JPH0694323B2 - 帯状体の自動検査装置 - Google Patents
帯状体の自動検査装置Info
- Publication number
- JPH0694323B2 JPH0694323B2 JP1171506A JP17150689A JPH0694323B2 JP H0694323 B2 JPH0694323 B2 JP H0694323B2 JP 1171506 A JP1171506 A JP 1171506A JP 17150689 A JP17150689 A JP 17150689A JP H0694323 B2 JPH0694323 B2 JP H0694323B2
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- JP
- Japan
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- shaped body
- transfer
- belt
- stop position
- distance
- Prior art date
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、帯状体の自動検査装置に関し、特に検査対象
となるフレームが複数連結して構成された帯状体を各フ
レーム毎に瑕疵があるか否かを検査するものにおいて好
適な帯状体の自動検査装置に関するものである。
となるフレームが複数連結して構成された帯状体を各フ
レーム毎に瑕疵があるか否かを検査するものにおいて好
適な帯状体の自動検査装置に関するものである。
TAB（Tape Automated Bonding）方式はICチップの実装
技術のひとつとして知られており、加工精度が高く、一
括ボンディングが可能という特徴故に広く使用されてい
る。このTAB方式に用いられるTABテープ（「フィルムキ
ャリアテープ」とも呼ばれる。）は、たとえばポリイミ
ドよりなるフィルム上にICをボンディングするための銅
リードが形成されたものであり、１つのICがボンディン
グされる１フレームが映画フィルムのコマの如く多数連
続してリールに巻回されている。
技術のひとつとして知られており、加工精度が高く、一
括ボンディングが可能という特徴故に広く使用されてい
る。このTAB方式に用いられるTABテープ（「フィルムキ
ャリアテープ」とも呼ばれる。）は、たとえばポリイミ
ドよりなるフィルム上にICをボンディングするための銅
リードが形成されたものであり、１つのICがボンディン
グされる１フレームが映画フィルムのコマの如く多数連
続してリールに巻回されている。
このTABテープは実際にICをボンディングする前に、銅
リードの損傷や欠落等の瑕疵がないかどうかを検査する
必要がある。かかる検査は、TABテープを供給リールか
ら巻取リールへ搬送する間に各フレームについて又は数
フレームおきにパターンマッチングなどの画像認識技術
を用いて行われる（例えばTABフィルムキャリア・リー
ド検査システム、MV-5100、東レ株式会社製）。
リードの損傷や欠落等の瑕疵がないかどうかを検査する
必要がある。かかる検査は、TABテープを供給リールか
ら巻取リールへ搬送する間に各フレームについて又は数
フレームおきにパターンマッチングなどの画像認識技術
を用いて行われる（例えばTABフィルムキャリア・リー
ド検査システム、MV-5100、東レ株式会社製）。
TABテープの両縁辺には映画フィルムと同様のスプロケ
ット穴が設けられているが、これはTABテープにICを実
装する段階で使用するものであり、検査段階でこのスプ
ロケット穴を使用することはTABテープに損傷等を与え
る危険性があるので好ましくない。このためTABテープ
検査装置は上下のピンチロールでTABテープを挟持し、
このピンチロールを回転駆動してTABテープを移送して
いる。このピンチロールにはパルスジェネレータが設け
られており、ピンチロールの回転に比例して発せられる
パルスをカウンタすることによりTABテープの移送距離
を読み取る。
ット穴が設けられているが、これはTABテープにICを実
装する段階で使用するものであり、検査段階でこのスプ
ロケット穴を使用することはTABテープに損傷等を与え
る危険性があるので好ましくない。このためTABテープ
検査装置は上下のピンチロールでTABテープを挟持し、
このピンチロールを回転駆動してTABテープを移送して
いる。このピンチロールにはパルスジェネレータが設け
られており、ピンチロールの回転に比例して発せられる
パルスをカウンタすることによりTABテープの移送距離
を読み取る。
しかしながら、ピンチロールはTABテープ（帯状体）と
嵌合するものではないため、ピンチロールとTABテープ
とがスリップする虞がある。このスリップによってパル
スジェネレータの出力とTABテープの実際の停止位置と
が一致しなくなり、この誤差が積み重なると正確な検査
ができなくなる。
嵌合するものではないため、ピンチロールとTABテープ
とがスリップする虞がある。このスリップによってパル
スジェネレータの出力とTABテープの実際の停止位置と
が一致しなくなり、この誤差が積み重なると正確な検査
ができなくなる。
本発明は上記事情に基づいてなされたものであり、帯状
体が正確な位置で停止する帯状体の自動検査装置を提供
することを目的とするものである。
体が正確な位置で停止する帯状体の自動検査装置を提供
することを目的とするものである。
前記の目的を達成するための第１の発明は、端部にスプ
ロケット穴を有し、検査対象となるフレームが複数連続
して構成された帯状体を所定のフレーム数に相当する距
離だけ移送して停止する移送手段を有し、前記帯状体が
搬送される間に各フレーム毎に瑕疵の有無を検査する帯
状体の自動検査装置において、 前記帯状体に形成されているスプロケット穴の移送方向
に位置する端縁部で遮蔽される光量が所定の値より大き
いか小さいかを判断することにより、移送後の帯状体が
所定の停止位置を越えて停止したか否かを検出する停止
位置検出手段と、 該停止位置検出手段からの信号に基づいて、帯状体が前
記所定の停止位置を越えて停止したときは次回の移送距
離を第１の微小距離だけ短くし、帯状体が前記所定の停
止位置に至る前に停止したときは次回の移送距離を第２
の微小距離だけ長くするよう前記移送手段の移送を制御
する制御手段とを設けたことを特徴とするものである。
ロケット穴を有し、検査対象となるフレームが複数連続
して構成された帯状体を所定のフレーム数に相当する距
離だけ移送して停止する移送手段を有し、前記帯状体が
搬送される間に各フレーム毎に瑕疵の有無を検査する帯
状体の自動検査装置において、 前記帯状体に形成されているスプロケット穴の移送方向
に位置する端縁部で遮蔽される光量が所定の値より大き
いか小さいかを判断することにより、移送後の帯状体が
所定の停止位置を越えて停止したか否かを検出する停止
位置検出手段と、 該停止位置検出手段からの信号に基づいて、帯状体が前
記所定の停止位置を越えて停止したときは次回の移送距
離を第１の微小距離だけ短くし、帯状体が前記所定の停
止位置に至る前に停止したときは次回の移送距離を第２
の微小距離だけ長くするよう前記移送手段の移送を制御
する制御手段とを設けたことを特徴とするものである。
前記の目的を達成するための第２の発明は、第１の発明
である帯状体の自動検査装置において、帯状体の終端部
を検出する終端検出手段を設け、該終端検出手段が帯状
体の終端部を検出したときは、前記制御手段は帯状体の
移送距離が所定距離となるよう前記移送手段を制御する
ように構成したことを特徴とするものである。
である帯状体の自動検査装置において、帯状体の終端部
を検出する終端検出手段を設け、該終端検出手段が帯状
体の終端部を検出したときは、前記制御手段は帯状体の
移送距離が所定距離となるよう前記移送手段を制御する
ように構成したことを特徴とするものである。
第１の発明は前記の構成により、移送手段によって移送
が開始されると、移送後に停止した帯状体は停止位置検
出手段によって帯状体に形成されているスプロケット穴
の移送方向に位置する端縁部で遮蔽される光量が所定の
値より大きいか小さいかを判断することにより、その停
止位置が検出され、停止位置検出手段は制御手段に対し
て所定の停止位置を越えているか否かに対応する信号を
送る。制御手段はこの信号に基づいて移送手段による次
回の移送動作の移送距離を第１の微小距離だけ短くする
か、又は第２の微小距離だけ長くする。以下、同様な動
作が次回の移送以後も毎回行われ、帯状体の停止位置の
ずれは常に所定の停止位置からの微小な範囲内に抑えら
れる。
が開始されると、移送後に停止した帯状体は停止位置検
出手段によって帯状体に形成されているスプロケット穴
の移送方向に位置する端縁部で遮蔽される光量が所定の
値より大きいか小さいかを判断することにより、その停
止位置が検出され、停止位置検出手段は制御手段に対し
て所定の停止位置を越えているか否かに対応する信号を
送る。制御手段はこの信号に基づいて移送手段による次
回の移送動作の移送距離を第１の微小距離だけ短くする
か、又は第２の微小距離だけ長くする。以下、同様な動
作が次回の移送以後も毎回行われ、帯状体の停止位置の
ずれは常に所定の停止位置からの微小な範囲内に抑えら
れる。
第２の発明は前記の構成により、第１の発明と同様の作
用の他に、終端検出手段が帯状体の終端部を検出すると
制御手段が移送手段を制御して帯状体の移送距離を所定
の移送距離に設定する。この所定の移送距離としては、
例えば最初の移送距離又は終端部の検出前の最後の移送
距離とすることができる。これにより帯状体の終端部に
スプロケット穴が形成されていない場合には、前記停止
位置検出手段からの信号による制御を排除して、終端部
近傍の帯状体を所定距離だけ移送する。
用の他に、終端検出手段が帯状体の終端部を検出すると
制御手段が移送手段を制御して帯状体の移送距離を所定
の移送距離に設定する。この所定の移送距離としては、
例えば最初の移送距離又は終端部の検出前の最後の移送
距離とすることができる。これにより帯状体の終端部に
スプロケット穴が形成されていない場合には、前記停止
位置検出手段からの信号による制御を排除して、終端部
近傍の帯状体を所定距離だけ移送する。
以下に本発明の１実施例を第１図乃至第５図を参照して
説明する。第４図は本発明の１実施例であるTABテープ
検査装置の基本構成図である。第４図において、本装置
はTABテープ（帯状体）３を供給する供給リール１と、T
ABテープ３を巻き取る巻取リール11とを有する。供給リ
ール１と巻取リール11との間には、位置検出装置（位置
検出手段）21、自動検査部31、ベリフィケーション部4
1、目視検査部51、パンチャ61、操作部71及びスプライ
サ81等が設けられている。また、スプライサ81のTABテ
ープ搬送後段側にはTABテープを移送するピンチロール9
1を有する。このピンチロール91は、位置検出装置21か
らの信号に基づいて制御部92によって制御されるよう構
成されている。
説明する。第４図は本発明の１実施例であるTABテープ
検査装置の基本構成図である。第４図において、本装置
はTABテープ（帯状体）３を供給する供給リール１と、T
ABテープ３を巻き取る巻取リール11とを有する。供給リ
ール１と巻取リール11との間には、位置検出装置（位置
検出手段）21、自動検査部31、ベリフィケーション部4
1、目視検査部51、パンチャ61、操作部71及びスプライ
サ81等が設けられている。また、スプライサ81のTABテ
ープ搬送後段側にはTABテープを移送するピンチロール9
1を有する。このピンチロール91は、位置検出装置21か
らの信号に基づいて制御部92によって制御されるよう構
成されている。
TABテープ３が巻回されている供給リール１には、TABテ
ープどうしの接触による損傷等を防ぐための保護膜とな
るインタリーバ５も同時に巻回されている。リール７は
このインタリーバ５をTABテープ３とは別に巻き取るた
めのものである。逆に、検査が終了したTABテープ３を
巻取リール11で巻き取る場合にはリール17から別のイン
タリーバ15が送り出され、再びTABテープ３と共に巻取
リール11に巻回される。
ープどうしの接触による損傷等を防ぐための保護膜とな
るインタリーバ５も同時に巻回されている。リール７は
このインタリーバ５をTABテープ３とは別に巻き取るた
めのものである。逆に、検査が終了したTABテープ３を
巻取リール11で巻き取る場合にはリール17から別のイン
タリーバ15が送り出され、再びTABテープ３と共に巻取
リール11に巻回される。
位置検出装置21は停止位置検出器23と終端検出器25とを
有し、両者ともTABテープ３の下側の発光部から光を発
し、TABテープ３の縁辺に設けられたスプロケット穴を
通過する光をTABテープ３の上側の受光部で受光するこ
とによりTABテープ３の位置を検出する。停止位置検出
器23は所定数のフレーム毎に搬送されるTABテープ３が
自動検査部31の所定位置で停止しているか否かを検知
し、停止位置にずれがある場合に、位置を修正するため
に用いられる。一方、終端検出器25はTABテープ３の終
端部を検知するために用いられる。
有し、両者ともTABテープ３の下側の発光部から光を発
し、TABテープ３の縁辺に設けられたスプロケット穴を
通過する光をTABテープ３の上側の受光部で受光するこ
とによりTABテープ３の位置を検出する。停止位置検出
器23は所定数のフレーム毎に搬送されるTABテープ３が
自動検査部31の所定位置で停止しているか否かを検知
し、停止位置にずれがある場合に、位置を修正するため
に用いられる。一方、終端検出器25はTABテープ３の終
端部を検知するために用いられる。
自動検査部31は画像認識技術を用いて各フレーム毎に損
傷やパターンの逸脱等の瑕疵についての検査を自動的に
行う部分であり、具体的にはラインセンサカメラ33によ
り得られた画像を信号処理装置35に送り、この画像と予
め記憶した基準となる画像とのパターンマッチングを行
うことで瑕疵の有無を判断する。TABテープ３上の瑕疵
があるフレームの位置はこの信号処理装置35を介して記
憶装置（図示せず）に記憶する。この自動検査部31に接
続されているオフライン対話システム101は、自動検査
部31が損傷等を判断する基準を任意に変更可能とするも
のである。一口に損傷や寸法のずれといってもその態様
には種々のものがあり、実装されるICに要求される精度
の違い等によって不良と判断すべき基準が異なる。した
がって、このオフライン対話システム101を設けること
により、作業者は自動検査部31とTABテープ３の用途や
要求される品質に柔軟に対応することができる。
傷やパターンの逸脱等の瑕疵についての検査を自動的に
行う部分であり、具体的にはラインセンサカメラ33によ
り得られた画像を信号処理装置35に送り、この画像と予
め記憶した基準となる画像とのパターンマッチングを行
うことで瑕疵の有無を判断する。TABテープ３上の瑕疵
があるフレームの位置はこの信号処理装置35を介して記
憶装置（図示せず）に記憶する。この自動検査部31に接
続されているオフライン対話システム101は、自動検査
部31が損傷等を判断する基準を任意に変更可能とするも
のである。一口に損傷や寸法のずれといってもその態様
には種々のものがあり、実装されるICに要求される精度
の違い等によって不良と判断すべき基準が異なる。した
がって、このオフライン対話システム101を設けること
により、作業者は自動検査部31とTABテープ３の用途や
要求される品質に柔軟に対応することができる。
ベリフィケーション部41は自動検査部31によって検査さ
れた瑕疵をテレビ画面に写し出すためのものである。即
ち自動検査部31によってTABテープ３上に瑕疵が発見さ
れると、その瑕疵の位置を示す信号が信号処理装置35か
らTVカメラ位置制御部43に送られる。TVカメラ位置制御
部43はこの信号に基づいてテレビカメラ45を瑕疵の位置
へ移動し、その画像信号をテレビモニタ47に送る。作業
者は必要に応じこの画像を見て瑕疵を確認することがで
きる。
れた瑕疵をテレビ画面に写し出すためのものである。即
ち自動検査部31によってTABテープ３上に瑕疵が発見さ
れると、その瑕疵の位置を示す信号が信号処理装置35か
らTVカメラ位置制御部43に送られる。TVカメラ位置制御
部43はこの信号に基づいてテレビカメラ45を瑕疵の位置
へ移動し、その画像信号をテレビモニタ47に送る。作業
者は必要に応じこの画像を見て瑕疵を確認することがで
きる。
目視検査部51は、その役割としてはベリフィケーション
部41と同様であるが、ベリフィケーション部41がテレビ
モニタ47を介して瑕疵を確認するものであったのに対
し、光学的な実体顕微鏡で瑕疵の部分を肉眼で観察する
ものである。テレビカメラ45若しくはテレビモニタ47は
解像度の点で不十分な場合があり、かかる場合に目視検
査部51でベリフィケーション部41の機能を補うことがで
きる。また、ベリフィケーション部41が故障で作動しな
いときには、目視検査部51により瑕疵を確認することが
できる。
部41と同様であるが、ベリフィケーション部41がテレビ
モニタ47を介して瑕疵を確認するものであったのに対
し、光学的な実体顕微鏡で瑕疵の部分を肉眼で観察する
ものである。テレビカメラ45若しくはテレビモニタ47は
解像度の点で不十分な場合があり、かかる場合に目視検
査部51でベリフィケーション部41の機能を補うことがで
きる。また、ベリフィケーション部41が故障で作動しな
いときには、目視検査部51により瑕疵を確認することが
できる。
パンチャ61は自動検査部31の信号処理装置35から瑕疵を
検出した旨の情報を受け取ると、瑕疵のあるフレームが
パンチャ61の位置に移送されるのを待って動作し、TAB
テープ３に穿孔する。このとき設けられる孔は人間が肉
眼で容易にそれと分かる程度の直径、たとえば5mmとす
る。また自動検査部31が単に瑕疵の有無だけでなく瑕疵
の種類を特定する機能をも有する場合には、それに応じ
たマーキングを行うようにしてもよい。
検出した旨の情報を受け取ると、瑕疵のあるフレームが
パンチャ61の位置に移送されるのを待って動作し、TAB
テープ３に穿孔する。このとき設けられる孔は人間が肉
眼で容易にそれと分かる程度の直径、たとえば5mmとす
る。また自動検査部31が単に瑕疵の有無だけでなく瑕疵
の種類を特定する機能をも有する場合には、それに応じ
たマーキングを行うようにしてもよい。
パンチャ61は、上記のように信号処理装置35の制御の下
で動作させる代わりに、操作部71のインプットボタン73
によって穿孔を中止させることもできる。このようにす
れば自動検査部31が瑕疵と判断した部分であっても、作
業者がベリフィケーション部41又は目視検査部51で確認
した結果、ICの実装が可能であると最終的に判断した場
合には、そのフレームに穿孔することを回避できる。こ
の場合にも瑕疵の種類に応じて、複数種類のマーキング
が可能である。本実施例ではパンチャ61を用いたが、肉
眼で認識できるものであればその他のものでもよく、た
とえば瑕疵のあるフレームに特別の文字や記号を付着す
ることなどが考えられる。
で動作させる代わりに、操作部71のインプットボタン73
によって穿孔を中止させることもできる。このようにす
れば自動検査部31が瑕疵と判断した部分であっても、作
業者がベリフィケーション部41又は目視検査部51で確認
した結果、ICの実装が可能であると最終的に判断した場
合には、そのフレームに穿孔することを回避できる。こ
の場合にも瑕疵の種類に応じて、複数種類のマーキング
が可能である。本実施例ではパンチャ61を用いたが、肉
眼で認識できるものであればその他のものでもよく、た
とえば瑕疵のあるフレームに特別の文字や記号を付着す
ることなどが考えられる。
スプライサ81はTABテープ３の連続するフレームに亘っ
て瑕疵が多数検出された場合にその連続するいくつかの
フレームを切除し、その部分の前後を再び接合する装置
である。第５図はこのスプライサ81の概略斜視図であ
る。TABテープ３に所定数以上のフレーム（たとえば、1
0フレーム以上）に亘って連続して瑕疵が検出されたと
きは、瑕疵のあるフレームについての情報が自動検査部
31の信号処理装置35からスプライサ81に送られる。スプ
ライサ81はこの情報に基づいて連続して瑕疵のある部分
を専用のカッタ83でカットするとともに、この切除した
部分の前部3aの端面と後部3bの端面とを第５図に示すよ
うに突き合わせてスプライシングテープ85で接合する。
この後、成形カッタ87を第５図の矢印Ｙ方向に回動して
倒すことにより、スプライシングテープ85のTABテープ
３からはみ出した部分をカットすると同時に、スプライ
シングテープ85にスプロケット穴をあける。このように
して検査されたTABテープ３から所定数以上連続して瑕
疵があるフレームを取り除くことができる。
て瑕疵が多数検出された場合にその連続するいくつかの
フレームを切除し、その部分の前後を再び接合する装置
である。第５図はこのスプライサ81の概略斜視図であ
る。TABテープ３に所定数以上のフレーム（たとえば、1
0フレーム以上）に亘って連続して瑕疵が検出されたと
きは、瑕疵のあるフレームについての情報が自動検査部
31の信号処理装置35からスプライサ81に送られる。スプ
ライサ81はこの情報に基づいて連続して瑕疵のある部分
を専用のカッタ83でカットするとともに、この切除した
部分の前部3aの端面と後部3bの端面とを第５図に示すよ
うに突き合わせてスプライシングテープ85で接合する。
この後、成形カッタ87を第５図の矢印Ｙ方向に回動して
倒すことにより、スプライシングテープ85のTABテープ
３からはみ出した部分をカットすると同時に、スプライ
シングテープ85にスプロケット穴をあける。このように
して検査されたTABテープ３から所定数以上連続して瑕
疵があるフレームを取り除くことができる。
次に、第１図乃至第３図をも参照して本発明の主要部の
動作について説明する。第１図はTABテープの停止位置
を検出する停止位置検出器とTABテープの縁辺に設けら
れたスプロケット穴との位置関係を示す図である。停止
位置検出器23はTABテープ３の下側の発光部23aと上側の
受光部23bよりなる透過型光電スイッチであり、受光部2
3bはスプロケット穴９を通過した光を受光した時にオ
ン、スプロケット穴９とスプロケット穴９の間の部分で
光が遮断された時にオフとなる。この透過型光電スイッ
チの分解能はたとえば±５μｍである。
動作について説明する。第１図はTABテープの停止位置
を検出する停止位置検出器とTABテープの縁辺に設けら
れたスプロケット穴との位置関係を示す図である。停止
位置検出器23はTABテープ３の下側の発光部23aと上側の
受光部23bよりなる透過型光電スイッチであり、受光部2
3bはスプロケット穴９を通過した光を受光した時にオ
ン、スプロケット穴９とスプロケット穴９の間の部分で
光が遮断された時にオフとなる。この透過型光電スイッ
チの分解能はたとえば±５μｍである。
停止位置検出器23は、第１図に示すようにTABテープ３
が所定位置で停止しているときに、発光部23aからの光
が長方形のスプロケット穴９の一辺9aに接して通過する
ように配置する。受光部23bはある閾値を有し、受光し
た光がこの閾値以下の時はオフ、この閾値以上の時はオ
ンとなるので、その出力は２値信号となる。したがっ
て、TABテープ３が所定の停止位置を越えて停止した場
合はオフ、所定の停止位置に至る前に停止した場合はオ
ンとなる。この検出方法は停止位置の誤差がスプロケッ
ト穴９の寸法を越えるような場合には使用できないが、
ピンチロール91で移送する場合、それ程大きい誤差は生
じないので事実上問題はない。
が所定位置で停止しているときに、発光部23aからの光
が長方形のスプロケット穴９の一辺9aに接して通過する
ように配置する。受光部23bはある閾値を有し、受光し
た光がこの閾値以下の時はオフ、この閾値以上の時はオ
ンとなるので、その出力は２値信号となる。したがっ
て、TABテープ３が所定の停止位置を越えて停止した場
合はオフ、所定の停止位置に至る前に停止した場合はオ
ンとなる。この検出方法は停止位置の誤差がスプロケッ
ト穴９の寸法を越えるような場合には使用できないが、
ピンチロール91で移送する場合、それ程大きい誤差は生
じないので事実上問題はない。
受光部23bの出力は制御部92に送られる。第２図はこの
制御部92の動作を示すフローチャートである。ステップ
１において、TABテープ３の検査が開始されたときの最
初の移送距離P0を設定する。この移送距離P0は何フレー
ム毎に検査するかによって異なり、たとえば１フレーム
毎に検査する場合には１フレームに相当する長さ（たと
えば28.5mm）を、また６フレーム毎に検査する場合は６
フレームに相当する長さ（６×28.5mm）を最初の移送距
離P0として設定する。
制御部92の動作を示すフローチャートである。ステップ
１において、TABテープ３の検査が開始されたときの最
初の移送距離P0を設定する。この移送距離P0は何フレー
ム毎に検査するかによって異なり、たとえば１フレーム
毎に検査する場合には１フレームに相当する長さ（たと
えば28.5mm）を、また６フレーム毎に検査する場合は６
フレームに相当する長さ（６×28.5mm）を最初の移送距
離P0として設定する。
ステップ２はステップ１で設定した距離だけピンチロー
ル91によりTABテープ３を移送した後、TABテープ３を停
止し、ステップ３において停止位置検出器23がオンかオ
フかを判断する。このとき、第１図より理解されるよう
にTABテープ３が所定の停止位置を越えてから停止した
場合には光は遮断されるのでオフとなり、所定の停止位
置に至る前で停止した場合には光はスプロケット穴９を
通過するのでオンとなる。これによりステップ３でオン
と判断したときは、ステップ４において次回の移送距離
をたとえば10μｍ長く設定する（Ｐ＝P0＋10μｍ）。一
方、ステップ３でオフと判断したときはステップ５にお
いて次回の移送距離をたとえば10μｍ短く設定する（Ｐ
＝P0−10μｍ）。新しい移送距離が設定されると次のフ
レームを検査すべく再びステップ２に戻ってTABテープ
３を移送し、以下上記と同様の動作が繰り返される。こ
のようにして、ピンチロール91のスリップにより生ずる
送り位置のずれを修正し、TABテープ３を所定誤差範囲
内の位置に停止して検査を行う。
ル91によりTABテープ３を移送した後、TABテープ３を停
止し、ステップ３において停止位置検出器23がオンかオ
フかを判断する。このとき、第１図より理解されるよう
にTABテープ３が所定の停止位置を越えてから停止した
場合には光は遮断されるのでオフとなり、所定の停止位
置に至る前で停止した場合には光はスプロケット穴９を
通過するのでオンとなる。これによりステップ３でオン
と判断したときは、ステップ４において次回の移送距離
をたとえば10μｍ長く設定する（Ｐ＝P0＋10μｍ）。一
方、ステップ３でオフと判断したときはステップ５にお
いて次回の移送距離をたとえば10μｍ短く設定する（Ｐ
＝P0−10μｍ）。新しい移送距離が設定されると次のフ
レームを検査すべく再びステップ２に戻ってTABテープ
３を移送し、以下上記と同様の動作が繰り返される。こ
のようにして、ピンチロール91のスリップにより生ずる
送り位置のずれを修正し、TABテープ３を所定誤差範囲
内の位置に停止して検査を行う。
第３図は他の制御部の動作を示すフローチャートであ
り、第２図と同一動作部分には同一符号を付し、その説
明を省略する。本フローチャートは、ステップ２とステ
ップ３の間にTABテープ３の終端部を検出するためにス
テップ６及びステップ７の動作を付加した点が第２図に
示すものと異なる。
り、第２図と同一動作部分には同一符号を付し、その説
明を省略する。本フローチャートは、ステップ２とステ
ップ３の間にTABテープ３の終端部を検出するためにス
テップ６及びステップ７の動作を付加した点が第２図に
示すものと異なる。
検査段階におけるTABテープ３の終端部にはスプロケッ
ト穴が設けられていない場合がある。このため、TABテ
ープ３が終端部に達するとそれまでオン／オフを繰り返
していた第４図の終端検出器25がオフになったままとな
る。したがって、ステップ６において終端検出器25がオ
ン／オフを繰り返していると判断した時はステップ３に
移行し前述の動作を行い、オン／オフの繰り返しを停止
したと判断した時はステップ７に移行する。ステップ７
ではTABテープ３の移送距離をステップ１で設定した最
初の移送距離P0に再び設定する。このように、TABテー
プの終端部にスプロケット穴９が形成されていない場合
には、終端部近傍のTABテープ３は停止位置検出器23か
らの信号に基づくフィードフォワードを行わずに、最初
に設定した移送距離P0で送る。これにより、終端部にス
プロケット穴が形成されていない場合でも、終端部近傍
のTABテープ３を正確に移送することができる。
ト穴が設けられていない場合がある。このため、TABテ
ープ３が終端部に達するとそれまでオン／オフを繰り返
していた第４図の終端検出器25がオフになったままとな
る。したがって、ステップ６において終端検出器25がオ
ン／オフを繰り返していると判断した時はステップ３に
移行し前述の動作を行い、オン／オフの繰り返しを停止
したと判断した時はステップ７に移行する。ステップ７
ではTABテープ３の移送距離をステップ１で設定した最
初の移送距離P0に再び設定する。このように、TABテー
プの終端部にスプロケット穴９が形成されていない場合
には、終端部近傍のTABテープ３は停止位置検出器23か
らの信号に基づくフィードフォワードを行わずに、最初
に設定した移送距離P0で送る。これにより、終端部にス
プロケット穴が形成されていない場合でも、終端部近傍
のTABテープ３を正確に移送することができる。
ステップ７を通過する代わりに破線（イ）で示す経路を
通るようにしてもよい。この場合には、現在検査してい
るTABテープの最後の移送距離を次の移送距離として、
終端部近傍の各フレームの検査を行う。
通るようにしてもよい。この場合には、現在検査してい
るTABテープの最後の移送距離を次の移送距離として、
終端部近傍の各フレームの検査を行う。
尚、上記の実施例では位置検出装置21として停止位置検
出器23と終端検出器25とを別々に設けたが、１つの検出
器で兼用させてもよい。
出器23と終端検出器25とを別々に設けたが、１つの検出
器で兼用させてもよい。
また、上記の実施例ではTABテープの検査装置を例にし
て説明したが、本発明は上記実施例に限らず、一般の長
尺状物品の検査装置に広く応用することができる。
て説明したが、本発明は上記実施例に限らず、一般の長
尺状物品の検査装置に広く応用することができる。
以上説明したように本発明によれば、スリップを生じる
虞がある移送手段を用いて帯状体を移送する場合であっ
ても、間欠的に移送される帯状体を、簡易な構成により
正確な位置に停止させることができる帯状体の自動検査
装置を提供することができる。
虞がある移送手段を用いて帯状体を移送する場合であっ
ても、間欠的に移送される帯状体を、簡易な構成により
正確な位置に停止させることができる帯状体の自動検査
装置を提供することができる。
第１図は帯状体と停止位置検出器の位置関係を示す斜視
図、第２図及び第３図は制御部の動作を示すフローチャ
ート、第４図は本発明の１実施例を示す概略構成図、第
５図はスプライサの概略斜視図である。 １……供給リール、３……TABテープ、 ５・15……インタリーバ、 ７・17……リール、９……スプロケット、 11……巻取リール、21……位置検出装置、 23……停止位置検出器、25……終端検出器、 31……自動検査部、 41……ベリフィケーション部、 51……目視検査部、61……パンチャ、 71……操作部、81……スプライサ、 91……ピンチロール、92……制御部、 101……オフライン対話システム。
図、第２図及び第３図は制御部の動作を示すフローチャ
ート、第４図は本発明の１実施例を示す概略構成図、第
５図はスプライサの概略斜視図である。 １……供給リール、３……TABテープ、 ５・15……インタリーバ、 ７・17……リール、９……スプロケット、 11……巻取リール、21……位置検出装置、 23……停止位置検出器、25……終端検出器、 31……自動検査部、 41……ベリフィケーション部、 51……目視検査部、61……パンチャ、 71……操作部、81……スプライサ、 91……ピンチロール、92……制御部、 101……オフライン対話システム。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 常田 晴弘 長野県伊那市上の原6100番地 株式会社三 協精機製作所伊那工場内 (72)発明者 和田 孝章 長野県伊那市上の原6100番地 株式会社三 協精機製作所伊那工場内 (72)発明者 藤村 幸男 長野県伊那市上の原6100番地 株式会社三 協精機製作所伊那工場内 (56)参考文献 特開 昭61−11268（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−74186（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−36254（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−127962（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−38365（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】端部にスプロケット穴を有し、検査対象と
なるフレームが複数連続して構成された帯状体を所定の
フレーム数に相当する距離だけ移送して停止する移送手
段を有し、前記帯状体が搬送される間に各フレーム毎に
瑕疵の有無を検査する帯状体の自動検査装置において、 前記帯状体に形成されているスプロケット穴の移送方向
に位置する端縁部で遮蔽される光量が所定の値より大き
いか小さいかを判断することにより、移送後の帯状体が
所定の停止位置を越えて停止したか否かを検出する停止
位置検出手段と、 該停止位置検出手段からの信号に基づいて、帯状体が前
記所定の停止位置を越えて停止したときは次回の移送距
離を第１の微小距離だけ短くし、帯状体が前記所定の停
止位置に至る前に停止したときは次回の移送距離を第２
の微小距離だけ長くするよう前記移送手段の移送を制御
する制御手段とを設けたことを特徴とする帯状体の自動
検査装置。 - 【請求項２】請求項１記載の帯状体の自動検査装置にお
いて、帯状体の終端部を検出する終端検出手段を設け、
該終端検出手段が帯状体の終端部を検出したときは、前
記制御手段は帯状体の移送距離が所定距離となるよう前
記移送手段を制御するように構成したことを特徴とする
帯状体の自動検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1171506A JPH0694323B2 (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 帯状体の自動検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1171506A JPH0694323B2 (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 帯状体の自動検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0336144A JPH0336144A (ja) | 1991-02-15 |
| JPH0694323B2 true JPH0694323B2 (ja) | 1994-11-24 |
Family
ID=15924376
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1171506A Expired - Lifetime JPH0694323B2 (ja) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | 帯状体の自動検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0694323B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0695189B2 (ja) * | 1984-05-09 | 1994-11-24 | 株式会社精工舎 | プログラムシヤツタ |
| CN112938608B (zh) * | 2019-12-11 | 2023-07-21 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 自动送料加工方法及装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5774186A (en) * | 1980-10-29 | 1982-05-10 | Shinko Electric Co Ltd | Sheet feeding mechanism for printer |
| JPS6036254A (ja) * | 1983-08-03 | 1985-02-25 | Ckd Corp | 間欠搬送位置検出装置 |
| JPS6111268A (ja) * | 1984-06-27 | 1986-01-18 | Nippon Digital Equip Kenkyu Kaihatsu Center Kk | 紙送り装置 |
| JPS63127962A (ja) * | 1986-11-19 | 1988-05-31 | Minolta Camera Co Ltd | ロ−ル状メデイアの搬送装置 |
-
1989
- 1989-07-03 JP JP1171506A patent/JPH0694323B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0336144A (ja) | 1991-02-15 |
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