JPH0692983B2 - 液晶板、プリント基板テスタ−用ヘッド - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、液晶板やプリント基板等をテストする際に用
いられるテスターのヘツド（テスターをテストすべき液
晶板やプリント基板のリードその他に接続する時に用い
られる部分）に関するものである。

〔従来技術〕

周知のように液晶板は、例えば第６図に示すような構造
のもので、平板状の透明板11,12の間に液晶を封入した
もので透明板11,12の内側に多数の線状等の導電部や透
明電極が設けられこれらに接続する多数のリード13が両
透明板縁部の対向した面に相互に直交する方向に設けら
れている。

又プリント基板は、各種の電子部品が設置されると共に
それらを結ぶ導電部が形成されていて所定の電気回路を
形成するものでその周縁部等には同様にリードが形成さ
れている。

このような液晶板やプリント基板等をテストするテスタ
ーのヘツドの従来例としては、第７図に示すものが知ら
れている。この従来例は、ピンプローブ方式と呼ばれて
いるもので、アクリル板等の基板15に多数のプローブピ
ン16が植設されているもので、このプローブピン16は外
筒17とこれに上下方向に摺動可能に保持されているコン
タクトピン18よりなり、更に外筒17内に配置されたスプ
リング（図示してない）によりコンタクトピン18が常に
上方に押し上げられている。又コンタクトピン18の他端
は配線19によりテスターに接続されている。

この従来のピンプローブ方式のヘツドを用いて液晶板や
プリント基板等のテストを行なう場合、テスターのヘツ
ドの各コンタクトピン18が液晶板の各リード或はプリン
ト基板の各リードや導電部分に接触するように配置しこ
れを押圧することによつて各コンタクトピン18がリード
等に所定の接触圧にて接触するようにして通電してテス
トが行なわれる。

しかしながら液晶板の各リードは極めて数が多く互いに
接近して配置されており、プリント基板のリードも接近
して配置されたものが多い。そのため第７図に示すピン
プローブ方式のヘツドでは、プローブピン16が外筒17内
にコンタクトピン18やスプリングを設けた構造であるた
め外筒の径を小さくするには限度があり、そのためコン
タクトピン間の間隔を狭くすることが出来ず、前記のよ
うにリード間の間隔の狭い液晶板やプリント基板に合わ
せたヘツドを作ることが困難である。この欠点を解消す
るために第７図に示すようにプローブピン16を２列,3列
等にし各プローブピンを斜めにずらした配置にしてあ
る。しかしこのように配置した場合にも一定の限度があ
り、リード間の間隔のより狭い液晶板に対しては適用出
来ない場合がある。又列の数を更に多くすれば狭いリー
ドに対しても適用し得るが、リードの長さを長くしなけ
ればならない新たな問題が生ずる。このようにピンプロ
ーブ方式のヘツドを用いたテスターでは、液晶板自体を
直接測定出来ず、そのために液晶テレビ，電卓等の完成
品に組込んだ後に完成品のテストの時に液晶板を測定し
なければならない。したがつて細かい点にわたつてまで
の正確な検査が困難である。又検査の結果不良個所が発
見された時の修繕や部品交換が面倒である。

液晶板やプリント基板テスト用のテスターのヘツドの他
の従来例として第８図に示すようなコンタクトを備えた
ものが知られている。このヘツドは、タングステンワイ
ヤー方式と呼ばれているもので、タングステンワイヤー
21を図示するような形状にすることによつてタングステ
ンワイヤー自体にばね性を持たせたものである。この従
来例においては、タングステンワイヤー自体がばね性を
有しているためにスプリング等を収納する外筒等を必要
としないために各コンタクト（タングステンワイヤー）
を比較的接近させ得る。しかしタングステンワイヤーが
ある程度の径を有しているためにそのまま一列に並び配
置したのでは液晶板等に使用するヘツドとしては不十分
であつて、そのために図示するように各コンタクト21の
接触部22を円弧状に並び配置し、これによつて液晶板の
テスト用に適応出来るようにしてある。しかしこのよう
に接触部22を円弧状にしてあるためにあまり多くのコン
タクトを配置することが出来ない。一方液晶板やプリン
ト基板に設けられているリードは可成り数多く設けられ
ているので、一度に液晶板等のテストを行なうことが出
来ず何回にも分けて測定しなければならない不便さがあ
る。しかも前述のように液晶板等のリードは各リードの
幅が狭く各リード間が極めて微小間隔であるので各リー
ドとヘツドの各コンタクトとの位置合わせが面倒であ
り、このような面倒な位置合わせを必要とする測定を何
度にも分けて行なうことは好ましくない。

〔発明の構成〕

本発明の液晶板，プリント基板テスター用ヘツドは、微
小幅の溝を微小間隔をおいて多数形成した本体と、前記
本体の溝内に少なくとも接触部が本体外に出るように配
置された接触部とばね部と配線部とがすべて薄板でその
板面が同一平面上に位置するように形成されていてそれ
自体ばね性を有している厚さのうすいコンタクトとを有
するものである。

又本発明の液晶板，プリント基板テスター用ヘツドは、
前記の構造であつて更に本体の各溝内に収納されている
コンタクトのテスター側への配線に接続するための接続
部の長さおよびコンタクトへの取付け位置の異なる数種
類のものを隣接する種類が互に異なるように順次繰り返
し配置した構造のものである。

〔実施例〕

以下本発明の液晶板，プリント基板テスター用ヘツドの
実施例を図面にもとづいて詳細に説明する。第１図は本
発明ヘツドの実施例の斜視図、第２図は第１図における
II−II線断面図である。これら図において１はヘツドで
多数の微小幅の溝2a,3aを夫々有している本体２と蓋３
（これらはコンタクトのガイドの役割を有している）と
により構成され全体としてケース状になつている。又溝
内には先端に接触部５を有しこれとばね部と配線部とが
すべて薄板でその板面が同一平面上に位置するように一
体に形成されたコンタクト４が夫々収納配置されてい
る。

これらヘツド１の各構成部品を更に詳しく説明すると、
本体２にはコンタクト４の幅（厚さ）より僅かに広い幅
の溝2aが多数形成されていて櫛歯状になつている。又蓋
３は本体２にかぶせた時に本体２の各溝2aと一致する位
置に同一幅の溝3aが多数形成されている。更にこの蓋３
に形成された溝は、コンタクト４を収納した時にその接
触部５が蓋３の外に出るようにその先端部分では上方ま
で取除いた形状になつている。コンタクト４は、ヘアー
ピン状に曲げられた形状をなしこれによつてばね性をも
たせたもので前述のように上方の先端部には接触部５が
形成され又下方には更に下にのびる配線部が設けられて
いる。

これら各部をまず本体２の各溝2a位置に形成した貫通孔
にコンタクト４の配線部６を挿入することによつて本体
２の各溝位置にコンタクト４を夫々配置してから蓋３を
することによつてヘツド１が形成される。つまり各コン
タクト４は本体２の溝2aと蓋３の溝3aとにて形成され空
間内にその先端の接触部５が外に出た状態にて収納され
保持される。この場合、コンタクトの形状として蓋をす
る前には第２図に示すよりも両端4a,4bが開いたものに
し蓋をすることによつてこれがすぼめられて図示する状
態になるようにしてもよい。その場合は、コンタクト４
にはその両端4a,4bが開こうとする力が働くので安定し
た状態にて収納保持されることになる。又接触部５には
上方へ向かう力が常に働くので、コンタクトの接触部と
液晶板等のリードとの接触の際にこの接触部が押し下げ
られた時のばね圧が強くなり十分な接触圧をもたせるこ
とが可能になる。

以上のような構造のヘツド１を第６図に示すような構造
の液晶板のリード部分の各リード13に夫々コンタクト４
の接触部５が接するように設置してこれを押圧すれば接
触部５が押されコンタクト４のばね性によつて適切な接
触圧にて接触させてテストを行なうことが出来る。その
場合、このヘツド１はコンタクト４の厚さとコンタクト
間の間隔（本体２の溝間の間隔）のみによつて各コンタ
クト間のピツチが決まるのでピツチを小にすることが出
来、液晶板やプリント基板の測定用として十分対応させ
ることが出来る。例えばコンタクトとして薄い金属板
（ベリリウム銅板等）を図示する形状に打ち抜いて金メ
ツキしたものが使用され、その厚さは極めて薄くなし得
る。又本体２や蓋３は射出成形法等の合成樹脂の成形加
工によつて幅の狭い沢山な溝を有ししかも各溝間の間隔
が極めて小であるものでも容易に形成することが出来
る。したがつてリード間隔が小である液晶板やプリント
基板用に適用し得るものが出来る。

コンタクトとしてすべて同一形状のものを用いてもよい
が第２図に示すように配線部の長さおよび設置位置の異
なる数種類（図示するものはA,B,Cの３種類）のものを
作り、これを例えばA,B,C,A,B,C,…のように順に繰り返
し配置するようにすれば配線部６からの配線７が各々比
較的離れた配置になるのでテスターへの接続を直接行な
わずに符号８に示す部分に接続端子部を設け市販のソケ
ツトによる接続が可能になる。これによりヘツドの取外
しが可能となる。

第３図および第４図はコンタクトの他の変形例を示すも
のである。第３図に示すものは板ばね状のコンタクトで
その根元の支持部4cと先の部分のばね性をもたせた部分
4dとよりなつている。第４図は屈曲部4eを形成したもの
で、この屈曲部4eより先の部分にばね性をもたせたもの
である。

第５図は、第２図に示す形状のコンタクトに突起９を設
けたものでこれによつて配線部６を中心とした回動を防
止することが出来る。これによつて第１図に示す本体２
の溝2a間の仕切り部分を除去することが可能になり、本
体２や蓋３の構造を簡単化することが出来る。

〔発明の効果〕

本発明の液晶板，プリント基板テスター用ヘツドは、各
コンタクトが薄いばね性を有するものでしかも本体の微
小幅の微小間隔をおいて形成された溝内に収納保持され
ているので、各コンタクトが狭いピツチで配置されてい
るから液晶板やプリント基板を直接一度に測定すること
が可能である。又液晶板の測定の場合、例えば本発明の
ヘツドと上向きと下向きに夫々配置することにより液晶
板の両透明板の夫々のリードに両ヘツドのコンタクトを
接触せしめて一度に測定することが可能である。したが
つて従来完成品で行なわれていたものと同等又はそれ以
上の精度にての測定が可能である。更に各コンタクトと
して実施例のもののように配線部の長さや設置位置の異
なる種類のものを繰返し配置したヘツドを用いればヘツ
ドの端子部に市販のソケツトを使用し得る。又ヘツドが
端子部にて取外し可能になるので極めて便利である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のヘツドの斜視図、第２図は第１図にお
けるII−II線断面図、第３図乃至第５図は夫々本発明で
用いられるコンタクトの変形例を示す図、第６図は液晶
板の斜視図、第７図は従来のヘツドの一部分を示す斜視
図、第８図は他の従来のヘツドの一部分を示す斜視図で
ある。 １……ヘツド、２……本体、３……蓋、４……コンタク
ト、５……接触部、６……配線部。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大沢 敏雄 埼玉県川口市並木２丁目30番１号 第一精 工株式会社内 (56)参考文献 実開 昭58−103383（ＪＰ，Ｕ) 実公 昭49−22355（ＪＰ，Ｙ１)

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】微小幅の溝を微小間隔をおいて多数形成し
   た本体と、前記本体の溝に対応する位置に夫々溝を形成
   した蓋と、接触部とばね部と配線部とがすべて薄板でそ
   の板面が同一平面上に位置するように一体に形成したコ
   ンタクトとを備え、前記コンタクトが前記本体に前記蓋
   を取り付けた時に前記各溝により形成される空隙内に接
   触部が外部にあらわれるように収納保持され前記コンタ
   クトがその配線部が長さおよび上記接触部に対して横方
   向の形成位置が異なっている複数種類あり、相互に隣接
   されたコンタクトの種類が異なるものである液晶板、プ
   リント基板テスター用ヘッド。
2. 【請求項２】微小幅の溝を微小間隔をおいて多数形成し
   た本体と、前記本体の溝に対応する位置に夫々溝を形成
   した蓋と、接触部とばね部と配線部とがすべて薄板でそ
   の板面が同一平面上に位置するように一体に形成したコ
   ンタクトとを備え、前記コンタクトが前記本体に前記蓋
   を取り付けた時に前記各溝により形成される空隙内に接
   触部が外部にあらわれるように収納保持され前記コンタ
   クトがその配線部が長さおよび上記接触部に対して横方
   向の形成位置が異なっている複数種類あり、相互に隣接
   されたコンタクトの種類が異なるものであり、更に各コ
   ンタクトがいずれも前記空隙内に収納された状態よりも
   接触部側が開いた形状に形成しこれを該空隙内に接触部
   に予圧がかかるように収納保持した液晶板、プリント基
   板テスター用ヘッド。