JPH0762698B2 - パタ−ン発生器 - Google Patents

パタ−ン発生器

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JPH0762698B2
JPH0762698B2 JP60129807A JP12980785A JPH0762698B2 JP H0762698 B2 JPH0762698 B2 JP H0762698B2 JP 60129807 A JP60129807 A JP 60129807A JP 12980785 A JP12980785 A JP 12980785A JP H0762698 B2 JPH0762698 B2 JP H0762698B2
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和夫 山口
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は大規模論理LSI等の半導体試験装置に係り、特
にロジック用の試験パターン発生器において小容量メモ
リで長大なパターンを各ピンごとに独立して発生するに
好適なパターン発生器に関する。
〔発明の背景〕
一般に従来のロジック用LSIのテストパターンの発生器
としては、予め発生すべきパターンデータをパターンメ
モリに記憶しておくストアードレスポンス方式のパター
ン発生器(例えば、特公昭53-39729)が知られている。
しかし、長大なパターンの発生において、パターンメモ
リの容量はパターン長にほぼ正比例して増大する。その
ため同一パターンを繰返し発生できるようなループやジ
ャンプ機能を持たせることにより対応している。
しかしながら、近年のマイコンに代表される大規模論理
LSIにおいては、機能の複雑化に伴ないテストすべきフ
ァンクションテストパターン数が膨大となっており、パ
ターンメモリへのパターンの書替えが必要となってい
る。このため分割されたテストパターンの転送時間がテ
スト時間に比べて無視できなくなってきており、少容量
メモリで長大なパターンの発生が可能なパターン発生器
が必要不可欠となっている。
〔発明の目的〕
本発明の目的はより少ないハードウェア量で長大なパタ
ーンの発生が可能なロジック用試験パターン発生器など
のパターン発生器を提供するにある。
〔発明の概要〕
本発明は、基本的に従来のストアードレスポンス方式の
パターン発生器などのパターンメモリに発生すべきパタ
ーンデータ(1又は0)を時系列に記憶する方式に対
し、ある任意のピンに発生すべき1又は0のパターンデ
ータの並びの変化点の位置(アドレス)のみを記憶する
方式で、この変化点アドレスとテストパターンアドレス
とが一致した時に出力パターンを反転制御してパターン
発生を行なう方式のパターン発生器である。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を第1図ないし第5図を用いて説
明する。第1図は本発明によるパターン発生器の一実施
例の全体構成図であり、第2図は従来のパターンデータ
メモリと第1図の本発明の変化点アドレスを格納するパ
ターンアドレスメモリ3の関係と出力パターンの例を示
す説明図、第3図は第1図のストレートパターンを発生
する場合の動作タイミング図、第4図は第1図のジャン
プの場合の動作タイミング図、第5図は第1図のジャン
プ制御回路6の真理値表である。
まず、従来のパターンデータメモリからパターンを発生
する場合と、第1図の本発明のパターンアドレスメモリ
3から同様なパターンを発生する場合の原理について、
第2図を用いて説明する。
第1図に示すテストシーケンスコントローラ1から出力
されるテストパターンの発生順序を示すパターンアドレ
ス6により、第2図の従来のパターンデータメモリ12内
のパターンアドレスA0、A1、A2、A3、……に格納されて
いる1又は0の1bitのパターンデータを順次読出し、第
2図下図のような出力パターンfを得る。これによりジ
ャンプやループ時には、このパターンアドレスbが不規
則なパターンアドレスとして与えられるため、ランダム
な出力パターンfが得られる。一方の本発明のパターン
発生器では従来のパターンデータメモリ12に代わるパパ
ターンアドレスメモリ3を使用して、パターンデータメ
モリ12内の1、0のパターンデータの変化するnbitのパ
ターンアドレスA0、A1、A4、A6、……のみをアドレス#
0、#1、#2、……に格納し、テストシーケンスコン
トローラ1からのパターンアドレスbが変化点アドレス
dと一致した場合に出力パターンfを反転制御して、同
様なパターンデータを得る方式である。
次に、第1図の構成とその機能をストレートパターンの
発生の場合とジャンプ時のパターン発生の場合について
詳細に説明する。
テストシーケンスコントローラ1は通常の動作モード時
には、レジスタ2-3とレジスタ2-1を介してそれぞれパタ
ーンアドレスbとポインタアドレスgを出力する。そし
てパターンアドレスbはストレートパターンおよびジャ
ンプ時のパターン発生時に第2図の従来のパターンデー
タメモリ12から発生すべきパターンデータの位置を示し
ており、ポインタアドレスgはジャンプ時にのみ有効な
アドレスが出力され、ジャンプ先のアドレス又はそれに
最も近い変化点アドレスが格納されているパターンアド
レスメモリ3のアドレスを示している。ポインタ11は前
記ポインタアドレスgをジャンプ時に一時記憶し、パタ
ーンアドレスメモリ3の変化点アドレスの位置を指示す
る。ポインタ11は変化点アドレスdとパターンアドレス
bが一致した場合に+1のカウントを行ない、次の変化
点アドレスの位置を指示する。又、通常の動作モード時
にパターンアドレスbと変化点アドレスdを比較する比
較器4の出力は、両者が一致した場合にストレートパタ
ーンの発生時のフリップフロップ5の反転動作を行なわ
せると共に、ポインタ11のインクリメントを行なう。
ジャンプ制御回路6はジャンプ時に出力するパターンデ
ータを第5図の真理値表に基づき判定し、パターンアド
レスメモリ3のポインタの位置と比較器4の出力である
変化点検出信号(一致又は不一致信号)eにより、前記
フリップフロップ5の出力パターンfを優先的に決定す
る。第5図の真理値表において、第1図のテストシーケ
ンスコントローラ1からジャンプ制御信号hが発生した
とき、そのクロックのサイクルで発生するパターンデー
タの判定は次のように行なわれる。すなわちジャンプ先
のアドレスが変化点である場合、即ち比較器4の出力e
が一致(A=B)信号のときには変化点アドレスに対応
したパターンデータを出力すればよいため、パターンア
ドレスメモリ3のポインタの位置、即ちポインタ11の出
力cの下位1ビットc′の偶数、奇数により、それぞれ
1、0の対応した出力パターンデータfを出力する。そ
して、逆にジャンプ先が変化点アドレスでない場合、即
ち比較器出力eが不一致(A≠B)信号のときにはポイ
ンタ11が次の最も近い変化点アドレスを示しているの
で、発生すべきパターンデータfはその変化点アドレス
の前後のパターンを出力すればよい。つまり比較器出力
eが不一致信号の場合にはポインタの偶数、奇数位置に
より、それぞれ0、1の対応したパターンデータfを出
力する。第1図の前記ジャンプ制御回路6は第5図の真
理値表の動作を次のように実現しており、そのアンドゲ
ート7-1、7-2で各々ジャンプ先が変化点アドレスの場合
と変化点アドレスでない場合とを判別し、アンドゲート
8-1、8-2と8-3、8-4はそれぞれポインタ位置の偶数、奇
数の判定を行なう。従ってジャンプ先が変化点アドレス
のときでポインタが奇数位置のときと、ジャンプ先が変
化点アドレスでなくポインタが偶数アドレスのときに、
出力パターンfとして“0"を出力するためフリップフロ
ップ5をリセット(R)し、ジャンプ先が変化点アドレ
スのときでポインタが偶数位置のときと、ジャンプ先が
変化点アドレスでなくポインタが奇数アドレスのとき
に、出力パターンとして“1"を出力するためフリップフ
ロップ5をセット(S)することにより、ジャンプ時の
出力パターンfを得ることができる。第1図は以上のよ
うな構成とその機能をもっている。
次に、第3図と第4図を用いて第1図の動作をそれぞれ
ストレートパターンの発生時とジャンプ時のパターン発
生の場合について説明する。
まずパターン発生に先だち、テストシーケンスコントロ
ーラ1から予めレジスタ2-2を介してパターンアドレス
メモリ3に変化点アドレスA0、A1、A4……が格納されて
おり、又ポインタ3にはレジスタ2-1を介してスタート
時のポインタアドレスが同様にセットされている。いま
クロックaでパターン発生が開始されると、パターンア
ドレスメモリ3から最初に出力されている変化点アドレ
スdがそのとき発生すべきパターンアドレスbと比較器
4で比較され、このパターンアドレスbが変化点アドレ
スdと一致している場合にはアンドゲート10を比較器出
力eの一致信号が通過し、第3図に示すような比較器出
力eがフリップフロップ5に与えられるため、最初の変
化点アドレスA0に対応した出力パターン“1"が得られ
る。このときポインタ3は+1インクリメントされ、次
の変化点アドレスA1を示す。そしてストレートパターン
の場合には、テストシーケンスコントローラ1のパター
ン発生プログラムに従い、例えば第3図のパターンアド
レスbの図上に対応して記したようにNOP命令により順
次アドレスが出力され、パターンアドレスbと変化点ア
ドレスdが不一致の場合にはフリップフロップ5にクロ
ック入力がないため、前の出力パターンデータが保持さ
れた状態となる。このようにパターンアドレスbと変化
点アドレスdが一致する毎に出力パターンfが反転して
パターン発生が行なわれる。
次にジャンプパターンの場合には、第4図のパターンア
ドレスbの図上に記したようにNOP命令の途中でJMP命令
が生じたとき、テストシーケンスコントローラ1からポ
インタアドレスgとジャンプ制御信号hが出力される。
このポインタアドレスgはジャンプ制御信号hの1サイ
クル(クロックa)前に予め、ジャンプ先のパターンア
ドレスメモリ3内に格納されている変化点アドレスに最
も近い位置又は変化点アドレスの位置に対応したアドレ
スとして、レジスタ2-1を経由して次のジャンプ制御信
号hの入力されるサイクルでポインタ11にロードされ
る。又、ジャンプ制御信号hはジャンプ制御回路6の起
動をかけ、ジャンプ制御回路6で前述したようにジャン
プ先が変化点か否かの判定とそれによる出力パターンが
1か0かの判定をポインタ11の出力cの下位1ビット信
号c′により行ない、フリップフロップ5の出力パター
ンfを制御する。こうして第4図の最初のJMP命令の場
合はジャンプ先が変化点アドレスA4の場合の例で、ポイ
ンタアドレスgにポインタアドレス#2がポインタ11に
ロードされると、ポインタの位置を示す下位ビットc′
は偶数となって比較器出力eとしてA=Bの一致信号が
出力されるため、ジャンプ制御回路のゲート7-1、8-2を
経由して、オアゲート9-1からフリップフロップ5のセ
ット入力Sがアクティブとなり、アドレスA4に対応した
パターンデータ“1"が発生される。又、第2番目のJMP
命令の場合はジャンプ先が変化点アドレスでない場合の
例で、ジャンプ先がパターンアドレスA9であるのに対
し、変化点アドレスA10の場合の例である。この場合に
ポインタアドレスgには変化点アドレスに最も近いポイ
ンタアドレス#5がロードされ、パターンアドレスメモ
リ3からは変化点アドレスA10が出力される。このとき
ポインタの位置を示す下位ビットe′は奇数となり、比
較器出力eとしてはA≠13の不一致信号となるため、ジ
ャンプ制御回路6のゲート7-2、8-3をジャンプ制御信号
hが通過し、オアゲート9-1からフリップフロップ5の
セット入力Sがアクティブとなり、パターンアドレスA9
に対応したパターンデータ“1"が発生される。このよう
にして、従来の方法と同様なパターンが発生される。な
お、ジャンプ制御信号hが入力されない場合は前述のス
トレートパターンの場合と同様な動作となる。以上は正
方向のジャンプの場合を述べたが、逆方向のジャンプで
も同様に動作することは容易で類推できる。
以上に述べたように本実施例では、従来のパターンデー
タメモリ12を不要にし、変化点アドレスのみを記憶して
ビットパターンを発生する方式であるため、長大なパタ
ーン発生がパターンアドレスメモリ3のビット幅の拡張
で2n(nは拡張ビット数)倍の長大なパターン発生が可
能となる。
〔発明の効果〕
以上の説明のように本発明によれば、膨大なテストパタ
ーンそのものを扱う必要がなくなり、変化点のパターン
位置情報のみでよいため、パターンが長大化しても記憶
すべき変化点アドレス数は全パターン数の約10%程度で
あり、より少ないハードウェア量でかつ長大なパターン
の発生が可能となる。又、パターンの拡張性は変化点ア
ドレスのビット幅で拡張できるので、2n(nは拡張ビッ
ト数)倍のパターン長に対して容易に対応できる。さら
に、テスタで扱うパターン情報が少なくてよいため、人
手又は計算機によるパターン作成が非常に容易となる効
果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるパターン発生器の一実施例の全体
構成図、第2図は従来のパターンデータメモリと第1図
の本発明の変化点アドレスを格納するパターンアドレス
メモリの関係と出力パターンの一例を示す説明図、第3
図は第1図のストレートパターンを発生する場合の動作
タイミング図、第4図は第1図のジャンプの場合の動作
タイミング図、第5図は第1図のジャンプ制御回路の真
理値表である。 1……テストシーケンスコントローラ、2-1、2-2、2-3
……レジスタ、 3……パターンアドレスメモリ、4……比較器、5……
フリップフロップ、6……ジャンプ制御回路、7-1、7-
2、8-1、8-2、8-3、8-4、10……アンドゲート、9-1、9-
2……オアゲート、11……ポインタ、

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】パターン列の1又は0の連続又は単独の集
    まりを一単位として、この切り換わり位置の変化点アド
    レスのみを記憶する手段と、 該記憶手段に変化点アドレスの読み出しアドレスを指示
    する読み出し手段と、 テストシーケンスコントローラから出力されるテストパ
    ターンアドレスと該変化点アドレスとを比較する手段
    と、 該比較手段から出力される一致信号により出力パターン
    の反転を行うフリップフロップ手段と、 該読み出し手段の出力する読み出しアドレスの最下位ビ
    ットと該比較手段の出力する一致信号、さらにテストシ
    ーケンスコントローラから出力されるジャンプ制御信号
    とにより、 発生パターンが1の場合、該フリップフロップ手段のセ
    ット入力に、 発生パターンが0の場合、該フリップフロップ手段のリ
    セット入力に制御信号を与える構成としたジャンプ制御
    手段と、 前記ジャンプ制御信号の1サイクル前に出力され、ジャ
    ンプ先のパタンアドレスメモリに格納されている次の変
    化点アドレス位置に対応したアドレスを読み出し手段に
    ロードする手段と、 さらに、比較器からの一致信号により読み出し手段のイ
    ンクリメント制御を行う手段と からなることを特徴とするパターン発生器。
JP60129807A 1985-06-17 1985-06-17 パタ−ン発生器 Expired - Lifetime JPH0762698B2 (ja)

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