JPH0574119U - 電線の端末処理状態検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 電線端末２における裸出芯線部１０の広がり
を検査して、端子圧着部からの素線のはみ出しによる不
良製品の発生を未然に防止する電線の端末処理状態検査
装置を提供する。 【構成】 電線端末２の移送経路上に、裸出芯線部１０
の基端部１０ａおよび先端部１０ｂの通過の時間に対応
した長さの通過信号をそれぞれ与える光ファイバセンサ
１２ａ，１２ｂ，１２ｃを設ける。基端部通過信号と先
端部通過信号の長さを比較して、その差が所定値より大
きいとき芯線状態不良と判定し、所定値以下のとき芯線
状態良と判定する処理回路を設ける。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、被覆剥取処理を施して芯線部を裸出させた電線端末の芯線部の状態 を検査する電線の端末処理状態検査装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

電線端末の被覆を剥取る処理工程と、その剥取部分に端子を圧着する処理工程 とからなる端子圧着処理を連続かつ自動的に行うように構成された自動端子圧着 装置がある。そして自動端子圧着装置の処理経路（電線端末の移送経路）上に被 覆剥取状態検査装置が配置され、電線の被覆剥取処理が良好に行われたかどうか を検査し、被覆剥取不良による不良製品の発生を未然に防止していた。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、電線端末の被覆剥取処理が確実に行われていた場合であっても 、被覆剥取処理によって裸出された芯線部が、被覆剥取処理時や移送時における 他の部材との接触等によってバラケが生じ、先端部側が広がっている場合がある 。

【０００４】 この裸出芯線部のバラケ状態で、端子圧着処理工程により端子の圧着が行われ た場合に、芯線部を構成する素線の一部が端子の圧着部からはみ出すことがあり 、製品の品質の低下を招くおそれがあった。

【０００５】 そこで、本考案は上記問題点に鑑み、裸出芯線部の広がりを検知して素線のは み出しによる不良製品の発生を未然に防止し、製品の品質向上を図る電線の端末 処理状態検査装置を提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するための技術的手段は、被覆剥取処理により裸出された電線 端末の芯線部の状態を端子圧着処理工程前に検査する電線の端末処理状態検査装 置であって、電線端末の移送経路上に配置されて、電線端末の裸出芯線部の残留 被覆部側基端部および他端側先端部の通過をそれぞれ非接触で検知し、該通過の 時間に対応した長さの第１および第２の通過信号をそれぞれ与える第１および第 ２の検知手段と、前記第１および第２の通過信号の長さを比較して、その差が所 定値より大きいとき芯線状態不良と判定し、所定値以下のとき芯線状態良と判定 する判定手段とを備えてなる点にある。

【０００７】

【作用】

本考案によれば、被覆剥取処理により裸出された電線端末の芯線部が、移送経 路上において、第１および第２の検知手段によって検知され、その裸出芯線部の 残留被覆部側基端部および他端側先端部の通過の時間に対応した長さの第１およ び第２の通過信号が導出される。

【０００８】 この際、裸出芯線部の先端部側が広がっていない場合には、第１および第２の 通過信号の長さの差は小さく、逆に、裸出芯線部の先端部側が広がっている場合 には、第１および第２の通過信号の長さの差は大きくなる。

【０００９】 そして、判定手段は、第１および第２の通過信号の長さを比較して、その差が 所定値より大きいとき芯線状態不良と判定し、所定値以下のとき芯線状態良と判 定する。

【００１０】 ここに、芯線状態不良の電線が検知でき、不良製品の発生を未然に防止できる 。

【００１１】

【実施例】

以下、本考案の第１実施例を図面に基づいて説明すると、図１乃至図３におい て、１はセンサ支持ブロックで、自動端子圧着装置の所定位置に配置されており 、電線端末２の移送経路に対応した電線通過路３を備えた側面視コ字状に形成さ れている。

【００１２】 一方、被覆剥取処理が施された電線端末２は、対の搬送爪５ａ，５ｂにより根 元を把持されて、図１および図２に示される如く、処理のための移送経路上を矢 印で示す如く右側（上流）から左側（下流）へと移送される。例えば、前述の自 動端子圧着装置であれば、図示の上流側には被覆剥取処理部が存在し、下流側に は端子圧着処理部が存在する。

【００１３】 センサ支持ブロック１の電線通過路３をはさんで上下に対向する各支持アーム ７ａ，７ｂには、移送経路に沿って移送される電線端末２の残留被覆部９、裸出 芯線部１０の残留被覆部９側基端部１０ａおよび他端側先端部１０ｂの通過位置 に対応してそれぞれ透過式の光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂ，１２ｃが備えら れており、非接触で検知する第１，第２，第３の検知手段を構成している。

【００１４】 各光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂ，１２ｃは投光器、受光器の対からなる光 電スイッチ１３ａ，１３ｂ，１３ｃと、各光電スイッチ１３ａ，１３ｂ，１３ｃ の検出ヘッド部にそれぞれ連結された光ファイバ１４ａ，１４ｂ，１４ｃとから なり、それぞれの対の光ファイバ１４ａ，１４ｂ，１４ｃが電線通過路３をはさ んで、光軸が一致するように対向して配置されている。そして光軸が一致してい るため、各光電スイッチ１３ａ，１３ｂ，１３ｃの投光器から出た光１６ａ，１ ６ｂ，１６ｃは、対の各光ファイバ１４ａ，１４ｂ，１４ｃを通じて常時は受光 器側に案内されるが、図３に示される如く、残留被覆部９および裸出芯線部１０ がこの光１６ａ，１６ｂ，１６ｃを遮光すると、各光電スイッチ１３ａ，１３ｂ ，１３ｃの受光器は検知信号を生じる。これらの検知信号は光１６ａ，１６ｂ， １６ｃが遮光されている間継続するため、その長さはそれぞれ、残留被覆部９， 裸出芯線部１０の基端部１０ａおよび先端部１０ｂの通過の時間と対応したもの となる。

【００１５】 このようにして各光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂ，１２ｃから導出された検 知信号は、それぞれ残留被覆部通過信号、裸出芯線部１０の基端部通過信号およ び先端部通過信号として後述の処理回路に与えられ、被覆剥取良否および芯線状 態良否の判定のための利用に供される。

【００１６】 図６はそのような処理回路を示す概略ブロック図であり、その各部の波形を図 ７の波形図に示す。処理回路は、図７（Ａ）に示すクロックパルスを発生するク ロック発生器１８と、各光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂ，１２ｃからの残留被 覆部通過信号、裸出芯線部１０の基端部通過信号および先端部通過信号を上記ク ロックとそれぞれＡＮＤ処理するＡＮＤゲート１９ａ，１９ｂ，１９ｃと、各Ａ ＮＤゲート１９ａ，１９ｂ，１９ｃの出力をそれぞれカウントするカウンタ２０ ａ，２０ｂ，２０ｃと、それぞれ対となるカウンタ２０ａ，２０ｂ，およびカウ ンタ２０ｂ，２０ｃの各出力カウント値をそれぞれ比較する比較演算回路２１ａ ，２１ｂとから構成されており、被覆剥取の良否および芯線状態の良否を判定す る判定手段として機能する。

【００１７】 まず第一に、被覆剥取が良好な場合の動作について述べれば、この場合光ファ イバセンサ１２ａから導出される残留被覆部通過信号は図７（Ｂ）に示す如くな り、光ファイバセンサ１２ｂから導出される裸出芯線部１０の基端部通過信号は 図７（Ｄ）実線に示す如くなる。尚通過信号の時間幅は図２に示す残留被覆部９ および裸出芯線部１０の基端部１０ａの横幅に対応するものである。

【００１８】 ＡＮＤゲート１９ａは、図７（Ａ）のクロック信号と図７（Ｂ）の残留被覆部 通過信号とを受けてＡＮＤ処理し、図７（Ｃ）に示す信号を出力する。またＡＮ Ｄゲート１９ｂは、図７（Ａ）のクロック信号と図７（Ｄ）実線の基端部通過信 号とを受けてＡＮＤ処理し、図７（Ｅ）実線に示す信号を出力する。これらＡＮ Ｄゲート１９ａ，１９ｂの出力信号に含まれているパルス数は、それぞれの通過 信号の時間幅に比例している。

【００１９】 これらのパルス数はカウンタ２０ａ，２０ｂにおいてそれぞれカウントされ、 そのカウント値は比較演算回路２１ａに与えられる。比較演算回路２１ａは両カ ウント値を比較し、その差が所定値よりも大きいかどうかを判定する。差が所定 値よりも大きいときは、残留被覆部９と裸出芯線部１０とでその横幅に十分な差 があり、被覆剥取が良好に行われたということがわかる。従ってこの場合は、比 較演算回路２１ａから剥取良を示す判定信号が出力される。一方、差が所定値以 下のときは、残留被覆部９と裸出芯線部１０とでその横幅に十分な差がなく、被 覆剥取が良好に行われていないということがわかる。従ってこの場合は、比較演 算回路２１ａから剥取不良を示す判定信号が出力される。例えば上記所定値とし て最も簡単にゼロを選択すれば、両カウント値が等しいか否かにより剥取の良否 を判定することになる。もちろん、電線の形状に応じて、適当な所定値を予め設 定するようにしてもよい。

【００２０】 いま、所定値としてゼロを選択していると仮定すれば、図７（Ｃ）および図７ （Ｅ）実線に示すＡＮＤゲート１９ａ，１９ｂの出力パルス数はそれぞれ１６お よび８であるので、比較演算回路２１ａは１６−８＞０つまり１６＞８と判定し 、剥取良を示す判定信号を出力する。

【００２１】 次に、被覆剥取が不良な場合について述べる。この場合は裸出すべき芯線部１ ０に被覆がついたままになっており、光ファイバセンサ１２ｂから導出される裸 出芯線部１０の基端部通過信号は、図７（Ｄ）２点鎖線に示す如く、図７（Ｂ） の残留被覆部通過信号と同様の時間幅のものとなる。従って図７（Ｅ）２点鎖線 に示すように、ＡＮＤゲート１９ｂの出力パルス数（＝１６）は、図７（Ｃ）に 示すＡＮＤゲートー１９ａの出力パルス数（＝１６）と等しくなる。そして比較 演算回路２１ａは１６−１６＝０つまり１６＝１６と判定し、剥取不良を示す判 定信号を出力する。

【００２２】 さらに、裸出芯線部１０の芯線状態が良好な場合の動作について述べれば、こ の場合光ファイバセンサ１２ｂから導出される裸出芯線部１０の基端部通過信号 は図７（Ｄ）実線に示す如くなり、光ファイバセンサ１２ｃから導出される裸出 芯線部１０の先端部通過信号は図７（Ｆ）に示す如くなる。両通過信号の時間幅 は図２に示す裸出芯線部１０の基端部１０ａおよび先端部１０ｂの横幅に対応す るものである。

【００２３】 ＡＮＤゲート１９ｂは、図７（Ａ）のクロック信号と図７（Ｄ）実線の基端部 通過信号とを受けてＡＮＤ処理し、図７（Ｅ）実線に示す信号を出力する。また ＡＮＤゲート１９ｃは、図７（Ａ）のクロック信号と図７（Ｆ）の先端部通過信 号とを受けてＡＮＤ処理し、図７（Ｇ）に示す信号を出力する。これらＡＮＤゲ ート１９ｂ，１９ｃの出力信号に含まれているパルス数は、それぞれの通過信号 の時間幅に比例している。

【００２４】 これらのパルス数はカウンタ２０ｂ，２０ｃにおいてそれぞれカウントされ、 そのカウント値は比較演算回路２１ｂに与えられる。比較演算回路２１ｂは両カ ウント値を比較し、その差が所定値よりも大きいかどうかを判別する。差が所定 値以下のときは、裸出芯線部１０の基端部１０ａと先端部１０ｂとでその横幅に 十分な差がなく、ここに裸出芯線部１０にバラケによる広がりが生じておらず、 芯線状態が良好であるということがわかる。従ってこの場合は、比較演算回路２ １ｂから芯線状態良を示す判定信号が出力される。一方、差が所定値よりも大き いときは、基端部１０ａと先端部１０ｂとでその横幅に十分な差があり、ここに 裸出芯線部１０にバラケによる広がりが生じており、芯線状態が不良であるとい うことがわかる。従ってこの場合は、比較演算回路２１ｂから芯線状態不良を示 す判定信号が出力される。例えば上記所定値として２を選択すれば、両カウント 値が２より大きいか小さいかにより芯線状態の良否を判定することになる。もち ろん、電線の形状に応じて、適当な所定値を予め設定するようにしてもよい。

【００２５】 いま、所定値として２を選択していると仮定すれば、図７（Ｅ）実線および図 ７（Ｇ）に示すＡＮＤゲート１９ｂ，１９ｃの出力パルス数はそれぞれ８である ので、比較演算回路２１ｂは８−８＝０≦２と判定し、芯線状態良を示す判定信 号を出力する。

【００２６】 次に、図４に示される如く、裸出芯線部１０がバラケ状態となっている芯線状 態が不良な場合について述べる。この場合、基端部１０ａ側は残留被覆部９によ り広がりが規制されているため、光ファイバセンサ１２ｂから導出される基端部 通過信号は図７（Ｄ）実線に示す如く前述同様であり、一方、先端部１０ｂは広 がっているため、光ファイバセンサ１２ｃから導出される先端部通過信号は図７ （Ｈ）に示す如く、時間幅が広くなる。従って図７（Ｅ）実線に示すＡＮＤゲー ト１９ｂの出力パルス数（＝８）と、図７（Ｉ）に示すＡＮＤゲート１９ｃの出 力パルス数（＝１４）との差が大きくなる。ここに比較演算回路２１ｂは１４− ８＝６＞２と判定し、芯線状態不良を示す判定信号を出力する。

【００２７】 なお、図５に示される如く、裸出芯線部１０の一部が広がった状態にあっては 、光ファイバセンサ１２ｃから導出される先端部通過信号は図７（Ｊ）に示す如 く、広がった一部のみを検知し、時間幅が短いものとなる。従って図７（Ｅ）実 線に示すＡＮＤゲート１９ｂの出力パルス数（＝８）と、図７（Ｋ）に示すＡＮ Ｄゲート１９ｃの出力パルス数（＝１）との差が大きくなり、比較演算回路２１ ｂは８−１＝７＞２と判定し、芯線状態不良を示す判定信号を出力する。

【００２８】 以上のようにして得られた被覆剥取の良否を示す判定信号や、芯線状態の良否 を示す判定信号は、所定の制御を行うために利用される。例えば、剥取不良もし くは芯線状態不良のいずれかの不良を示す判定信号に応答して、自動端子圧着装 置の作動を非常停止して不良電線を手動除去可能とすると共に、警報器を作動さ せてオペレータに剥取不良や芯線状態不良の不良状態を通報するようにしてもよ い。また例えば、剥取不良もしくは芯線状態不良のいずれかの不良を示す判定信 号に応答して不良電線が自動的に選別除去されるよう、自動端子圧着装置を構成 することも可能である。

【００２９】 図８および図９は、判定手段としての処理回路の別の実施例を示す概略ブロッ ク図である。これらの処理回路は、図６の処理回路が残留被覆部９、裸出芯線部 １０のそれぞれの幅をディジタル値（パルス数）に変換したのに対し、これらの 幅を積分回路２３ａ，２３ｂ，２３ｃを通じてアナログ値（電圧値）に変換する ものである。

【００３０】 図８の実施例において、積分回路２３ａ，２３ｂ，２３ｃは光ファイバセンサ １２ａ，１２ｂ，１２ｃから図７（Ｂ），（Ｄ），（Ｆ）の通過信号をそれぞれ 受けてこれを積分し、各通過信号の時間幅に対応した大きさの電圧値に変換する 。これらの電圧値は、電圧比較器２４ａ，２４ｂに与えられる。一方の電圧比較 器２４ａはこれらの電圧値を比較し、その差が所定値よりも大きいときは剥取良 を示す判定信号を出力し、所定値以下のときは剥取不良を示す判定信号を出力し 、他方の電圧比較器２４ｂはこれらの電圧値を比較し、その差が所定値以下のと きは芯線状態良を示す判定信号を出力し、所定値よりも大きいときは芯線状態不 良を示す判定信号を出力する。この比較は前述した比較演算回路２１ａ，２１ｂ における比較と同様であり、その説明は省略する。

【００３１】 図９の実施例は、図８の実施例と類似しているが、積分回路２３ａ，２３ｂ， ２３ｃの出力電圧値をそれぞれＡ／Ｄ変換器２５ａ，２５ｂ，２５ｃを通じてデ ィジタル値に変換した後にこれらを比較するものであるという点において、図８ の実施例と異なっている。Ａ／Ｄ変換器２５ａ，２５ｂ，２５ｃの出力ディジタ ル値は、図７（Ｂ），（Ｄ），（Ｆ）に示す光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂ， １２ｃからの各通過信号の時間幅とそれぞれ対応したものとなり、比較演算回路 ２６ａ，２６ｂはこれらのディジタル値について前述と同様の比較動作を行い、 被覆剥取の良否および芯線状態の良否を示す判定信号を出力する。

【００３２】 上記各実施例において、３組の光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂ，１２ｃを用 いて、電線端末２の被覆剥取の良否および芯線状態の良否を同じ通過位置で検知 する構造としているため、装置全体のコンパクト化が図れる。

【００３３】 しかしながら、被覆剥取の良否を判定する検知装置と芯線状態の良否を判定す る検知装置とを別構造とし、電線端末２の移送経路に沿って順に配設する構造で あってもよい。

【００３４】 また、上記各実施例において、通過信号を導出するための検知手段として透過 式の光ファイバセンサ１２ａ，１２ｂ，１２ｃを用いた構造を示しているが、残 留被覆部９，裸出芯線１０の通過を非接触で検知し、該通過の時間に対応した長 さの通過信号を出力し得る検知手段であればよく、例えば反射形の光電スイッチ であってもよい。

【００３５】

【考案の効果】

以上のように、本考案の電線の端末処理状態検査装置によれば、電線端末の移 送経路上に配置されて、電線端末の裸出芯線部の残留被覆部側基端部および他端 側先端部の通過をそれぞれ非接触で検知し、該通過の時間に対応した長さの第１ および第２の通過信号をそれぞれ与える第１および第２の検知手段と、前記第１ および第２の通過信号の長さを比較して、その差が所定値より大きいとき芯線状 態不良と判定し、所定値以下のとき芯線状態良と判定する判定手段とを備えてな るものであり、裸出芯線部が広がった芯線状態不良の電線が予め検知でき、端子 圧着部からの素線のはみ出しによる不良製品の発生を未然に防止でき、ここに製 品の品質向上を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示す要部斜視図である。

【図２】同概略平面説明図である。

【図３】同概略側面説明図である。

【図４】芯線状態不良の電線端末平面図である。

【図５】芯線状態不良の電線端末平面図である。

【図６】処理回路を示す概略ブロック図である。

【図７】図６各部の波形図である。

【図８】処理回路の別の実施例を示す概略ブロック図で
ある。

【図９】処理回路の別の実施例を示す概略ブロック図で
ある。

【符号の説明】

２ 電線端末 ９ 残留被覆部 １０ 裸出芯線部 １０ａ 基端部 １０ｂ 先端部 １２ａ，１２ｂ，１２ｃ 光ファイバセンサ １８ クロック発生器 １９ａ，１９ｂ，１９ｃ ＡＮＤゲート ２０ａ，２０ｂ，２０ｃ カウンタ ２１ａ，２０ｂ 比較演算回路

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 被覆剥取処理により裸出された電線端末
   の芯線部の状態を端子圧着処理工程前に検査する電線の
   端末処理状態検査装置であって、 電線端末の移送経路上に配置されて、電線端末の裸出芯
   線部の残留被覆部側基端部および他端側先端部の通過を
   それぞれ非接触で検知し、該通過の時間に対応した長さ
   の第１および第２の通過信号をそれぞれ与える第１およ
   び第２の検知手段と、 前記第１および第２の通過信号の長さを比較して、その
   差が所定値より大きいとき芯線状態不良と判定し、所定
   値以下のとき芯線状態良と判定する判定手段とを備えて
   なることを特徴とする電線の端末処理状態検査装置。