JPH07307359A - 集積回路のカプセル封止方法 - Google Patents
集積回路のカプセル封止方法Info
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- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
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Abstract
する。 【構成】 半導体回路のコンタクトパッドとリードフレ
ームの選定された部分との間に接続用ワイヤーを取り付
け(ボンディング)工程bと、成型の手段によりプラス
チックパッケージを作り、このパッケージが少なくも半
導体回路、支持面、接続用ワイヤー及びリードフレーム
の一部を囲む工程cとの間に、半導体回路の支持面に取
り付けられた側とは反対の側において予定体積の放射に
透明なプラスチックを供給する工程を含み、このプラス
チックが工程cの実行に使用される温度より低温のガラ
ス化温度を持つ。
Description
導体集積回路(ダイ)のカプセル封止方法に関する。
半導体回路を取り付け、 b)半導体回路のコンタクトパッドとリードフレームの
選定された部分との間に接続用ワイヤーを取り付け(ボ
ンディング)、 c)成型の手段によりプラスチックパッケージを作る。
このパッケージは少なくも半導体回路、支持面、接続用
ワイヤー及びリードフレームの一部を囲む。
部品を備えた集積回路を囲むカプセル封止であって放射
に対して透明な窓を有するカプセル封止を得るための方
法に関する。用語「放射」は、スペクトルの可視部分の
放射並びにスペクトルの赤外線部分又は紫外線部分の放
射の両者の広い観念を包含する。
においては、一方ではいわゆるセラミック封止の説明が
与えられ、他方、セラミック封止に代わって使用し得る
プラスチックカプセル封止の説明が与えられる。両者と
も、放射が回路に衝突するであろう側において集積回路
が開かれるように封止が具体化される。この開かれた側
は、その後、これを別のガラス小板により覆うことがで
き、或いは感光要素を何も含まない集積回路の場合は金
属小板のような別の素材の小板により覆うことができ
る。
価格上昇をもたらすであろうということは良く知られて
いる。従って、セラミック封止は、高度の要求を満たさ
ねばならない構成要素用に殆ど専ら使用される。更に、
別の被覆用ガラス小板の使用は多くの利点を持つ。この
小板を封止の関係部分に取り付けるためには特別な接合
剤又は接着剤が必要である。更に、集積回路の上方の予
定位置に置かれた窓への光の入射を制限することは、更
なる方法を取ることなしでは不可能である。ガラス小板
の緩み又は破損を起こし或いは封止を破損させ又はその
他の損傷を生じ得る応力が温度変化より導かれるかも知
れないという更なる不利が残る。
は、開放空間内に成型されかつこの空間を完全に満た
す、例えば欧州特許出願EP−0400176に説明さ
れた透明プラスチックで行われる。この方法の欠点は標
準の(オープンツーリング)基本的部材を使用せず、従
ってこの方法の費用が比較的高いことである。
93345より知られ、これによりまず最初に、別の型
を使用して半導体回路上に透明プラスチックの層が置か
れ、この層は、硬化後、将来の光ウインドウを形成す
る。その後、この光ウインドウの上側に保護層が設けら
れ、こうして得られた半製品は完全な封止が得られるよ
うに別の型を使用してカプセル封止される。最後にウイ
ンドウから保護層が除去される。かかる方法は多くの工
程を有し、従って最終製品を得るために更に別の2工程
が必要であるという不利益がある。
し、かつ通常の、いわゆる「オープンツーリング“open
tooling”」リードフレームを使用して、ウインドウを
有するカプセル封止内に集積回路を作り得る方法を示す
ことである。
は最初の段落に説明された方法であって、工程b)と
c)との間において次の付加工程が実行される方法によ
り達成される。
側とは反対の側において予定体積の放射に対し透明なプ
ラスチックの供給し、このプラスチックは工程c)の実
行に使用される温度より低温のガラス化温度を持つ。
れるであろう。
中における連続した種々の工程が示される。
きな平坦なシリコン板、いわゆるウエーファー上に多数
のこれら回路が作られる。回路作成工程の完了後、ウエ
ーファーは、切断又はエッチングのような公知の技術を
用いて個別の半導体回路又はチップに細分される。(英
文においては、チップの代わりに用語「ダイ」又は「ペ
レット」も使用される。)その後で、各チップは金属フ
レーム上に置かれる。このフレームは、全体としていわ
ゆるリードフレームが形成されるように相互連結部分の
手段により互いに連結された多数の接触ピンを備える。
かかるリードフレームの中央部分(パドル又はステム)
は支持面を備え、この上に半田処理手段又はそれ自体知
られるその他の方法によりチップを設置又は固定するこ
とができる。この方法でチップをリードフレームの中央
部分に固定した後で、種々の接触ピンとチップの接続面
又は「パッド」との間にボンディングワイヤーが接続さ
れる。この段階の完了後の結果が図1Aに図式的に断面
で示される。
0a、10b及び10cで示される。接触ピンは部分1
0aと10cとにより形成され、一方、リードフレーム
の中央の取付け面は10bにより示される。この取付け
面10b(英語で「ダイパッド」上にチップ12が本発
明の範囲内にない公知の方法で固定される。更に、一方
は接続用ピン10aと10c、他方はチップ12の間に
ボンディングワイヤー14aと14bが設置される。こ
れらの技術はそれ自体が公知であり、これ以上の説明は
何ら必要でない。
の段階において、チップ12の上面に少量の適切な透明
樹脂16を塗布するためにそれ自体が公知の定量供給手
段が使用される。樹脂16の粘稠度はチップ12上に幾
分か球状の層が残るようなものである。層16の塗布
後、この層は、本方法の次の段階の実行以前に少なくも
部分的に硬化される。
半製品は、半製品の回りに封止を作るためのそれ自体公
知の型の中に置かれる。封止作成用の樹脂は透明樹脂1
6のガラス化温度Tgより高い温度で処理され、従っ
て、前記樹脂16は少なくも成型工程中ある程度軟化さ
れるであろう。このため、層16の上側は型の壁に押し
付けられて平坦にプレスされ、同時に型の残りの自由空
間はカプセル封止用樹脂18で満たされる。このカプセ
ル封止された半導体回路が少なくも部分的に硬化した後
でかつ回路が型から取り出された後に、図1Cに示され
た断面の製品が得られる。樹脂16の硬化の程度及び樹
脂の体積の両者は最終的に得られるウインドウの直径D
(図1D)に影響を与える。
れ自体公知である。電圧が印加される個々の接触ピン1
0a、10c等が短絡しないようにこれらピンの間にま
だある接続用部分の除去により開始し、この後で、又は
同時に、これらのピンは、これらを所望の形、例えば図
1Dに示されたように垂直下方に曲げなければならな
い。
脂16の封止で形成された)ウインドウの品質のため、
部分16を形成する樹脂は多くの要求を満たさねばなら
ない。
なければならず、またスペクトルの可視部分だけでなく
スペクトルの紫外線部分及び赤外線部分の放射に対して
も高度に透明であるべきである。
される温度以下のガラス化温度Tgを持つべきであり、
従って、これによる透明樹脂の軟化により成型工程中に
この樹脂を最終の希望形状に適合させることができる。
に、チップ12の上面とウインドウ16の上面とは本質
的に平行でなければならない。従って、最終製品の品質
は、チップ12の上面がウインドウ16の上面と平行に
走る長さによっても決定される。換言すれば、チップ1
2の上方のウインドウ16の高さが一定である方法であ
る。これに関連して、この段階を実行する前に取付け面
10bの下方に距離部材12を取り付けることにより、
特にカプセル封止用樹脂18の適用中にチップ12の固
定を得ることが提案された本発明と一致する。この距離
部材の使用は図2に詳細に示される。
に、距離部材20を使用したときの本発明による方法中
に生ずる一連の状況が図示される。図2Aの状況は図1
aの状況と事実上比較し得るものであり、距離部材20
が半田付け、接着などのような公知の技術を使って取付
け板10bの下側に取り付けられる。
の上面に適用され、この透明樹脂は部分的に硬化され半
製品となり、その断面は図2Bに示される。図2Bにお
いて塗布された透明樹脂16の量は図1bにおいて使用
された量よりは多く、製品はチップ12だけでなく取付
け面10bの少なくも一部分も樹脂で被覆される。
そしてカプセル封止用の樹脂18が予定の比較的高い温
度でこの型の中に供給される。この手順中、透明樹脂1
6の最初の盛上りの上に下向きで(図2Cによる状況に
おいて見られるような)型の上側に圧力が加えられる。
型の下側により支持された距離部材20があるので、チ
ップはこの圧力により少しも移動せず、逆にチップは定
位置に確実に固定されるであろう。型20の内壁が平行
に伸びておりかつ距離部材20が一定の厚さであるとす
れば、最終製品は、チップ12の上面がカプセル封止の
上面と平行に伸び、従ってウインドウ16が一様な厚さ
を有するカプセル封止されたチップである。多量の樹脂
が適用されたため、得られたウインドウの直径Dは図1
Dよりも大きい。
透明樹脂16の厚さを正確に予定できることが明らかで
あろう。更に、成型工程中の条件は再現可能であるた
め、図2Dの状況を得るため、及び型における整形後に
正確な寸法を有するウインドウを最終的に得るために、
チップ12の上面の上に適用すべき透明樹脂の量を予め
実験的に決定することができる。
けると同じ方法であって、使用される距離部材20’が
多少異なった形状にされた場合の本発明による方法の経
過中に生ずる一連の状況が示される。種々の図面から見
られるように、距離部材20’は、実際の距離決定用部
分を形成する多数の脚又はリブのある比較的薄い平板と
して具体化される。かかる距離部材20’を使用した結
果、距離部材の殆ど全部がカプセル封止用樹脂の中に埋
められる。これにより、樹脂と距離部材20’との間の
緊密な連結が得られる。
を示すために、チップ20の表面の一部だけが被覆され
るように比較的少量の樹脂が塗布される。図3Dに示さ
れたこの最終製品におけるウインドウの直径Dは図1D
及び2Dに示されたウインドウの直径より小さいことが
明らかであろう。
料でかつカプセル封止樹脂18と同じ熱膨張率を有する
材料で作られることが好ましい。
よりスクリーニング機能を得ることができる別の利点を
持つ。
面は、入射光の分散を小さくするように、又は分散がな
いように、できるだけ平滑であることが好ましい。型3
0の内壁を局部的に仕上げることにより高度の平滑度を
得ることができる。
えた型30の断面を示す。距離表示34aにより大まか
に示された上方部分30aの内壁の部分は、製造工程
中、透明樹脂16と接触する。この関連部分34aが例
えば研磨又はその他の適切な方法により平滑仕上げされ
ると、この型で作られた製品はウインドウ16の上側に
おいて平滑面が得られるであろう。型は、ウインドウ1
6の上側が0.2より良好な表面粗さRaを有すること
が好ましい。
してできるだけ良く保護するために、ウインドウ16の
表面のかき傷又はその他の損傷の機会を減らすように封
止の上側に多数の伸びている部分を作ることが好まし
い。この目的で、図4に示されるように、型は多数の切
取り部32a、32b、…を備え、最終製品は、図5に
図式的に示されるように多数の外向きに伸びている部分
36a、36b、…を備えることに気が付く。図5にお
いて、少なくもウインドウ16の上側を含み図式的に示
された表面34bは、型30の内壁の部分34aの仕上
げの結果、上述の数値内の非常に小さな粗さを持つ。
し得る封止の更なる実施例を示す。図1Dと図6との間
の相違は、ウインドウ17の上面が中低の形状を有し、
機能的なレンズを提供しかつ入射した放射をチップ12
の予定部分の上に多少とも収束させることが認められ
る。またこれ以上の図示なしで、型30の上方部分30
aの内壁がこのような方法で形成された中高の切取り部
を備え、これによりウインドウ16の所望の中低の湾曲
を実現できることは明らかである。
あり、これにより結果としてウインドウ16の中高形状
の面を具体化できる。
高の面を有し残りの部分が平らであるような形状に作り
得ることが明らかである。
的に入手可能である。例えば、製品Amicon Me 45 W、室
温で硬化する全く透明な2成分樹脂に注意が引かれる。
この樹脂は、多くの中でもGrece in Westerlo社により
供給される。その他の樹脂は、Hysol EPR 250-1、スペ
クトルの紫外線部分でも放射を伝達する光学的に全く透
明なエポキシ樹脂である。米国カルフォルニアのThe De
xter Corporationにより供給されるこの樹脂は、例えば
ある種のEPロムでなされるような紫外線放射の手段に
よりプログラムしならないチップの場合に特に適してい
る。
(図1D、2D、3D、5及び6参照)は、ピン穴取付
け用に対して意図されたが、伸びているリードピン、並
びにいわゆるSMD部品、表面取付けに適した諸部品の
別の仕上げが得られることは明らかである。
る。
面上に半導体回路を取り付け、 b)半導体回路のコンタクトパッドとリードフレームの
選定された部分との間に接続用ワイヤーを取り付け(ボ
ンディング)、 c)成型によりプラスチックパッケージを作り、このパ
ッケージが少なくも半導体回路、支持面、接続用ワイヤ
ー及びリードフレームの一部を囲むことを含み、工程
b)とc)との間において d)半導体回路の支持面に取り付けられた側とは反対の
側において所定量の放射に透明なプラスチックを供給
し、このプラスチックは工程c)の実行のために使用さ
れる温度より低いガラス化温度を持つことを特徴とする
集積半導体回路(ダイ)のカプセル封止方法。
の自由側に取り付けられることを特徴とする上記1によ
る方法。
板で構成されることを特徴とする上記2による方法。
決定する局部的に伸びている部分のある平らな部材より
構成されることを特徴とする上記2による方法。
を特徴とする上記2−4の一つによる方法。
とする上記2−5の一つによる方法。
側形状に相当する空間を一緒に定める2個又はそれ以上
の分解可能な部分を備え、工程d)において適用される
透明プラスチックと接触する型の内壁の部分が表面粗さ
Ra 0.2より良好な平滑な仕上げを有することを特
徴とする先行上記の一つによる方法に使用する型。
分的に中低又は中高の面を有することを特徴とする上記
7による型。
止工程の終了後に透明プラスチックに隣接したカプセル
封止の面上に外向きに伸びている部分を作る切取り部を
備えることを特徴とする上記7又は8による型。
の図面1A…1Dにおいて示す。
発明による方法の適用中の多数の段階を多数の図面2A
…2Dにおいて示す。
状の距離部材が適用された場合の多数の図を示す。
る断面図を示す。
面図を示す。
Claims (2)
- 【請求項1】 a)いわゆるリードフレームの支持面上
に半導体回路を取り付け、 b)半導体回路のコンタクトパッドとリードフレームの
選定された部分との間に接続用ワイヤーを取り付け(ボ
ンディング)、 c)成型によりプラスチックパッケージを作り、このパ
ッケージが少なくも半導体回路、支持面、接続用ワイヤ
ー及びリードフレームの一部を囲むことを含み、工程
b)とc)との間において d)半導体回路の支持面に取り付けられた側とは反対の
側において所定量の放射に透明なプラスチックの供給
し、このプラスチックは工程c)の実行のために使用さ
れる温度より低いガラス化温度を持つことを特徴とする
集積半導体回路(ダイ)のカプセル封止方法。 - 【請求項2】 プラスチックカプセル封止の希望の外側
形状に相当する空間を一緒に定める2個又はそれ以上の
分解可能な部分を備え、工程d)において適用される透
明プラスチックと接触する型の内壁の部分が表面粗さR
a 0.2より良好な平滑な仕上げを有することを特徴
とする請求項1による方法に使用する型。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL9400766A NL9400766A (nl) | 1994-05-09 | 1994-05-09 | Werkwijze voor het inkapselen van een geintegreerde halfgeleiderschakeling. |
| NL9400766 | 1994-05-09 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07307359A true JPH07307359A (ja) | 1995-11-21 |
Family
ID=19864175
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7131235A Pending JPH07307359A (ja) | 1994-05-09 | 1995-05-02 | 集積回路のカプセル封止方法 |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5863810A (ja) |
| EP (1) | EP0682374B1 (ja) |
| JP (1) | JPH07307359A (ja) |
| AT (1) | ATE162011T1 (ja) |
| DE (1) | DE69501361T2 (ja) |
| DK (1) | DK0682374T3 (ja) |
| ES (1) | ES2110811T3 (ja) |
| GR (1) | GR3026168T3 (ja) |
| NL (1) | NL9400766A (ja) |
| SI (1) | SI0682374T1 (ja) |
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