JPH07505255A - 集積回路用テストソケット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 集積回路用テストソケット 技術分野 本発明は、一般的には集積回路を試験するデバイスに関し、より詳しくは、集積 回路のリードとテストソケットのコンタクトピンとを、繰り返して、高い信頼性 で接触させることができる、改良されたテストソケットに関する。

背景技術 クリティカル集積回路（ｃｒｉｔｉｃａｌ　ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　ｃｉｒｃｕ ｉｔ）は、製品に搭載される前に高温で試験される。なぜなら、これらの回路の 非常に大多数は、もし不良になりやすいならば、非常に短い試験期間内に、動作 不良を生じることが知られているからである。このような集積回路は、コンタク トパッド又はリードを有する長方形のセラミック又はプラスチックのパッケージ 内に包み込まれることが多い。このようなパッド又はリードは、集積回路と電気 的に接続される。集積回路を試験するためには、集積回路パッケージのコンタク トパッド又はリードと、一時的に電気的に接続することが必要である。特定の集 積回路を試験するための適切な回路を有する印刷回路板にはんだ付けできるテス トソケットが、この目的のために提供されている。

従来の構造のほとんどは、−辺に沿ってテストソケットベースにヒンジ留めされ たふたを備え、あるいは、いくつかの辺に沿ってテストソケットベースにクリッ プ留めされるふたを備えるが、どちらも、ふたが閉じられるときに、集積回路を テストソケットのコンタクトピンに押し付けて固く締める傾向がある。不都合な ことに、閉じている間、ヒンジ留めされた又はクリップ留めされたふたは、法線 方向以外の方向に作用する動的荷重成分を与えることが、知られている。法線方 向とは、テストソケットの表面に直角なベクトルによって定義される。法線方向 以外の作用荷重は、テストソケットのコンタクトピンに対して集積回路を移動し 、集積回路のコンタクトパッド又はリードに損傷を与え、集積回路を包み込んで いるセラミック又はプラスチックにクラックすなわち破壊を生じることになりか ねない。

発明の要旨 本発明は、以下の構成のテストソケットを提供することによって、閉じている間 にテストソケットのカバーによって発生する法線方向以外の力を平衡させる。

このテストソケットは、ベースを備える。ベースは、大略平らな下部面と、この 下部面から延在して下部面の上方に内部開口部を形成する直立した壁とを有する 。

また、このテストソケットは、上記集積回路を支持するプラットホームを備える 。

このプラットホームは、プラットホームから上記ベースの下部面方向に延在する 垂下する脚を有する。この脚の一端には、この脚の延在方向と実質的に直交して 突出する端部が形成される。ベースの壁は、このプラットホームの上記脚の端部 に対応する凹みをさらに備える。この凹みは、上記脚の端部と嵌合して上記プラ ットホームが上記ベースの下部面から離れる方向へ移動することを防ぐが、上記 プラットホームの任意の部分が、上記プラットホームの他の部分の移動とは無関 係に、上記ベースの下部面方向に移動することは許容する。また、このテストソ ケットは、上記ベース下部面と上記プラットホームとの間に配置された弾性コン タクトを備える。この弾性コンタクトは、上記プラットホーム上の上記集積回路 に電気的に接続するとともに、上記プラットホームを上記下部面に対して空間を 設けて支持する一方、上記下部面方向への上記プラットホームの弾性移動を許容 する。

また、このテストソケットは、上記集積回路が上記プラットホームおよび上記弾 性コンタクトと接触する状態を保つカバーを備える。また、このテストソケット は、上記ベースに対して上記カバーを解除可能に保持するラッチを備え、上記集 積回路は上記弾性コンタクトと接触する状態に保持される。

カバーは、ヒンジによってベースに結合されてもよ（、また、単に、多数のラッ チによってプラットホームに隣接するように保持される平板であってもよい。

図面の簡単な説明 添付図面を参照して、本発明についてさらに詳しく説明する。図面が異なっても 、同じ符号は同じ部分を示す。

図１は、本発明によるテストソケットの構成部品の分解斜視図である。

図２は、図１の略２−２線に沿って切断した、図１のテストソケットの断面図で ある。カバーは、完全な閉位置から２°の位置にある。

図３は、図２と同様の断面図である。カバーは閉位置から１°移動された位置図 ４は、図２の略４−４線に沿って切断した、テストソケットの断面図である。

発明を実施するための最良の形態 図１〜４に示したテストソケットは、符号１０で全体が示されているが、ベース １２と、集積回路を支持するプラットホーム１４と、プラットホーム１４と接触 している集積回路を保持するカバー１６と、カバー１６をベース１２に固定して プラットホーム１４に接触した状態に集積回路を保つラッチ１８とを備える。

ベース１２は、大略平面状の下部面２０を含み、下部面２０から上方に４つの壁 ２２が延在して、内部開口空間を形成する。

プラットホーム１４は、大略矩形形状であり、２つの隆起したアライメト隆起部 ２４を含み、この隆起部２４は集積回路（図１において図示せず）用の載置部（ ｎｅｓｔ）を形成する。４つの脚２６は、プラットホーム１４の平面部から延在 し、その端部２８は外側方向に突出し、この端部２８はベースの壁２２の凹み３ ０と嵌合する。プラットホームの脚の端部２８とベースの凹み３０とのこの嵌合 は、プラットホーム１４がベース１２の下部面２０から離れる方向に移動するの を阻止するように作用するが、凹み３０は実質的にベース１２の下部面２０方向 に延在し、したがって、脚２０の一部又は全部とプラットホーム１４とが、ベー ス１２の下部面２０方向に移動することを許容する。プラットホーム１４の脚２ ６とベース１２の凹み３０との嵌合は、図４から最も良く分かる。

プラットホーム１４は、図２．３に最も良く示されたように、コンタクトピン３ ２によって、ベース１２の下部面２０の上方に支持される。コンタクトピン３２ は、銅のように、弾性があって、導電性のある金属から製造され、湾曲した中央 部３４が形成され、コンタクトピン３２は、ばねとして機能する。コンタクトピ ン３２は、プラットホーム１４のスロットすなわち穴３６を通って延在し、集積 回路４０に形成されたはんだパッド３８に接触する。集積回路とは反対側のコン タクトピン３２の他端は、ブレード４２として形成され、このブレード４２は、 ベース１２の下部面２０から延在し、テストソケット１０が取り付けられる回路 板（図示せず）の穴に電気的に接続する。コンタクトピン３２は、プラットホー ム１４とベース１２とに対して、ベース１２とプラットホーム１４との両方に形 成された細長いスロットすなわちカウンタボア内にはまり込む肩部によって、保 持される。

図２は、カバー１６が集積回路４０と丁度接触しだす時のカバー１６の位置を示 す。カバー１６は、カバー１６の一端に配置されたヒンジ４４でベース１２に取 り付けられるので、カバー１６と集積回路４０との接触は、集積回路４０の表面 全体で同時に生じるのではなく、むしろ集積回路４０の一端に沿って集中する。

集積回路４０の一端へのこのような力の集中は、集積回路用コンタクトに損傷を 与え、あるいは、集積回路４０の本体を形成する材料にクラックすなわち破損を 与えかねない。

カバー１６と集積回路４０との間のこのような応力集中は、ヒンジ４４を除去し 、図示したような一つのラッチ１８ではなく、カバーの各端部に一つずつ、２つ のラッチ１８をカバーに備えれば、軽減することは可能であろう。この場合のカ バー１６は緩められた状態であり、アライメントがずれやすく、力の集中は必ず しも軽減されるとは限らない。なぜなら、ベース１２に取り付けられた時に、カ バー１６は集積回路４０と常に平行に保たれる保証はないからである。

カバー１６と集積回路４０との間の力の集中により引き起こされる問題を除去す るために、本発明のテストソケット１０は、ベース１２に対して自由に“浮かぶ ”ことができる、すなわち、プラットホーム１４の任意の部分をプラットホーム １４の他の部分に対して独立して押し下げてもよいプラットホーム１４を備える 。したがって、プラットホーム１４は集積回路４０に不均一に加えられる力に応 じて任意の方向に自由に傾（。プラットホーム１４のこの動きは、図３に示され ており、カバー１６は図２に示した２°位置から１６位置まで、さらに閉じられ ている。ヒンジ４４に隣接する脚２６は、ベース１２の下部面２０に向かって下 方に移動する一方、ヒンジ４４から離れている脚２６はベース１２に対して移動 しないことが、分かるであろう。したがって、カバー１６によって集積回路４０ に加えられる不均一な力に応じてプラットホーム１４が傾き、そうすることによ って、集積回路４０に対する損傷を防ぐ。カバー１６が図３に示した位置からベ ース１２側へさらに移動すると、ヒンジ４４から離れたプラットホームの脚２６ は、ベース１２の下部面２０に向かってさらに移動し、ベース１４の下部面２０ とプラットホーム１４とカバー１６とが全て平行となる位置まで移動する。この 最終位置において、カバー１６によって集積回路４０に加えられる力は、集積回 路４０の表面に均等に配分され、集積回路４０のはんだバ・ノド３８とコンタク トピン３２との間は、良好な接触状態となる。

本発明は、ただ一つの実施例に関して説明されたが、多数の変形例が当業者にと っては明らかであろう。たとえば、脚２６はプラットホーム１４の隅に配置され る必要はな（、プラットホーム１４の周囲の任意位置に配置することができる。

脚２６の端部２８は、外側方向に延在する代わりに内側方向に延在することも可 能であり、任意個数の脚２６を備えることができる。もつとも、ブラ・ントホー ム１４を安定させるためには、少なくとも２つの脚２６を備えるべきであろう。

最後に、１またはそれ以上のラッチ１８は、図示したようにカバー１６に結合さ れることも、また、ベースの壁２２に結合されることも可能である。

国際調査報告　ｏ、Ｔｉ１ｌ（Ｑ’ｌ／ｎ＋７＋＋’＋

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. １．集積回路用テストソケットであって、ベースと、 上記集積回路を支持するプラットホームと、上記集積回路に電気的に接続すると ともに、上記ベースに対して空間を設けて上記プラットホームを支持しかつ上記 ベースに対する上記プラットホームの弾性移動を許容する、弾性コンタクトと、 静止位置において上記ベースに対して上記プラットホームを保持するとともに、 上記静止位置から上記ベース方向への上記プラットホームの回転および平行移動 を許容する手段と、 を備えるテストソケット。
2. ２．上記ベースに脱着可能に取り付けられ、上記集積回路を上記コンタクトに接 触させるカバーをさらに備える、請求項１記載のテストソケット。
3. ３．上記カバーを上記ベースに取り付けるヒンジをさらに備える、請求項２記載 のテストソケット。
4. ４．上記カバーが上記集積回路に接触する状態を保つラッチをさらに備える、請 求項３記載のテストソケット。
5. ５．上記プラットホームを保持する上記手段は、上記プラットホームから上記ベ ース方向に垂下する脚を備え、該脚の一端には該脚に対して実質的に垂直方向に 延在する突出部を有し、上記ベースは、上記脚の突出部と相互作用する壁をさら に傭え、上記ベース方向への上記脚の移動は許容するが上記ベースから離れる方 向への上記脚の移動は許容しない、請求項１記載のテストソケット。
6. ６．集積回路用テストソケットであって、大略平らな下部面と、該下部面から延 在して上記下部面の上方に内部開口部を形成する直立した壁とを有するベースと 、上記集積回路を支持するプラットホームであって、該プラットホームから上記 ベースの下部面方向に延在する少なくとも２つの垂下する脚を有し、該脚は該脚 の延在方向に対して実質的に直交して突出する端部を有する、プラットホームと 、上記ベースの壁に含まれ、上記プラットホームの上記脚の端部に対応する凹み であって、上記脚の端部と嵌合して、上記プラットホームが上記ベースの下部面 から離れるのを妨げるが、上記プラットホームの任意の部分が上記ベースの下部 面方向に移動することを、上記プラットホームの他の部分の上記ベース方向への 移動とは無関係に許容する、凹みと、 上記ベース下部面と上記プラットホームとの間に配置され、上記プラットホーム 上の上記集積回路と電気的に接続するとともに、上記プラットホームを上記下部 面に対して空間を設けて支持する一方、上記下部面方向への上記プラットホーム の弾性移動を許容する、弾性コンタクトと、カバーおよび、該カバーを上記ベー スの壁の一つに隣接して上記ベースに結合して上記ベースに対する上記カバーの 回転移動を許容するヒンジと、上記ベースに対して上記カバーを解除可能に保持 して、上記集積回路を上記弾性コンタクトと接触する状態に保つ、ラッチと、を 備えるテストソケット。