JPH065215B2 - テ−プ状記録体の検査装置 - Google Patents
テ−プ状記録体の検査装置Info
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- JPH065215B2 JPH065215B2 JP60118544A JP11854485A JPH065215B2 JP H065215 B2 JPH065215 B2 JP H065215B2 JP 60118544 A JP60118544 A JP 60118544A JP 11854485 A JP11854485 A JP 11854485A JP H065215 B2 JPH065215 B2 JP H065215B2
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- JP
- Japan
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- tape
- recording medium
- shaped recording
- scratch
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- Prior art date
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［技術分野］ 本発明は、磁気テープあるいは映画フィルムのように一
定方向へのみ走向するテープ状記録体表面の傷・模様を
検査する装置に関するものである。
定方向へのみ走向するテープ状記録体表面の傷・模様を
検査する装置に関するものである。
更に詳述すれば、本発明は、テープ状記録体の品質を管
理するために、記録体表面に付けられた傷・模様（殊に
テープ走行方向に向かう継続した傷・模様）を非接触の
光学的手段を用いて検出するようにした検査装置に関す
るものである。
理するために、記録体表面に付けられた傷・模様（殊に
テープ走行方向に向かう継続した傷・模様）を非接触の
光学的手段を用いて検出するようにした検査装置に関す
るものである。
［従来技術］ ビデオテープなどの記録体は、その使用を重ねるにつれ
て、表面に多数の傷が生じる。この傷は、ビデオテープ
の表面に貼着されている磁性体の部分的欠落（ランダム
なドロップアウト）や、テープの走行方向に向かって継
続して生じる所謂“引っかき傷”（規則性のあるドロッ
プアウト）に大別することができる。
て、表面に多数の傷が生じる。この傷は、ビデオテープ
の表面に貼着されている磁性体の部分的欠落（ランダム
なドロップアウト）や、テープの走行方向に向かって継
続して生じる所謂“引っかき傷”（規則性のあるドロッ
プアウト）に大別することができる。
一般に、前者のランダムなドロップアウトは、それが生
じる画面上の位置や時刻が不規則であるので、通常知ら
れている電気的ドロップアウト補償回路等を用いて適宜
補償を行うことが可能である。
じる画面上の位置や時刻が不規則であるので、通常知ら
れている電気的ドロップアウト補償回路等を用いて適宜
補償を行うことが可能である。
これに対し、後者のドロップアウト（例えば継続的な引
っかき傷など）は、画面上の同じ位置に対して継続的な
障害を生じさせる。とりわけ、画像信号を記録するため
のトラックがテープの走行方向に対して一定の角度をも
って傾いているヘリカル方式や、固定ヘッド方式を用い
る場合には、補償不能な重大な障害となってしまう。
っかき傷など）は、画面上の同じ位置に対して継続的な
障害を生じさせる。とりわけ、画像信号を記録するため
のトラックがテープの走行方向に対して一定の角度をも
って傾いているヘリカル方式や、固定ヘッド方式を用い
る場合には、補償不能な重大な障害となってしまう。
しかも、この後者の引っかき傷（すなわち、テープの走
行方向に平行もしくはほぼ平行な線状の傷）はゴミやそ
の他の機械的原因により無意識のうちに付けられるの
で、事前に認識されることがなく、実際に記録した映像
を再生してみて始めて認識されるものである。
行方向に平行もしくはほぼ平行な線状の傷）はゴミやそ
の他の機械的原因により無意識のうちに付けられるの
で、事前に認識されることがなく、実際に記録した映像
を再生してみて始めて認識されるものである。
このようなことから、テレビ番組などの制作現場では、
この種のトラブルを未然に防止するための新規手段の開
発が切望されている現状である。
この種のトラブルを未然に防止するための新規手段の開
発が切望されている現状である。
［目的］ 本発明の目的は、上述の点に鑑み、テープ状記録体の走
行方向に一致して継続的に生じている傷・模様を非接触
的に検出し、もってテープ状記録体の品質管理を容易に
なし得るようにした検査装置を提供するものである。
行方向に一致して継続的に生じている傷・模様を非接触
的に検出し、もってテープ状記録体の品質管理を容易に
なし得るようにした検査装置を提供するものである。
［発明の構成］ 本発明は、光学系を介してテープ状記録体の表面状態を
検査する装置において、テープ状記録体の走行方向と直
交する方向に対して読み出し検査を行い、記録体の表面
を撮像する走査形撮像手段を備え、撮像手段自体または
撮像手段よりテープ状記録体側に配置した光学系に積分
作用を持たせることにより、テープ状記録体の走行方向
に一致する方向の線状模様のみを検出し得るよう構成す
る。
検査する装置において、テープ状記録体の走行方向と直
交する方向に対して読み出し検査を行い、記録体の表面
を撮像する走査形撮像手段を備え、撮像手段自体または
撮像手段よりテープ状記録体側に配置した光学系に積分
作用を持たせることにより、テープ状記録体の走行方向
に一致する方向の線状模様のみを検出し得るよう構成す
る。
［実施例］ 第１図は、本発明の原理を説明する図である。
いま、磁気テープ２の表面には太い黒帯で示す２方向の
傷Ａ，Ｂが付けられているものとする。ここで、傷Ａは
テープの走行方向（すなわちテープの長手方向）と直交
する方向に付けられた短い傷であり、他方の傷Ｂはテー
プの走行方向と一致した方向に付けられた傷を模式的に
示している。
傷Ａ，Ｂが付けられているものとする。ここで、傷Ａは
テープの走行方向（すなわちテープの長手方向）と直交
する方向に付けられた短い傷であり、他方の傷Ｂはテー
プの走行方向と一致した方向に付けられた傷を模式的に
示している。
そして、テープの特定領域を被撮像面とする第１の光学
系４または第２の光学系８を設け、これら光学系にそれ
ぞれ対応する撮像素子６，10に対してテープ表面の傷
Ａ，Ｂを結像する。
系４または第２の光学系８を設け、これら光学系にそれ
ぞれ対応する撮像素子６，10に対してテープ表面の傷
Ａ，Ｂを結像する。
上述した第１の光学系４は、テープ２の被撮像面を一定
の倍率で縮小して蓄積形一次元撮像素子６上に実像を結
像させる球面レンズ群である。よって、撮像素子６には
第１図に示すような傷Ａ′およびＢ′が実像５として結
像される。しかも、現像素子６にはＣＣＤ一次元イメー
ジセンサのような蓄積形一次元撮像素子を用いているの
で、テープの走行によって傷Ａを表す実像Ａ′はこの撮
像素子６を瞬時に通過してしまう。これに対して、帯状
の傷Ｂを表す実像Ｂ′はこの撮像素子６を構成する微細
な特定エレメント上に継続的に結像されるので、所定量
の電荷が蓄積されることになる。よって、その電荷量を
読み出すことにより、帯状に生じた傷Ｂの長さ等を判別
することが可能となる。
の倍率で縮小して蓄積形一次元撮像素子６上に実像を結
像させる球面レンズ群である。よって、撮像素子６には
第１図に示すような傷Ａ′およびＢ′が実像５として結
像される。しかも、現像素子６にはＣＣＤ一次元イメー
ジセンサのような蓄積形一次元撮像素子を用いているの
で、テープの走行によって傷Ａを表す実像Ａ′はこの撮
像素子６を瞬時に通過してしまう。これに対して、帯状
の傷Ｂを表す実像Ｂ′はこの撮像素子６を構成する微細
な特定エレメント上に継続的に結像されるので、所定量
の電荷が蓄積されることになる。よって、その電荷量を
読み出すことにより、帯状に生じた傷Ｂの長さ等を判別
することが可能となる。
また、第２の光学系８はシリンドリカルレンズ群および
球面レンズ群から成るレンズ系であって、テープ２上の
被撮像面はテープの走行方向に対して非常に圧縮された
実像９として非蓄積形一次元撮像素子10上に結像する。
従って、テープに生じた傷Ａはほとんど撮像素子10によ
って検知されず、もっぱらテープの走行方向に向かう傷
Ｂの存在のみを検知することができる。換言すれば、第
２の光学系８では、テープ走行方向についての広範囲の
模様を狭い範囲に結像させる（すなわち光量の積分を行
う）ことにより、非蓄積形一次元撮像素子の使用を可能
ならしめている。このことは、蓄積形一次元撮像素子６
自体を用いて光量の積分を行うようにした先の構成と、
その機能の面から見れば同じであると考えることができ
る。
球面レンズ群から成るレンズ系であって、テープ２上の
被撮像面はテープの走行方向に対して非常に圧縮された
実像９として非蓄積形一次元撮像素子10上に結像する。
従って、テープに生じた傷Ａはほとんど撮像素子10によ
って検知されず、もっぱらテープの走行方向に向かう傷
Ｂの存在のみを検知することができる。換言すれば、第
２の光学系８では、テープ走行方向についての広範囲の
模様を狭い範囲に結像させる（すなわち光量の積分を行
う）ことにより、非蓄積形一次元撮像素子の使用を可能
ならしめている。このことは、蓄積形一次元撮像素子６
自体を用いて光量の積分を行うようにした先の構成と、
その機能の面から見れば同じであると考えることができ
る。
また、第２の光学系８と蓄積形一次元撮像素子６とを組
み合せ（第１図には図示せず）、そのことにより、テー
プ走行方向と一致する方向の傷Ｂのみをより確実に検出
するよう構成することも可能である。
み合せ（第１図には図示せず）、そのことにより、テー
プ走行方向と一致する方向の傷Ｂのみをより確実に検出
するよう構成することも可能である。
以上述べた本発明の原理に従った種々の実施例を以下に
説明する。なお、以下では説明の便宜上から、上述の原
理説明とは順序を変えて第２の光学系（非等率縮小レン
ズ群）と非蓄積形一次元撮像素子を用いた例を説明し、
次いで第１の光学系（球面レンズ群）と蓄積形一次元撮
像素子を用いた例および第２の光学系と蓄積形一次元撮
像素子を用いた例を説明する。
説明する。なお、以下では説明の便宜上から、上述の原
理説明とは順序を変えて第２の光学系（非等率縮小レン
ズ群）と非蓄積形一次元撮像素子を用いた例を説明し、
次いで第１の光学系（球面レンズ群）と蓄積形一次元撮
像素子を用いた例および第２の光学系と蓄積形一次元撮
像素子を用いた例を説明する。
第２図は、非等率縮小レンズ群および非蓄積形一次元撮
像素子を用いたテープ傷検査装置の一実施例を示す。
像素子を用いたテープ傷検査装置の一実施例を示す。
第２図において、21は磁気テープであり、その表面には
２方向に向かうそれぞれ傷ＡおよびＢが付けられている
ものとする。すなわち、傷Ａはテープの幅方向（テープ
の走行方向と直交する方向）の傷、傷Ｂはその方向がテ
ープの走行方向と一致する継続的な傷である。
２方向に向かうそれぞれ傷ＡおよびＢが付けられている
ものとする。すなわち、傷Ａはテープの幅方向（テープ
の走行方向と直交する方向）の傷、傷Ｂはその方向がテ
ープの走行方向と一致する継続的な傷である。
22は、球面レンズ22Aとシリンドリカルレンズ対22Bとの
組み合わせにより成る非等率縮小レンズ群であって、テ
ープ幅方向の縮小率Ａ′／Ａに比べて、テープ走行方向
の縮小率Ｂ′／Ｂをより小さくする機能（Ｂ′／Ｂ
《Ａ′／Ａ）を果たす。
組み合わせにより成る非等率縮小レンズ群であって、テ
ープ幅方向の縮小率Ａ′／Ａに比べて、テープ走行方向
の縮小率Ｂ′／Ｂをより小さくする機能（Ｂ′／Ｂ
《Ａ′／Ａ）を果たす。
23は上記レンズ群22によって生じる実像結像面であり、
Ａ′およびＢ′はそれぞれ磁気テープ21上の傷A,Bの実
像を示している。
Ａ′およびＢ′はそれぞれ磁気テープ21上の傷A,Bの実
像を示している。
この実像結像面に、読み出し走査の方向がテープ走行方
向と光軸とが成す平面に対して垂直になるように非蓄積
形一次元撮像素子（図示せず）を配置すると、第１図の
光学系８に関して先に述べたように、テープ走行方向に
ついての広範囲の模様が狭い範囲に結像する（すなわち
光量の積分が行われる）ので、テープ走行方向に直交す
る傷Ａによる像の幅を極端に細くすることができる。そ
れと共に、テープ走行方向に向かう傷Ｂの幅をほとんど
縮小することなく当該撮像素子上に結像させることにな
る。従って、テープ走行方向の傷Ｂについては、その傷
の幅自体があまり細くならないので、蓄積作用のない一
次元撮像素子を用いてこれを撮像したとしても、傷Ａの
撮像出力を大幅に減少させて、テープ走行方向に一致す
る方向の傷Ｂのみを検出することができる。
向と光軸とが成す平面に対して垂直になるように非蓄積
形一次元撮像素子（図示せず）を配置すると、第１図の
光学系８に関して先に述べたように、テープ走行方向に
ついての広範囲の模様が狭い範囲に結像する（すなわち
光量の積分が行われる）ので、テープ走行方向に直交す
る傷Ａによる像の幅を極端に細くすることができる。そ
れと共に、テープ走行方向に向かう傷Ｂの幅をほとんど
縮小することなく当該撮像素子上に結像させることにな
る。従って、テープ走行方向の傷Ｂについては、その傷
の幅自体があまり細くならないので、蓄積作用のない一
次元撮像素子を用いてこれを撮像したとしても、傷Ａの
撮像出力を大幅に減少させて、テープ走行方向に一致す
る方向の傷Ｂのみを検出することができる。
第３図は、球面レンズ群および蓄積形一次元撮像素子を
用いたテープ傷検査装置の一実施例を示す。
用いたテープ傷検査装置の一実施例を示す。
第３図において、31は磁気テープであり、その表面には
第２図について述べたと同様２種類の傷ＡおよびＢが付
けられているものとする。
第２図について述べたと同様２種類の傷ＡおよびＢが付
けられているものとする。
32は球面レンズ群である。
33は蓄積形の一次元撮像素子であり、一定期間内に露光
された光学像を電気信号として読み出す。このとき、画
像の読み出し走査方向がテープの走査方向と直交するよ
うに撮像素子33を配置することは第２図で説明したのと
同じである。
された光学像を電気信号として読み出す。このとき、画
像の読み出し走査方向がテープの走査方向と直交するよ
うに撮像素子33を配置することは第２図で説明したのと
同じである。
34は増幅器、35は一定レベル以上の撮像出力を検出して
テープ走行方向に一致する方向の傷の有無を判別するレ
ベル検出器、36はレベル検出器36の出力を受けて傷の長
さ・個数などを表示する表示器である。
テープ走行方向に一致する方向の傷の有無を判別するレ
ベル検出器、36はレベル検出器36の出力を受けて傷の長
さ・個数などを表示する表示器である。
本実施例の動作原理は、第１図に示した第１の光学系４
および蓄積形一次元撮像素子６と同じであるので、説明
は省略する。
および蓄積形一次元撮像素子６と同じであるので、説明
は省略する。
第４図は非等率縮小レンズ群および蓄積形一次元撮像素
子を用いて１インチVTR用磁気テープ検査装置を構成し
た場合の一実施例を示す。本実施例は、１インチVTRの
テープ走行系に起因して磁気テープに生じた“引っかき
傷”を検出するための具体例である。本図中の41は磁気
テープの被撮像領域、42は第２図に示したものと同様の
非等率縮小レンズ群、43は結像面、44は結像面上の実像
を示す。
子を用いて１インチVTR用磁気テープ検査装置を構成し
た場合の一実施例を示す。本実施例は、１インチVTRの
テープ走行系に起因して磁気テープに生じた“引っかき
傷”を検出するための具体例である。本図中の41は磁気
テープの被撮像領域、42は第２図に示したものと同様の
非等率縮小レンズ群、43は結像面、44は結像面上の実像
を示す。
上記構成を更に詳述すると、次のとおりである。
本実施例において蓄積形一次元撮像素子にはCCD一次元
イメージセンサを用いており、これは第５図に示すよう
に1024個の単位撮像素子からなり、転送周波数250kHz、
単位撮像素子の有効面積14μｍ×９μｍのものである。
そして、９μｍ幅の単位撮像素子を1024個並べたときの
全長は14.4mmとなっている。なお、全長14.4mmには図示
のように単位撮像素子相互間にチャネルストッパが含ま
れる。
イメージセンサを用いており、これは第５図に示すよう
に1024個の単位撮像素子からなり、転送周波数250kHz、
単位撮像素子の有効面積14μｍ×９μｍのものである。
そして、９μｍ幅の単位撮像素子を1024個並べたときの
全長は14.4mmとなっている。なお、全長14.4mmには図示
のように単位撮像素子相互間にチャネルストッパが含ま
れる。
また、本実施例に用いる光学系は第４図の符号42として
示したように、シリンドリカルレンズ対と球面レンズと
を組み合わせた非等率縮小レンズ群であって、テープの
長手方向（走行方向）への縮小率Ｂ′／Ｂ＝１／100、
それと直角な方向への縮小率Ａ′／Ａ＝１／1.8であ
る。
示したように、シリンドリカルレンズ対と球面レンズと
を組み合わせた非等率縮小レンズ群であって、テープの
長手方向（走行方向）への縮小率Ｂ′／Ｂ＝１／100、
それと直角な方向への縮小率Ａ′／Ａ＝１／1.8であ
る。
第６図は、第５図に示したイメージセンサの単位撮像素
子の配列方向とイメージセンサ上の実像との位置関係を
説明する図である。本実施例では、テープの長手方向と
直交するように各々の単位撮像素子を配列するようにし
て、テープの被撮像領域41の幅（1.4mm）を挾めてこの
イメージセンサ上に結像させている。
子の配列方向とイメージセンサ上の実像との位置関係を
説明する図である。本実施例では、テープの長手方向と
直交するように各々の単位撮像素子を配列するようにし
て、テープの被撮像領域41の幅（1.4mm）を挾めてこの
イメージセンサ上に結像させている。
１インチVTR用の磁気テープのテープ幅は25.4mmである
ので、上記CCD一次元イメージセンサを用いることによ
り、ビデオテープの全幅を一度にカバーすることができ
る。またテープの長手方向とそれに直交する幅方向との
光学的縮小率の比は100：1.8であるので、テープ表面上
の傷のうちテープの長手方向と直交する方向に付けられ
ている傷の長さは、長手方向に比べて100／1.8倍の長さ
となってイメージセンサ上に結像している。
ので、上記CCD一次元イメージセンサを用いることによ
り、ビデオテープの全幅を一度にカバーすることができ
る。またテープの長手方向とそれに直交する幅方向との
光学的縮小率の比は100：1.8であるので、テープ表面上
の傷のうちテープの長手方向と直交する方向に付けられ
ている傷の長さは、長手方向に比べて100／1.8倍の長さ
となってイメージセンサ上に結像している。
従って、イメージセンサの１回の読み出し毎に得られる
信号出力においては、第７図の撮像素子出力電流の差75
に示したように、長手方向と直交する傷に対する長手方
向の傷の信号レベルを100/1.8倍だけ高めることができ
る。
信号出力においては、第７図の撮像素子出力電流の差75
に示したように、長手方向と直交する傷に対する長手方
向の傷の信号レベルを100/1.8倍だけ高めることができ
る。
なお、第７図において、71および73はテープの長手方向
に直交する方向すなわち幅方向の傷にのみ起因した撮像
素子出力電流、72はテープ長手方向の傷に起因して生じ
た撮像素子出力電流、74はテープに傷がない場合の撮像
素子出力電流、また76は図示しないレベル検出器（第３
図に示したレベル検出器35に相当する）の出力電圧を示
す。
に直交する方向すなわち幅方向の傷にのみ起因した撮像
素子出力電流、72はテープ長手方向の傷に起因して生じ
た撮像素子出力電流、74はテープに傷がない場合の撮像
素子出力電流、また76は図示しないレベル検出器（第３
図に示したレベル検出器35に相当する）の出力電圧を示
す。
また、上述したようにイメージセンサの転送周波数を25
0kHzに設定すると、1024個の単位撮像素子の全部から信
号を読み出すのに要する時間は約4.1msとなる。これは
言い換えれば、単位撮像素子への蓄積時間が4.1msとな
る。そこで、第８図に示すように磁気テープ自体が走行
する場合（例えば、１インチVTRにおけるテープの定常
走行速度244mm/sの50倍で高速走行させたとき）、蓄積
時間4.1msの間に被撮像領域80を横切るテープの長さ
は、244×4.1×10-3×50≒50mm となる。これは、テープが静止しているときの被撮像領
域80の50／1.4倍の長さとなるので、静止したテープ上
の傷を検出する場合に比べて50／1.4倍だけ撮像素子出
力電流を増加することになる。
0kHzに設定すると、1024個の単位撮像素子の全部から信
号を読み出すのに要する時間は約4.1msとなる。これは
言い換えれば、単位撮像素子への蓄積時間が4.1msとな
る。そこで、第８図に示すように磁気テープ自体が走行
する場合（例えば、１インチVTRにおけるテープの定常
走行速度244mm/sの50倍で高速走行させたとき）、蓄積
時間4.1msの間に被撮像領域80を横切るテープの長さ
は、244×4.1×10-3×50≒50mm となる。これは、テープが静止しているときの被撮像領
域80の50／1.4倍の長さとなるので、静止したテープ上
の傷を検出する場合に比べて50／1.4倍だけ撮像素子出
力電流を増加することになる。
以上の説明においては、テープ状記録体表面の傷・模様
を撮像するための撮像手段を一次元の撮像素子とした
が、これは通常の二次元撮像素子ないしテレビジョンカ
メラであってもよい。
を撮像するための撮像手段を一次元の撮像素子とした
が、これは通常の二次元撮像素子ないしテレビジョンカ
メラであってもよい。
なお、上述した各実施例において、テープ走行方向に一
致する方向の傷を検出した後の処理手段として、例えば
本出願人による実用新案登録第1,346,192号「磁気テー
プ検査装置」に開示の技術を適用することができる。
致する方向の傷を検出した後の処理手段として、例えば
本出願人による実用新案登録第1,346,192号「磁気テー
プ検査装置」に開示の技術を適用することができる。
すなわち、上記実用新案は磁気テープのドロップアウト
検出手段ならびにその表示手段を開示するものである
が、本発明の検出対象である“テープ走行方向に向かう
継続した傷・模様”を検出した後の表示処理にも適用す
ることが可能である。
検出手段ならびにその表示手段を開示するものである
が、本発明の検出対象である“テープ走行方向に向かう
継続した傷・模様”を検出した後の表示処理にも適用す
ることが可能である。
また、上記実施例では磁気テープ（とりわけビデオテー
プ）に生じた“引っかき傷”を検出する場合について説
明したが、映画用のフィルムあるいはその他の長尺物の
傷・模様を検出する場合にも本発明を適用し得ることは
勿論である。
プ）に生じた“引っかき傷”を検出する場合について説
明したが、映画用のフィルムあるいはその他の長尺物の
傷・模様を検出する場合にも本発明を適用し得ることは
勿論である。
［発明の効果］ 以上述べたとおり、本発明によればテープ状記録体に生
じた長手方向（テープ走行方向）の傷・模様を非接触的
に検出することができるので、日常的なテープ管理作業
（例えばVTRテープの品質管理作業）を短時間で且つ適
確に行うことが可能となる。
じた長手方向（テープ走行方向）の傷・模様を非接触的
に検出することができるので、日常的なテープ管理作業
（例えばVTRテープの品質管理作業）を短時間で且つ適
確に行うことが可能となる。
殊に放送局などの制作現場では、すべてのVTRに対して
本発明に係る装置を装着することにより、日常の画像信
号記録・再生業務の最中にも不良テープを判別すること
ができるので、撮り直しなどのトラブルを最少限に留め
ることができるという格別の効果が得られる。
本発明に係る装置を装着することにより、日常の画像信
号記録・再生業務の最中にも不良テープを判別すること
ができるので、撮り直しなどのトラブルを最少限に留め
ることができるという格別の効果が得られる。
第１図は本発明の原理を説明する図、 第２図は非等率縮小レンズ群および非蓄積形一次元撮像
素子を用いた本発明の一実施例を示す図、 第３図は球面レンズ群および蓄積形一次元撮像素子を用
いた本発明の一実施例を示す図、 第４図は非等率縮小レンズ群および蓄積形一次元撮像素
子を用いた本発明の一実施例を示す図、 第５図ないし第８図はそれぞれ第４図の動作を説明する
ための図である。 ２…磁気テープ、 4,8…光学系、 5,9…実像、 6,10…一次元撮像素子、 21…磁気テープ、 22…非等率縮小レンズ群、 22A…球面レンズ、 22B…シリンドリカルレンズ対、 23…実像結像面、 31…磁気テープ、 32…球面レンズ群、 33…蓄積形一次元撮像素子、 34…増幅器、 35…レベル検出器、 36…表示器、 41…被撮像領域、 42…非等率縮小レンズ群、 43…結像面、 44…実像。
素子を用いた本発明の一実施例を示す図、 第３図は球面レンズ群および蓄積形一次元撮像素子を用
いた本発明の一実施例を示す図、 第４図は非等率縮小レンズ群および蓄積形一次元撮像素
子を用いた本発明の一実施例を示す図、 第５図ないし第８図はそれぞれ第４図の動作を説明する
ための図である。 ２…磁気テープ、 4,8…光学系、 5,9…実像、 6,10…一次元撮像素子、 21…磁気テープ、 22…非等率縮小レンズ群、 22A…球面レンズ、 22B…シリンドリカルレンズ対、 23…実像結像面、 31…磁気テープ、 32…球面レンズ群、 33…蓄積形一次元撮像素子、 34…増幅器、 35…レベル検出器、 36…表示器、 41…被撮像領域、 42…非等率縮小レンズ群、 43…結像面、 44…実像。
Claims (2)
- 【請求項１】テープ状記録体の走行方向に一致した方向
の線状模様を検出する検査装置であって、 前記テープ状記録体の被撮像面において、記録体の走行
方向に対する縮小率βを、記録体の幅方向に対する縮小
率αより十分に小とした非等率縮小光学系と、 前記光学系によって縮小された実像を結像する非蓄積形
一次元撮像素子と を具備したことを特徴とするテープ状記録体の検査装
置。 - 【請求項２】テープ状記録体の走行方向に一致した方向
の線状模様を検出する検査装置であって、 前記テープ状記録体の被撮像面において、記録体の走行
方向に対する縮小率βを、記録体の幅方向に対する縮小
率αより十分に小とした非等率縮小光学系と、 前記光学系によって縮小された実像を結像する蓄積形一
次元撮像素子と を具備したことを特徴とするテープ状記録体の検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60118544A JPH065215B2 (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | テ−プ状記録体の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60118544A JPH065215B2 (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | テ−プ状記録体の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61277040A JPS61277040A (ja) | 1986-12-08 |
| JPH065215B2 true JPH065215B2 (ja) | 1994-01-19 |
Family
ID=14739216
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60118544A Expired - Lifetime JPH065215B2 (ja) | 1985-05-31 | 1985-05-31 | テ−プ状記録体の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH065215B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4223346A (en) * | 1979-04-05 | 1980-09-16 | Armco Inc. | Automatic defect detecting inspection apparatus |
| JPS57184956A (en) * | 1981-05-08 | 1982-11-13 | Toshiba Corp | Inspecting device of surface defect |
| JPS5833155A (ja) * | 1981-08-22 | 1983-02-26 | Datsuku Eng Kk | 記録用磁気テ−プの疵検査装置 |
-
1985
- 1985-05-31 JP JP60118544A patent/JPH065215B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61277040A (ja) | 1986-12-08 |
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