裸出芯線部の通過をそれぞれ非接触で検知してこの各 通過時間に対応した長さの第一通過信号および第二通過信号をそれぞれ出力する 第一検知手段および第二検知手段と、前記第一通過信号の長さと第二通過信号の 長さとを比較して、その差が所定値を超えるときは芯線切れと判定し、所定値以 下のときは芯線切れなしと判定する判定手段とを備えてなるものであるから、裸 出芯線部の素線を欠損した芯線切れ状態の電線を速やかに検知して処置すること ができる。

【００３９】 したがって、不良製品の発生を未然に防止して製品の品質と生産性とがともに 向上するという優れた利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】芯線切れ検査装置のセンサ支持ブロックの斜視
図である。

【図２】センサ支持ブロックの支持アームまわりを拡大
した平面図である。

【図３】図２の光ファイバセンサまわりを示す側面図で
ある。

【図４】芯線切れ状態の電線端末の平面図である。

【図５】処理回路の概要を示すブロック図である。

【図６】図５の各部の波形図である。

【図７】処理回路の他の実施例の概要を示すブロック図
である。

【図８】処理回路の他の実施例の概要を示すブロック図
である。

【符号の説明】

２ 電線端末 ９ 被覆残留部 １０ 裸出芯線部 １２ａ，１２ｂ 光ファイバセンサ １８ クロック発生器 １９ａ，１９ｂ ＡＮＤゲート ２０ａ，２０ｂ カウンタ ２１，２６ 比較演算回路

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 被覆剥取処理により裸出された電線端末
   の芯線部の芯線切れを端子圧着処理工程前に検査する芯
   線切れ検査装置であって、 電線端末の移送経路上に配置され、電線端末の残留被覆
   部および裸出芯線部の通過をそれぞれ非接触で検知して
   この各通過時間に対応した長さの第一通過信号および第
   二通過信号を出力する第一検知手段および第二検知手段
   と、 前記第一通過信号の長さと第二通過信号の長さとを比較
   して、その差が所定値を超えるときは芯線切れと判定
   し、所定値以下のときは芯線切れなしと判定する判定手
   段とを備えてなることを特徴とする電線の芯線切れ検査
   装置。