JPH07182154A - 半導体集積回路およびその検査装置 - Google Patents
半導体集積回路およびその検査装置Info
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- JPH07182154A JPH07182154A JP5328600A JP32860093A JPH07182154A JP H07182154 A JPH07182154 A JP H07182154A JP 5328600 A JP5328600 A JP 5328600A JP 32860093 A JP32860093 A JP 32860093A JP H07182154 A JPH07182154 A JP H07182154A
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- JP
- Japan
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- semiconductor integrated
- integrated circuit
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 37
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000008685 targeting Effects 0.000 description 1
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- Storage Device Security (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 自社製のROMコードを載せたオリジナル品
か他社の複製品かを識別できるようにする。 【構成】 受注したROMコード毎に付与する特定の識
別名称を記憶する手段と、記憶内容を内部あるいは外部
に出力する手段とを備え、ROMコードの複製品が市場
に出回った場合に記憶された識別名称により区別する。
か他社の複製品かを識別できるようにする。 【構成】 受注したROMコード毎に付与する特定の識
別名称を記憶する手段と、記憶内容を内部あるいは外部
に出力する手段とを備え、ROMコードの複製品が市場
に出回った場合に記憶された識別名称により区別する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ROM(プログラムメ
モリ)を内蔵する半導体集積回路に関する。本発明は、
内蔵するROM(プログラムメモリ)の機密保護に利用
する。
モリ)を内蔵する半導体集積回路に関する。本発明は、
内蔵するROM(プログラムメモリ)の機密保護に利用
する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の技術として、特開平2−
85945号公報に開示されたものがある。これは、図
5に示すように構成され、ROM(プログラムメモリ)
の内容が直接外部に読み出されることを禁止するため
に、ROM(プログラムメモリ)のデータと、外部より
任意な値をプリセットできる任意数カウンタの出力デー
タとの演算を行い、その演算結果を出力し、第三者によ
るソフトウェアのコピーなどに対する機密保護を行うも
のである。
85945号公報に開示されたものがある。これは、図
5に示すように構成され、ROM(プログラムメモリ)
の内容が直接外部に読み出されることを禁止するため
に、ROM(プログラムメモリ)のデータと、外部より
任意な値をプリセットできる任意数カウンタの出力デー
タとの演算を行い、その演算結果を出力し、第三者によ
るソフトウェアのコピーなどに対する機密保護を行うも
のである。
【0003】また、他の例としては特開平1−3143
60号公報に開示された図6に示すものがある。この例
は、回数記憶手段の不一致回数に応じた待ち時間がタイ
マによって設定され、電源投入時にその待ち時間に応じ
てパスワードの入力が待たされる。入力パスワードが内
部パスワードと不一致のときにその回数が加算され、こ
の回数が加算されるにしたがって待ち時間が長くなるの
で、パスワードの誤入力が重なるにつれてアクセスが困
難になり、メモリ内容の機密が保持されるものである。
60号公報に開示された図6に示すものがある。この例
は、回数記憶手段の不一致回数に応じた待ち時間がタイ
マによって設定され、電源投入時にその待ち時間に応じ
てパスワードの入力が待たされる。入力パスワードが内
部パスワードと不一致のときにその回数が加算され、こ
の回数が加算されるにしたがって待ち時間が長くなるの
で、パスワードの誤入力が重なるにつれてアクセスが困
難になり、メモリ内容の機密が保持されるものである。
【0004】これらはいずれも、ROM(プログラムメ
モリ)の内容そのものの流出を防止するように構成され
たものである。
モリ)の内容そのものの流出を防止するように構成され
たものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような従来回路の
場合でも、リバースエンジニアリングなど何らかの手段
でオリジナルソースコードを入手することはあり得る。
ソースコードを入手してしまえば、全く同じ動作をする
半導体集積回路を入手することは極めて容易である。
場合でも、リバースエンジニアリングなど何らかの手段
でオリジナルソースコードを入手することはあり得る。
ソースコードを入手してしまえば、全く同じ動作をする
半導体集積回路を入手することは極めて容易である。
【0006】また、さらに問題なのは、従来の技術では
ROM(プログラムメモリ)の内容そのものの流出を防
止することを要旨としているので、オリジナル品か複製
品かの区別がユーザ側の装置ではできない問題がある。
ソースコードが同じであれば、全く同じ動作をする半導
体集積回路を作ることができるので、ソースコードを入
手してしまえば、容易に最終装置の複製が作成可能とな
る。
ROM(プログラムメモリ)の内容そのものの流出を防
止することを要旨としているので、オリジナル品か複製
品かの区別がユーザ側の装置ではできない問題がある。
ソースコードが同じであれば、全く同じ動作をする半導
体集積回路を作ることができるので、ソースコードを入
手してしまえば、容易に最終装置の複製が作成可能とな
る。
【0007】さらには、複製防止のために、LSIをカ
スタム品として他のソフトメーカに出荷しないという対
策もあるが、LSIメーカにとっては、売れるか売れな
いかわからないゲームソフトについてLSIを開発しな
くてはならないため、開発リスクが大きくなるという問
題もある。
スタム品として他のソフトメーカに出荷しないという対
策もあるが、LSIメーカにとっては、売れるか売れな
いかわからないゲームソフトについてLSIを開発しな
くてはならないため、開発リスクが大きくなるという問
題もある。
【0008】本発明はのこような問題を解決するもの
で、ユーザ側でオリジナル品か複製品の識別ができ、複
製品では動作しないようにすることができる半導体集積
回路およびその検査装置を提供することを目的とする。
で、ユーザ側でオリジナル品か複製品の識別ができ、複
製品では動作しないようにすることができる半導体集積
回路およびその検査装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の第一は、プログ
ラムが記録されたROMを備えた半導体集積回路におい
て、前記プログラム毎に分類されすべての製品について
異なる識別名称を記録する記録領域を設け、この記録領
域に記録された識別名称を読出す制御手段を備えたこと
を特徴とする。
ラムが記録されたROMを備えた半導体集積回路におい
て、前記プログラム毎に分類されすべての製品について
異なる識別名称を記録する記録領域を設け、この記録領
域に記録された識別名称を読出す制御手段を備えたこと
を特徴とする。
【0010】前記制御手段は、前記プログラムの読出に
際してこの記録領域に記録された識別名称が共に読出さ
れるように制御する手段であり、前記識別名称は製造番
号に対応する符号であることが望ましい。
際してこの記録領域に記録された識別名称が共に読出さ
れるように制御する手段であり、前記識別名称は製造番
号に対応する符号であることが望ましい。
【0011】本発明の第二は、前記半導体集積回路の検
査装置において、半導体集積回路の製造時に一品毎にそ
の識別名称が記録されたデータベースを備え、被試験半
導体集積回路からその識別名称を読出してそのデータベ
ースの記録と照合し、そのデータベースに該当記録があ
るときに正当であることを表示する手段を備えたことを
特徴とする。
査装置において、半導体集積回路の製造時に一品毎にそ
の識別名称が記録されたデータベースを備え、被試験半
導体集積回路からその識別名称を読出してそのデータベ
ースの記録と照合し、そのデータベースに該当記録があ
るときに正当であることを表示する手段を備えたことを
特徴とする。
【0012】
【作用】集積回路の製造工程では受注したプログラムが
書込まれたROM(ここでは「ROMコード」という)
毎に、ROMコードマスクの作成、ROMコードテスト
パターン、入庫あるいは出庫処理などで使用され、製品
名と併せて互いに重なることない完全に独立した特定の
識別名称が利用されている。その識別名称をその半導体
集積回路の記録領域に記録しておく。外部命令または内
部命令を受けたときに、その識別名称を出力できるよう
になっている。
書込まれたROM(ここでは「ROMコード」という)
毎に、ROMコードマスクの作成、ROMコードテスト
パターン、入庫あるいは出庫処理などで使用され、製品
名と併せて互いに重なることない完全に独立した特定の
識別名称が利用されている。その識別名称をその半導体
集積回路の記録領域に記録しておく。外部命令または内
部命令を受けたときに、その識別名称を出力できるよう
になっている。
【0013】この識別名称は製造番号に対応するもので
あり、この識別名称は当該半導体集積回路の記録領域に
記録されるとともに、製造管理を行うコンピュータによ
りROMコード対応にデータ・ベースに記録される。
あり、この識別名称は当該半導体集積回路の記録領域に
記録されるとともに、製造管理を行うコンピュータによ
りROMコード対応にデータ・ベースに記録される。
【0014】このようにして製造された半導体集積回路
に初期プログラムの書込を行うなどの利用を開始すると
きに、この記録領域に記録された識別名称を読出してみ
て、その識別名称をデータ・ベースの記録と照合する。
この識別名称がデータ・ベースの記録にあればそれは当
社製の正当な製品である。この識別名称がデータ・ベー
スになければ、あるいは識別名称が記録されていないな
ど識別名称の読出が不能であれば、これは他社製の模造
品であることがわかる。
に初期プログラムの書込を行うなどの利用を開始すると
きに、この記録領域に記録された識別名称を読出してみ
て、その識別名称をデータ・ベースの記録と照合する。
この識別名称がデータ・ベースの記録にあればそれは当
社製の正当な製品である。この識別名称がデータ・ベー
スになければ、あるいは識別名称が記録されていないな
ど識別名称の読出が不能であれば、これは他社製の模造
品であることがわかる。
【0015】読出した識別名称をデータ・ベースと照合
し、照合がとれたときにはその旨をデータ・ベースの該
当位置に記録しておくと、別の半導体集積回路の識別名
称を読出したときに、すでに照合した記録がある識別名
称が再び現れたとすると、これは識別名称までコピーし
た不当な製品であることがわかる。
し、照合がとれたときにはその旨をデータ・ベースの該
当位置に記録しておくと、別の半導体集積回路の識別名
称を読出したときに、すでに照合した記録がある識別名
称が再び現れたとすると、これは識別名称までコピーし
た不当な製品であることがわかる。
【0016】これにより、ユーザ側でオリジナル品か複
製品かを識別することができ、複製品では動作しない装
置を作成することができる。
製品かを識別することができ、複製品では動作しない装
置を作成することができる。
【0017】
【実施例】次に、本発明実施例について説明する。本発
明実施例半導体集積回路は、プログラムが記録されたR
OMを備え、さらに、プログラム毎に分類されすべての
製品について異なる識別名称を記録する記録領域を設
け、この記録領域に記録された識別名称を読出す制御手
段を備える。この制御手段は、前記プログラムの読出に
際してこの記録領域に記録された識別名称が共に読出さ
れるように制御する手段であり、前記識別名称は製造番
号に対応する符号である。
明実施例半導体集積回路は、プログラムが記録されたR
OMを備え、さらに、プログラム毎に分類されすべての
製品について異なる識別名称を記録する記録領域を設
け、この記録領域に記録された識別名称を読出す制御手
段を備える。この制御手段は、前記プログラムの読出に
際してこの記録領域に記録された識別名称が共に読出さ
れるように制御する手段であり、前記識別名称は製造番
号に対応する符号である。
【0018】このように構成された半導体集積回路の検
査装置は、図1に示すように、中央処理装置101と、
被試験半導体集積回路100の製造時に一品毎にその識
別名称が記録されたデータベース102と、その被試験
半導体集積回路100から識別名称を読出してデータベ
ース102の記録と照合し、そのデータベース102に
該当記録があるときに正当であることを表示する表示手
段103とを備える。
査装置は、図1に示すように、中央処理装置101と、
被試験半導体集積回路100の製造時に一品毎にその識
別名称が記録されたデータベース102と、その被試験
半導体集積回路100から識別名称を読出してデータベ
ース102の記録と照合し、そのデータベース102に
該当記録があるときに正当であることを表示する表示手
段103とを備える。
【0019】図2はこの検査装置による照合動作の流れ
を示す流れ図である。正当不当の照合動作は、中央処理
装置101がROMコード対応の被試験半導体集積回路
100の識別名称の読み出しを行い、読み出されたとき
は、データベース102のリストとの照合を行い、該当
するものがあるか否かを判断する。該当するものがあれ
ばリストに記録し、表示手段103に正当表示を行う。
被試験半導体集積回路100は初期化書き込みなどの次
のステップに送られる。読み出しが不能、あるいはデー
タベース102のリストに該当するものがなかった場合
は、表示手段103に不当表示を行い、その被試験半導
体集積回路100はリジェクトされる。
を示す流れ図である。正当不当の照合動作は、中央処理
装置101がROMコード対応の被試験半導体集積回路
100の識別名称の読み出しを行い、読み出されたとき
は、データベース102のリストとの照合を行い、該当
するものがあるか否かを判断する。該当するものがあれ
ばリストに記録し、表示手段103に正当表示を行う。
被試験半導体集積回路100は初期化書き込みなどの次
のステップに送られる。読み出しが不能、あるいはデー
タベース102のリストに該当するものがなかった場合
は、表示手段103に不当表示を行い、その被試験半導
体集積回路100はリジェクトされる。
【0020】ここで、本発明実施例半導体集積回路を具
体的に説明する。
体的に説明する。
【0021】(第一実施例)図3は本発明第一実施例に
おける半導体集積回路の構成を示すブロック図である。
おける半導体集積回路の構成を示すブロック図である。
【0022】本発明第一実施例は、デコーダ5に接続さ
れたROM(プログラムメモリ)4と、このROM4に
接続されたプログラムカウンタ3と、演算論理ユニット
6と、RAM7と、外部と接続するインタフェース8と
が内部バス2に接続され、さらに、内部バス2に、異な
るROMコード(プログラム)を識別する識別名称を記
憶するROMコードレジスタ1が接続され、インタフェ
ース8に、このROMコードレジスタ1の記憶内容を内
部命令または外部命令により出力する手段を含む。
れたROM(プログラムメモリ)4と、このROM4に
接続されたプログラムカウンタ3と、演算論理ユニット
6と、RAM7と、外部と接続するインタフェース8と
が内部バス2に接続され、さらに、内部バス2に、異な
るROMコード(プログラム)を識別する識別名称を記
憶するROMコードレジスタ1が接続され、インタフェ
ース8に、このROMコードレジスタ1の記憶内容を内
部命令または外部命令により出力する手段を含む。
【0023】このように構成された本発明第一実施例
は、外部命令または内部命令によりROMコードレジス
タ1の読み出しが実行されると、内部バス2とインタフ
ェース8を介して半導体集積回路の外部に識別名称が読
み出される。このようにして特定レジスタの読み出しが
実行されると、受注したROMコード毎に固有のデータ
が読み出され、ユーザがそのデータをチェックする機能
を組み込むことで、複製品では動作しない装置を作るこ
とができる。
は、外部命令または内部命令によりROMコードレジス
タ1の読み出しが実行されると、内部バス2とインタフ
ェース8を介して半導体集積回路の外部に識別名称が読
み出される。このようにして特定レジスタの読み出しが
実行されると、受注したROMコード毎に固有のデータ
が読み出され、ユーザがそのデータをチェックする機能
を組み込むことで、複製品では動作しない装置を作るこ
とができる。
【0024】(第二実施例)図4は本発明第二実施例の
構成を示すブロック図である。本発明第二実施例は、第
一実施例の構成に加えて、内部信号RSTが“HI”の
ときにROMコードレジスタ1から前記識別名称を入力
し、内部信号RSTが“LOW”のときに内部バス2か
らデータを入力し出力するマルチプレクサ20と、この
マルチプレクサ20が受けた内部信号が“HI”のとき
に前記識別名称が書き込まれるレジスタ19とが備えら
れる。
構成を示すブロック図である。本発明第二実施例は、第
一実施例の構成に加えて、内部信号RSTが“HI”の
ときにROMコードレジスタ1から前記識別名称を入力
し、内部信号RSTが“LOW”のときに内部バス2か
らデータを入力し出力するマルチプレクサ20と、この
マルチプレクサ20が受けた内部信号が“HI”のとき
に前記識別名称が書き込まれるレジスタ19とが備えら
れる。
【0025】レジスタ19は内部バス2から読み出し書
き込み可能であり、マルチプレクサ20は2入力マルチ
プレクサで、ROMコードレジスタ1の出力と内部バス
2が各々接続され、このマルチプレクサ20の出力がレ
ジスタ19の入力となっている。
き込み可能であり、マルチプレクサ20は2入力マルチ
プレクサで、ROMコードレジスタ1の出力と内部バス
2が各々接続され、このマルチプレクサ20の出力がレ
ジスタ19の入力となっている。
【0026】マルチプレクサ20は、本半導体装置の初
期化を行う内部信号RSTによって切り替えられる。R
ST=“HI”のときは、レジスタ1の出力が入力さ
れ、内部信号RST=“LOW”のときは、レジスタ1
9に内部バス2からのデータが入力される。ここで、レ
ジスタ19は動作上、初期値が不定なレジスタとする。
期化を行う内部信号RSTによって切り替えられる。R
ST=“HI”のときは、レジスタ1の出力が入力さ
れ、内部信号RST=“LOW”のときは、レジスタ1
9に内部バス2からのデータが入力される。ここで、レ
ジスタ19は動作上、初期値が不定なレジスタとする。
【0027】このように構成された本発明第二実施例
は、半導体集積回路の初期化時に、内部信号RST=
“HI”となるので、そのときのみレジスタ19には、
識別名称が書き込まれる。内部命令による書き込み、あ
るいは外部からの書き込みがない限りこの内容は保持さ
れる。
は、半導体集積回路の初期化時に、内部信号RST=
“HI”となるので、そのときのみレジスタ19には、
識別名称が書き込まれる。内部命令による書き込み、あ
るいは外部からの書き込みがない限りこの内容は保持さ
れる。
【0028】内部命令、あるいは外部からの書き込みが
起きる前に、レジスタ19を内部命令、あるいは外部か
らの命令により読み出しを実行すれば、ROMコード毎
に異なる識別名称が読み出せる。これによって、本半導
体装置を使用するユーザは、自社発注の製品か他社の複
製品か識別することができる。また、その後の内部命令
または、外部アクセスでは、レジスタ19は内部バス2
から通常のアクセスが実行されるので、識別番号が異な
っていても命令コードが同じであれば全く同じ動作をす
る。つまり、通常の動作には全く影響を与えない。
起きる前に、レジスタ19を内部命令、あるいは外部か
らの命令により読み出しを実行すれば、ROMコード毎
に異なる識別名称が読み出せる。これによって、本半導
体装置を使用するユーザは、自社発注の製品か他社の複
製品か識別することができる。また、その後の内部命令
または、外部アクセスでは、レジスタ19は内部バス2
から通常のアクセスが実行されるので、識別番号が異な
っていても命令コードが同じであれば全く同じ動作をす
る。つまり、通常の動作には全く影響を与えない。
【0029】このような構成にすることにより、専用に
レジスタを設けなくても、初期化直後の特定レジスタの
読み出しを実行することで、受注したROMコード毎に
固有のデータが読み出され、ユーザがそのデータをチェ
ックする機能を組み込めば、複製品では動作しないよう
な装置を作ることができる。
レジスタを設けなくても、初期化直後の特定レジスタの
読み出しを実行することで、受注したROMコード毎に
固有のデータが読み出され、ユーザがそのデータをチェ
ックする機能を組み込めば、複製品では動作しないよう
な装置を作ることができる。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ROM(プログラムメモリ)ごとの識別名称を記憶し、
その記憶内容を内部または外部に出力できるように構成
することにより、ユーザ側でオリジナル品か複製品かを
識別することができ、したがって、複製品では動作しな
い装置を作成することができる効果がある。
ROM(プログラムメモリ)ごとの識別名称を記憶し、
その記憶内容を内部または外部に出力できるように構成
することにより、ユーザ側でオリジナル品か複製品かを
識別することができ、したがって、複製品では動作しな
い装置を作成することができる効果がある。
【0031】また、半導体集積回路メーカは開発リスク
を負ったカスタム品ではなく、より広い市場をターゲッ
トとした汎用の製品を開発することでゲーム市場にも対
応することができ、ユーザであるゲームソフト開発メー
カは、コピー品を気にせずにオリジナルソースコードを
公開し、協力ソフトメーカに対して自社で開発したRO
Mコードを搭載した半導体集積回路の普及を計ることが
できる。
を負ったカスタム品ではなく、より広い市場をターゲッ
トとした汎用の製品を開発することでゲーム市場にも対
応することができ、ユーザであるゲームソフト開発メー
カは、コピー品を気にせずにオリジナルソースコードを
公開し、協力ソフトメーカに対して自社で開発したRO
Mコードを搭載した半導体集積回路の普及を計ることが
できる。
【0032】さらに、数個の識別符号を特定顧客に与え
ておけば、複数のROMコードに対応する装置を設計す
ることも可能である。
ておけば、複数のROMコードに対応する装置を設計す
ることも可能である。
【図1】本発明実施例における検査装置の全体構成を示
すブロック図。
すブロック図。
【図2】本発明実施例における照合動作の流れを示す流
れ図。
れ図。
【図3】本発明第一実施例における構成を示すブロック
図。
図。
【図4】本発明第二実施例における構成を示すブロック
図。
図。
【図5】従来例の構成を示すブロック図。
【図6】従来例の別の構成例を示す図。
1 ROMコードレジスタ 2 内部バス 3 プログラムカウンタ 4 ROM 5 デコーダ 6 演算論理ユニット 7 RAM 8 インタフェース 19 レジスタ 20 マルチプレクサ 100 被試験半導体集積回路 101 中央処理装置 102 データベース 103 表示手段
Claims (4)
- 【請求項1】 プログラムが記録されたROMを備えた
半導体集積回路において、 前記プログラム毎に分類されすべての製品について異な
る識別名称を記録する記録領域を設け、この記録領域に
記録された識別名称を読出す制御手段を備えたことを特
徴とする半導体集積回路。 - 【請求項2】 前記制御手段は、前記プログラムの読出
に際してこの記録領域に記録された識別名称が共に読出
されるように制御する手段である請求項1記載の半導体
集積回路。 - 【請求項3】 前記識別名称は製造番号に対応する符号
である請求項1記載の半導体集積回路。 - 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかに記載の半
導体集積回路の製造時に一品毎にその識別名称が記録さ
れたデータベースを備え、 被試験半導体集積回路からその識別名称を読出してその
データベースの記録と照合し、そのデータベースに該当
記録があるときに正当であることを表示する手段を備え
た半導体集積回路の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5328600A JPH07182154A (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 半導体集積回路およびその検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5328600A JPH07182154A (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 半導体集積回路およびその検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07182154A true JPH07182154A (ja) | 1995-07-21 |
Family
ID=18212092
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5328600A Pending JPH07182154A (ja) | 1993-12-24 | 1993-12-24 | 半導体集積回路およびその検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07182154A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS603748A (ja) * | 1983-06-22 | 1985-01-10 | Toshiba Corp | コントロ−ラ用メモリの照合方法 |
| JPH0375929A (ja) * | 1989-08-18 | 1991-03-29 | Nec Off Syst Ltd | プログラムローダ |
-
1993
- 1993-12-24 JP JP5328600A patent/JPH07182154A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS603748A (ja) * | 1983-06-22 | 1985-01-10 | Toshiba Corp | コントロ−ラ用メモリの照合方法 |
| JPH0375929A (ja) * | 1989-08-18 | 1991-03-29 | Nec Off Syst Ltd | プログラムローダ |
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