JPH0769287B2 - 酸化性ガス測定装置の校正方法 - Google Patents
酸化性ガス測定装置の校正方法Info
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- JPH0769287B2 JPH0769287B2 JP2074162A JP7416290A JPH0769287B2 JP H0769287 B2 JPH0769287 B2 JP H0769287B2 JP 2074162 A JP2074162 A JP 2074162A JP 7416290 A JP7416290 A JP 7416290A JP H0769287 B2 JPH0769287 B2 JP H0769287B2
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- clo
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、二酸化塩素やオゾン等の酸化性ガス測定装置
の校正方法に関する。
の校正方法に関する。
二酸化塩素（ClO2）やオゾン（O3）は強い酸化力を有す
るので、例えば二酸化塩素は繊維等の漂白及び最近では
塩素に代わる殺菌剤として上水やプール水の殺菌等に利
用され、オゾンも上水の脱臭等に使用されている。
るので、例えば二酸化塩素は繊維等の漂白及び最近では
塩素に代わる殺菌剤として上水やプール水の殺菌等に利
用され、オゾンも上水の脱臭等に使用されている。
二酸化塩素，オゾン，塩素等の酸化性ガスの濃度測定
は、溶存酸化性ガス溶液については従来からヨウ素滴定
法が行なわれていたが、連続測定に適さず又滴定操作が
煩雑である等の欠点がある為最近では二酸化塩素，オゾ
ン，塩素等を選択的に透過する隔膜を用いた隔膜形ポー
ラログラフ電極法（特開昭54−125095号公報）による酸
化性ガス測定装置が使用されている。又、同様の隔膜を
用いた隔膜電極により電位を測定する隔膜電極式酸化性
ガス測定装置では、溶存酸化性ガス溶液であっても気相
の酸化性ガスであっても測定が可能である。
は、溶存酸化性ガス溶液については従来からヨウ素滴定
法が行なわれていたが、連続測定に適さず又滴定操作が
煩雑である等の欠点がある為最近では二酸化塩素，オゾ
ン，塩素等を選択的に透過する隔膜を用いた隔膜形ポー
ラログラフ電極法（特開昭54−125095号公報）による酸
化性ガス測定装置が使用されている。又、同様の隔膜を
用いた隔膜電極により電位を測定する隔膜電極式酸化性
ガス測定装置では、溶存酸化性ガス溶液であっても気相
の酸化性ガスであっても測定が可能である。
上記の酸化性ガス測定装置は、何れも隔膜を具えた電極
を試料液又は試料ガスに接触させるだけで酸化性ガス濃
度が指示値として得られるので、簡便であり、連続測定
にも適するが、電気化学的測定結果の常として校正を必
要とする。
を試料液又は試料ガスに接触させるだけで酸化性ガス濃
度が指示値として得られるので、簡便であり、連続測定
にも適するが、電気化学的測定結果の常として校正を必
要とする。
従来、酸化性ガス測定装置の校正は測定対象とする酸化
性ガスを用いて行なつていたが、校正に用いる酸化性ガ
スは当然一定濃度に調整する必要がある。例えば一定濃
度の溶存ClO2ガス水溶液を調整するには、公知の塩素酸
塩の還元若しくは亜塩素酸塩の酸化によりClO2ガスを発
生させ、このClO2ガスを純水中に捕集し、その濃度をヨ
ウ素滴定法により決定する方法が用いられるが、この調
整操作は面倒である。
性ガスを用いて行なつていたが、校正に用いる酸化性ガ
スは当然一定濃度に調整する必要がある。例えば一定濃
度の溶存ClO2ガス水溶液を調整するには、公知の塩素酸
塩の還元若しくは亜塩素酸塩の酸化によりClO2ガスを発
生させ、このClO2ガスを純水中に捕集し、その濃度をヨ
ウ素滴定法により決定する方法が用いられるが、この調
整操作は面倒である。
しかも、酸化性ガスは何れも不安定であり、気相でも溶
存状態でも短期間保存する間に分解が進行し、力価が減
少し若しくは濃度が低下する。例えば、二酸化塩素（Cl
O2）ガスを純粋に溶解させた溶存ClO2ガス水溶液の場
合、第４図に点線で示す如く褐色ポリプロピレン製ビン
（○）、狭口褐色ガラスビン（△）及び広口褐色ガラス
ビン（□）の何れに保存しても、極めて短期間で分解し
て溶存ClO2ガス濃度が低下する。かかる事情はオゾンガ
スや塩素ガス等についても同様である。
存状態でも短期間保存する間に分解が進行し、力価が減
少し若しくは濃度が低下する。例えば、二酸化塩素（Cl
O2）ガスを純粋に溶解させた溶存ClO2ガス水溶液の場
合、第４図に点線で示す如く褐色ポリプロピレン製ビン
（○）、狭口褐色ガラスビン（△）及び広口褐色ガラス
ビン（□）の何れに保存しても、極めて短期間で分解し
て溶存ClO2ガス濃度が低下する。かかる事情はオゾンガ
スや塩素ガス等についても同様である。
従つて、校正用の標準液や標準ガスとして、測定対象の
酸化性ガス又はその溶存水溶液を一定濃度のまゝ長期に
保存することは殆ど不可能であるため、校正の度に新た
に標準液等として調製する必要があるが、その度に面倒
な調製操作を繰り返すので、極めて煩雑であり、そのた
め校正にも長時間を要するという欠点があつた。
酸化性ガス又はその溶存水溶液を一定濃度のまゝ長期に
保存することは殆ど不可能であるため、校正の度に新た
に標準液等として調製する必要があるが、その度に面倒
な調製操作を繰り返すので、極めて煩雑であり、そのた
め校正にも長時間を要するという欠点があつた。
本発明はかかる従来の事情に鑑み、簡単な操作により短
時間で正確な校正が可能な酸化性ガス測定装置の校正方
法を提供することを目的とする。
時間で正確な校正が可能な酸化性ガス測定装置の校正方
法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明の酸化性ガス測定装置
の校正方法は、亜塩素酸塩を溶解した亜塩素酸イオン水
溶液と塩化物を溶解した酸、又は前記亜塩素酸イオン水
溶液と酸と塩化物若しくは塩化物を溶解した水溶液を別
々の容器に保存し、酸化性ガス測定装置の校正時に密閉
容器中で前記各液を混合液中の亜塩素酸イオンと塩化物
の濃度及びpHが予め定めた条件になるように所定量づつ
混合することにより亜塩素酸イオンを定量的に二酸化塩
素ガスに変化させ、密閉容器中に得られた既知濃度の二
酸化塩素ガス又は混合水溶液中の既知濃度の溶存二酸化
塩素ガスを前記測定装置で測定し、その指示値を当該二
酸化塩素濃度とするか又は他の酸化性ガスの当該二酸化
塩素濃度に対応する濃度として校正することを特徴とす
る。
の校正方法は、亜塩素酸塩を溶解した亜塩素酸イオン水
溶液と塩化物を溶解した酸、又は前記亜塩素酸イオン水
溶液と酸と塩化物若しくは塩化物を溶解した水溶液を別
々の容器に保存し、酸化性ガス測定装置の校正時に密閉
容器中で前記各液を混合液中の亜塩素酸イオンと塩化物
の濃度及びpHが予め定めた条件になるように所定量づつ
混合することにより亜塩素酸イオンを定量的に二酸化塩
素ガスに変化させ、密閉容器中に得られた既知濃度の二
酸化塩素ガス又は混合水溶液中の既知濃度の溶存二酸化
塩素ガスを前記測定装置で測定し、その指示値を当該二
酸化塩素濃度とするか又は他の酸化性ガスの当該二酸化
塩素濃度に対応する濃度として校正することを特徴とす
る。
亜塩素酸イオン（ClO2 -）は塩素イオン（Cl-）の存在下
で液のpHを低下させると、あるpHにおいて二酸化塩素
（ClO2）に定量的に且つ急激に変化する。従つて、上記
操作を密閉容器中で定量的に行なえば、発生したClO2ガ
スが気相と液相とで平衡状態となるので、密閉容器中の
気相には一定濃度のClO2ガスが含まれ、且つ発生したCl
O2ガスを捕集して別途純水に溶解させなくても、液相
（混合水溶液）中にも一定濃度のClO2ガスが溶存する。
で液のpHを低下させると、あるpHにおいて二酸化塩素
（ClO2）に定量的に且つ急激に変化する。従つて、上記
操作を密閉容器中で定量的に行なえば、発生したClO2ガ
スが気相と液相とで平衡状態となるので、密閉容器中の
気相には一定濃度のClO2ガスが含まれ、且つ発生したCl
O2ガスを捕集して別途純水に溶解させなくても、液相
（混合水溶液）中にも一定濃度のClO2ガスが溶存する。
即ち、第１図に示すように、密閉容器中においてKCl濃
度が異なる濃度10-3MのNaClO2水溶液に硫酸を加えてpH
を低下させていくと、KCl濃度に応じてほぼ一定のpH値
において、密閉容器中の液相である混合水溶液は各々所
定濃度の溶存ClO2ガスを含む水溶液となる。例えば、KC
l濃度が10-1Mの場合には、第１図から約pH4においてClO
2 -がClO2に変化し、混合水溶液には4.2mg/のClO2ガス
が溶存する。
度が異なる濃度10-3MのNaClO2水溶液に硫酸を加えてpH
を低下させていくと、KCl濃度に応じてほぼ一定のpH値
において、密閉容器中の液相である混合水溶液は各々所
定濃度の溶存ClO2ガスを含む水溶液となる。例えば、KC
l濃度が10-1Mの場合には、第１図から約pH4においてClO
2 -がClO2に変化し、混合水溶液には4.2mg/のClO2ガス
が溶存する。
従つて、予め一定のKCl濃度の下で、ClO2 -がClO2に変化
するpH並びにClO2 -とClO2の定量関係を求めておけば、
ある定めた条件下では既知濃度のClO2ガス及びClO2溶液
が密閉容器中に得られるので、これをそのまゝ校正に使
用出来る。尚、密閉容器とは、気体が全く流通しない完
全密閉状態でなくても良く、ClO2ガスが気−液平衡状態
に達するまでに外部に殆ど逃げない程度の密閉状態の容
器であればよく、例えばピンホール状の小さな孔等が存
在してもかまわない。
するpH並びにClO2 -とClO2の定量関係を求めておけば、
ある定めた条件下では既知濃度のClO2ガス及びClO2溶液
が密閉容器中に得られるので、これをそのまゝ校正に使
用出来る。尚、密閉容器とは、気体が全く流通しない完
全密閉状態でなくても良く、ClO2ガスが気−液平衡状態
に達するまでに外部に殆ど逃げない程度の密閉状態の容
器であればよく、例えばピンホール状の小さな孔等が存
在してもかまわない。
しかも、標準液又は標準ガス用のClO2の生成に使用する
ClO2 -は、第４図に実線で示すように液中において極め
て安定であり、長期間保存しても濃度の変化がみられな
い。従つて、保存してある既知濃度のClO2 -溶液から、
必要なときに何時でも簡単に既知濃度のClO2溶液又はCl
O2ガスが得られ、これを標準液又は標準ガスとして溶存
又は気相のClO2ガス測定装置の校正を簡単にしかも正確
に行なうことが出来る。
ClO2 -は、第４図に実線で示すように液中において極め
て安定であり、長期間保存しても濃度の変化がみられな
い。従つて、保存してある既知濃度のClO2 -溶液から、
必要なときに何時でも簡単に既知濃度のClO2溶液又はCl
O2ガスが得られ、これを標準液又は標準ガスとして溶存
又は気相のClO2ガス測定装置の校正を簡単にしかも正確
に行なうことが出来る。
又、O3ガスや塩素ガス等の他の酸化性ガス測定装置につ
いても、当該酸化性ガスとClO2ガスとの感度の関係を予
め求めておけば、上記方法に従つてClO2ガスを用いて校
正を行なうことが可能である。
いても、当該酸化性ガスとClO2ガスとの感度の関係を予
め求めておけば、上記方法に従つてClO2ガスを用いて校
正を行なうことが可能である。
実施例１ 濃度1.30×10-4MのNaClO2水溶液と、濃度0.1MのKClを含
む硫酸溶液（pH2.4）を別々の容器に入れ、常温で100日
間保存した。次に、容量120mlの密閉容器中で前記NaClO
2水溶液50mlと0.1MKClを含む硫酸溶液50mlを混合し、混
合水溶液のpHを2.7とした。予め求めたClO2 -とClO2との
関係から、上記条件下では液相としてClO2ガスが6.2mg/
溶存した混合水溶液が得られることが判つていた。
む硫酸溶液（pH2.4）を別々の容器に入れ、常温で100日
間保存した。次に、容量120mlの密閉容器中で前記NaClO
2水溶液50mlと0.1MKClを含む硫酸溶液50mlを混合し、混
合水溶液のpHを2.7とした。予め求めたClO2 -とClO2との
関係から、上記条件下では液相としてClO2ガスが6.2mg/
溶存した混合水溶液が得られることが判つていた。
上記操作で得られた混合水溶液を標準液として隔膜ポー
ラログラフ電極を用いたClO2ガス測定装置（東亜電波工
業（株）のCLO−20型）を6.2mg/に校正した。次に、
校正後の上記ClO2ガス測定装置により、溶存ClO2ガス濃
度が11.4mg/になるように調製した複数の溶液を連続
測定した所第２図に示す応答曲線が得られ、良好な再現
性と応答が得られていることが判つた。
ラログラフ電極を用いたClO2ガス測定装置（東亜電波工
業（株）のCLO−20型）を6.2mg/に校正した。次に、
校正後の上記ClO2ガス測定装置により、溶存ClO2ガス濃
度が11.4mg/になるように調製した複数の溶液を連続
測定した所第２図に示す応答曲線が得られ、良好な再現
性と応答が得られていることが判つた。
実施例２ 上記実施例１と同様の操作で、NaClO2水溶液とKClを含
む硫酸溶液から密閉容器中の気相として濃度6.2mg/の
ClO2ガスを得た。試作した隔膜電極式O3ガス測定装置に
ついて、ClO2ガスとO3ガスの感度の関係を予め求め、こ
の感度の関係から上記6.2mg/のClO2ガスを用いて同O3
ガス測定装置を15.5mg/に校正した。
む硫酸溶液から密閉容器中の気相として濃度6.2mg/の
ClO2ガスを得た。試作した隔膜電極式O3ガス測定装置に
ついて、ClO2ガスとO3ガスの感度の関係を予め求め、こ
の感度の関係から上記6.2mg/のClO2ガスを用いて同O3
ガス測定装置を15.5mg/に校正した。
次に、校正後の上記O3ガス測定装置を用いて、0.4mg/
のO3を含む空気を連続測定したところ第３図の応答曲線
が得られ、良好な応答が得られていることが判つた。
のO3を含む空気を連続測定したところ第３図の応答曲線
が得られ、良好な応答が得られていることが判つた。
尚、隔膜電極式塩素ガス測定装置も、O3ガスの場合と同
様にClO2ガスとCl2ガスの感度の関係を求めておくこと
によつて、ClO2ガスを用いて校正を行なうことが出来
る。
様にClO2ガスとCl2ガスの感度の関係を求めておくこと
によつて、ClO2ガスを用いて校正を行なうことが出来
る。
本発明によれば、長期保存できる複数の液から簡単な混
合操作だけで既知濃度の気相の又は液相に溶存した二酸
化塩素が得られるので、これをそのまゝ標準ガス又は標
準液として用い、二酸化塩素やオゾン、塩素等の酸化性
ガス測定装置を簡単且つ正確に校正することが出来る。
合操作だけで既知濃度の気相の又は液相に溶存した二酸
化塩素が得られるので、これをそのまゝ標準ガス又は標
準液として用い、二酸化塩素やオゾン、塩素等の酸化性
ガス測定装置を簡単且つ正確に校正することが出来る。
第１図はKCl濃度が異なる一定濃度のNaClO2水溶液を硫
酸酸性にした時のpHと溶存ClO2濃度との関係を示すグラ
フであり、第２図は本発明方法により校正した隔膜形ポ
ーラログラフ電極式二酸化塩素ガス測定装置の応答曲線
であり、第３図は本発明方法により校正した隔膜電極式
オゾンガス測定装置の応答曲線であり、第４図は溶存Cl
O2水溶液と溶存ClO2 -溶液の保存時間の変化に伴なう濃
度変化を示すグラフである。
酸酸性にした時のpHと溶存ClO2濃度との関係を示すグラ
フであり、第２図は本発明方法により校正した隔膜形ポ
ーラログラフ電極式二酸化塩素ガス測定装置の応答曲線
であり、第３図は本発明方法により校正した隔膜電極式
オゾンガス測定装置の応答曲線であり、第４図は溶存Cl
O2水溶液と溶存ClO2 -溶液の保存時間の変化に伴なう濃
度変化を示すグラフである。
Claims (1)
- 【請求項１】亜塩素酸塩を溶解した亜塩素酸イオン水溶
液と塩化物を溶解した酸、又は前記亜塩素酸イオン水溶
液と酸と塩化物若しくは塩化物を溶解した水溶液を別々
の容器に保存し、酸化性ガス測定装置の校正時に密閉容
器中で前記各液を混合液中の亜塩素酸イオンと塩化物の
濃度及びpHが予め定めた条件となるように所定量づつ混
合することにより、亜塩素酸イオンを定量的に二酸化塩
素ガスに変化させ、密閉容器中に得られた既知濃度の二
酸化塩素ガス又は混合水溶液中の既知濃度の溶存二酸化
塩素ガスを前記測定装置で測定し、その指示値を当該二
酸化塩素濃度とするか又は他の酸化性ガスの当該二酸化
塩素濃度に対応する濃度として校正することを特徴とす
る酸化性ガス測定装置の校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2074162A JPH0769287B2 (ja) | 1990-03-23 | 1990-03-23 | 酸化性ガス測定装置の校正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2074162A JPH0769287B2 (ja) | 1990-03-23 | 1990-03-23 | 酸化性ガス測定装置の校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03273152A JPH03273152A (ja) | 1991-12-04 |
| JPH0769287B2 true JPH0769287B2 (ja) | 1995-07-26 |
Family
ID=13539183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2074162A Expired - Fee Related JPH0769287B2 (ja) | 1990-03-23 | 1990-03-23 | 酸化性ガス測定装置の校正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0769287B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6861416B2 (ja) * | 2017-10-23 | 2021-04-21 | ▲やすし▼ 神崎 | 二酸化塩素ガスの濃度測定器 |
-
1990
- 1990-03-23 JP JP2074162A patent/JPH0769287B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03273152A (ja) | 1991-12-04 |
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